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        從宇航用戶(hù)角度談幾點(diǎn)電磁繼電器質(zhì)量控制建議

        2015-03-07 02:27:23張紅旗王杰林
        機(jī)電元件 2015年6期
        關(guān)鍵詞:用戶(hù)質(zhì)量

        賈 曉,張紅旗,王杰林

        (1.中國(guó)空間技術(shù)研究院宇航物資保障事業(yè)部,北京,100094 2.航天科技集團(tuán)公司,北京,100094)

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        試驗(yàn)與檢測(cè)

        從宇航用戶(hù)角度談幾點(diǎn)電磁繼電器質(zhì)量控制建議

        賈 曉1,張紅旗1,王杰林2

        (1.中國(guó)空間技術(shù)研究院宇航物資保障事業(yè)部,北京,100094 2.航天科技集團(tuán)公司,北京,100094)

        從宇航用戶(hù)的角度分析電磁繼電器質(zhì)量控制需要關(guān)注的環(huán)節(jié),為針對(duì)性的提高產(chǎn)品質(zhì)量控制水平提供指導(dǎo)建議。通過(guò)分析某宇航用戶(hù)近年來(lái)的質(zhì)量保證數(shù)據(jù),總結(jié)電磁繼電器在驗(yàn)收、補(bǔ)充篩選和使用階段的質(zhì)量問(wèn)題,分析了問(wèn)題產(chǎn)生原因,并從產(chǎn)品設(shè)計(jì)和生產(chǎn)過(guò)程質(zhì)量控制、檢驗(yàn)試驗(yàn)和使用指導(dǎo)等方面提出了質(zhì)量控制措施建議。

        宇航用戶(hù);電磁繼電器;質(zhì)量控制

        1 引言

        電磁繼電器廣泛應(yīng)用于宇航型號(hào),用于完成航天型號(hào)及其配套地面測(cè)控設(shè)備中信號(hào)傳遞、控制及系統(tǒng)配電等功能。電磁繼電器一般由電磁系統(tǒng)、接觸系統(tǒng)及附屬部分組成,零件繁多、結(jié)構(gòu)復(fù)雜,通過(guò)設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)的精確裝配實(shí)現(xiàn)各個(gè)系統(tǒng)之間的精密配合與動(dòng)作以執(zhí)行預(yù)定功能。由于結(jié)構(gòu)復(fù)雜而又要求精密配合,任何微小的差錯(cuò)都可能導(dǎo)致電磁繼電器失效,這使電磁繼電器成為失效率相對(duì)較高的元件之一。在元器件質(zhì)量控制方面,我國(guó)宇航用戶(hù)提出了監(jiān)制驗(yàn)收、補(bǔ)充篩選、失效分析等質(zhì)量控制要求[1-2],對(duì)元器件生產(chǎn)廠提高生產(chǎn)控制質(zhì)量起到一定的促進(jìn)作用,針對(duì)性電磁繼電器質(zhì)量保證和使用過(guò)程中發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題進(jìn)行分析,找出電磁繼電器質(zhì)量控制控制的薄弱環(huán)節(jié),對(duì)有加強(qiáng)繼電器質(zhì)量控制,提升質(zhì)量水平具有指導(dǎo)意義。

        2 電磁繼電器質(zhì)量保證數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析

        為對(duì)宇航用國(guó)產(chǎn)電磁繼電器近年來(lái)質(zhì)量狀況進(jìn)行系統(tǒng)研究,本文對(duì)某宇航用戶(hù)近四年在驗(yàn)收、補(bǔ)充篩選及使用階段發(fā)現(xiàn)的質(zhì)量問(wèn)題進(jìn)行了統(tǒng)計(jì)分析。

        2.1 驗(yàn)收過(guò)程拒收統(tǒng)計(jì)

        表1為下廠驗(yàn)收中發(fā)現(xiàn)的批不合格問(wèn)題情況,近四年共發(fā)現(xiàn)12例電磁繼電器批次性不合格的情況,主要為破壞性物理分析試驗(yàn)不合格。其中,3個(gè)批次電磁繼電器內(nèi)部參數(shù)測(cè)試不合格,10個(gè)批次電磁繼電器內(nèi)部結(jié)構(gòu)損傷或內(nèi)部存在多余物。

        2.2 補(bǔ)充篩選不合格統(tǒng)計(jì)

        表2對(duì)補(bǔ)充篩選階段發(fā)現(xiàn)的電磁繼電器質(zhì)量問(wèn)題進(jìn)行了匯總。

        補(bǔ)充篩選中質(zhì)量問(wèn)題可以分為以下6大類(lèi):

        1)外觀缺陷

        電磁繼電器補(bǔ)篩外觀剔除率在0.1%~0.3%間波動(dòng),2010年剔除率最低。從剔除原因來(lái)看,外觀剔除主要是外殼損傷和搪錫處理后造成的底板粘污兩類(lèi)問(wèn)題,這兩類(lèi)問(wèn)題外觀剔除比例相當(dāng)。

        2)電參數(shù)超差

        2010~2014年參數(shù)超差剔除率均在1%以下,2010年最低為0.38%。從剔除原因來(lái)看,參數(shù)超差主要是高低溫運(yùn)行不合格、運(yùn)行后電測(cè)試的轉(zhuǎn)換電壓超差。

        3)檢漏不合格

        補(bǔ)充篩選過(guò)程中的檢漏剔除,90%為精檢漏剔除。其中,2010年4JB5-2-28BZ1電磁繼電器一個(gè)批次167因檢漏不合格數(shù)量超PDA要求,整批不合格剔除。

        4)絕緣下降

        2010年,3JB20-2-28BZ1一個(gè)批次中有三只電磁繼電器絕緣測(cè)試不合格,經(jīng)分析為聚酰亞胺膜包扎不當(dāng)使內(nèi)部漆包線與鐵芯接觸,造成絕緣下降;2011年,3JB20-3一個(gè)批次2只產(chǎn)品絕緣電阻小,失效分析發(fā)現(xiàn)漆包線與鐵心之間的聚酰亞胺薄膜在裝配時(shí)被搓起,沒(méi)有起到絕緣作用,導(dǎo)致漆包線與鐵心之間直接接觸。

        5)耐壓擊穿

        2011年,3JB20-2-28BZ1補(bǔ)篩時(shí)發(fā)現(xiàn)兩個(gè)批次耐壓擊穿,原因分別為漆包線與鐵心之間直接接觸、線包最里層的漆包線之間短路。

        6)觸點(diǎn)不通

        2013年發(fā)生兩例電磁繼電器觸點(diǎn)不通問(wèn)題,經(jīng)失效分析為異常外力導(dǎo)致。

        2010~2013年補(bǔ)充篩選發(fā)現(xiàn)問(wèn)題中,批次性質(zhì)量問(wèn)題共有8例。2010年、2011年、2013年批次性不合格剔除數(shù)量均超過(guò)了100只,在補(bǔ)篩剔除中數(shù)量中占比最大。

        表1 驗(yàn)收發(fā)現(xiàn)的批次性不合格問(wèn)題

        表2 電磁繼電器在補(bǔ)充篩選階段剔除情況

        表3 補(bǔ)充篩選發(fā)現(xiàn)的批不合格情況

        2.3 失效情況統(tǒng)計(jì)

        近年來(lái),在使用階段發(fā)現(xiàn)的國(guó)產(chǎn)電磁繼電器質(zhì)量問(wèn)題有8例,問(wèn)題產(chǎn)生原因定位為生產(chǎn)過(guò)程控制不當(dāng)?shù)挠?項(xiàng),產(chǎn)品設(shè)計(jì)或工藝問(wèn)題的1項(xiàng),使用不當(dāng)造成過(guò)機(jī)械應(yīng)力或電應(yīng)力損傷的有5項(xiàng)。

        生產(chǎn)過(guò)程控制不當(dāng):

        1)某電磁繼電器的線圈管腳對(duì)外殼不絕緣,檢查發(fā)現(xiàn)短路點(diǎn)在漆包線與鐵芯之間,由于兩者之間的聚酰亞胺薄膜在裝配時(shí)被搓起而沒(méi)有起到絕緣作用,漆包線與鐵芯之間直接接觸,在進(jìn)行絕緣耐壓測(cè)試過(guò)程中發(fā)生介質(zhì)擊穿而導(dǎo)致故障。

        2)單機(jī)研制時(shí)發(fā)現(xiàn)某電磁繼電器加電不轉(zhuǎn)換,經(jīng)分析發(fā)現(xiàn)電磁繼電器銜鐵小軸根部圓角尺寸超差在特定狀態(tài)下使銜鐵轉(zhuǎn)動(dòng)承受摩擦阻力增大,導(dǎo)致發(fā)生加電不轉(zhuǎn)換的故障,且產(chǎn)品技術(shù)狀態(tài)變更時(shí)并未進(jìn)行充分的設(shè)計(jì)論證和試驗(yàn)驗(yàn)證。

        設(shè)計(jì)或工藝問(wèn)題:

        1)在電裝時(shí)發(fā)現(xiàn)某電磁繼電器部分引腳與殼體之間絕緣電阻降低。經(jīng)分析,發(fā)現(xiàn)是由于電磁繼電器內(nèi)部鍍金簧片上生長(zhǎng)鉛須并搭接導(dǎo)致故障。進(jìn)一步分析發(fā)現(xiàn)鉛須的生長(zhǎng)是由于鍍金簧片上所用的高鉛焊料與金層反應(yīng)生成的金錫金屬間化合物提供內(nèi)生壓應(yīng)力,進(jìn)而促進(jìn)鉛晶粒擠出形成晶須。

        使用不當(dāng):

        1)某電磁繼電器在單機(jī)鑒定級(jí)沖擊試驗(yàn)中出現(xiàn)觸點(diǎn)不導(dǎo)通現(xiàn)象,內(nèi)部檢查發(fā)現(xiàn)電磁繼電器的銜鐵處于中位狀態(tài)。分析認(rèn)為單機(jī)的鑒定級(jí)沖擊試驗(yàn)過(guò)程中,沖擊試驗(yàn)應(yīng)力過(guò)大,沖擊加速度對(duì)銜鐵產(chǎn)生的沖力大于銜鐵的帶載保持力,使銜鐵與軛鐵無(wú)法保持吸合狀態(tài)而發(fā)生轉(zhuǎn)動(dòng),銜鐵出現(xiàn)中位狀態(tài)。

        2)某電磁繼電器使用時(shí)發(fā)現(xiàn)各組觸點(diǎn)間導(dǎo)通狀態(tài)不隨外加激勵(lì)信號(hào)的變化而變化,5-6觸點(diǎn)組、7-8觸點(diǎn)組和9-10觸點(diǎn)一直導(dǎo)通。分析發(fā)現(xiàn)電磁繼電器各觸點(diǎn)組導(dǎo)通狀態(tài)固定的原因是電磁繼電器內(nèi)部5-6觸點(diǎn)組已經(jīng)焊死,使得電磁繼電器銜鐵無(wú)法動(dòng)作。判斷過(guò)電應(yīng)力導(dǎo)致5-6觸點(diǎn)組發(fā)生瞬態(tài)電弧燒蝕,使5-6觸點(diǎn)組受熱熔化后再凝固后焊死,是典型的瞬態(tài)電弧燒蝕的結(jié)果。

        3)某電磁繼電器在整機(jī)鑒定級(jí)沖擊試驗(yàn)中出現(xiàn)銜鐵翻轉(zhuǎn)現(xiàn)象,分析認(rèn)為在用戶(hù)的鑒定級(jí)沖擊試驗(yàn)過(guò)程中,電磁繼電器局部沖擊響應(yīng)量級(jí)放大,過(guò)大的沖擊試驗(yàn)應(yīng)力對(duì)銜鐵產(chǎn)生的沖力超過(guò)電磁繼電器的帶載保持力,使銜鐵與軛鐵無(wú)法保持吸合狀態(tài)而發(fā)生翻轉(zhuǎn)。

        4)某電磁繼電器外觀檢查發(fā)現(xiàn)電磁繼電器頂蓋存在機(jī)械損傷痕跡,測(cè)試4組觸點(diǎn)的常開(kāi)、常閉觸點(diǎn)均存在不導(dǎo)通現(xiàn)象,X射線和內(nèi)部檢查發(fā)現(xiàn)電磁繼電器簧片在每次加電轉(zhuǎn)換后僅能與上觸點(diǎn)接觸,不能與下觸點(diǎn)接觸,導(dǎo)致4組觸點(diǎn)的常開(kāi)、常閉觸點(diǎn)均不導(dǎo)通,分析判斷電磁繼電器加電后簧片轉(zhuǎn)換異常是由于電磁繼電器的結(jié)構(gòu)發(fā)生變化所致,而結(jié)構(gòu)變化與電磁繼電器受到異常外力有關(guān)。

        5)某電磁繼電器右側(cè)4組觸點(diǎn)中有3組觸點(diǎn)存在不導(dǎo)通現(xiàn)象,X射線和內(nèi)部檢查發(fā)現(xiàn)電磁繼電器右側(cè)動(dòng)簧片在加電后動(dòng)作距離過(guò)小,部分動(dòng)簧片未能與觸點(diǎn)接觸導(dǎo)通。分析判斷異常機(jī)械應(yīng)力造成電磁繼電器右側(cè)動(dòng)簧片受力變形,導(dǎo)致動(dòng)簧片動(dòng)作距離過(guò)小,電磁繼電器加電后右側(cè)部分動(dòng)簧片與下觸點(diǎn)接觸不上出現(xiàn)開(kāi)路的失效現(xiàn)象。

        3 電磁繼電器質(zhì)量問(wèn)題分析

        對(duì)上述質(zhì)量問(wèn)題發(fā)生的原因進(jìn)行歸類(lèi)分析,主要有5種:設(shè)計(jì)或工藝問(wèn)題、生產(chǎn)過(guò)程控制問(wèn)題、包裝轉(zhuǎn)運(yùn)和產(chǎn)品操作問(wèn)題、篩選應(yīng)力不足和使用問(wèn)題。圖1為33項(xiàng)質(zhì)量問(wèn)題的產(chǎn)生原因分布,從圖1中可以看出,生產(chǎn)過(guò)程控制問(wèn)題、使用問(wèn)題和轉(zhuǎn)運(yùn)操作問(wèn)題是導(dǎo)致質(zhì)量問(wèn)題發(fā)生的主要原因。

        圖1 電磁繼電器質(zhì)量問(wèn)題產(chǎn)生原因分布

        1)生產(chǎn)過(guò)程控制問(wèn)題

        無(wú)論是質(zhì)量保證和用戶(hù)使用階段的批次性質(zhì)量問(wèn)題還是補(bǔ)篩的參數(shù)超差、外觀不合格,都存在生產(chǎn)過(guò)程控制造成的質(zhì)量問(wèn)題。在25項(xiàng)批次性問(wèn)題中,19項(xiàng)是由于生產(chǎn)過(guò)程控制不當(dāng)引起:DPA 中觸點(diǎn)壓力偏大、超行程測(cè)試不合格等,是由于裝配調(diào)試過(guò)程壓力調(diào)試不當(dāng)造成;DPA中發(fā)現(xiàn)的兩項(xiàng)引出線壓傷及耐壓測(cè)試不合格,由于裝配過(guò)程安裝不當(dāng),導(dǎo)致引出線損傷或位置偏離;DPA中線圈包扎膜損傷及補(bǔ)篩發(fā)現(xiàn)的介質(zhì)耐壓不合格都是線圈繞制過(guò)程控制不當(dāng),線圈包扎膜和漆包線損傷導(dǎo)致;DPA中線圈支架拉脫試驗(yàn)不合格3項(xiàng),由于線圈架焊接控制不當(dāng)造成;DPA發(fā)現(xiàn)的銜鐵和軛鐵極面存在大量金屬粉末,由于裝配中安裝位置不合理造成內(nèi)部機(jī)械結(jié)構(gòu)的非正常接觸導(dǎo)致;2JB2-1-28B轉(zhuǎn)換電壓超差數(shù)量超PDA問(wèn)題,與產(chǎn)品質(zhì)量一致性水平不足有關(guān),在零件生產(chǎn)、安裝和調(diào)試等過(guò)程中未達(dá)到產(chǎn)品質(zhì)量控制要求,造成補(bǔ)篩運(yùn)行后產(chǎn)品出現(xiàn)了轉(zhuǎn)換電壓超差的現(xiàn)象;另外,補(bǔ)篩外觀檢查中發(fā)現(xiàn)的底版粘污與產(chǎn)品搪錫工藝控制不當(dāng)有關(guān)。

        以上大量的質(zhì)量問(wèn)題都反映了國(guó)內(nèi)電磁繼電器生產(chǎn)廠生產(chǎn)過(guò)程控制中存在問(wèn)題,生產(chǎn)過(guò)程控制不當(dāng)是造成電磁繼電器質(zhì)量問(wèn)題的最主要因素。國(guó)產(chǎn)電磁繼電器生產(chǎn)廠生產(chǎn)過(guò)程一致性控制水平有待進(jìn)一步提高,部分工序過(guò)程需要加強(qiáng)控制,如線圈繞制、裝配、調(diào)試。2)設(shè)計(jì)或工藝問(wèn)題

        近年來(lái)發(fā)現(xiàn)的質(zhì)量問(wèn)題中,有2項(xiàng)批次性質(zhì)量問(wèn)題由于設(shè)計(jì)或工藝問(wèn)題造成:某電磁繼電器部分引腳與殼體之間絕緣電阻降低。經(jīng)分析發(fā)現(xiàn)是由于電磁繼電器內(nèi)部鍍金簧片上生長(zhǎng)鉛須并搭接導(dǎo)致故障。該問(wèn)題反應(yīng)了在電磁繼電器設(shè)計(jì)上仍然存在問(wèn)題,對(duì)于某些可能造成產(chǎn)品質(zhì)量問(wèn)題的結(jié)構(gòu)或工藝不能充分識(shí)別;驗(yàn)收DPA中發(fā)現(xiàn)的某電磁繼電器推動(dòng)桿玻璃球磨損,產(chǎn)品推動(dòng)桿玻璃球工藝問(wèn)題,導(dǎo)致了該問(wèn)題的產(chǎn)生。

        3)轉(zhuǎn)運(yùn)操作問(wèn)題

        補(bǔ)篩中發(fā)現(xiàn)觸點(diǎn)不導(dǎo)通的現(xiàn)象,經(jīng)失效分析判斷為異常外力導(dǎo)致內(nèi)部機(jī)械結(jié)構(gòu)發(fā)生變化。產(chǎn)品在驗(yàn)收試驗(yàn)中測(cè)試合格,異常外力來(lái)源可能是驗(yàn)收完成后的包裝、轉(zhuǎn)運(yùn)過(guò)程;補(bǔ)充篩選中的檢漏不合格問(wèn)題,產(chǎn)品驗(yàn)收試驗(yàn)時(shí)漏率合格,后續(xù)經(jīng)過(guò)了測(cè)試、運(yùn)行等試驗(yàn)及包裝轉(zhuǎn)運(yùn)過(guò)程,檢漏不合格可能是在操作及包裝過(guò)程中對(duì)絕緣子造成了損傷;另外,補(bǔ)充篩選外觀檢查中發(fā)現(xiàn)的外殼機(jī)械損傷也與產(chǎn)品的轉(zhuǎn)運(yùn)操作有關(guān)。

        4)篩選應(yīng)力不足

        從對(duì)補(bǔ)充篩選中參數(shù)超差剔除項(xiàng)的匯總分析中可以看出,參數(shù)超差主要發(fā)生在高低溫運(yùn)行后的電參數(shù)測(cè)試中。目前電磁繼電器補(bǔ)充篩選的試驗(yàn)項(xiàng)目和要求見(jiàn)表4,除高低溫運(yùn)行外,其余項(xiàng)目均為驗(yàn)證性的測(cè)試檢驗(yàn)項(xiàng)目,電磁繼電器在A組檢驗(yàn)和驗(yàn)收試驗(yàn)中都經(jīng)歷了100%的篩選,在高低溫運(yùn)行之后仍然出現(xiàn)一定比例的電參數(shù)測(cè)試超差現(xiàn)象。生產(chǎn)廠提交驗(yàn)收前產(chǎn)品應(yīng)進(jìn)行足夠的篩選和老化試驗(yàn),保證產(chǎn)品在提交用戶(hù)時(shí)為剔除了早期失效的合格品。

        表4 電磁繼電器補(bǔ)充篩選試驗(yàn)項(xiàng)目及要求

        5)使用問(wèn)題

        電磁繼電器在用戶(hù)使用過(guò)程中出現(xiàn)的加電不轉(zhuǎn)換、銜鐵翻轉(zhuǎn)、觸點(diǎn)不通等5項(xiàng)問(wèn)題,與用戶(hù)使用不當(dāng)造成的過(guò)電應(yīng)力、過(guò)機(jī)械應(yīng)力有關(guān)。問(wèn)題反映了用戶(hù)在電磁繼電器使用中仍存在一些使用不當(dāng)問(wèn)題,生產(chǎn)廠應(yīng)進(jìn)一步加強(qiáng)對(duì)于繼電器的使用指導(dǎo)。

        4 質(zhì)量問(wèn)題的控制措施建議

        以上對(duì)電磁繼電器在驗(yàn)收、補(bǔ)篩和用戶(hù)使用階段出現(xiàn)的質(zhì)量問(wèn)題進(jìn)行了統(tǒng)計(jì)歸類(lèi),并對(duì)問(wèn)題產(chǎn)生原因進(jìn)行了分析。為提高電磁繼電器的整體質(zhì)量控制水平,減少在驗(yàn)收、補(bǔ)篩和使用階段的質(zhì)量問(wèn)題,對(duì)后續(xù)質(zhì)量控制提出以下建議措施:

        1)在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和生產(chǎn)過(guò)程質(zhì)量控制方面:

        a)加強(qiáng)生產(chǎn)過(guò)程控制,重點(diǎn)研究在線圈繞制、電磁繼電器裝配、調(diào)試等過(guò)程的質(zhì)量控制措施。針對(duì)生產(chǎn)過(guò)程控制的薄弱環(huán)節(jié),生產(chǎn)廠家細(xì)化控制要求,形成關(guān)鍵過(guò)程控制作業(yè)文件;

        b)承制方改進(jìn)生產(chǎn)工藝、設(shè)備和環(huán)境,梳理影響產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵性裝配操作工序,制作專(zhuān)用工裝夾具,提高產(chǎn)品工藝一致性水平;

        c)規(guī)范宇航產(chǎn)品技術(shù)狀態(tài)控制,產(chǎn)品技術(shù)狀態(tài)變更需進(jìn)行充分的設(shè)計(jì)論證和試驗(yàn)驗(yàn)證,避免設(shè)計(jì)上因?yàn)樽非髠€(gè)別參數(shù)指標(biāo)的提高而忽視產(chǎn)品可靠性;

        d)改進(jìn)現(xiàn)有電磁繼電器的工藝,提升整體固有質(zhì)量水平。如:改進(jìn)推動(dòng)器玻璃球工藝、規(guī)范線圈引出線工藝要求、加強(qiáng)電磁繼電器引出桿的搪錫工藝控制。

        2)在檢驗(yàn)試驗(yàn)方面:

        a)完善電磁繼電器篩選測(cè)試要求,逐步實(shí)現(xiàn)對(duì)電磁繼電器全參數(shù)的三溫測(cè)試,為宇航型號(hào)使用提供更加有力的數(shù)據(jù)支撐;

        b)深入分析補(bǔ)充篩選檢漏不合格原因,加強(qiáng)運(yùn)行、測(cè)試和包裝轉(zhuǎn)運(yùn)中的防護(hù)。

        3)在用戶(hù)使用指導(dǎo)方面a)對(duì)于用戶(hù)使用中出現(xiàn)過(guò)電應(yīng)力、過(guò)機(jī)械應(yīng)力問(wèn)題,承制方對(duì)電磁繼電器的極限性能進(jìn)行充分摸底,編制用指南以提供規(guī)范的應(yīng)用指導(dǎo);

        b)承制方對(duì)于電磁繼電器給出推薦安裝和驅(qū)動(dòng)方式,避免不正確的電路設(shè)計(jì)或安裝造成的使用問(wèn)題。

        5 結(jié)束語(yǔ)

        本文通過(guò)對(duì)某宇航用戶(hù)近年來(lái)在電磁繼電器質(zhì)量保證和使用中發(fā)現(xiàn)的質(zhì)量問(wèn)題統(tǒng)計(jì)分析,得出了導(dǎo)致質(zhì)量問(wèn)題產(chǎn)生的5個(gè)主要原因:設(shè)計(jì)或工藝問(wèn)題、生產(chǎn)過(guò)程控制問(wèn)題、包裝轉(zhuǎn)運(yùn)和產(chǎn)品操作問(wèn)題、篩選應(yīng)力不足和使用問(wèn)題。針對(duì)以上5個(gè)導(dǎo)致質(zhì)量問(wèn)題產(chǎn)生的原因,從產(chǎn)品設(shè)計(jì)和生產(chǎn)過(guò)程控制、檢驗(yàn)試驗(yàn)和用戶(hù)使用指導(dǎo)三個(gè)方面,提出了電磁繼電器的質(zhì)量控制措施建議。

        [1] 夏泓,毛喜平.空間級(jí)元器件及過(guò)程確認(rèn)文件[J].質(zhì)量與可靠性,2008,137(5):28-31.

        [2] 林德健.載人航天運(yùn)載火箭用元器件可靠性保證技術(shù)研究與應(yīng)用[J].導(dǎo)彈與航天運(yùn)載技術(shù),2004,267(1):73-78.

        2015-10-26

        10.3969/j.issn.1000-6133.2015.06.009

        TN784

        A

        1000-6133(2015)06-0039-05

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