愛德萬測試（Advantest）新品發(fā)布

愛德萬測試（Advantest）就新近推出的三款新品日前分別于上海、北京舉行媒體發(fā)布會。發(fā)布會期間，業(yè)務戰(zhàn)略發(fā)展部的高級總監(jiān)陸亞奇先生就半導體市場需求，產業(yè)結構及增長率進行了分析和介紹。

以下是愛德萬測試三款新品的用途和性能介紹：

Advantest推出1.6-Gbps數字模塊，通過功能強大的EDA-LINK（FTA-ELINK）進行Protocol-Aware測試

全球領先的半導體測試設備供應商Advantest推出其全新的T20001.6GDM數字模塊，旨在提高系統級芯片（SoC）在T2000的測試平臺上的測試效率。

1.6 GDM模塊集成了FTA+（Functional Test Abstraction Plus）新功能以實現Protocol-Aware測試，在測試過程中測試儀將直接以各種協議語言與待測芯片（DUT）進行通信。EDA工具FTA-ELINK將設計仿真器直接連接到T2000測試平臺，此外，Verilog代碼可以在帶有1.6GDM模塊的T2000 EPP（增強型性能套件）系統上運行。由于其向量發(fā)生器擁有了具備獨立時序及存儲功能的Protocol-Aware引擎，T2000可以在本地進行基于協議的I/O測試，從而實現高效的并行、并發(fā)測試，顯著加快了用戶從設計到出樣的時間，提高了產品面市速度。

隨著1.6GDM模塊的推出，T2000EPP大大提高了其并行測試的能力，每個DUT的功能可以獨立地監(jiān)測和評價。新模塊具有的矢量模式使得它在具有更高產能和可靠性的同時，與現有的1GDM數字模塊完全兼容。

Advantest推出新款芯片供電電源，提高T2000測試平臺的通用性和成本效益新DPS150AE模塊為高、低電流器件提供高產出、高同測能力

全新的T2000增強型芯片供電電源DPS150AE模塊，使得T2000測試平臺可用于針對包括MPU、ASIC和FPGA等在內的大電流和低電壓芯片的高精度測試。該模塊提高了T2000以最低測試成本對以上芯片進行高產出、高同測的能力。

DPS150AE模塊極大地提高了測試的靈活性，用戶可以現場升級或者作為T2000 EPP（增強型性能套件）系統的選件進行出廠安裝。通過模塊的高速總線和Advantest的智能測試條件存儲器（TCM），T2000 EPP系統可以使該模塊同時測試多個器件，并且每個待測器件都可以進行獨立監(jiān)測和評估。

通過T2000EPP的TCM，用戶可以迅速地設定和調整測試條件。這個功能預先加載了測試程序的所有參數并且具有編輯能力，測試工程師能夠以圖形方式在程序運行中實時進行修改。

DPS150AE有8個可支持高達16安培的大電流通道（HL）以及8個可支持2.66安培的低電流（LC）通道。DPS150AE還可以將不同模塊上的多個通道并聯，通過80個HC通道，每個通道提供16安培電流，產生高達1280安培的大電流。

Advantest最新推出基于V93000平臺的PVI8懸浮式電源，進軍高電壓、大電流IC測試領域助力V93000應對SOC市場日益融合的趨勢

最新推出了PVI8懸浮電源，擴展了其市場領先的V93000測試平臺為嵌入式電源器件進行高電壓、大電流測試的能力。該項性能的提升使V93000能夠在同一平臺上具有強大的電源以及足夠的數字和模擬通道，從而為用戶提供高并行度、低成本的嵌入式電源IC測試解決方案。

PVI8電源具有8懸浮通道和4象限運行設計，每通道可以提供高達80 V的電壓和10 A的電流。它的8通道可以組合輸出高達±80 A的電流，從而對待測器件進行高功率下的耐壓測試。為了測試高壓源，PVI8可憑借其懸浮設計通過堆疊產生±160 V的電壓。

PVI8的測量范圍和驅動范圍是獨立的，用戶可以任意切換測量范圍而不必擔心待測器件遭到（電壓或電流的）尖峰、斷電、死鎖或者損壞。

通過內在的向量控制運行模式，PVI8在電源測試過程中不需要與測試系統的CPU進行交互，大大加快了測試速度。通過保持恒定的向量速度，以及使用短功率脈沖以防止DUT過熱，PVI8可以得到穩(wěn)定的測試結果。

PVI8的每個VI通道都有自己的處理器和一個高達56 MB的內存，這使得其16位任意波形發(fā)生器（AWG）和全向量控制的數字化儀得以高效運行。在程序運行過程中，該處理器的大容量內存使得基于向量控制的儀器無需重新載入波形，從而允許在一次向量運行過程中進行多次測量。

Advantest的PVI8懸浮電源已經開始向全球的客戶發(fā)貨。該模塊可作為V93000的選件在出廠時安裝，也可以進行現場升級。

愛德萬測試向長期合作客戶Amkor出貨第1000臺V93000 Smart Scale

全球領先的半導體測試設備供應商愛德萬測試已將其具有里程碑意義的第1000臺V93000 Smart Scale測試設備出貨長期合作客戶Amkor。安靠技術是世界上最大的半導體封裝測試服務提供商之一，也是超過300家世界領先的半導體公司和電子OEM的戰(zhàn)略生產合作伙伴。安靠技術將利用此配置Pin Scale 1600和Pin Scale 9G卡的系統，為最新一代支援高畫質多媒體介面（HDMI）與行動高畫質連結 （MHL）技術的半導體產品打造具成本經濟效益的測試解決方案。

所有種類的V93000 Smart Scale測試設備都互相兼容，讓客戶可以隨著IC產量和測試要求的變化，將他們的產品測試從一種設備轉向另一種設備。

V93000測試平臺被安靠和全球眾多OSAT公司廣泛使用，以通用per-pin結構為特點，為高級半導體設計公司提供最靈活和經濟的測試解決方案。公司的Pin Scale 1600電子信道卡性能廣，通過運用此種電子信道卡，測試設備可以履行被測設備所需的任何功能。愛德萬測試的創(chuàng)新技術讓每個pin以自己的時鐘域運行，與任意被測設備精確數據速率的要求匹配，提供全面的測試。這使V93000具有電源調制、抖動注入、協定通訊和其他關鍵功能，提供自動測試設備層面的模擬系統壓力測試。