陳挺，周聞青，盧歆，葉欣，茅振華

(浙江省計量科學研究院，浙江杭州310018)

0 引言

共焦顯微術的概念首先是由美國的Minsky于1955年提出，其利用共焦原理搭建第一臺共焦顯微鏡，并于1957年申請了專利［1］。自20世紀90年代，隨著計算機技術的飛速發(fā)展，共焦顯微術成了研究的熱點，得到快速的發(fā)展。共焦顯微鏡可突破普通光學顯微鏡的衍射極限，其橫向分辨力為光學顯微鏡的1.4倍［2］。共焦測量術由于其高精度、高分辨率以及易于實現(xiàn)三維數(shù)字化成像的獨特優(yōu)勢，在生物醫(yī)學、材料科學、半導體制造、表面工程研究、精密測量等領域得到廣泛應用［3-5］。

光譜共焦技術是在共焦顯微術基礎上發(fā)展而來，其無需軸向掃描，直接由波長對應軸向距離信息，從而大幅提高測量速度［6］。而基于光譜共焦技術的傳感器是近年來出現(xiàn)的一種高精度、非接觸式的新型傳感器，精度理論上可達nm量級［7］。由于光譜共焦傳感器對被測表面狀況要求低，允許被測表面有更大的傾斜角，測量速度快，實時性高，迅速成為工業(yè)測量的熱門傳感器，廣泛應用于精密定位、薄膜厚度測量、微觀輪廓精密測量等領域。

本文在論述光譜共焦技術原理的基礎上，列舉了光譜共焦傳感器在幾何量計量測試中的典型應用，探討共焦技術在未來精密測量的進一步應用，展望其發(fā)展前景。

1 光譜共焦技術工作原理

光譜共焦位移傳感器使用寬譜光源照射到被測物體表面，由光譜儀探測反射回來的光譜，確定完美聚焦于物體表面的峰值波長，從而確定其軸向距離信息，其原理如圖1所示［8-10］。

圖1 光譜共焦傳感器工作原理圖

光源發(fā)出的具有寬光譜的復色光(如白光)穿過針孔后，近似為點光源。復色光經(jīng)過分光鏡(半透半反鏡)后，照射在一組色散鏡頭組上。色散鏡頭組將復色光在光軸方向上分解成不同波長的單色光(λ1，λ2，λ3…)，當被測物體放置在色散鏡頭組像平面附近的測量區(qū)域時，所有波長的光被反射回透鏡組后，通過分光鏡的反射面，反射至針孔，由放置在針孔后的光譜儀接收。由于點光源、物體表面某點、光譜儀前的針孔三者相互共軛，只有完美聚焦在被測物體表面的單色光才可以穿過針孔，由光譜分析儀確定其波長。因為每一個波長都預先對應于一個固定的距離值，因此通過確定光譜曲線峰值波長即可推算出對應的精確距離值。

假設被測物體表面某點剛好在單色光(λ2)的像點處，而針孔位于色散鏡頭組的焦點處，則此單色光反射反射回針孔時，形成的像點最小，剛好穿過針孔，此時光譜儀探測到的光強最大。針孔作為光闌，不但消除了雜散光，而且擋住了非色散透鏡主焦平面上其他波長的單色光，有效的提高了光譜儀的信噪比，使得光譜共焦探測系統(tǒng)具有很高的對比度和清晰度，極高的分辨率，可提供可靠、高精度、可持續(xù)的尺寸測量。

假設物體表面與傳感器相對移動，此時物體表面另外一點剛好處在單色光(λ1)的像點處，則光譜儀探測到的光譜曲線即為單色光(λ1)的光譜，如圖2所示。通過每次測量得到不同的波長值，即可推算出物體表面不同點之間的相對位移值。如果配上三維精細掃描機構，即可進行整體的三維表面輪廓及形貌的精確測量。

光譜共焦傳感器憑借其獨特的測量原理，相比其他傳統(tǒng)的位移傳感器，具有非接觸、體積小、精度高、測量效率高的特點，在各個領域得到了廣泛的應用。

圖2 T1，T2不同時刻光譜儀探測到的光譜分布示意圖

2 光譜共焦傳感器典型應用

2.1 表面粗糙度測量應用

表面粗糙度是指零件在加工過程中由于不同的加工方法、機床與刀具的精度、振動及磨損等因素在工件加工表面上形成的具有較小間距和較小峰谷的微觀水平狀況，是表面質量的一個重要衡量指標，關系零件的磨損、密封、潤滑、疲勞、研和等機械性能［11］。

表面粗糙度測量主要可分為接觸式測量和非接觸式測量。觸針式接觸測量容易劃傷測量表面、針尖易磨損、測量效率低、不能測復雜表面，而非接觸測量相對而言可以實現(xiàn)非接觸、高效、在線實時測量，而成為未來粗糙度測量的發(fā)展方向。目前常用的非接觸法主要有干涉法、散射法、散斑法、聚焦法等［12］。而其中聚焦法較為簡單實用。

沈小燕等［13］采用光譜共焦位移傳感器，搭建了一套簡易的測量裝置，對膜式燃氣表的閥蓋粗糙度進行了非接觸的測量，以此來判斷閥蓋密封性合格與否，取得了一定的效果。林杰俊等［14］基于光譜共焦傳感器，利用其搭建的二維納米測量定位裝置對粗糙度樣塊進行表面粗糙度的非接觸測量，并對測量結果進行不確定評定，得到U95為13.9%。

2.2 輪廓、幾何尺寸測量應用

隨著機械加工水平的發(fā)展，越來越多的微小復雜工件需要進行輪廓測量及精密尺寸測量，如小圓倒角的測量、小工件內壁溝槽尺寸等的測量。一些精密光學元件也需要進行非接觸的輪廓形貌測量，以避免接觸測量時劃傷光學表面。這些用傳統(tǒng)傳感器難以解決的測量難題，均可用光譜共焦傳感器搭建測量系統(tǒng)以解決。

宋紅滾［15］針對渦輪盤輪廓度檢測的問題，利用光譜共焦式位移傳感器實現(xiàn)渦輪盤輪廓度在線檢測系統(tǒng)的設計。沈小燕等［16］通過自行搭建的二維納米測量定位裝置，選用光譜共焦傳感器作為測頭，實現(xiàn)對超精密零件的二維尺寸測量，其結構示意圖如圖3所示。曹麗等［17］使用激光共焦位移計，配合二維精密控制微動臺，對西漢的日光鏡進行表面起伏深度的掃描，來探究光鏡反光成像原理。

圖3 超精密二維測量定位裝置示意圖

預計未來，通過3D打印加工的復雜表面結構，一些金屬表面的微小損傷，PCB板的平面度測量等也可基于光譜共焦傳感器配合掃描機構進行三維形貌的高精度測量。

2.3 薄膜材料厚度測量應用

由于光譜共焦傳感器對于不同的反射面反射回來的單色光的波長不同，因此對于材料的厚度精密測量具有獨特的優(yōu)勢。光學玻璃、生物薄膜、平行平板等，兩個反射面都會反射不同波長的單色光，進而只需一個傳感器，即可推算出厚度，測量精度可達微米量級，且不損傷被測表面。

朱萬彬等［18］討論了利用光譜共焦位移傳感器測量透明材料厚度的應用，計算了該系統(tǒng)的測量誤差范圍大概為0.005 mm。Miks A等［19］提供了利用光譜共焦傳感器對平行平板的厚度以及光學鏡頭的中心厚度進行測量的方法，并針對被測物體材料的色散對厚度測量精度的影響做了理論的分析。Zhou D W等［20］為了探究由流體跌落方式制備的薄膜厚度與跌落模式、雷諾數(shù)、底板的傾斜角度之間的關系，采用光譜共焦傳感器實時監(jiān)控制備后的薄膜厚度，其實驗裝置如圖4所示。馬小軍等［21］利用對頂安裝的白光共焦傳感器組，實現(xiàn)了對厚度為10～100 μm的金屬薄膜厚度及分布的精確測量，并進行了測量不確定度分析，得到系統(tǒng)的測量不確定度為0.12 μm左右。

圖4 實時測量薄膜厚度實驗裝置示意圖

3 結論

光譜共焦技術將軸向距離與波長建立起一套編碼規(guī)則，是一種高精度、非接觸的光學測量技術?；诠庾V共焦技術的傳感器作為一種亞微米級、快速精確測量的傳感器，已經(jīng)被廣泛應用于表面微觀形狀、厚度測量、位移測量、在線監(jiān)控及過程控制等工業(yè)測量領域。展望其未來，隨著光譜共焦傳感技術的發(fā)展，必將在微電子、線寬測量、納米測試、超精密幾何量計量測試等領域得到更多的應用。

［1］MINSKY M.Microscopy Apparatus:US 3013467［P］.1961-12.

［2］柳忠堯，閆聚群，張蕊，等.用于線寬測量的偏振干涉共焦顯微測量方法［J］.計量學報，2005，26(2):115-119.

［3］王永紅，高曉斌.并行共焦探測系統(tǒng)的數(shù)據(jù)與三維信息獲?。跩］.合肥工業(yè)大學學報:自然科學版，2004，27(10):1123-1125.

［4］高興宇，伍世榮，蕭澤新.一種現(xiàn)代先進成像技術:共焦顯微術［J］.光學技術，2005，31(增):244-249.

［5］王富生，譚久彬.表面微觀輪廓的高分辨率光學測量方法［J］.光學精密工程，2000，8(4):309-315.

［6］劉乾，楊維川，袁道成，等.光譜共焦顯微鏡的線性色散物鏡設計［J］.光學精密工程，2013，21(10):2473-2479.

［7］柳曉飛，鄧文怡，牛春暉，等.一種新型光譜共焦位移測量系統(tǒng)研究［J］.傳感器與微系統(tǒng)，2013，32(4):34-40.

［8］朱萬彬，鐘俊，莫仁蕓，等.光譜共焦位移傳感器物鏡設計［J］.光電工程，2010，37(8):62-66.

［9］Tiziani H J，Uhde H M.Three-dimensional image sensing by chromatic confocal microscopy［J］.Applied Optics，1994，33(10):1838-1843.

［10］金博石，鄧文怡，牛春暉，等.光譜共焦測量系統(tǒng)中色散透鏡組設計［J］.光學技術，2012，38(6):660-664.

［11］劉斌，馮其波，匡翠方.表面粗糙度測量方法綜述［J］.光學儀器，2004，26(5):54-58.

［12］李粉蘭，唐文彥，段海峰，等.非接觸式表面粗糙度測量研究新進展［J］.激光與紅外，2007，37(6):498-502.

［13］沈小燕，崔延，林杰，等.膜式燃氣表閥蓋密封性檢測研究［J］.機床與液壓，2014，42(10):178-181.

［14］林杰俊.二維納米測量定位裝置的研究［D］.杭州:中國計量學院，2013.

［15］宋紅滾.基于LabVIEW渦輪盤輪廓度測量系統(tǒng)研究［D］.南昌:南昌大學，2012.

［16］沈小燕，林杰俊，李加福，等.超精密二維測量定位系統(tǒng)評定及誤差分析［J］.儀表技術與傳感器，2013，(6):131-134.

［17］曹麗，許聰.基于激光共焦位移計的日光鏡表面掃描檢測［C］//第九屆全國光學測試學術討論會論文(摘要集).中國，廈門:中國光學學會光學測試專業(yè)委員會，2001.

［18］朱萬彬，曹世豪.光譜共焦位移傳感器測量透明材料厚度的應用［J］.光機電信息，2011，28(9):50-53.

［19］Miks A，Nobak J，Novak P.Analysis of method for measuring thickness of place-parallel plates and lenses using chromatic confocal sensor［J］.AppliedOptics，2010，49(17):3259-3264.

［20］Zhou D W，Gambaryan-Roisman T，Stephan P.Measurement of water falling film thickness to flat plate using confocal chromatic sensoring technique［J］.Experimental Thermal and Fluid Science，2009，33(2):273-283.

［21］馬小軍，高黨忠，楊蒙生，等.應用白光共焦光譜測量金屬薄膜厚度［J］.光學精密工程，2011，19(1):17-22.