莊志強(qiáng),陳 琛,李玉龍,王 森,姜 煒,錢月林
(1.上海材料研究所,上海 200437;2.中航商用航空發(fā)動(dòng)機(jī)有限責(zé)任公司,上海 200240)
國(guó)外航空發(fā)動(dòng)機(jī)大型機(jī)匣鑄件的X 射線檢測(cè),具備完善的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)、成熟的檢測(cè)技術(shù)和檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)[1-4]。
我國(guó)研制的航空發(fā)動(dòng)機(jī)渦輪后機(jī)匣(圖1)由鎳基合金澆注而成。從結(jié)構(gòu)上來(lái)看,機(jī)匣結(jié)構(gòu)復(fù)雜,具有外形尺寸大、最小壁厚小、變壁厚、多轉(zhuǎn)折、空心等特點(diǎn);在澆注凝固過(guò)程中,鑄件內(nèi)部容易產(chǎn)生氣孔、夾雜、縮孔、疏松、裂紋等缺陷;表面容易產(chǎn)生澆注不足、冷隔、留痕等缺陷。
圖1 渦輪后機(jī)匣示意
為了保證機(jī)匣鑄件的內(nèi)部和表面質(zhì)量,筆者用X 射線檢測(cè)方法進(jìn)行檢測(cè)試驗(yàn),設(shè)計(jì)了專用的檢測(cè)工裝,實(shí)現(xiàn)多角度照射,排除檢測(cè)盲區(qū);分析了包括透照區(qū)域劃分、透照方式、透照布置、透照參數(shù)及膠片選擇等在內(nèi)的各項(xiàng)射線檢測(cè)工藝。提出的針對(duì)機(jī)匣的專用X 射線檢測(cè)方法,可提供評(píng)估機(jī)匣鑄件的冶金質(zhì)量、缺陷尺寸、缺陷位置等原始數(shù)據(jù);并對(duì)缺陷進(jìn)行評(píng)定,保證機(jī)匣的長(zhǎng)壽命及高可靠性意義重大。
(1)100%檢測(cè),不允許存在檢測(cè)盲區(qū)。
(2)在任何情況下,最厚和最薄截面處的射線照相靈敏度水平至少要達(dá)到2%。
(3)像質(zhì)計(jì)的材料成分與被檢機(jī)匣相同或與機(jī)匣具有相同的吸收特性。當(dāng)現(xiàn)場(chǎng)使用的射線檢測(cè)像質(zhì)計(jì)不可用或材料厚度低于像質(zhì)計(jì)的厚度范圍時(shí),也可采用不同類型的像質(zhì)計(jì),這時(shí)應(yīng)使用等效因子(可在相關(guān)資料上查得)進(jìn)行換算。換算方法如下:用鎳基合金相對(duì)于其他金屬或合金的等效因子乘以X 射線檢測(cè)部位厚度得到鎳基合金相當(dāng)于其他合金的等效厚度,再用看到的最細(xì)像質(zhì)計(jì)絲徑除以等效厚度再乘以百分之一百就得到射線檢測(cè)靈敏度。
(1)結(jié)構(gòu)復(fù)雜。機(jī)匣由整體精密鑄造而成,具有截面多變,轉(zhuǎn)角多的特點(diǎn)。
(2)厚度多變。機(jī)匣壁厚最薄處為2.5mm,最厚處為30mm。
(3)輪廓外形尺寸大。
根據(jù)以上機(jī)匣外形結(jié)構(gòu)的特點(diǎn),射線檢測(cè)存在的難點(diǎn)主要是:透照區(qū)域的劃分、透照方式、透照布置(貼片、透照角度、散射線屏蔽)、透照參數(shù)(電壓、焦距)的選擇等。
機(jī)匣外形結(jié)構(gòu)復(fù)雜,正確劃分透照區(qū)域非常關(guān)鍵。因?yàn)檎_劃分透照區(qū)域不僅可以保證射線底片質(zhì)量及100%檢測(cè),還可以通過(guò)減少透照次數(shù)來(lái)提高檢測(cè)效率。
此機(jī)匣由空心支板(14個(gè))、內(nèi)環(huán)、外環(huán)分流環(huán)、法蘭、吊耳、安裝吊耳、出氣孔等組成,將這些部位按照結(jié)構(gòu)和厚度進(jìn)行分區(qū),共分為11個(gè)區(qū)(A~H 區(qū)、J~L區(qū)),再將每個(gè)分區(qū)劃分為若干個(gè)小區(qū)(一次透照的有效范圍),然后根據(jù)各區(qū)自身結(jié)構(gòu)特點(diǎn),確定透照參數(shù)及布片,該鑄件共需透照約498次。
此機(jī)匣部分部位截面多變,厚度多變。由于不可能分別針對(duì)不同厚度進(jìn)行多次透照,試驗(yàn)使用雙膠片技術(shù),選用感光度不同的膠片(AgfaD4、D7)同時(shí)進(jìn)行透照;為了保證影像質(zhì)量,試驗(yàn)選用細(xì)顆粒膠片(AgfaD4)。這樣既得到了較高的影像對(duì)比度,又具有適當(dāng)?shù)膶捜荻龋岣吡藱z測(cè)效率。
①外環(huán)(A 區(qū))。②法蘭(外環(huán)大端B區(qū))。③內(nèi)環(huán)轉(zhuǎn)接區(qū)外(C 區(qū))。④內(nèi)環(huán)(D 區(qū))。⑤內(nèi)環(huán)轉(zhuǎn)接區(qū)內(nèi)(D 區(qū))。⑥法蘭(內(nèi)環(huán)斜面E 區(qū))。⑦D 面凸臺(tái)(F區(qū))。⑧法蘭(外環(huán)小端G 區(qū))。⑨吊耳(H區(qū))。⑩出氣孔臺(tái)階(J區(qū))。○1 安裝吊耳法蘭(K區(qū))。○12 法蘭(內(nèi)環(huán)法蘭L區(qū))。
支板(C區(qū)):由于機(jī)匣支板的結(jié)構(gòu)特點(diǎn),在透照時(shí)需進(jìn)行雙壁透照,相對(duì)來(lái)說(shuō)雙壁透照的底片質(zhì)量較差,但最主要的問(wèn)題在于缺陷定位困難,此次試驗(yàn)通過(guò)改變射線源、被檢部位和底片的相對(duì)位置,來(lái)確定缺陷所在的位置,以便返修和工藝改進(jìn)。即,主要通過(guò)檢測(cè)工裝改變機(jī)匣的空間位置,從而改變射線源的透照角度,使缺陷投影發(fā)生變化,再結(jié)合前面拍攝的底片對(duì)比,判斷出缺陷位于雙壁的上壁還是下壁。
在射線檢測(cè)中,散射線的屏蔽是重要的,特別是結(jié)構(gòu)復(fù)雜、厚度變化大的工件,如不屏蔽或屏蔽不好,到達(dá)膠片的散射線過(guò)多,會(huì)造成底片的有效評(píng)定區(qū)減小、對(duì)比度降低,使靈敏度嚴(yán)重下降。
散射線主要來(lái)自于透照工件本身及靠近工件背面與周圍的物體,分為前散射、背散射、邊蝕散射。由于機(jī)匣屬于復(fù)雜構(gòu)件、厚度變化大,射線透照時(shí)產(chǎn)生的這些散射線很強(qiáng),因此在每次透照過(guò)程中,都必須注意散射線的防護(hù)問(wèn)題,解決措施為:①機(jī)匣非透照區(qū)域,用鉛板進(jìn)行屏蔽。特別是透照部位有厚度差的邊緣或有內(nèi)孔,要用多層薄鉛板、鉛泥塞緊或包緊,以防止邊蝕現(xiàn)象造成有效檢測(cè)范圍的縮小和靈敏度的降低。②膠片暗袋背面加鉛板屏蔽,以防止透照部位背面及周圍部位產(chǎn)生的散射線造成對(duì)比度和靈敏度的降低。③每個(gè)分區(qū)進(jìn)行第一次透照時(shí),背散射利用“B”鉛字標(biāo)記進(jìn)行驗(yàn)證。
由于散射線主要來(lái)自于透照工件本身及靠近膠片的工件結(jié)構(gòu),采取①和②措施,可以使機(jī)匣本身非透照部位不與一次射線作用,從而不產(chǎn)生低能量的散射線;機(jī)匣中的較薄部位的射線也不會(huì)向較厚部位散射,因此可以極大地降低射線散射比及邊蝕現(xiàn)象,保證膠片的靈敏度,并采?、鄞胧?yàn)證①和②措施的實(shí)際效果,若底片上出現(xiàn)鉛字“B”的較亮影像,此底片作廢;若此鉛字“B”影像較暗或不可見(jiàn),表明背散射線屏蔽良好,則底片合格。
鑒于機(jī)匣外廓大且結(jié)構(gòu)復(fù)雜,人工對(duì)透照焦距和透照角度,不能保證參數(shù)的一致性,對(duì)X 射線透照靈敏度和缺陷的有效檢測(cè)有較大影響。為了保證能重復(fù)實(shí)現(xiàn)機(jī)匣、膠片、X 射線管之間的相對(duì)位置和透照角度,需要采用一定的機(jī)械手段去控制。此次試驗(yàn)為機(jī)匣特制了專門的檢測(cè)工裝,如圖2所示,使用特制工裝使試驗(yàn)操作更為便捷、省力、高效,在對(duì)不同部位檢測(cè)時(shí),可準(zhǔn)確控制所檢部位的位置,大大提高了試驗(yàn)的重復(fù)性和一致性,檢測(cè)工裝使用結(jié)構(gòu)如圖3所示。
圖2 特制檢測(cè)工裝
機(jī)械轉(zhuǎn)臺(tái)上的三爪卡盤為被檢機(jī)匣的夾持部位,三爪卡盤通過(guò)兩組蝸輪蝸桿結(jié)構(gòu)而設(shè)置在機(jī)械轉(zhuǎn)臺(tái)上,通過(guò)旋轉(zhuǎn)傾斜手輪帶動(dòng)蝸輪蝸桿,使固定在蝸輪上的轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn),從而使三爪卡盤繞轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn),實(shí)現(xiàn)三爪卡盤繞轉(zhuǎn)軸在水平和垂直方向之間轉(zhuǎn)動(dòng),即實(shí)現(xiàn)三爪卡盤的傾斜;通過(guò)旋轉(zhuǎn)手輪帶動(dòng)另一組蝸輪蝸桿,使固定在該蝸輪上的轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn),從而使三爪卡盤繞該轉(zhuǎn)軸360°旋轉(zhuǎn),實(shí)現(xiàn)三抓卡盤的360°旋轉(zhuǎn),通過(guò)三爪卡盤傾斜及360°旋轉(zhuǎn)來(lái)調(diào)整被檢機(jī)匣的最佳檢測(cè)工位;升降機(jī)構(gòu)可以調(diào)節(jié)上平臺(tái)的高度,進(jìn)而調(diào)節(jié)被檢機(jī)匣的曝光距離和透照角度,找到射線檢測(cè)的最佳透照工藝。通過(guò)轉(zhuǎn)向輪來(lái)移動(dòng)裝置,調(diào)整光源與被檢機(jī)匣之間的距離,確保透照部位與光源之間的距離為標(biāo)準(zhǔn)焦距,完美匹配射線透照工藝。
圖3 檢測(cè)工裝使用垂直、傾斜、水平放置圖
下面僅以A 區(qū)(壁厚3.5mm)為例,說(shuō)明優(yōu)選射線檢測(cè)工藝參數(shù)的試驗(yàn)。
由于A 區(qū)面大、壁厚均勻,但較薄,考慮幾何不清晰度、透照厚度比K≤1.1(一次透照有效范圍)和黑度在1.5~4.0范圍(最佳黑度2.0),焦距選擇700mm,幾何不清晰度遠(yuǎn)小于規(guī)定要求,則:
式中:F為焦點(diǎn)尺寸;f為焦距;d為壁厚。
同時(shí),機(jī)匣A 區(qū)外徑1 400mm、壁厚3.5mm,在焦距700mm 時(shí),也可以使一次透照有效范圍較大,提高照相效率);根據(jù)射線檢測(cè)儀GE160曝光曲線圖,曝光量選擇25 mA·min(電流10 mA、時(shí)間2.5min),電壓選擇85、95、105kV,膠片選擇Agfa D2、D4、D7,對(duì)以下不同射線檢測(cè)透照工藝進(jìn)行比較。透照后,經(jīng)相同的暗室條件下處理,分別測(cè)量得到各底片的黑度和靈敏度如表1所示。
表1 A區(qū)不同射線檢測(cè)透照工藝和結(jié)果
由測(cè)得結(jié)果知:
(1)電壓取85kV 時(shí),D2、D4、D7 膠片雖然靈敏度都達(dá)到要求(≤2%),但黑度都低于1.5,不滿足最低黑度要求,可以增加曝光量,但會(huì)降低效率。
(2)電壓取95kV 時(shí),D2、D4、D7 膠片靈敏度都達(dá)到要求(≤2%),黑度都高于1.5,D2 黑度最低,低于最佳黑度(2.0),D7黑度最高,高于最佳黑度,D5黑度居中,在最佳黑度附近。
(3)電壓取105kV 時(shí),D2、D4、D7膠片雖然靈敏度都達(dá)到要求(≤2%),但黑度都偏大(2.5 以上),遠(yuǎn)大于最佳黑度。
比較以上結(jié)果,依據(jù)在保證穿透情況下,電壓越低越好(有利于提高底片的對(duì)比度)的原則,再綜合考慮照相效率、靈敏度、成本,要求曝光時(shí)間較短,成本低,黑度適中,靈敏度滿足要求,最終選擇了最佳射線檢測(cè)透照工藝,工藝參數(shù)為:壁厚3.5 mm,焦距700mm,電壓95kV,電流10mA,時(shí)間2.5min,膠片D4,顯影5min,定影15min,黑度不小于2.0,像質(zhì)數(shù)(鋁)14#,靈敏度0.32%。
通過(guò)試驗(yàn),最終確定了渦輪后機(jī)匣X 射線檢測(cè)的最佳檢測(cè)工藝。在工藝確定后按照工藝對(duì)整個(gè)渦輪后機(jī)匣進(jìn)行了100%檢測(cè),檢測(cè)的498張底片都達(dá)到了機(jī)匣的質(zhì)量要求,能夠準(zhǔn)確識(shí)別機(jī)匣鑄件的內(nèi)部缺陷,保證機(jī)匣使用的可靠性,為機(jī)匣后續(xù)檢測(cè)的研究提供基礎(chǔ)。
[1]ASTM E747 用于射線照相的絲型透度計(jì)的設(shè)計(jì)、制造和材料、組類標(biāo)準(zhǔn)[S].
[2]ASTM E2104先進(jìn)航空和渦輪材料及部件射線照相檢驗(yàn)規(guī)程[S].
[3]ASTM E999 工業(yè)射線照相膠片處理質(zhì)量指南[S].
[4]ASTM E1254 射線底片和射線膠片的保存指南[S].