Servin等

本書論述了光學計量學中經(jīng)典和現(xiàn)代干涉測量法的理論原理和實際應用。本書的新穎之處是頻率轉(zhuǎn)換函數(shù)（FTF）的應用，以及干涉條紋分析中隨機過程的理論；這些數(shù)學工具能更好地描述各種相位解調(diào)算法，并獲得較理想的光譜響應、失諧不靈敏性、信噪比的穩(wěn)健性以及諧波排斥性。

本書共6章：1.數(shù)字化的線性系統(tǒng)；2.同步時序干涉測量法；3.異步時序干涉測量法；4.帶載體的空間方法；5.不帶載體的空間方法；6.相位的展開。本書目錄的后面有術(shù)語縮寫表，本書末尾的附錄介紹了線性相位移動算法的理論以及各種線性相位移動算法；此外，還有參考文獻目錄以及主題索引。

本書第一著者M.塞爾萬博士是墨西哥光學研究中心的研究人員。他的研究興趣包括：干涉測量法、光學計量學、應用光學、光學成像、激光光學、估算和測量理論、計量學、方法的穩(wěn)健性、優(yōu)化法以及各種算法等。他曾在以上領域發(fā)表過一百多篇論文及著作。

本書論述了干涉條紋測量及分析的理論、計算方法及應用?？勺鳛槲锢硐荡髮W生或研究生的參考書，也是相關領域研究工作者有益的參考書。

劉克玲，退休研究員

（中國科學院過程工程研究所）