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        過(guò)孔特性阻抗分析及其對(duì)信號(hào)質(zhì)量的影響

        2015-04-16 08:08:02莫?jiǎng)Χ?/span>謝永超王建甫
        機(jī)電元件 2015年2期
        關(guān)鍵詞:過(guò)孔特性阻抗印制板

        莫?jiǎng)Χ? 謝永超, 王建甫

        (1.上海航天設(shè)備制造總廠,上海,200245;2.中航光電科技股份有限公司,河南洛陽(yáng),471000)

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        試驗(yàn)與檢測(cè)

        過(guò)孔特性阻抗分析及其對(duì)信號(hào)質(zhì)量的影響

        莫?jiǎng)Χ?, 謝永超2, 王建甫2

        (1.上海航天設(shè)備制造總廠,上海,200245;2.中航光電科技股份有限公司,河南洛陽(yáng),471000)

        摘要:隨著信息技術(shù)的高速發(fā)展,越來(lái)越多的系統(tǒng)都在使用差分信號(hào)進(jìn)行傳輸,差分特性阻抗的匹配度對(duì)差分信號(hào)在傳輸鏈路上的傳輸質(zhì)量有很大的影響。本文主要闡述了過(guò)孔處特性阻抗的影響因素及其對(duì)差分信號(hào)的影響,用來(lái)指導(dǎo)連接器的印制板過(guò)孔及連接器的設(shè)計(jì)。

        關(guān)鍵詞:特性阻抗;印制板;過(guò)孔;連接器

        1前言

        一個(gè)高速傳輸鏈路系統(tǒng)主要包含了芯片、子板、連接器、母板,如圖1所示。目前,對(duì)于印制板和連接器的阻抗控制已經(jīng)有了較多的研究,隨著研究的深入和相關(guān)工藝的進(jìn)步,印制板走線和連接器內(nèi)部的特性阻抗與系統(tǒng)的匹配度越來(lái)越好。但是,對(duì)于連接器的印制板封裝處的阻抗匹配性關(guān)注較少,而此處又極易造成阻抗不匹配。隨著系統(tǒng)信號(hào)傳輸速率的提高,這種不匹配給信號(hào)質(zhì)量帶來(lái)的影響越來(lái)越明顯,越來(lái)越嚴(yán)重。

        2定義

        為了讓大家更好的理解本文,首先簡(jiǎn)要介紹本文中涉及到的幾個(gè)術(shù)語(yǔ)。

        2.1 差分特性阻抗

        在具有電阻、電感和電容的電路里,對(duì)交流電所起的阻礙作用叫做阻抗。

        差分對(duì)對(duì)差分信號(hào)的阻抗,即差分特性阻抗。如果兩條信號(hào)傳輸線離得足夠遠(yuǎn),那么,兩條傳輸線可近似于無(wú)耦合,無(wú)耦合時(shí)的差分特性阻抗Zdiff=2Z0。其中,Z0為單端信號(hào)的特性阻抗;當(dāng)把兩條信號(hào)傳輸線拉的越來(lái)越近時(shí),它們的邊緣電場(chǎng)和磁場(chǎng)就會(huì)相互覆蓋,之間的耦合程度也會(huì)越來(lái)越強(qiáng),差分特性阻抗也會(huì)逐漸減小。

        2.2 印制板過(guò)孔

        為了讓印制板的各層之間或者元器件和走線之間實(shí)現(xiàn)電氣連接,需要在印制板上鉆一些具有導(dǎo)電特性的小孔,這就稱為過(guò)孔。它包括筒狀孔壁(Barrel)、焊盤(pad)和反焊盤(anti-pad)。過(guò)孔的筒孔壁是為了保證印制板各層之間的電氣連接而對(duì)鉆孔進(jìn)行填充的導(dǎo)電材料;焊盤的作用把孔壁和元件或者走線相連;反焊盤就是指過(guò)孔焊盤和周圍不需要進(jìn)行連接的金屬之間的間隔。印制板過(guò)孔剖面示意圖如圖2所示。

        3過(guò)孔特性阻抗的影響因素

        3.1 過(guò)孔間距對(duì)差分特性阻抗的影響

        可將傳輸差分信號(hào)的一對(duì)過(guò)孔理解為平行的雙圓桿型傳輸模型。

        差分特性阻抗計(jì)算公式:

        (3.1)

        式中,

        Z0表示差分特性阻抗,單位為Ω;

        S表示兩圓桿的中心距離;

        d表示圓桿的直徑;

        εr圓桿周圍材料的介電常數(shù)。

        由公式(3.1)可知,在平行的雙圓桿型傳輸模型中,在其它因素不變的情況下,過(guò)孔間的距離S和差分特性成正比,即當(dāng)增大孔間距時(shí),差分特性阻抗變大,反之,差分特性阻抗減小。

        3.2 鉆孔尺寸和焊盤尺寸對(duì)差分特性阻抗的影響

        鉆孔和焊盤外形為圓柱形,轉(zhuǎn)化物理模型,可以等效為平行的雙圓桿傳輸模型。平行的雙圓桿傳輸模型的差分特性阻抗計(jì)算公式見(jiàn)公式(3.1)。

        由公式可知,在平行的雙圓桿型傳輸模型中,差分特性阻抗值和圓桿直徑大小成反比,即減小鉆孔或焊盤直徑可增大差分特性阻抗值,反之,可減小差分特性阻抗值。

        3.3 反焊盤尺寸對(duì)差分特性阻抗的影響

        反焊盤是指的是負(fù)片中銅片與焊盤的距離。

        反焊盤處的橫截面可以理解為同軸線模型的橫截面,如圖4所示。

        同軸線特性阻抗的計(jì)算公式如(3.2)所示。其中εr是內(nèi)外導(dǎo)體間介質(zhì)的介電常數(shù),D為外導(dǎo)體內(nèi)徑,d為內(nèi)導(dǎo)體外徑。

        (3.2)

        從上面的公式可以得出以下結(jié)論:

        當(dāng)其它條件不變時(shí),外導(dǎo)體內(nèi)徑D和特性阻抗成正比,即當(dāng)D增大時(shí),特性阻抗也隨之增大,反之,特性阻抗值減小。即理論上,反焊盤直徑和特性阻抗成正比。

        3.4 背鉆對(duì)特性阻抗的影響

        在傳輸線中常常會(huì)出現(xiàn)分支,如果分支很短,就稱為短樁。當(dāng)信號(hào)離開(kāi)驅(qū)動(dòng)器后,遇到了分支點(diǎn),這時(shí)信號(hào)遇到的是兩段傳輸線的并聯(lián)阻抗,此阻抗較低,所以信號(hào)負(fù)反射回到源端,另一部分信號(hào)將沿兩個(gè)分支繼續(xù)傳播。當(dāng)樁線上的信號(hào)到達(dá)樁線末端時(shí),它將反射回分支點(diǎn),再?gòu)姆种c(diǎn)反射到樁線末端,就這樣在樁線中來(lái)回震蕩。同時(shí),每當(dāng)與分支點(diǎn)發(fā)生交互時(shí),樁線中的部分信號(hào)都將回到源端和遠(yuǎn)端。每個(gè)交界處都是一個(gè)反射點(diǎn)。

        過(guò)孔處也有可能存在短樁效應(yīng),為了減小短樁,避免由短樁造成的阻抗低點(diǎn),將過(guò)孔處多余的金屬焊盤和金屬孔壁鉆掉,我們稱之為背鉆。背鉆前后過(guò)孔狀態(tài)如圖5所示。

        3.5 板材對(duì)差分特性阻抗的影響

        由公式(3.1)可知,在平行的雙圓桿型傳輸模型中,在其它因素不變的情況下,過(guò)孔周圍的介質(zhì)的介電常數(shù) 和差分特性成反比,即當(dāng)增大介質(zhì)的介電常數(shù) 時(shí),差分特性阻抗變小,反之,差分特性阻抗增大。

        4過(guò)孔處特性阻抗對(duì)信號(hào)質(zhì)量的影響

        第3章分析了不同因素對(duì)過(guò)孔處特性阻抗的影響,下面將分析過(guò)孔處特性阻抗匹配性對(duì)短鏈路和長(zhǎng)鏈路的插入損耗、回波損耗和眼圖的影響。

        4.1 數(shù)據(jù)分析工具

        這里所采用的數(shù)據(jù)分析工具是HFSS和ADS(Advanced Design System)。

        4.2過(guò)孔處差分特性阻抗匹配性對(duì)短鏈路信號(hào)質(zhì)量的影響

        圖6為HFSS中一個(gè)差分對(duì)過(guò)孔的模型,鏈路長(zhǎng)度僅為過(guò)孔長(zhǎng)度,長(zhǎng)度為3mm。通過(guò)改變焊盤的大小得到兩種不同的模型,通過(guò)仿真軟件達(dá)到兩個(gè)模型的特性阻抗、插入損耗、回波損耗和眼圖。通過(guò)對(duì)比,分析過(guò)孔處特性阻抗匹配度對(duì)信號(hào)質(zhì)量的影響。

        圖7為兩種焊盤尺寸對(duì)應(yīng)的差分特性阻抗值,實(shí)線為模型A,特性阻抗最低值為97Ω;虛線為模型B,特性阻抗最低值為72.4Ω,兩者相差24.6Ω。端接額定特性阻抗為100Ω,所以,模型A的阻抗匹配度要優(yōu)于模型B的。

        圖8為模型A(實(shí)線)和模型B(虛線)的插入損耗。從圖中可以看出,阻抗匹配度好的模型A的插入損耗優(yōu)于模型B的。

        圖9為模型A(實(shí)線)和模型B(虛線)的回波損耗。從圖中可以看出,阻抗匹配度好的模型A的差分回波損耗明顯優(yōu)于模型B的。

        該鏈路僅有3mm長(zhǎng),損耗很小,所以眼圖沒(méi)有對(duì)比的意義。

        4.3 過(guò)孔處差分特性阻抗匹配度對(duì)長(zhǎng)鏈路信號(hào)質(zhì)量的影響

        圖10為長(zhǎng)鏈路示意圖,鏈路有4處連接器封裝,即有4處過(guò)孔,鏈路總長(zhǎng)度為300mm。

        我們分別把子板差分走線、母板差分走線、連接器和印制板過(guò)孔處的S參數(shù)模型從HFSS中提取出來(lái),把各個(gè)S參數(shù)模型導(dǎo)入ADS軟件中,進(jìn)行模型系統(tǒng)級(jí)聯(lián)仿真。

        級(jí)聯(lián)仿真中,子板、母板和連接器的S參數(shù)不變,僅改變過(guò)孔的S參數(shù)模型,我們將使用4.2中的模型A過(guò)孔的系統(tǒng)稱為系統(tǒng)A,將使用4.2中的模型B過(guò)孔的系統(tǒng)稱為系統(tǒng)B。我們將從系統(tǒng)級(jí)聯(lián)仿真得出的插入損耗、回波損耗和傳輸眼圖來(lái)對(duì)比分析系統(tǒng)A和系統(tǒng)B的優(yōu)劣。

        ADS系統(tǒng)級(jí)聯(lián)原理圖如圖11所示。

        圖12和圖13為系統(tǒng)A和系統(tǒng)B的差分插入損耗仿真數(shù)據(jù)。

        為了直觀的對(duì)比系統(tǒng)A和系統(tǒng)B的差分插入損耗的優(yōu)劣,我們按頻段進(jìn)行分析,對(duì)比每個(gè)頻段的最差值,見(jiàn)表7。通過(guò)表7的對(duì)比分析,8個(gè)頻率段內(nèi),系統(tǒng)A全部?jī)?yōu)于系統(tǒng)B。綜合分析,系統(tǒng)A的差分插入損耗數(shù)據(jù)優(yōu)于系統(tǒng)B的。

        圖14和圖15分別為系統(tǒng)A和系統(tǒng)B的差分回波損耗仿真數(shù)據(jù)。

        為了直觀的對(duì)比系統(tǒng)A和系統(tǒng)B的差分回波損耗的優(yōu)劣,我們按頻段進(jìn)行分析,對(duì)比每個(gè)頻段的最差值,見(jiàn)表8。通過(guò)表8的對(duì)比分析,8個(gè)頻率段內(nèi),系統(tǒng)A全部?jī)?yōu)于系統(tǒng)B。綜合分析,系統(tǒng)A的差分回波損耗數(shù)據(jù)優(yōu)于系統(tǒng)B的。

        圖16和圖17分別為系統(tǒng)A和系統(tǒng)B的差分傳輸眼圖仿真數(shù)據(jù),傳輸速率設(shè)置為3.125Gbps,上升時(shí)間為100ps。

        從圖16和圖17可以看出,模型A的系統(tǒng)仿真眼寬為296ps、眼高為0.6V,模型B的系統(tǒng)仿真眼圖的眼寬為267.2ps、眼高為0.496V,對(duì)比可知,模型A系統(tǒng)的眼寬和眼高均大于系統(tǒng)B模型的。

        綜合差分插入損耗、差分回波損耗和傳輸眼圖的仿真結(jié)果可知,系統(tǒng)A的差分性能指標(biāo)均優(yōu)于系統(tǒng)B的,由此可知在其它條件不變的情況下,過(guò)孔阻抗匹配度越好,信號(hào)質(zhì)量越好。

        5總結(jié)

        本文主要講述了影響過(guò)孔特性阻抗的幾個(gè)因素,每個(gè)因素對(duì)特性阻抗影響的趨勢(shì),以及過(guò)孔處差分特性阻抗對(duì)鏈路信號(hào)完整性的影響。雖然過(guò)孔在傳輸鏈路中占很短的一段,但其對(duì)信號(hào)質(zhì)量卻有不容忽視的影響。隨著信號(hào)速率的提高,鏈路中任何一個(gè)環(huán)節(jié)都不可小視,均需進(jìn)行信號(hào)完整性仿真,進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì)。希望在以后進(jìn)行高速差分連接器和測(cè)試印制板設(shè)計(jì)時(shí)能夠提供一些幫助。

        參考文獻(xiàn):

        [1]李玉山,李麗平等譯,Eric Bogatin 著.信號(hào)完整性分析.

        收稿日期:2015-02-16

        Doi:10.3969/j.issn.1000-6133.2015.02.008

        中圖分類號(hào):TN784

        文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼:A

        文章編號(hào):1000-6133(2015)02-0032-05

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