吳賢海李曉鳳 曹娟
(1上海輻達(dá)環(huán)保技術(shù)有限公司 上海 2000652上海市輻射環(huán)境監(jiān)督站 上海 200065)
自2007年起,全國輻射環(huán)境監(jiān)測項目已全面啟動,輻射累積劑量是我國輻射環(huán)境監(jiān)測項目中的主要監(jiān)測內(nèi)容之一,各單位主要以熱釋光分析技術(shù)為主,只有極少部分單位開展了光釋光分析技術(shù)。熱釋光及光釋光分析技術(shù)均是個人和環(huán)境輻射累積劑量的監(jiān)測方法,就目前而言,熱釋光分析技術(shù)更為成熟,應(yīng)用程度更廣泛[1,2]。熱釋光分析技術(shù)除了廣泛應(yīng)用于個人和環(huán)境輻射累積劑量的測量,其在年代測定等其它領(lǐng)域內(nèi)的應(yīng)用也尤為突出。為檢驗全國輻射環(huán)境監(jiān)測網(wǎng)絡(luò)各成員單位對輻射累積劑量測量技術(shù)的掌握程度,識別和掌握實驗室間的差異,增加各實驗室間監(jiān)測結(jié)果的可比性,環(huán)保部輻射環(huán)境監(jiān)測技術(shù)中心于2013年根據(jù)環(huán)保部核設(shè)施安全監(jiān)管司的要求,開展了輻射累積劑量盲樣考核活動。上海市輻射環(huán)境監(jiān)督站作為全國輻射環(huán)境監(jiān)測網(wǎng)絡(luò)成員單位之一,采用熱釋光分析技術(shù),參加了此次盲樣考核。
按要求準(zhǔn)備已篩選過的同批次熱釋光探測器[CTLD-1000型,LiF(Mg,Cu,P)材料]30片,LiF(Mg,Cu,P)材料是目前技術(shù)最成熟,使用最廣泛的熱釋光探測器材料之一[3,4]。
參照國家標(biāo)準(zhǔn)《個人和環(huán)境監(jiān)測用熱釋光劑量測量系統(tǒng)》(GB 10264-1988)。
將準(zhǔn)備好的30片熱釋光探測器置于2000B型熱釋光退火爐內(nèi)在240℃下退火10min(恒溫時間),取出并快速冷卻,并記錄好退火時間。
將退火好的每組熱釋光探測器放置塑料盒內(nèi)包裝好,并按要求分別貼上標(biāo)簽:照射場A組、照射場B組、本底C組。其中,C組作為本底控制元件,記錄本底累積值。用封箱帶將每組探測器進(jìn)行塑封(避免受到環(huán)境中濕氣等因素的影響),置于鉛袋中。
將準(zhǔn)備好的3組熱釋光探測器同時送至中國計量技術(shù)開發(fā)總公司,由中國計量技術(shù)開發(fā)總公司根據(jù)考核要求用兩種不同劑量的60Co源對A組、B組熱釋光探測器分別進(jìn)行輻照。
打開RGD-3B型熱釋光劑量儀(經(jīng)上海市計量測試技術(shù)研究院檢定合格,且在檢定的有效期內(nèi)),經(jīng)“高壓”預(yù)熱40min后,查看10s鐘光源計數(shù)是否穩(wěn)定,待其穩(wěn)定后對熱釋光探測器進(jìn)行測量。
測量條件:
(1)預(yù)熱溫度℃,預(yù)熱時間s;
(2)測量溫度℃,預(yù)熱時間s
(3)加熱速度℃/s。
測量讀出值如表1所示。
表1 熱釋光探測器測量讀出值結(jié)果
將上述測量讀出值帶入公式
中,其中:
Ni:測點處輻射累積劑量,單位:mGy;
K:刻度因子,取 0.1637;
計算得,NA=1.18mGy;NB=3.45mGy。
3.2.1 建立數(shù)學(xué)模式
按下式計算輻射累積劑量:
3.2.2 標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量
測量的標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量由兩部分構(gòu)成,其一是由儀器檢定時刻度系數(shù)帶來的B類不確定度;其二是測量中帶來的A類不確定度。
3.2.2.1 刻度因子的相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度的計算
檢定證書中給出刻度因子kf的相對擴(kuò)展不確定度為a1,包含因子k取2。因此刻度因子的相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度為:
照射場A、B組的相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度均為:urel(kf)=4.8%÷2=2.4%
3.2.2.1 測量的相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度
(1)本底劑量的相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度
為得到運輸?shù)缺镜讋┝浚舜慰己送瑯尤?0個熱釋光探測器作為本底C組,測量并按下式計算貯存劑量:
測量中,一般標(biāo)準(zhǔn)偏差為a2(5%),則:
(2)測點處劑量片的相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度
此次考核每組取10個熱釋光探測器,其相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度計算宜采用貝塞爾法[5],則其標(biāo)準(zhǔn)偏差。
帶入表1數(shù)據(jù),算得,
照射場A組的標(biāo)準(zhǔn)偏差:u(NA)=0.073
照射場B組的標(biāo)準(zhǔn)偏差:u(NB)=0.312
則二者的相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度
照射場A組的相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度:urel(NA)=0.9%
照射場B組的相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度:urel(NB)=1.4%
3.2.3 M的合成相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度為
則,照射場A組的合成相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度為:
照射場B組的合成相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度為:
3.2.4 合成相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度為
則,照射場A組的合成相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度為:
照射場B組的合成相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度為:
3.2.5 相對擴(kuò)展不確定度
則,照射場A組的相對擴(kuò)展不確定度:Urel=2×3.0%=6.0%
照射場B組的相對擴(kuò)展不確定度:Urel=2×3.2%=6.4%
考核結(jié)果評價采用《能力驗證結(jié)果的統(tǒng)計處理和能力評價指南》推薦的與測量不確定度有關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)化誤差指標(biāo)En值來進(jìn)行評價。En值由下式計算:
式中:xlah—實驗室的測量結(jié)果;
Xref—被測物品的參考值;
Ulab—參加者結(jié)果的擴(kuò)展不確定度;
Uref—參考實驗室指定值的擴(kuò)展不確定度;
當(dāng)En≤1.0時,表明能力“滿意”;當(dāng) En>1.0時,表明能力“不滿意”。
將考核測量結(jié)果及相對擴(kuò)展不確定度與參考值及參考值的相對擴(kuò)展不確定度進(jìn)行對比,并用上述En值法進(jìn)行計算評價,如表2所示,其中,參考值及及參考值的相對擴(kuò)展不確定度由中國計量技術(shù)開發(fā)總公司院提供。
表2 考核測量結(jié)果及相對擴(kuò)展不確定度的評價結(jié)果
由表2可知,照射場A組的受照劑量低于較高照射場B組的受照劑量;且照射場A組的值大于1,結(jié)果不滿意,照射場B組的值小于1,結(jié)果滿意。即,此次盲樣結(jié)果為照射場A組的測量結(jié)果不合格,較高劑量照射場B組的測量結(jié)果合格。
針對照射場A組的測量結(jié)果不合格原因進(jìn)行了分析,原因分析如下:
4.2.1 確定性因素排除
(1)熱釋光探測器方面,此次考核熱釋光探測器與儀器刻度時采用的探測器屬于同一批次;且經(jīng)計算,表1中照射場A組熱釋光探測器測量值均處于均值的94%~106%區(qū)間內(nèi),說明該組熱釋光探測器均勻性較好;(2)考慮到退火爐退火溫度及時間對熱釋光探測器的影響,后用熱電偶溫度校準(zhǔn)裝置對退火爐退火溫度進(jìn)行測量,結(jié)果表明退火爐退火溫度在240±1℃以內(nèi),符合探測器退火溫度控制要求。經(jīng)分析,以上兩個因素對此次考核影響較小。
4.2.2 不確定性因素考慮
除了上述兩個可確定的因素對測量結(jié)果影響較小外,下面重點考慮下存在的不確定性因素:(1)熱釋光探測器方面:探測器均勻性只是顯示熱釋光探測器的性能優(yōu)劣之一,不能排除熱釋光探測器整體性能是否下降,其在低劑量的條件下俘獲或禁錮捕捉能力是否下降;熱釋光探測器不清潔或多次使用也會導(dǎo)致讀數(shù)的偏差[6];(2)測量儀器方面:測量儀器性能的穩(wěn)定性對測量結(jié)果也有一定的影響,可盡量把參考光源值的穩(wěn)定性(與刻度時的參考光源讀數(shù)比)控制在2%以內(nèi),以保證測量儀器的穩(wěn)定性;另外,樣品盤(加熱盤)不清潔、溫濕度等環(huán)境可能對它造成不良影響[7-9];(3)輻照場方面:此次盲樣考核由中國計量技術(shù)開發(fā)總公司使用60Co放射源進(jìn)行照射,而該測量系統(tǒng)檢定時則使用137Cs放射源進(jìn)行的線性檢定,雖然檢定規(guī)范明確137Cs、60Co放射源均可用于熱釋光的檢定,但筆者認(rèn)為二者用于刻度因子,刻度因子可能存在差異,而刻度因子一點點的變化也許會影響到最終的考核結(jié)果。
5.1 此次盲樣考核結(jié)果表明:照射場A組的測量結(jié)果不合格,較高劑量照射場B組的測量結(jié)果合格。
5.2 考慮此次考核原因分析中確定性及不確定性兩大方面的因素,為進(jìn)一步提高該項目的分析能力,可從以下幾個方面進(jìn)行控制:(1)嚴(yán)格落實實驗室相關(guān)規(guī)程,對熱釋光探測器恒溫恒濕保存,并保持熱釋光探測器、樣品盤(加熱盤)清潔;(2)定期篩選熱釋光探測器;(3)嚴(yán)格控制退火溫度及退火時間;d.嚴(yán)格控制參考光源值的穩(wěn)定性;e.對137Cs、60Co放射源的刻度效果作比對研究;f.加強(qiáng)實驗室間比對等。
[1]陳湄,祁章年,李向高,等.熱釋光測量法在空間輻射劑量學(xué)中的應(yīng)用[J].核電子學(xué)與探測技術(shù),1999(02):15-20.
[2]鄭公望,朱忠禮,唐適宜,等.熱釋光方法在環(huán)境劑量監(jiān)測中的應(yīng)用[J].核技術(shù),2003(01):59-61.
[3]Moscovitch M.Personnel Dosimetry Using LiF:Mg,Cu,P[J].Radiat Prot Dosimetry,1999,85(1-4):49-56.
[4]陳華,穆龍,涂俊,等.熱釋光和光釋光在個人劑量監(jiān)測中的比較:中國職業(yè)安全健康協(xié)會2013年學(xué)術(shù)年會,中國福建福州,2013[C].
[5]倪育才.測量不確定度理解與應(yīng)用(二)極差法和貝塞爾法之間的比較[J].中國計量,2004(08):78-79.
[6]張建,王亞平,郭勇,等.LiF(Mg,Cu,P)熱釋光探測器測量、退火方式的確定[J].輻射防護(hù),2003(02):122-124.
[7]黃銘,張輝,康寧,等.LiF(Mg,Cu,P)熱釋光探測器儲能長期穩(wěn)定性研究[J].中國輻射衛(wèi)生,2013(04):391-395.
[8]朱紅英,唐開勇,趙建興,等.熱釋光劑量測量系統(tǒng)的探測閾研究[J].核技術(shù),2011(02):99-102.
[9]楊琳,周睿東.熱釋光劑量測量的質(zhì)量控制[J].中國輻射衛(wèi)生,2010(02):173-174.