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        機載小型化星敏感器遮光罩設(shè)計*

        2014-12-31 12:18:52胡曉東劉元正王繼良
        傳感器與微系統(tǒng) 2014年6期
        關(guān)鍵詞:次鏡鏡筒主鏡

        胡曉東,胡 強,雷 興,魏 青,劉元正,王繼良

        (中國航空工業(yè)集團公司西安飛行自動控制研究所,陜西西安 710065)

        0 引言

        星敏感器是機載天文導(dǎo)航系統(tǒng)中的重要部件,它是通過實時拍攝星圖,再進行星圖識別和姿態(tài)解算實現(xiàn)對載體的導(dǎo)航。星敏感器探測的目標(biāo)信號通常十分微弱,白天工作時,背景光的輻射強度遠遠大于信號本身的強度,給準(zhǔn)確探測目標(biāo)帶來很大困難。由于強雜光的影響,目標(biāo)很容易受到干擾,甚至目標(biāo)信號被背景光淹沒,從而導(dǎo)致目標(biāo)失真[1],因此,星敏感器消雜光系統(tǒng)的設(shè)計就變得至關(guān)重要。消雜光技術(shù)是星敏感器的核心技術(shù)之一,雜散光消除效果的好壞將直接決定星敏感器系統(tǒng)能否正常工作[2]。

        本文根據(jù)星敏感器成像系統(tǒng)自身的特性與消雜光設(shè)計基本原則,對機載小型化星敏感器的遮光罩進行了設(shè)計,利用Matlab計算出遮光罩的尺寸,確定擋光環(huán)的位置,結(jié)合CAD作圖軟件對基于該消雜光系統(tǒng)的星敏感器鏡頭進行了建模,并使用雜光分析軟件TracePro對遮光罩的消雜光效果進行了仿真和分析,給出了點源透過率曲線。結(jié)果表明:當(dāng)離軸角度大于太陽規(guī)避角時,點源透射比值達到10-10量級,滿足實際工程需要。

        1 遮光罩設(shè)計實例

        以某機載星敏感器系統(tǒng)的R-C型折反式光學(xué)系統(tǒng)為例,該結(jié)構(gòu)示意圖如圖1所示,主、次鏡曲率半徑分別為R1=-188.346 mm,R2=-99.8 mm。

        圖1 R-C系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖Fig 1 Structure diagram of R-C system

        根據(jù)設(shè)計經(jīng)驗,一般要求系統(tǒng)的在規(guī)避角的點源透射比(point source transmittance,PST)達到10-10量級[3]才能滿足工程需要。對于傳統(tǒng)R-C系統(tǒng)消雜光機構(gòu)而言,要達到上述消雜光水平,通常需要在鏡頭主體前加一外遮光罩,通過在外遮光罩上合理設(shè)置擋光環(huán),遮擋太陽規(guī)避角30°以上的雜散光線直接入射,使得雜散光在前遮光罩上的一次反射光不會進入到光學(xué)系統(tǒng)內(nèi)[4]。但是考慮到機載環(huán)境的特殊性,要求系統(tǒng)的長度不能太長,因此,本文將主、次鏡間鏡筒的前端部分作為外遮光罩使用,按照外遮光罩的設(shè)計方法進行設(shè)計,以壓縮整個消雜光系統(tǒng)的長度。

        在儀器視場角θ、入瞳直徑D0、雜散光源(例如太陽)入射角α等已知的條件下,通過簡單計算可以得到鏡筒前端遮光罩的長度L=255 mm與口徑D'0=160 mm[5],而擋光環(huán)的位置通常情況下需要通過作圖法得到。具體地設(shè)計步驟如圖2所示,首先連接E與D1,直線ED1與AB的交點X1即為第一個擋光環(huán)頂點;再連接F與X1交直線CD1于點D2;然后連接E與D2,直線ED2與AB的交點X2即為第二個擋光環(huán)頂點。以此類推,連接F與Xn-1交直線CD1于點Dn,再連接E與Dn,直線EDn與AB的交點Xn即為第n個擋光環(huán)頂點。

        圖2 鏡筒前端遮光罩擋光環(huán)設(shè)計示意圖Fig 2 Design diagram of the front baffle vanes of lens barrel

        本文是在作圖法的基礎(chǔ)上,通過Matlab程序計算出各個擋光環(huán)的精確坐標(biāo),從而確定其位置,免去了作圖法繁瑣的步驟,在減小誤差的同時也提高了設(shè)計效率。首先以光軸為X軸、遮光罩外端口為Y軸建立直角坐標(biāo)系,由此可得A,B,C,D1,E,F(xiàn)的坐標(biāo),根據(jù)圖3 所示的流程,在計算機上利用Matlab編程即可得到一系列擋光環(huán)頂點的坐標(biāo)(如表1所示)。此外為了減小擋光環(huán)的端面散射,在設(shè)計擋光環(huán)邊緣時存在一定的傾角,一般取30°,其上端有個倒角,半徑為 0.2 mm,擋光環(huán)厚度為 1 mm[4]。

        對于遮光系統(tǒng)來說,只使用外遮光罩來遮擋雜光顯然是不夠的,事實上,系統(tǒng)的自身內(nèi)輻射也會影響性能,在雜光設(shè)計分析過程中擋光環(huán)和內(nèi)遮光罩的設(shè)計也是很有必要的。

        根據(jù)R-C系統(tǒng)遮光罩設(shè)計的基本原則和具體要求,作出主、次鏡遮光罩示意圖如圖4所示[6]。

        表1 前遮光罩擋光環(huán)頂點坐標(biāo)Tab 1 Vertex coordinates of the front baffle vanes

        圖3 鏡筒前端遮光罩擋光環(huán)計算程序流程圖Fig 3 Flow chart of calculation program of the front baffle vanes of lens barrel

        圖4 主、次鏡遮光罩設(shè)計示意圖Fig 4 Design diagram of baffle of main and secondary lens

        為了使光線均勻照射到像面上,視場內(nèi)的所有光線必須要通過主、次鏡遮光罩之間的缺口。同時2條視場邊緣光線L1和L2也必須能夠到達像面上。L1和L2決定了主、次鏡遮光罩的最小尺寸。圖4中的光線L4表示一束雜光,它與2條視場邊緣光線L1和L2的交點分別就是主、次鏡遮光罩的端點位置。從圖4中不難看出,對于焦平面上|y|<|yS|的任何位置都沒有雜光可以直接到達。而對于最小漸暈條件,L'3是一條恰好可以通過次鏡遮光罩的達到主鏡上面的邊緣光線。這條光線經(jīng)主鏡反射后沿L3到達次鏡,而L2,L3和L43條光線必定相較于一點P(zP,yP),該點就是主鏡遮光罩的頂點坐標(biāo)。

        下面分別對上述5條光線的直線方程進行求解。通過分析可以發(fā)現(xiàn),實際上需要確定的獨立變量只有4個分別是主、次鏡遮光罩頂點坐標(biāo)(zB,yB)和(zP,yP)。雖然視場邊緣光線打到主鏡上的坐標(biāo)y4也是未知的,但是,它完全可以通過次鏡遮光罩的位置來求得。

        如果設(shè)光線Li的方程為

        則由圖4可得

        為了簡化公式,用b1和a2來代替式(2)和式(3)中的斜率和截距。首先對L3和L4的交點B(zB,yB)進行求解

        將式(7)和式(8)代入式(4)中可得

        接下來對于L2和L3的交點P(zP,yP)進行求解

        在式(9)中對于y4的描述使用了zP和yP兩個未知的參數(shù),而式(10)和式(11)則給出了用y4描述的zP和yP的表達式。將式(10)和式(11)代入式(9)中可以得到一個關(guān)于y4的一元二次方程

        其中

        根據(jù)一元二次方程的求根公式對式(12)進行求解。然后代入式(10)和式(11)中得到zP和yP。最后代入到式(7)和式(8)中得到次鏡遮光罩的頂點坐標(biāo)(zB,yB)。

        如圖5所示,在本文中為了減小系統(tǒng)遮攔,次鏡遮光罩采用了百葉窗形式,同時在主鏡遮光罩內(nèi)添加了一系列擋光環(huán),進一步提升系統(tǒng)的消雜光能力[7]。根據(jù)已經(jīng)求得的B點及P點的坐標(biāo),以及光線的直線方程,可以得到各個擋光環(huán)頂點的坐標(biāo),具體數(shù)值見表2和表3。

        圖5 主鏡擋光環(huán)、次鏡百葉窗設(shè)計示意圖Fig 5 Diagram of the main lens baffle vanes and secondary lens baffle louver

        表2 次鏡百葉窗頂點坐標(biāo)Tab 2 Vertex coordinates of the secondary lens baffle louver

        表3 主鏡遮光罩擋光環(huán)頂點坐標(biāo)Tab 3 Vertex coordinates of the main lens baffle vanes

        R-C系統(tǒng)中,主、次鏡間的鏡筒阻止外界雜散光直接入射到像面,但鏡筒表面本身具有一定反射率,鏡筒內(nèi)壁的部分表面實際上充當(dāng)關(guān)鍵表面或光源直接照射表面甚至同時充當(dāng)這兩類表面[8]。因此,當(dāng)有雜散光輻射到鏡筒內(nèi)壁某些表面上時,可能反射到反射鏡面,多次反射后到達像面形成干擾。這些經(jīng)由鏡筒內(nèi)壁和光學(xué)元件表面的多次反射會嚴(yán)重降低圖像的對比度,從而影響成像效果。為了盡量減小此類影響,一般要在鏡筒內(nèi)壁涂覆黑色的消光漆,同時在添加螺紋及擋光環(huán)。為此,本文在主、次鏡間鏡筒內(nèi)壁設(shè)計了一定數(shù)量的擋光環(huán)。

        如圖6所示,設(shè)鏡筒內(nèi)壁擋光環(huán)等高,并記作H,虛線為不加擋光環(huán)時遮光筒的位置。外界雜散光由次鏡邊緣點h入射,在遮光筒內(nèi)壁上選擇靠近主鏡的一點u與點h和點p連接作為鏡筒接收雜散光的最小角度路徑。在直線uh和直線up與虛線的交點處設(shè)置擋光環(huán)。依此類推,直到接近遮光筒邊緣為止,便可確定全部擋光環(huán)的位置。

        圖6 遮光筒內(nèi)壁擋光環(huán)的設(shè)計示意圖Fig 6 Design diagram of the inner wall vanes of baffle

        2 遮光罩仿真結(jié)果

        利用上述設(shè)計方法,本文針對太陽規(guī)避角30°之外系統(tǒng)消光比小于4.4×10-9的設(shè)計指標(biāo),對光學(xué)系統(tǒng)的消雜光結(jié)構(gòu)進行了詳細設(shè)計。如圖7所示,將利用Matlab語言編程得到的擋光環(huán)各個頂點坐標(biāo)使用UG繪制模型。

        圖7 星敏感器系統(tǒng)消雜光設(shè)計圖Fig 7 Design of stray light elimination of star sensor system

        使用光學(xué)軟件TracePro對整個系統(tǒng)進行的消雜光效果進行仿真。設(shè)置各個表面的散射特性,其中光學(xué)透鏡表面都設(shè)置為鏡面,其它表面都設(shè)置為噴砂染黑表面,參數(shù)均采用系統(tǒng)默認參數(shù)。模擬中設(shè)置的光線數(shù)為6 003 560條,計算出的消光比曲線如圖8所示,經(jīng)過多次實驗證明,得出的結(jié)果是穩(wěn)定的。由圖可知隨著離軸角的增大,系統(tǒng)的PST值一直在下降,當(dāng)離軸角為30°時,其 PST值為5.536×10-10,小于系統(tǒng)要求的PST指標(biāo)值4.4×10-9,設(shè)計的遮光罩能滿足抑制雜散光的性能要求。

        3 結(jié)論

        本文主要就機載小型化星敏感器消雜光技術(shù)的相關(guān)問題進行了研究。在作圖法的基礎(chǔ)上,利用Matlab語言編程實現(xiàn)了對于R-C系統(tǒng)遮光罩的程序化設(shè)計。針對機載環(huán)境的特殊性要求,采取了將主、次鏡間鏡筒的前端部分作為外遮光罩的設(shè)計方法,壓縮了整個消雜光系統(tǒng)的長度。同時,次鏡遮光罩采用了百葉窗形式,減小了系統(tǒng)遮攔。通過在主鏡遮光罩內(nèi)添加一系列擋光環(huán)的方法,進一步提升了系統(tǒng)的消雜光能力。將得到的擋光環(huán)各個頂點坐標(biāo)使用UG繪制模型,并利用光學(xué)設(shè)計分析軟件TracePro,采用蒙特—卡羅法對600萬條光線在不同入射角度情況下的點源透射比進行了分析,在30°太陽規(guī)避角時的 PST值達到了5.536×10-10,小于系統(tǒng)要求的性能指標(biāo)。

        圖8 系統(tǒng)PST曲線Fig 8 PST curve of system

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        [4]《光學(xué)儀器設(shè)計手冊》編輯組.光學(xué)儀器設(shè)計手冊(下)[M].北京:國防工業(yè)出版社,1971:618-621.

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