陳金遠,李智群,錢 峰,焦 芳
(1. 南京電子器件研究所,南京 210016;2. 東南大學集成電路工程學院,南京 210096)
附加效率作為功率放大器的一項重要性能指標,一直受到廣大器件設計者及使用者的重點關注。脈沖功率放大器測試技術經(jīng)過近幾年的發(fā)展,逐步形成一套穩(wěn)定的測試模式和測試方法。通過前期的工作,我們對功率放大器單片進行脈沖在片測試能夠提供的測試參數(shù)包括線性增益、相位、輸入駐波、靜態(tài)電流和飽和狀態(tài)下的輸出功率、相位、輸入駐波等參數(shù)[1],從功率單片全參數(shù)測試方面看,此方法并不能反映放大器芯片效率情況, 因此相關測試技術有待完善。
為了更全面地反映功率單片性能,開展如何進行在片脈沖功率測試掃頻下的動態(tài)電流測試研究是很有必要的,也是效率測試的關鍵。
以下分析幾種常見動態(tài)電流測試方法,試圖尋找一種合適的測試方法用于功率單片在片生產(chǎn)測試應用環(huán)境,它需要具備穩(wěn)定性高、精度高以及速度快的基本優(yōu)勢。
采用信號源與功率計可以直接測試放大器效率,其測試方法如圖1所示。
圖1 直流電源直接讀取方法
這種測試方法廣泛應用于放大器連續(xù)波測試,也常見于脈沖狀態(tài)下的效率測試,在脈沖狀態(tài)下讀取的電流值為測試頻點下的平均電流,測試精度較高。此方法應用于脈沖連續(xù)掃頻狀態(tài)下的快速測試,存在兩個問題:首先難以實現(xiàn)電流采集與掃頻同步,其次脈沖狀態(tài)下讀取電流值為平均電流,讀取的電流包含電源調(diào)制電路的電流,測試精度還會受測試占空比等測試條件的影響。
為了實現(xiàn)脈沖下的精確電流測試,去除電源脈沖調(diào)制模塊電流引入的誤差,在圖1的方法上進行改進,引入電流探頭直接讀取待測件的工作電流,測試方法如圖2所示。
圖2 利用電流探頭采集工作電流
這種改進后的方法可以直接采集到器件的工作電流,提高電流測試精度,是解決脈沖工作電流測試的有效解決方案,這種測試方法解決了脈沖電流采集問題,但涉及電源、示波器、信號源以及功率計各儀器間的通信速度和頻率同步切換,成為快速測試的制約項。因此以上兩種最常用的測試方法不適用于在片脈沖放大器的生產(chǎn)測試,不具備工程應用價值。
基于PNA-X的脈沖功率放大器測試是目前行業(yè)內(nèi)最快的放大器測試方法之一,在PNA-X系列矢量網(wǎng)絡分析儀的后面板都增加了一個接口(Power I/O),該接口除提供兩路直流輸出外,還提供內(nèi)置電壓表支持兩路輸入電壓測量,在此基礎上推出一種效率測試方法[2],這種方法直觀、簡捷,測試速度很快,內(nèi)部轉(zhuǎn)換時間小于1 μs[2],可以解決快速掃頻測試下的同步問題,測試原理如圖3所示。
圖3 基于PNA-X的放大器電流測試[3]
這種測試方法中的關鍵探測電路(Sensing circuit)可以等效為一個電阻Rs,利用電流經(jīng)過串聯(lián)電阻時電阻兩端壓降將工作電流轉(zhuǎn)換為電壓,利用Power I/O的兩路電壓測量(AnalogIn1、AnalogIn2)直接得到電阻兩端的電壓(AI1、AI2),從而得到待測放大器的動態(tài)工作電流:
而放大器輸出功率(Pout)可以直接測試得到,輸入功率(Pin)及工作電壓(Vd)已知,因此可以得到功率放大器的附加效率:
綜合上述測試方法,最突出的優(yōu)點是可以解決脈沖狀態(tài)下電流測試的同步問題,但這個方法實際應用于寬帶大功率放大器測試時存在一個缺陷。因為放大器的匹配設計導致在工作頻帶內(nèi)各個頻點匹配狀態(tài)不同,因此在做掃頻測試時,每個頻點的動態(tài)工作電流不同,電阻Rs帶來的影響就是引起不同頻點上電源供給待測芯片根部的驅(qū)動電壓隨著電流的變化而變化,這個狀態(tài)與待測件實際工作狀態(tài)都不相同,將使得測試結(jié)果失去意義。在連續(xù)波工作狀態(tài)下可以通過直流穩(wěn)壓電源(S端)的自動補償解決此問題,但脈沖工作狀態(tài)下難以實現(xiàn)。
針對前面一些測試方法的優(yōu)缺點綜合考慮,提出一個新的解決方法,就是電流探頭結(jié)合PNX后面板Power I/O結(jié)合的方法。
基于PNA-X的效率測試方法解決了快速脈沖同步問題,推想僅需要得到與實際工作電流相關的一個電壓值VId即可,但不能影響待測件的驅(qū)動電壓。而在電流探頭與示波器的結(jié)合測試方法中,可以通過電流探頭直接得到待測器件的工作電流,電流探頭提供了需要的VId,因此引入新的測試方法,如圖4所示。
圖4 基于PNA-X的新效率測試方法
這個方法有效利用PNA-X自身的快速同步功能,同時巧妙避開了串接電阻Rs引起的壓降效應,使得到達芯片根部電壓與工作狀態(tài)相同,在有效采集動態(tài)電流的同時不影響其他參數(shù)的測試。
基于此改進測試方法測試脈沖放大器的測試顯示界面如圖5所示,可以同時測試脈沖放大器功率參數(shù)、動態(tài)電流及線性S參數(shù)等。
圖5 基于PNA-X的新方法測試界面
使用此方法后新增測試參數(shù)而對測試速度未造成影響,1 ms脈沖周期下,同時測試功率放大器的線性、飽和狀態(tài)下的增益、功率、相位、駐波參數(shù)及效率,掃描250頻點總耗時不超過15 s,測試效果如圖6所示。
圖6 實際測試速度顯示
利用一款8.5 GHz~10.5 GHz功率放大器芯片驗證新的測試方法,其動態(tài)工作電流4~5 A,選用Keysight N2882A電流探頭,其測試結(jié)果不確定度如圖7。
圖7 測試結(jié)果及不確定度
就測試結(jié)果來看,測試穩(wěn)定性控制在1%以內(nèi),對該款產(chǎn)品的測試而言測試方法的穩(wěn)定性是足夠的??梢愿鶕?jù)不同測試電流范圍選擇合適的電流探頭,這與PNA-X的AnalogIn1、AnalogIn2接收端口標稱精度相關,為±1.22 mV[2]。這是影響不確定度的主要因素,另外N2882A電流探頭的感應電流電壓轉(zhuǎn)化比為0.1 V/A,因此如果測試其他電流范圍需要考慮電流探頭電壓轉(zhuǎn)化比對測試精度的影響。
還是采用相同電流探頭對同款產(chǎn)品的測試精度進行驗證,選擇其工作頻帶內(nèi)任意一點采用脈沖狀態(tài)下測試進行比較,結(jié)果如圖8所示。
圖8 新方法與電源讀取的電流相對誤差
本實驗AnalogIn1讀取電流較電源直接讀取電流偏大1%~3%,選取測試典型值進行對比,最終測試效率結(jié)果如圖9所示,功率放大器在同種工作狀態(tài)下測試效率差別控制在1%以內(nèi),此測試效率方法的精度是可以信賴的,測試方法是可行的。
圖9 新方法與電源讀取的測試效率結(jié)果對比
本測試方法可用于脈沖功率放大器的快速效率測試,但解決方案并不完美,相同設備狀態(tài)下使用范圍存在一定的局限性,需要注意的問題主要有以下兩個方面:
(1)測試精度與電流探頭的選擇相關,電流探頭的電壓轉(zhuǎn)化比與Power I/O的模擬輸入端測試精度對測試結(jié)果起到主要影響作用;
(2)電流探頭的磁化效應會影響測試結(jié)果的準確性及穩(wěn)定性,長時間的測試需要注意探頭漂移誤差,需要實時消磁調(diào)零。
[1]陳金遠,陶洪琪,曹敏華,等. GaAs功率單片脈沖在片測試技術研究[J].固體電子學研究與進展,2012,32:582-583.
[2]PNA Series Network Analyzer Help (Keysight Technologies)[EB/OL].http://na.tm.keysight.com/pna/help/ ,2013.
[3]PNA-X Application-Power-Added Efficiency (PAE)Application Note 1408-16 (Keysight Technologies) [EB/OL]. http://www.keysight.com, 2007.