王建超，陸 鋒，張凱虹

（1. 江南大學物聯(lián)網(wǎng)工程學院，江蘇 無錫 214122；2. 中國電子科技集團公司第58研究所，江蘇 無錫 214035）

1 引言

基于Virtex架構(gòu)的FPGA的靈活性和編程能力強?；赩irtex 架構(gòu)的 FPGA 由陣列式的可配置邏輯模塊（CLB）、輸入輸出等模塊組成。利用FPGA器件實現(xiàn)特定功能設計時，內(nèi)部布線資源產(chǎn)生的延時將會對所設計的芯片速度產(chǎn)生很大的影響?；赩irtex架構(gòu)的FPGA 器件中對路由資源和布局布線在同一過程中進行優(yōu)化。這一優(yōu)化過程減少了最大路徑的延時，同時也提高了系統(tǒng)的速度[2]。

FPGA器件內(nèi)部可編程布線資源所占的晶體管數(shù)量是所有模塊中最多的，其故障發(fā)生率也是最高，因此對布線資源的測試是一個重要的研究領域。布線資源的測試是FPGA測試中的一個難點，一般的思路都是把眾多的線段連成一條條總線，使用走步-l（walking-1）測試向量來測試，而使用BIST方法也層出不窮，這些方法達到了更少的編程次數(shù)和更高的覆蓋率。通常為了減少配置次數(shù)，可編程布線資源采用把單長線和雙長線的測試壓縮到一起，以及手工連線的測試辦法。本文對基于Virtex架構(gòu)的FPGA布線資源采用通用方法的組合進行測試，從而對布線資源達到全覆蓋測試。

2 布線資源故障模型

可編程布線資源存在著多種故障模型，這些故障模型是對各類器件失效方式的描述，每一種故障模型都會影響器件的正常工作?？删幊滩季€資源是由可編程布線點和線段組成。因此布線資源的故障模型可以分為兩類：線段的故障模型與可編程布線點的故障模型。它們的故障模型分別建立如下：

（1）線段的開路故障：金屬線斷開，不連續(xù)就會導致線的開路故障。

（2）線段的固定型故障：布線線短路到 VDD 或 GND將會導致線的固定1故障（SA-1）或固定0故障（SA-0）。

（3）線段的橋接故障：當電路中兩根或兩根以上不相連的線短接在一起并形成線邏輯時，對此缺陷用橋接故障（bridging fault）模型來描述。當橋接故障涉及的連線多于兩條時，則稱該故障為多重橋接故障。

（4）可編程開關的常開故障（stuck-on）：常開故障會阻礙連接線間的信號傳輸。

（5）可編程開關的常閉故障（stuck-off）：與常開故障相比，常閉故障并不會中斷連接線間的連接，類似于橋接故障。

線段的固定型故障和開路故障都會造成傳輸信號的不連續(xù)，因此，這兩種故障都可以用傳輸0和傳輸1的方法檢測。線段的橋接故障可認為在線段搭接處短路，當使用連線傳輸相反邏輯時，可觀察到故障，因此可以使用走步向量檢測橋接故障；可編程開關的常開故障會中斷信號的傳輸，那么可以觀察信號是否正確傳輸檢測該故障；對可編程開關常閉故障的檢測，可以觀察開關在兩種工作狀態(tài)下的輸出情況以檢測此故障。

3 故障檢測方法

與門可以測得線上（S-A-0）的故障，或門可以測得（S-A-1）的故障。

圖1 與、或故障測試

（1）與門測試方法：

把所有CLB中的LUT都設置為與門，xdl中將LUT的描述公式改為：

F：LUT4_inst[1]：#LUT：D=(A1×A2×A3×A4)

G：LUT4_inst[2]：#LUT：D=(A1×A2×A3×A4)

把每個slice的lut連接成每個slice作為8個輸入F1、F2、F3、F4、G1、G2、G3、G4，輸出給 X，Y。每 4個slice為一組，8輸入為4個輸入的公共輸入端口并接入到SWB上，4個slice的x、y輸出分別接到SWB的8端口上。XDL文件中用腳本處理，最終將8個輸入端口和8個輸出端分別接到IO上。將輸入端口設置為高電平，觀察輸出端口的電平變化，如果輸出端口輸出低電平，則線上出現(xiàn)了固定0故障（SA-0）。

（2）或門測試方法：

把所有CLB中的LUT都設置為或門，xdl將LUT的描述公式改為：

F：LUT4_inst[1]：#LUT：D=(A1+A2+A3+A4)

G：LUT4_inst[2]：#LUT：D=(A1+A2+A3+A4)

然后重復與門測試步驟，最后把輸入改為低電平，觀察輸出端口電平變化，如果輸出端口輸出高電平，則線上出現(xiàn)了固定1故障（SA-1）。6倍線和長線如上方法可以測得故障覆蓋率。

4 布線資源的測試原理

基于Virtex架構(gòu)的FPGA布線資源可分為4類，包括全局布線資源、長線資源、短線資源和分布式布線資源。全局布線資源用于電路內(nèi)部全局時鐘和全局復位/置位的布線；長線資源用以完成電路bank間的高速信號和第二全局時鐘信號的布線；短線資源用以完成基本邏輯單元之間的邏輯互聯(lián)和布線；分布式布線資源用于專有時鐘、復位等控制信號線。

FPGA的通用測試和統(tǒng)計方法有幾種。方法1：基于應用的布線資源測試，非確定性方法，適用于一般用戶，難以達到較高的覆蓋率；方法2：手動布線方法，確定性方法，適用于高級用戶，完全采用該方法需要耗費大量的人力與時間，通常被用作方法1的補充；方法3：基于FPGA editor坐標圖的腳本語言布線方法，確定性方法，適用于高級用戶，可讀性差，需要人工統(tǒng)計各PIP的坐標；方法4：基于xdl（Xilinx Design Language）語言的腳本語言布線方法，確定性方法，適用于高級用戶，可讀性好，需要xdl語言支持；方法5：基于配置文件的覆蓋率統(tǒng)計方法，確定性方法，適用于FPGA設計人員，需要設計人員提供配置文件與FPGA各資源的對應關系；方法6：基于xdl語言的布線資源覆蓋率統(tǒng)計算法，確定性方法，適用于高級用戶，可讀性好，需要xdl語言支持。

其中前4種為測試方法，后2種為統(tǒng)計方法。統(tǒng)計方法雖然不是測試方法，但是它既可以給用戶提供直觀的測試覆蓋率，又可以指導測試人員設計有針對性的下一輪測試方案。本文對基于Virtex架構(gòu)的FPGA布線資源采用上述幾種方法的組合進行測試，從而對布線資源達到全覆蓋測試。

4.1 Interconnect（PSM）之六長線

基于Virtex架構(gòu)的FPGA其Interconnect（PSM）具有以下連接規(guī)則：（1）在同一方向（垂直方向或水平方向）兩條緊挨著的單線可通過一個可編程開關（PS）相連接；（2）位于同一個布線通道中的兩條十六進制線之間必然存在一個PS；（3）長線可以通過PSM與十六進制線相連接?？偠灾梢酝ㄟ^ PSM 使任意兩條布線線段相連接。

相鄰CLB間采用如圖2的邏輯，4路輸入信號構(gòu)成8組輸出，最終整個電路被配置為級數(shù)相等的移位寄存器鏈（由觸發(fā)器與查找表構(gòu)成），然后對六長線布線和六長線開關進行測試。

圖2 六長線測試的CLB內(nèi)部邏輯

采用中間六長線的隔3轉(zhuǎn)向法進行測試，具體路徑描述為：采用CLB的XQ/X/YQ/Y輸出信號，經(jīng)H6Ei輸出；至RxCy+3后，轉(zhuǎn)V6Si輸出；至Rx+3Cy+3后，轉(zhuǎn)V6Si輸出；至Rx+3Cy后，轉(zhuǎn)V6Ni輸出；返回RxCy后，轉(zhuǎn)單長線，輸入RxCy+1的CLB之X/XQ/Y/YQ。

整體布局如圖3，采用蛇形結(jié)構(gòu)，從而避免了R1C48與R2C1布線資源的遠距離連接，因為這種遠距離連接需要利用六長線進行中轉(zhuǎn)或者直接利用六長線進行連接。

然后撰寫verilog程序，并進行rtl級仿真；撰寫用戶約束ucf程序(由perl語言程序產(chǎn)生)；采用手動布線或者基于FPGA editor坐標圖的腳本語言布線方法，給出從左至右的6根布線，與從右至左的6根布線對應的ncd文件；將上述ncd文件轉(zhuǎn)換為xdl文件；依據(jù)xdl文件中的布線描述，撰寫perl語言程序，修改ncd文件中的其它同規(guī)則布線；將修改后的xdl文件轉(zhuǎn)換為ncd文件，并將其余沒布線的連接關系，采用自動布線方式進行布線；依據(jù)修改后的ncd，產(chǎn)生布局布線后的門級仿真線網(wǎng)表，進行門級仿真；門級仿真無故障后，載入測試系統(tǒng)進行測試；撰寫perl語言覆蓋率統(tǒng)計程序，統(tǒng)計上述xdl程序的覆蓋率，從而對六長線進行全覆蓋測試。

圖3 六長線測試整體布局圖

4.2 Interconnect（PSM）之長線

采用長線與TBUF同時測試的方案，這樣的做法可以降低測試向量的總體長度，對FPGA而言，還可以減少用于配置的時間總長度。但由于長線的輸入/輸出雖然有8種可能，但每次配置一旦確定1種可能，則其余7種不再允許輸入/輸出；所以測試水平長線，至少需要8段測試碼。同理，測試豎直長線，需要6段測試碼。由于水平長線與豎直長線可同時進行測試，所以長線測試總共需要8段測試碼，實際配置后如圖4。然后對長線布線和長線開關進行測試。

將用于測試TBUF的兩根輸入信號經(jīng)OMUX連接長線，然后再繞回TBUF。以列為單位，逐列掃描，進行自測試，使長線資源測試達到全覆蓋。

圖4 長線測試布線圖

圖5 單長線測試整體布局圖

4.3 單長線資源

將每個PSM對應的24根水平單長線分為3組，這樣使得每組8根與OMUX輸出的8根信號一一對應，從而確保布線與開關同時進行測試。

整體布局如圖5，為了避免R1C48與R2C1布線資源的遠距離連接，整體布局也是采用蛇形結(jié)構(gòu)。

5 結(jié)束語

本文通過對基于Virtex架構(gòu)FPGA布線資源的六長線、長線、單長線的測試技術研究，采用通用方法的組合進行測試，測試程序可讀性好、可復用性高，對布線資源測試故障覆蓋率高、故障定位準確。

[1]Ehsan A toof i an , Zainalabed in Navabi. A Test Approach for Look Up Table Based FPGAs [J]. Journal of Computer Science and Technology, 2006.

[2]Xilinx Data Book.Virtex-II Platform FPGA User Guide[Z].Xilinx Inc.November, 2007.

[3]Xilinx Data Book.Virtex-6 FPGA Configuration User Guide[Z]. Xilinx Inc.September, 2012.

[4]唐恒標，馮建華，等. 基于測試系統(tǒng)的FPGA邏輯資源的測試[J]. 微電子學，2006.

[5]李文昌，萬理，等. 應用于Virtex系列FPGA的IR-CLB資源的聯(lián)合測試和診斷[J]. 微電子學與計算機，2014(01)：31.

[6]周濤. SRAM型FPGA的測試技術研究[D]. 成都：電子科技大學，2006. 5-7.