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        NFC端到端兼容性測(cè)試研究

        2015-12-31 12:50:14高一維
        電信科學(xué) 2015年3期
        關(guān)鍵詞:刷卡儀表一致性

        高一維,孫 宇

        (中國(guó)聯(lián)合網(wǎng)絡(luò)通信有限公司研究院 北京 100032)

        1 引言

        2014年 9月,搭載 NFC(near field communication,近場(chǎng)通信)功能的iPhone6的上市,使得NFC成為真正意義上的高端手機(jī)標(biāo)配;在此之前,華為、OPPO、魅族、小米等國(guó)內(nèi)終端廠商也紛紛在中低端市場(chǎng)推出了不同價(jià)位的NFC手機(jī)。NFC終端的全線覆蓋使得NFC應(yīng)用有了直接的載體并快速發(fā)展,除規(guī)模最大的行業(yè)應(yīng)用——公交應(yīng)用在全國(guó)大部分城市開(kāi)通外,沃爾瑪、星巴克、麥當(dāng)勞等零售業(yè)、餐飲業(yè)的行業(yè)龍頭也已紛紛在不同國(guó)家和地區(qū)開(kāi)通近場(chǎng)支付業(yè)務(wù),用戶手機(jī)支付習(xí)慣已初步養(yǎng)成。為了配合NFC支付的迅猛發(fā)展,中國(guó)銀聯(lián)也于2014年12月初完成了 500 萬(wàn)部“閃付”P(pán)OS(point of sale,銷售終端)的布置??梢钥闯?,在統(tǒng)一了NFC射頻標(biāo)準(zhǔn)之后,經(jīng)過(guò)產(chǎn)業(yè)鏈各方積極布局,基于NFC的移動(dòng)支付或?qū)⒃趦赡陜?nèi)迎來(lái)爆發(fā)式增長(zhǎng)。

        但NFC支付由于其先天產(chǎn)業(yè)鏈過(guò)長(zhǎng)、相關(guān)硬件廠商眾多等原因,其硬件性能差異、實(shí)現(xiàn)技術(shù)差異、標(biāo)準(zhǔn)差異等帶來(lái)的兼容性問(wèn)題成為NFC支付業(yè)務(wù)發(fā)展的巨大障礙。在2014年進(jìn)行的NFC終端外場(chǎng)測(cè)試中發(fā)現(xiàn),僅北京一地與某款NFC終端存在兼容性的“一卡通”行業(yè)POS就多達(dá)400余部。除此之外,兼容性測(cè)試的缺失也是影響NFC終端與POS端兼容性的重要原因。在整個(gè)NFC支付硬件測(cè)試鏈條上,SWP(single wire protocol,單線協(xié)議)卡、NFC終端、POS機(jī)分別由不同的生產(chǎn)或采購(gòu)方進(jìn)行測(cè)試,SWP卡與NFC終端之間的兼容性大多由運(yùn)營(yíng)商進(jìn)行測(cè)試,唯獨(dú)缺失了重要的終端——POS之間的端到端兼容性測(cè)試。NFC測(cè)試鏈及參與方如圖1所示。

        鑒于NFC端到端兼容性對(duì)近場(chǎng)支付的影響,GSMA、NFC論壇等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)組織已將其列入規(guī)范更新計(jì)劃之內(nèi);部分卡廠商、NFC芯片廠商、終端廠商等也開(kāi)始在力所能及的范圍內(nèi)進(jìn)行兼容性測(cè)試??傮w來(lái)說(shuō),NFC生態(tài)系統(tǒng)已日趨成熟,單純的射頻、尺寸、存儲(chǔ)等差距已越來(lái)越小,而真正制約支付NFC用戶體檢、決定NFC發(fā)展前景的核心點(diǎn)已轉(zhuǎn)向終端和POS端的兼容性層面。

        本文以SWP-SIM為基礎(chǔ),在分析相關(guān)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)上,提出了幾種提升NFC終端與POS端兼容性的測(cè)試方法。ESE-NFC(embedded security element-NFC,嵌入式安全模塊的 NFC)、SD-NFC (secure digital memory card-NFC,基于安全數(shù)字存儲(chǔ)卡的NFC)以及將來(lái)的HCE(host-based card emulation,基于主機(jī)的卡模擬)只是SE(security element,安全模塊)的存儲(chǔ)方式不同,其端到端兼容性的測(cè)試均可以參照以下方法。

        2 NFC終端標(biāo)準(zhǔn)與一致性測(cè)試

        2.1 NFC標(biāo)準(zhǔn)研究

        2.1.1 NFC技術(shù)規(guī)范

        在國(guó)際上,NFC技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)主要的制定組織有NFC論壇、ETSI、GSMA和ISO 4個(gè)組織[1]。NFC論壇是由主要的移動(dòng)通信、半導(dǎo)體、消費(fèi)電子產(chǎn)品公司建立的非盈利行業(yè)協(xié)會(huì),定義了NFC的模擬規(guī)范、數(shù)據(jù)交換所需數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)及協(xié)議、標(biāo)簽操作規(guī)范等;ISO組織主要定義了射頻協(xié)議規(guī)范;ETSI是歐洲電信標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì),制定了內(nèi)部實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn),對(duì)于SWP-SIM方案即NFC芯片與智能卡的接口規(guī)范;GSMA是全球運(yùn)營(yíng)商的聯(lián)合體,主要定義NFC需求規(guī)范。NFC技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)具體包括以下4個(gè)方面。

        (1)射頻非接標(biāo)準(zhǔn)

        NFC作為一種新的無(wú)線連接技術(shù),是由13.56 MHz的射頻識(shí)別(RFID)技術(shù)發(fā)展而來(lái)的,其標(biāo)準(zhǔn)大部分是基于ISO/IEC 14443、ISO 18092及ISO 15693。NFC射頻非接標(biāo)準(zhǔn)包括NFC論壇定義的模擬規(guī)范、數(shù)字協(xié)議規(guī)范以及ECMA定義的ECMA 340/NFCIP-1和ECMA 352/NFCIP-2規(guī)范[2]。

        (2)內(nèi)部實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)

        圖1 NFC測(cè)試鏈及參與方

        NFC設(shè)備內(nèi)部實(shí)現(xiàn)接口標(biāo)準(zhǔn)也就是NFC芯片和智能卡芯片的接口標(biāo)準(zhǔn)。NFC在終端上的實(shí)現(xiàn)有不同的架構(gòu),目前國(guó)內(nèi)運(yùn)營(yíng)商使用的是由ETSI定義的SWP/HCI標(biāo)準(zhǔn),將安全模塊SE放置在電信SIM卡上。ETSI對(duì)NFC設(shè)備內(nèi)部實(shí)現(xiàn)接口定義的標(biāo)準(zhǔn)是:ETSI TS 102 613和ETSI TS 102 622。在此技術(shù)規(guī)范下,NFC中的SE基于ETSI制定UICC標(biāo)準(zhǔn),而UICC與CLF之間遵循SWP及HCI標(biāo)準(zhǔn)要求,這樣就可以達(dá)到NFC設(shè)備要求[1]。

        (3)標(biāo)簽操作規(guī)范

        NFC論壇定義了NFC標(biāo)簽的規(guī)范,包括4類標(biāo)簽,分別為標(biāo)簽1、標(biāo)簽2、標(biāo)簽3、標(biāo)簽4。標(biāo)簽1是基于14443A協(xié)議,內(nèi)存最小為96 byte,標(biāo)簽2支持Mifare卡,標(biāo)簽3支持Sony的FeliCa技術(shù),標(biāo)簽4兼容14443A/B協(xié)議,存儲(chǔ)空間較大。對(duì)于每類標(biāo)簽,NFC論壇都定義了相應(yīng)的標(biāo)簽規(guī)范。

        (4)需求規(guī)范

        GSMA作為全球運(yùn)營(yíng)商的聯(lián)合體,致力于推廣基于電信SIM卡的SWP方案。GSMA關(guān)于NFC的標(biāo)準(zhǔn)主要集中于需求規(guī)范,更多地是從應(yīng)用角度提出需求規(guī)范。GSMA規(guī)范包括NFC手機(jī)API需求規(guī)范及NFC UICC需求規(guī)范[2]。

        2.1.2 NFC測(cè)試規(guī)范

        運(yùn)營(yíng)商主導(dǎo)的SWP方案的NFC終端測(cè)試內(nèi)容涉及射頻性能測(cè)試、協(xié)議測(cè)試、機(jī)卡接口測(cè)試、軟件功能測(cè)試、兼容性測(cè)試等方面。目前國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)主要對(duì)射頻性能測(cè)試、協(xié)議測(cè)試、機(jī)卡接口測(cè)試發(fā)布了測(cè)試規(guī)范,基于測(cè)試規(guī)范可以開(kāi)展一致性測(cè)試,驗(yàn)證NFC終端與規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)的一致程度。

        對(duì)于NFC射頻性能測(cè)試,其目的是測(cè)試NFC終端是否符合標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的強(qiáng)制性要求,涉及頻率功率和場(chǎng)強(qiáng)等參數(shù),NFC論壇定義了射頻測(cè)試規(guī)范《NFC Forum Analogue Test Specification》。射頻一致性測(cè)試需要使用認(rèn)證設(shè)備進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試設(shè)備包括校準(zhǔn)線圈,用來(lái)產(chǎn)生磁場(chǎng)的場(chǎng)源天線,用于測(cè)量被測(cè)設(shè)備所發(fā)射出信號(hào)的感應(yīng)線圈,用于測(cè)量發(fā)起設(shè)備的功率和調(diào)制的參考裝置以及數(shù)字取樣示波器[3]。

        NFC協(xié)議一致性測(cè)試是保證協(xié)議實(shí)現(xiàn)的一個(gè)重要手段。協(xié)議一致性測(cè)試規(guī)范包括NFC論壇發(fā)布的《NFC Forum-Test Cases for Digital Protocol》。

        SWP協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)為ETSI 102 613,測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)為 ETSI TS 102 694,在測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)中,102 694-1是對(duì)UE的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、102 694-2是對(duì)UICC的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)[3]。HCI協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)為ETSI 102 622,測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)為 ETSI TS 102 695。在測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)中,102 695-1是對(duì)UE的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、102 695-2是對(duì)UICC的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、102 695-3是主機(jī)控制器(host controller)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)[3]。

        北美和歐洲的標(biāo)準(zhǔn)化組織GCF(Global Certification Forum,全球認(rèn)證論壇)和PTCRB(PCS Type Certification Review Board,個(gè)人通信服務(wù)型號(hào)認(rèn)證評(píng)估委員會(huì))成立了工作組(GCF WI-133.PTCRB RFT 094)對(duì)NFC標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行跟進(jìn),并對(duì)支持NFC功能的移動(dòng)終端做出了測(cè)試要求,選取了ETSI 102 694-1和ETSI 102 695-1中的部分測(cè)試用例作為認(rèn)證測(cè)試的要求[3]。

        在國(guó)際組織里,如ISO/IEC、NFC論壇等,定義了技術(shù)規(guī)范和對(duì)應(yīng)的一致性測(cè)試規(guī)范,但是并沒(méi)有明確的關(guān)于兼容性測(cè)試的規(guī)范文檔[4]。在GSMA的規(guī)范體系里,有終端的功能性要求文檔,如《TS_27_NFC_Handset_test_Book》,暫未對(duì)NFC兼容性測(cè)試的規(guī)范做出定義。

        2.2 NFC終端一致性測(cè)試

        終端的一致性測(cè)試是指利用一組測(cè)試序列,在特定的測(cè)試環(huán)境下,對(duì)被測(cè)實(shí)體(IUT)進(jìn)行黑盒測(cè)試,通過(guò)比較被測(cè)終端的實(shí)際輸出與標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范中規(guī)定的預(yù)期輸出的異同,驗(yàn)證被測(cè)終端是否符合相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)范。一致性測(cè)試一般都有標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范進(jìn)行約定,并使用標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證的儀表來(lái)進(jìn)行測(cè)試。

        從標(biāo)準(zhǔn)層面來(lái)講,排除卡、終端、POS在實(shí)現(xiàn)或封裝時(shí)的差異,只要各自嚴(yán)格遵循相關(guān)射頻、協(xié)議規(guī)范,即可在一定程度上保證NFC各設(shè)備之間的數(shù)據(jù)交互。因此,在運(yùn)營(yíng)商、終端廠商已有射頻、協(xié)議等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試環(huán)境的情況下,可以使用嚴(yán)格的一致性測(cè)試提升NFC終端與POS端之間的兼容性。

        例如,常見(jiàn)的可變POS傳輸參數(shù)有:發(fā)射載波功率、發(fā)射載波頻率、通信速率、調(diào)制的時(shí)間參數(shù)、傳輸間隔時(shí)間、傳輸幀大小等,卡片的可變參數(shù)有傳輸間隔、傳輸速率等[5]。在常規(guī)的一致性測(cè)試中,只測(cè)試了終端在最大、最小磁場(chǎng)情況下的接收能力等少量參數(shù)組合。而在磁場(chǎng)大小固定的情況下,還有如下的可變因素:天線線圈大小、天線線圈負(fù)載阻抗、傳輸速率、磁場(chǎng)頻率、比特調(diào)制、終端在磁場(chǎng)中的位置。在實(shí)際的POS中,會(huì)因這些參數(shù)的不同組合而發(fā)生不同變化,這就要求在更嚴(yán)格的一致性測(cè)試中把這些可變參數(shù)會(huì)用到的所有組合都測(cè)試到。

        普通一致性測(cè)試只測(cè)試了106 kbit/s傳輸速率的情況,具體見(jiàn)表1。但是在實(shí)際使用中會(huì)用到的傳輸速率有106 kbit/s、212 kbit/s、424 kbit/s、848 kbit/s等情況,需通過(guò)更加嚴(yán)格的一致性測(cè)試,提高NFC終端兼容性[6]。

        另外,在普通協(xié)議一致性測(cè)試中是通過(guò)DTA(device test application,設(shè)備測(cè)試應(yīng)用)輔助程序完成測(cè)試的,在更嚴(yán)格的一致性測(cè)試中,可以使用模擬SWP卡片和手機(jī)的支付功能來(lái)測(cè)試協(xié)議。

        表1 射頻一致性的測(cè)試值(測(cè)試單一的變化因素)

        在加入模擬SWP卡片后,傳輸命令和響應(yīng)的間隔時(shí)間、協(xié)議安裝過(guò)程中卡片的實(shí)際參數(shù)定義會(huì)影響到終端與POS的交互能力。在更嚴(yán)格的測(cè)試中,需要把會(huì)用到的間隔時(shí)間、參數(shù)設(shè)置都盡量全面測(cè)試,從而提高NFC終端的兼容性。如有的終端在命令和響應(yīng)的間隔超過(guò)一定的時(shí)間后,其協(xié)議??赡軙?huì)進(jìn)入死循環(huán)。如卡片返回交易響應(yīng)的時(shí)間超過(guò)40 ms,終端出現(xiàn)協(xié)議異常情況。

        綜上,更加嚴(yán)格的一致性測(cè)試的實(shí)施有利于提高NFC終端與POS端的兼容性。但由于不同的硬件性能和封裝技術(shù)等差異,實(shí)際POS要比實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下更為復(fù)雜,一致性測(cè)試的結(jié)果往往與用戶實(shí)際使用情況存在不小的差異。

        3 端到端兼容性測(cè)試

        端到端的兼容性測(cè)試是指對(duì)NFC終端在CE模式下與不同POS端之間的刷卡成功率及刷卡性能的考察與評(píng)測(cè),是反映終端用戶真實(shí)刷卡體驗(yàn)的重要指標(biāo)。除用更嚴(yán)格的一致性測(cè)試來(lái)提高NFC與POS兼容性外,真正意義上的端到端兼容性測(cè)試主要有儀表兼容性測(cè)試、R/W兼容性測(cè)試、POS兼容性測(cè)試3種。

        3.1 儀表兼容性測(cè)試

        儀表兼容性,即使用儀表模擬不同傳輸參數(shù)的POS機(jī),對(duì)終端的兼容性進(jìn)行測(cè)試。常見(jiàn)的POS傳輸參數(shù)主要有發(fā)射載波功率、發(fā)射載波頻率、通信速率、調(diào)制的時(shí)間參數(shù)、傳輸間隔時(shí)間、傳輸幀大小等。儀表可以通過(guò)以上傳輸參數(shù)的不同組合模擬不同的POS機(jī),以測(cè)試終端的兼容性[7]。以數(shù)據(jù)傳輸速率106 kbit/s為例,可測(cè)試的POS參數(shù)組見(jiàn)表2。

        圖2提供了一種常見(jiàn)的儀表兼容性測(cè)試示意。NFC終端預(yù)置入SWP-SIM卡,通過(guò)空口或電纜與模擬不同POS參數(shù)的儀表進(jìn)行數(shù)據(jù)交互,以評(píng)測(cè)NFC終端的兼容性。

        儀表兼容性測(cè)試通過(guò)不同傳輸參數(shù)的組合,可以模擬大部分的POS終端,復(fù)現(xiàn)實(shí)際POS刷卡過(guò)程中遇到的故障,幫助分析定位并解決兼容性問(wèn)題。除此之外,還可以在儀表上根據(jù)需要開(kāi)發(fā)不同的測(cè)試腳本,測(cè)試效率及準(zhǔn)確性要遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于其他兼容性測(cè)試方法。

        但由于POS電路中電容、電感的性能差異,如用于耦合的電感允許存在±10%~15%的偏差,不同POS所產(chǎn)生的諧振頻率也不相同,包括POS機(jī)在實(shí)際封裝過(guò)程中實(shí)現(xiàn)技術(shù)的差異等,實(shí)際環(huán)境下的POS情況要更為復(fù)雜,測(cè)試者需要在儀表測(cè)試的過(guò)程中予以考慮。

        表2 106 kbit/s數(shù)據(jù)傳輸速率下的POS測(cè)試參數(shù)

        圖2 儀表兼容性測(cè)試示意

        3.2 R/W兼容性測(cè)試

        R/W兼容性測(cè)試,即使用不同的reader/writer對(duì)NFC終端的兼容性進(jìn)行測(cè)試。由于去除上層應(yīng)用的影響,實(shí)際的POS均可以看作一臺(tái)R/W,終端只需完成與R/W的數(shù)據(jù)交互,即可視為通過(guò)測(cè)試。測(cè)試者可以參照市場(chǎng)典型POS的型號(hào),選取不同芯片及天線尺寸的R/W。目前芯片廠商、終端廠商、卡商的兼容性測(cè)試多依照此方案進(jìn)行。

        在R/W兼容性測(cè)試中,測(cè)試者可以方便地從R/W中獲取測(cè)試數(shù)據(jù),統(tǒng)計(jì)測(cè)試信息,除進(jìn)行接觸條件下不同R/W一次刷卡成功率測(cè)試外,還可以借助機(jī)械臂,方便、精確地進(jìn)行盲區(qū)、不同距離刷卡成功率(0~40 mm)、不同角度刷卡成功率(0°、45°、90°)、中心點(diǎn)偏移刷卡成功率(上、下、左、右)等測(cè)試,如圖3和圖4所示。

        圖3 R/W兼容性測(cè)試示意

        圖4 中心點(diǎn)偏移測(cè)試示意

        此測(cè)試方案的優(yōu)點(diǎn)在于測(cè)試環(huán)境簡(jiǎn)單,測(cè)試效率較高,測(cè)試結(jié)果易于判斷。缺點(diǎn)在于由于忽略了不同POS實(shí)現(xiàn)方式(協(xié)議差異、封裝技術(shù)等)、上層應(yīng)用開(kāi)發(fā)、業(yè)務(wù)流程等對(duì)兼容性的影響,只能檢測(cè)NFC終端與有限類別R/W之間的兼容性,無(wú)法完全覆蓋真實(shí)的用戶使用體驗(yàn)。

        3.3 POS兼容性測(cè)試

        實(shí)驗(yàn)室POS兼容性測(cè)試以市場(chǎng)POS占有率或POS線圈大小、芯片類別為依據(jù),選取市面使用的典型POS機(jī),進(jìn)行離線或在線刷卡測(cè)試。

        由于POS機(jī)大多為嵌入式系統(tǒng),測(cè)試時(shí)除需要在NFC終端和POS端預(yù)置或新開(kāi)發(fā)應(yīng)用外,POS端還要根據(jù)需要導(dǎo)入證書(shū)或插入PSAM卡。在線的刷卡測(cè)試還需要搭建后臺(tái)計(jì)費(fèi)服務(wù)器,用于充值等測(cè)試。在POS兼容性測(cè)試中,POS覆蓋率是影響NFC兼容性測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確度的重要因素,測(cè)試者要根據(jù)POS市場(chǎng)份額及型號(hào)特性,盡可能地多提高實(shí)驗(yàn)POS覆蓋率,并制訂合理的結(jié)果評(píng)價(jià)方法。

        受POS端接口、證書(shū)、業(yè)務(wù)流程等限制,此類實(shí)驗(yàn)室一般由業(yè)務(wù)主管部門(mén)或POS采購(gòu)部門(mén)進(jìn)行建設(shè),如國(guó)內(nèi)的“一卡通”實(shí)驗(yàn)室、住房和城鄉(xiāng)建設(shè)部實(shí)驗(yàn)室以及日本的JR實(shí)驗(yàn)室等。

        典型的POS兼容性測(cè)試場(chǎng)景如圖5所示。其中儀表1為抓包器,用于抓取SWP-SIM與NFC終端之間的數(shù)據(jù),儀表2為非接抓包器,用于抓取終端與POS之間的容器數(shù)據(jù)。

        圖5 POS兼容性測(cè)試示意

        鑒于POS兼容性測(cè)試是NFC終端與真實(shí)商用POS之間的測(cè)試,所以能最真實(shí)、直觀地反映NFC端到端的兼容性。但由于POS數(shù)據(jù)的獲取需要由POS廠商開(kāi)放數(shù)據(jù)接口,導(dǎo)致難以開(kāi)發(fā)自動(dòng)化測(cè)試工具,盲區(qū)、成功率等測(cè)試需要耗費(fèi)大量人工,且結(jié)果不夠精確。另外,當(dāng)遇到偶發(fā)性問(wèn)題時(shí),測(cè)試場(chǎng)景難以復(fù)現(xiàn),不利于兼容性問(wèn)題的定位及分析。

        4 結(jié)束語(yǔ)

        基于以上分析,更嚴(yán)格的一致性測(cè)試容易實(shí)現(xiàn),但完全基于對(duì)終端的測(cè)試,忽略了POS等在實(shí)現(xiàn)時(shí)的差異;儀表兼容性測(cè)試通過(guò)儀表來(lái)模擬POS終端,可以復(fù)現(xiàn)實(shí)際POS刷卡過(guò)程中遇到的故障,但是實(shí)際使用的POS終端要比儀表模擬的POS終端更加復(fù)雜;R/W兼容性測(cè)試使用不同的reader/writer對(duì)NFC終端的兼容性進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試環(huán)境簡(jiǎn)單,測(cè)試效率較高,但是卻無(wú)法覆蓋不同POS實(shí)現(xiàn)方式、上層應(yīng)用開(kāi)發(fā)、業(yè)務(wù)流程等對(duì)兼容性的影響;POS兼容性測(cè)試選取市面使用的典型POS機(jī),進(jìn)行離線或在線刷卡測(cè)試,最能真實(shí)、直觀地反映NFC端到端的兼容性,但是需要由POS廠商開(kāi)放數(shù)據(jù)接口。各種兼容性測(cè)試的方法各有優(yōu)劣,行業(yè)各方需要根據(jù)自身實(shí)驗(yàn)環(huán)境及需求進(jìn)行選擇。

        傳統(tǒng)卡片行業(yè)也需要正視自身問(wèn)題,不要因手機(jī)支付導(dǎo)致的傳統(tǒng)卡片購(gòu)卡費(fèi)用減少、卡片管理權(quán)利轉(zhuǎn)移、購(gòu)卡押金減少等問(wèn)題而抵觸移動(dòng)支付,消極對(duì)待兼容性問(wèn)題。

        優(yōu)化NFC支付環(huán)境,提高NFC兼容性需要整個(gè)產(chǎn)業(yè)鏈集體協(xié)作,共同努力。僅有運(yùn)營(yíng)商、終端廠商及卡商的努力是遠(yuǎn)遠(yuǎn)不夠的。NFC與POS的兼容性必須有POS廠商以及住房和城鄉(xiāng)建設(shè)部、銀聯(lián)等產(chǎn)業(yè)鏈相關(guān)方的大力支持與參與。

        在標(biāo)準(zhǔn)層面,需要產(chǎn)業(yè)鏈各方努力推動(dòng)NFC終端與POS機(jī)兼容性標(biāo)準(zhǔn)的制定。實(shí)際使用層面,服務(wù)提供方應(yīng)及時(shí)收集用戶問(wèn)題及反饋,并通過(guò)兼容性測(cè)試對(duì)問(wèn)題進(jìn)行定位,修改問(wèn)題以防相同原因的問(wèn)題再次發(fā)生。測(cè)試層面,希望產(chǎn)業(yè)鏈各方能夠有開(kāi)放的態(tài)度,互相共享資源,共同合作,盡快推進(jìn)NFC兼容性測(cè)試,保證用戶良好的使用體驗(yàn),促進(jìn)整個(gè)NFC產(chǎn)業(yè)健康發(fā)展。

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