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        用于真空斷路器滅弧室老煉的一種回路

        2016-03-17 07:00:23張忠華
        電氣技術(shù) 2016年2期

        張 松 張忠華 汪 洋

        (遼寧高壓電器產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)有限公司,沈陽(yáng) 110122)

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        用于真空斷路器滅弧室老煉的一種回路

        張松張忠華汪洋

        (遼寧高壓電器產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)有限公司,沈陽(yáng)110122)

        摘要分析并計(jì)算了用于真空斷路器滅弧室老煉的一種試驗(yàn)回路的元件參數(shù),并給出其仿真的波形,該回路元件少,控制容易,可以用于實(shí)際,達(dá)到真空滅弧室的老煉目的。

        關(guān)鍵詞:老煉試驗(yàn);真空斷路器;試驗(yàn)回路;真空滅弧室

        真空斷路器具有優(yōu)異的性能,在中壓領(lǐng)域已經(jīng)居于主導(dǎo)地位,并邁向高電壓的領(lǐng)域。真空斷路器的最主要部件為真空滅弧室,目前主要從三個(gè)方面來(lái)提高其性能:

        1)采用新材料來(lái)制作滅弧室觸頭;

        2)利用計(jì)算機(jī)的技術(shù)優(yōu)化滅弧室結(jié)構(gòu);

        3)采用老煉的方法對(duì)觸頭和屏蔽罩的表面進(jìn)行改善,提高它的擊穿電壓和長(zhǎng)期工作時(shí)的穩(wěn)定性。

        老煉即指使電極間受到多次擊穿,使電極表面經(jīng)受離子的轟擊。常用以下幾種方法進(jìn)行:①氣體老煉法;②輝光放電老煉法;③電流老煉法;④火花老煉法[1-2]。

        對(duì)于輝光放電老煉,真空室必須先要被抽空到UHV狀態(tài),再重新充入氣體(通常是氦、氬、氮),直至其壓強(qiáng)達(dá)到10?1~100Pa,然后開(kāi)始在電極間引發(fā)輝光放電。過(guò)一段時(shí)間后,真空室又重新被抽成真空。通常,輝光放電的電流I≈30mA,持續(xù)時(shí)間t=1h。在實(shí)際中,輝光放電老煉法用于大型UHV設(shè)備,例如,離子束分離器。

        同樣,對(duì)于氣體老煉,真空室也必須先要被抽到UHV狀態(tài),然后把氣體(例如氬氣)引入到裝置中,直至壓強(qiáng)達(dá)到10?2Pa。當(dāng)電壓u≥20kV時(shí),在電極之間開(kāi)始產(chǎn)生1~50μA的預(yù)擊穿電流。在恒定電壓的氣體老煉過(guò)程中,預(yù)放電(發(fā)射)電流一般都是減少而擊穿電壓提高。

        對(duì)于電流老煉,則須在觸頭上施加電壓,并以少量不連續(xù)的幅度增加。從而使預(yù)擊穿電流在每一間隔都保持穩(wěn)定。在這個(gè)過(guò)程中,預(yù)擊穿電流電平、噪音電平和隨機(jī)的微放電都將逐漸減弱。場(chǎng)增強(qiáng)系數(shù)β 減小而發(fā)射區(qū)域Ae增加。電流老煉是一種簡(jiǎn)單而常用的技術(shù),最佳的老煉電流值取決于電極的光潔度和觸頭所用材料的熔點(diǎn)[3]。

        火花老煉是提高真空滅弧室耐壓水平的一種實(shí)用的方法?;鸹ɡ蠠捑褪侵冈陟o態(tài)情況下給真空滅弧室施加高電壓(直流、工頻或沖擊)引起觸頭間及觸頭與屏蔽罩間強(qiáng)烈的火花放電。通過(guò)火花放電的作用,消除觸頭和屏蔽電極表面的高β 發(fā)射點(diǎn)[4]。

        對(duì)于真空的滅弧室而言,由于不能進(jìn)行充放氣因而輝光放電老煉法和氣體老煉法都不能夠?qū)嵤?。電流老煉法主要用于除去電極表面的氣體、氧化物和一些雜質(zhì),對(duì)于大電流的開(kāi)斷和抑制NSDD有效?;鸹ɡ蠠挿芴岣哒婵諟缁∈业哪蛪核?。本文為電流老煉法的一種試驗(yàn)回路。

        1 試驗(yàn)原理

        本回路不需要大容量的網(wǎng)電,只需低電壓即可,用整流回路對(duì)電容器進(jìn)行充電,利用電容器所存儲(chǔ)的能量,對(duì)真空滅弧室提供要求的電流。所以不用大的投資即可實(shí)現(xiàn)真空滅弧室的老煉,提高滅弧室的性能。真空滅弧室開(kāi)斷時(shí),利用燃弧的過(guò)程對(duì)觸頭表面進(jìn)行老煉,開(kāi)斷結(jié)束后試驗(yàn)回路產(chǎn)生高電壓,使真空間隙再次擊穿,對(duì)其再次進(jìn)行老煉,從而使老煉效果得到很大的提高。

        試驗(yàn)原理圖如圖1所示。

        圖1 斷路器的老煉試驗(yàn)原理圖

        對(duì)電容器充電的回路原理圖如圖2所示,使用變壓器對(duì)低壓電進(jìn)行升壓,再采用二極管的倍壓方法,即可產(chǎn)生所需的充電電壓對(duì)電容器充電。

        圖2 電容器充電的回路原理圖

        電容器充電回路原理如下:變壓器副邊正半周時(shí)(上正下負(fù)),電容器C1充電;變壓器副邊負(fù)半周時(shí)(上負(fù)下正),電容器CX兩端電壓為變壓器副邊電壓的2倍。

        2 數(shù)學(xué)模型

        對(duì)斷路器的老煉有老煉電流和高電壓的要求。下面以老煉電流:630A、高電壓:32.7kV為例進(jìn)行參數(shù)的計(jì)算及元件的選擇。

        根據(jù)要求可以導(dǎo)出

        式中,I0= 630,f0=50Hz 。

        按要求可求得:L1=82.61mH 。

        該設(shè)備上最高電壓:46.25kV。

        最高電流:1.782kA。

        真空滅弧室短路時(shí),C1和C2為并聯(lián)關(guān)系,設(shè)為C0,則

        按要求可求得

        即C1=C2=C3=61.3μF。

        C1、C2、C3設(shè)備上最高電壓:46.25kV。

        最高電流:630A。

        C1、C2、C3可選用20μF/30kV的電容器,每組6臺(tái)并聯(lián),2組串聯(lián)。

        若要求恢復(fù)電壓也為50Hz則需補(bǔ)償電容器C3,否則不需要補(bǔ)償電容器C3支路。

        3 仿真波形

        按計(jì)算所得參數(shù)采用ORCAD軟件進(jìn)行仿真,連接了補(bǔ)償電容器C3,所產(chǎn)生的回復(fù)電壓為交流50Hz,與電網(wǎng)的頻率一致。波形圖如圖3所示。

        圖3 真空滅弧室老煉的仿真波形圖

        4 試驗(yàn)方法

        1)U1合閘即真空滅弧室處于合閘位置;U3分閘;U2、U6合閘。

        2)利用充電回路對(duì)C1、C2、C3同時(shí)充電,然后分開(kāi)U2、U6,分離充電裝置。

        3)開(kāi)始老煉,U2、U3同時(shí)合閘,在頻率周期的整數(shù)倍時(shí)的電流零點(diǎn),真空滅弧室開(kāi)斷電流,若有C3支路則同時(shí)U6合閘。

        4)老煉結(jié)束后放電,準(zhǔn)備下一次老煉。

        5 結(jié)論

        本文分析計(jì)算了一種真空滅弧室老煉的回路,建立了數(shù)學(xué)模型。利用低壓電即可進(jìn)行老煉工作,使運(yùn)行的成本降低,提高了真空滅弧室的性能,可供真空滅弧室制造廠家作為參考。

        參考文獻(xiàn)

        [1] 何俊佳, 鄒積巖, 程禮椿. 真空滅弧室的火花老煉[J]. 高壓電器, 1994(1): 18-21.

        [2] 王衛(wèi)斌, 楊蘭均, 馮允平. 提高真空滅弧室老煉效果的幾種新方法[J]. 高壓電器, 1999(3): 40-43.

        [3] 張國(guó)明, 陳曉東, 謝錫華, 等. 10kV真空開(kāi)關(guān)老煉技術(shù)及其效果述評(píng)[J]. 高電壓技術(shù), 1994, 20(1): 52-55.

        [4] 馮淑秋. VCB 真空滅弧室的火花老煉法[J]. 電氣開(kāi)關(guān), 1998(2): 11-15.

        張松(1983-),男,工程師,從事高壓電器合成試驗(yàn)工作。

        The Aging Test Circuit Used for Vacuum Interrupter

        Zhang SongZhang ZhonghuaWang Yang
        (Liaoning High Voltage Apparatus Test Center of Product Quality, Shenyang110122)

        Abstract A test circuit parameters for vacuum interrupter aging test is analysed and calculated , and gives the simulation waveforms of the circuit components, the control is easy, can be used in practice, reaches the vacuum interrupter aging purposes.

        Keywords:aging test; vacuum circuit breaker; test circuit; vacuum interrupter

        作者簡(jiǎn)介

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