惠州三星電子有限公司 闞洪磊
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關(guān)于家電產(chǎn)品使用可靠性模擬試驗(yàn)
惠州三星電子有限公司 闞洪磊
當(dāng)今社會(huì),家電產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)加劇,為了能夠在市場(chǎng)占有一席之地,就需要產(chǎn)品有競(jìng)爭(zhēng)力,因家電產(chǎn)品技術(shù)比較成熟,外觀和性能方面都大同小異,因此就需要在產(chǎn)品品質(zhì)方面進(jìn)行突破,如何提前檢出產(chǎn)品的缺陷及潛在不良,作者結(jié)合自己的工作實(shí)際,以家電產(chǎn)品為實(shí)驗(yàn)對(duì)象,對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行壽命預(yù)測(cè):高加速壽命試驗(yàn)(Highly Accelerated Life Test)進(jìn)行探討。
高加速壽命試驗(yàn)(Highly Accelerated Life Test)是通過(guò)不同極限應(yīng)力(電壓,溫度,振動(dòng))在最短時(shí)間內(nèi)檢出產(chǎn)品的缺陷及潛在不良。也就是說(shuō)為了檢出潛在不良,增強(qiáng)產(chǎn)品可靠性對(duì)在現(xiàn)地長(zhǎng)時(shí)間的低應(yīng)力及在短時(shí)間的高應(yīng)力進(jìn)行問(wèn)題點(diǎn)檢出,從而降低不良。
試驗(yàn)條件:
試驗(yàn)項(xiàng)目 輸入電壓 溫度 振動(dòng)溫度STEP STRESS 極限動(dòng)作電壓 -30 ~ 100℃ 0 Grms振動(dòng)STEP STRESS 額定電壓 常溫 0 ~ 25Grms復(fù)合cycle 極限動(dòng)作電壓 極限動(dòng)作溫度 最大動(dòng)作Grms
設(shè)備要求:
1)試驗(yàn)箱(溫度范圍:-100℃~+200℃,振動(dòng)范圍:0Grms~40Grms);
2)調(diào)壓器(0V ~ 300V以上);
3)振動(dòng)測(cè)定分析設(shè)備(FFT Analyzer);
4)溫度測(cè)定分析設(shè)備(Thermal Recorder);
5)模仿儀器(Pattern Generator)。
試驗(yàn)方法:
試驗(yàn)順序:溫度Step Stress -> 振動(dòng)Step Stress -> 復(fù)合Cycle1
本試驗(yàn)是考核產(chǎn)品受溫度影響的各種產(chǎn)品特性,從室溫開(kāi)始找出其動(dòng)作下限值,動(dòng)作上限值,破壞下限值,破壞上限值。
試驗(yàn)profile:
判定基準(zhǔn):
1)-10℃~80℃:誤動(dòng)作/機(jī)能喪失/破壞/PL不能發(fā)生;
2)-10℃~-20℃:機(jī)能喪失/破壞/PL不能發(fā)生;
3)-20℃~-30℃,80℃~100℃:破壞/PL不能發(fā)生。
本試驗(yàn)是考核產(chǎn)品受一定的振動(dòng)時(shí)各種產(chǎn)品的特性,并找出其動(dòng)作上限值和破壞上限值。
試驗(yàn)profile:
判定基準(zhǔn):
1)0Grms~15Grms:不能發(fā)生誤動(dòng)作/機(jī)能喪失/破壞/PL;
2)15Grms ~ 25Grms:不能發(fā)生PL現(xiàn)象。
本試驗(yàn)是在溫度極限范圍和電壓極限范圍以及振動(dòng)極限范圍條件下進(jìn)行10Cycle的試驗(yàn),并對(duì)其動(dòng)作特性進(jìn)行檢查。
試驗(yàn)profile:
判定基準(zhǔn):
1)溫度:-10℃~80℃,輸入電壓:額定±20%,Vibration:10Grms;
2)Cycle:5Cycle誤動(dòng)作/機(jī)能喪失/破壞/PL等現(xiàn)象不能發(fā)生。
參考文獻(xiàn)
[1]GB/T 4857.23-2012.
[2]GB/T 4857.5-1992.
[3]GB/T 2423.08 1995.
[4]GB/T 5170.18-2005.
闞洪磊(1981—),男,大學(xué)本科,現(xiàn)供職于惠州三星電子有限公司,研究方向:電子產(chǎn)品信賴(lài)性實(shí)驗(yàn)。
作者簡(jiǎn)介: