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        基于MEMS壓阻傳感器的低功耗高過載測試系統設計*

        2016-04-17 08:56:50馬游春王悅凱
        爆炸與沖擊 2016年5期
        關鍵詞:壓阻彈體加速度計

        韓 帥,馬游春,秦 麗,王悅凱,丁 寧

        (1.中北大學電子測試技術國家重點實驗室,山西 太原 030051;2. 儀器科學與動態(tài)測試教育部重點實驗室, 山西 太原 030051;3.北京全路通信信號研究設計院集團有限公司,北京 100070)

        基于MEMS壓阻傳感器的低功耗高過載測試系統設計*

        韓 帥1,2,3,馬游春1,2,秦 麗1,2,王悅凱1,2,丁 寧1,2

        (1.中北大學電子測試技術國家重點實驗室,山西 太原 030051;2. 儀器科學與動態(tài)測試教育部重點實驗室, 山西 太原 030051;3.北京全路通信信號研究設計院集團有限公司,北京 100070)

        為了檢驗彈體在高沖擊環(huán)境下的工作情況,提出了一種基于壓阻傳感器的高過載、低功耗的測試系統設計方案。該系統可承受2×105g的過載沖擊測試,且具有采樣率高、體積小、功耗低的特點。通過打靶實驗驗證:在過載測試過程中該系統具有承受高沖擊的能力,并能精確地采集到信號微弱變化,保證了彈體在飛行中記錄數據的準確性。

        爆炸力學;低功耗隨彈測試系統;高沖擊;壓阻式微加速度計

        隨著信息時代的不斷發(fā)展,由科學技術引領的軍事發(fā)展格外引人矚目,人工智能漸漸成為當今時代的主題。有人甚至預言“未來將是高技術戰(zhàn)場,誰能在人工智能領域中取勝,誰就能取得未來戰(zhàn)爭的主導權”。因此,各國軍事專家開始在武器裝備上朝著靈巧、簡單、智能的方向發(fā)展,不斷推陳出新并在實際中應用,例如小型無人機、水下小型潛艇等小型武器系統的出現[1-2]。但隨著系統尺寸趨于減小,受到的限制也越來越大,而系統功耗、可靠性等問題也就成了大家需要攻克的難題。

        為了解決上述問題,本文中提出一個基于MEMS壓阻傳感器的高過載、低功耗測試系統的研究方案[3-8],該系統具有精度高、體積小、功耗低、抗高過載等特點,在實際應用中可以準確測量彈體運動時的相關參數,為武器的研制、使用壽命、安全性能等方面研究提供重要科學的依據。

        1 系統設計

        圖1 系統總體設計Fig.1 General layout of system design

        過載測試系統的總體設計方案如圖1所示,主要由以下幾部分組成:壓阻傳感器、調理電路、數據采集電路、FPGA控制單元以及存儲單元。該系統的工作原理:壓阻傳感器把采集的信號轉變?yōu)殡娦盘?,并以差分形式輸出;經調理電路再把電信號放大到AD可采集的范圍內(0~2.5 V);最后,由FPGA控制Flash單元存儲采集到的測試數據。另外,系統使用串口讀數裝置讀取數據,并通過上位機軟件完成數據分析與處理。

        為了體現系統低功耗、高過載的性能特點,接下來將分別對系統使用的傳感器與電源管理模塊進行詳細介紹,以及對實驗數據進行分析說明。

        1.1 壓阻傳感器

        1.1.1 壓阻傳感器設計

        圖2 全橋差動電路Fig.2 Full-bridge differential circuit

        由于壓阻式傳感器的制作工藝成熟、信號處理可行性高、數據測試相對簡單,所以選用壓阻式加速度傳感器作為數據采集的前端。其工作原理如圖2所示,圖中U+為正向輸出電壓、U—為反向輸出電壓、Ui為傳感器的電壓輸入、GND為參考地、R1、R2、R3、R4為可變電阻。根據惠斯通原理由4個電阻元件組成電橋,當傳感器受到外部作用時,傳感器輸出的電壓會隨阻值的變化而變化。由于全橋差動電路構成的傳感器的靈敏度是單一電阻變換的4倍,所以在設計時內部采用全橋差動電路。同時,為使4個變化的電阻阻值不相互抵消,設計時還需滿足以下要求:相鄰阻值變化相反,對鄰阻值變化相同,具體公式為:

        (1)

        令:R1=R+ΔR1,R2=R-ΔR2,R3=R+ΔR3,R4=R-ΔR4,其中ΔR1、ΔR2、ΔR3、ΔR4為相應電阻增量,則化簡公式(1)得到:

        (2)

        式中:U+為正向輸出電壓;U—為反向輸出電壓;Uin為輸入電壓;Uout輸出電壓;

        由于MEMS工藝制作的壓阻式微加速度計具有可靠性好、集成度高的特點,可以很好地完成高過載測試。所以,結合實驗室現有MEMS工藝技術制作壓阻式微加速度計,其結構主要由懸臂梁和質量塊構成,如圖3所示。當加速度計感知加速度變化時,懸臂梁就會發(fā)生形變從而改變梁上的應力分布,所以布置在懸臂梁根部的壓敏電阻就會發(fā)生變化,壓阻式微加速度計就會有電壓輸出。

        圖3 壓阻式微加速度計結構受力模型Fig.3 Structural force model of piezoresistive micro accelerometer

        如圖3所示,當系統受到加速度作用時,在懸臂梁上距根部為X的點的撓度為:

        (3)

        在懸臂梁上距根部為X的點所受應力為:

        (4)

        1.1.2 可靠性模擬

        在進行高過載測試實驗時傳感器的瞬態(tài)受力非常大,且微加速度計的懸臂梁上各點受力強度也有所不同。因此,采用應力-強度隨機變量模型進行模擬分析。

        當微加速度計受到外部沖擊時,根據沖擊載荷振動方程

        (5)

        可以推導出加速度計的應力和應變方程,其表達式分別為:

        (6)

        (7)

        并可得出以下結論:在脈沖時間的中點(即強迫振動階段),微加速度計受到沖擊的加速度的值達到最大,且微加速度計的懸臂梁所受應力最大,即梁的根部X=0處。

        為了分析微加速度計在高沖擊的惡劣環(huán)境下的工作情況,采用ANSYS軟件對傳感器結構進行靜態(tài)分析,預測加速度計的抗過載能力。在外形尺寸為:質量塊邊長300 μm,梁長300 μm,梁寬230 μm的加速度計上施加2×105g的沖擊加速度載荷。微加速度計的應力、應變分布云圖如圖4所示。模擬結果顯示:在2×105g的沖擊載荷作用下結構的最大應變?yōu)?.177 μm、最大應力為32.8 MPa。

        圖4 加速度計應力應變ANSYS模擬圖Fig.4 ANSYS simulation diagram of accelerometer stress and strain

        1.2 采集電路模塊

        圖5 信號采集模塊電路設計圖Fig.5 Signal acquisition circuit

        由于傳感器輸出電壓非常微弱,所以在進行A/D采集轉換前,需要將信號進行放大處理,信號采集模塊的電路設計如圖5所示。系統采用寬電源電壓、低噪聲、外圍電路簡單的AD8226芯片進行前級精度放大,然后經過AD8606運放跟隨最終輸出給A/D芯片。電壓放大倍數由下式給出:

        (8)

        式中:G為放大倍數,RG為增益電阻阻值。

        雖然調理電路可以把電壓信號放大,但是有些關鍵信號仍是毫伏級,若選用低精度A/D轉換芯片,就不能區(qū)分轉換誤差與信號之間的差別。所以選用高精度ADC模數轉換芯片進行處理,通過增加芯片寄存器的位數,從而提高A/D芯片的分辨率,最終實現提高采樣精度目的。A/D的分辨率計算公式如下:

        (9)

        式中:Umax為A/D采集最高電壓,N為A/D采集精度,F為A/D的分辨率。

        通過上述兩種方法的結合,可以提高采樣精度,最終實現測量100g的加速度信號。

        1.3 電源管理模塊

        為了保證測試數據的完整性,在傳統的硬件設計中大多采用電源長期供電的方法,這種方法不僅使系統一直處于工作的狀態(tài),而且大大降低了電池的使用壽命、減少了系統的使用次數。同時,由于外形結構的限制,只能選用容量、體積小的鋰電池作為系統供電。所以,為了達到降低系統功耗、智能上電的目的,本系統選用了74HC74作為D觸發(fā)器控制器、74LX1G08作為與門控制單元,其工作電路圖如圖6所示。

        圖6 電源控制電路Fig.6 Circuit of power management

        系統采用D觸發(fā)器和與門組合的方法,靈活、便捷地實現了電源智能管理,達到降低系統電量損耗的目的,其工作原理如圖7所示。工作前,先將觸發(fā)信號線ST接地(即彈體),電源信號線BATVCC與鋰電池正極相連,觸發(fā)前電平狀態(tài)如圖7(a)所示:D觸發(fā)器的管腳5為高電平、9為低電平,電源使能信號線EN輸出低電平,此時電源模塊不供電;當彈體被射出瞬間外部連線斷開,ST觸發(fā)時的電平狀態(tài)如圖7(b)所示:ST產生一個上升沿,D觸發(fā)器的管腳5為高電平、9為高電平,EN輸出高電平,系統開始供電;當系統采集完數據后通過軟件觸發(fā),FPGA給出一個短暫的高電平,PDWN觸發(fā)時的電平狀態(tài)如圖7(c)所示:PDWN產生一個上升沿,D觸發(fā)器的管腳5為低電平、9為高電平,EN輸出低電平,系統供電關閉;最后對系統進行復位,此時電平狀態(tài)如圖7(d)所示,各管腳的電平恢復到初始態(tài),(其中,黃線:ST信號線,藍線:PDWN信號線,紫線:D觸發(fā)器5腳,綠線:D觸發(fā)器9腳)。

        圖7 電源模塊工作原理Fig.7 Working principle of power-supply module

        2 系統工作

        圖8 系統控制流程圖Fig.8 Flow chart of system control

        由于受到環(huán)境和尺寸的影響,所以選擇Actel公司推出的AGL030芯片作為FPGA[9]中心控制單元,該系列FPGA采用Flash架構,具有上電即運行、結構尺寸小的特點。系統工作原理如圖8所示,首先,系統完成硬件連接,并進行初始化;當彈體出膛瞬間完成觸發(fā)上電,系統開始進行數據采集并進行數據存儲;其次,在數據采集完之后,由FPGA給出一個系統關閉信號結束數據采集。其中,為了避免誤觸發(fā)而采集的錯誤信號,在FPGA程序中寫入閾值判斷程序,連續(xù)完成3次有效判斷后,方可打開Flash存儲器進行數據存儲。

        3 模擬與實踐

        為檢測系統功能是否正常工作,在進行硬件功能調試時使用信號發(fā)生器模擬模擬信號。在傳感器的輸入端加入一個頻率為100 Hz,振幅為80 mV的正弦模擬信號,通過對比示波器抓取的輸入信號(見圖9(a))與測試系統采集到的信號(見圖9(b)),可知:系統所采集的信號與示波器采集的信號基本一致,本測試系統可以準確地進行實驗數據采集。

        圖9 模擬信號數據對比圖Fig.9 Comparison chart of simulation signal data

        圖10 系統實物圖Fig.10 Image of actual model

        為了真正檢測系統的可靠性,還需對系統進行實彈實驗。在靶場測試前的系統實物如圖10所示,在彈體飛行中為防止硬件電路的損壞,需在安裝時進行防護處理。在傳感器部分使用環(huán)氧樹脂進行灌封保護,這樣既能保證該部分的剛性,又能對傳感器起到固定的作用。在進行過載測試時,使用聚氨酯或硅膠對采集電路進行保護,這樣可以減少沖擊力對電路的損害。

        在靶場進行實彈實驗時,需要過載測試系統加裝在彈體后部,并且引出觸發(fā)線。完成實彈發(fā)射后,使用串口讀數裝置讀取實驗數據,最后使用MATLAB軟件繪制原始數據曲線。彈體的出膛過載數據曲線如圖11(a)所示和侵徹過載數據曲線如圖11(b)所示,通過數據曲線我們可以看出:彈體在出膛瞬間主要受到的過載加速度最高可以達4×103g,而受到的外界空氣阻力相對較??;彈體在侵徹的20 ms過程中受到靶壁的阻力逐漸減弱,最大可以受到1.5×105g左右的過載沖擊。

        圖11 系統測試數據曲線Fig.11 Curve of system test data

        4 結 論

        設計出了一個基于MEMS壓阻傳感器的低功耗、高沖擊過載測試系統,它可實現106s-1的數據采樣率、智能上電或掉電。通過實踐證明:該系統具有采樣精度高、抗過載能力強、功耗小等特點,能準確無誤地完成數據采集,為武器系統的研究工作提供一個可靠的技術手段。

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        (責任編輯 曾月蓉)

        MEMS piezoresistive sensor based design of low-power consuming and high-overloaded testing system

        Han Shuai1,2,3, Ma Youchun1,2, Qin Li1,2, Wang Yuekai1,2, Ding Ning1,2

        (1.NationalKeylaboratoryforElectronicMeasurementTechnology,NorthUniversityofChina,Taiyuan030051,Shanxi,China;2.KeylaboratoryofInstrumentScience&DynamicMeasurementofMinistryofEducation,NorthUniversityofChina,Taiyuan030051,Shanxi,China;3.BeijingNationalRailwayResearch&DesignInstituteofSignal&CommunicationGroupCompanyLimited,Beijing100070,China)

        To investigate the working conditions of a missile in a high-impact environment, this paper presents a design scheme for low-power consuming and high-overload testing system based on an MEMS apiezoresistive sensor. The system is capable of withstanding tests with a 2×105goverloaded impact and possesses such characteristics as a high sampling rate, a small volume, and a low-power consumption. As validated by our targeting experiments, the system was able not only to withstand a high overloaded impact but also to accurately capture the slight variations of a weak signal, which ensures the accuracy of the data recorded by the missile in flight.

        mechanics of explosion; low-power consumption with missile test system; high-impact; piezoresistive micro-accelerometer

        10.11883/1001-1455(2016)05-0721-07

        2015-01-20; < class="emphasis_bold">修回日期:2015-02-10

        2015-02-10

        國家自然科學基金項目(91123036, 61178058)

        韓 帥(1987— ),男,碩士,idyujinxiang@163.com。

        O389;TJ713 <國標學科代碼:13035 class="emphasis_bold"> 國標學科代碼:13035 文獻標志碼:A國標學科代碼:13035

        A

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