徐福興　黨乾坤　陳銀娟　楊凱　王強　陳斌　汪源源　丁傳凡

摘 要 利用數(shù)字離子阱技術進行樣品的快速質量分析。在樣品離子被引入離子阱的過程中，同時掃描數(shù)字射頻工作電壓的頻率和離子共振偶極電壓的頻率，使得離子在進入離子阱質量分析器后，立即被相應的共振偶極電壓所共振激發(fā)而逐出離子阱， 并被離子探測器測量到。本方法相較于傳統(tǒng)離子阱分析過程省去了離子引入、離子冷卻和離子清空3個階段，減少了約3/4的實驗分析時間。通過對掃描速度、離子門電壓參數(shù)的優(yōu)化，數(shù)字束縛射頻頻率從1000～400 kHz線性掃描，掃描速度為2385 Th/s，離子門電壓為9 V，對利血平（m/z 609），精氨酸（m/z 174）等樣品的進行測試，離子信號強度達到最優(yōu)。結果表明，利用本方法可以獲得與離子阱質量分析傳統(tǒng)方法相同的質譜結果。

關鍵詞 離子阱質譜； 數(shù)字離子阱； 質量掃描； 快速分析endprint