賈應(yīng)煒

摘 要： 基于ISO14443A協(xié)議的RFID集成電路芯片測試系統(tǒng)的設(shè)計研究對改善當前ATE的高成本、性能浪費等現(xiàn)象有積極意義?；贗SO14443A協(xié)議，利用RFID集成電路芯片設(shè)計了一個系統(tǒng)，從軟硬件兩個方面進行設(shè)計調(diào)試，并配合優(yōu)化方案解決設(shè)計問題，最終結(jié)果表明設(shè)計系統(tǒng)運行效果佳，穩(wěn)定性好，對于工業(yè)集成電路芯片測試系統(tǒng)的研究有一定價值。

關(guān)鍵詞： 集成電路芯片測試系統(tǒng)； 設(shè)計； ISO14443A協(xié)議； RFID集成電路

中圖分類號： TN06?34 文獻標識碼： A 文章編號： 1004?373X（2014）17?0097?03

Abstract： Design of RFID integrated circuit chip testing system based on ISO14443A protocol has a positive significance for eliminating the high cost and performance waste phenomena of current ATE. A system was designed by means of ISO14443A protocol and RFID integrated circuit chip. In the design process， the design debugging of the hardware and software was conducted， and some design problems were solved by the aid of the optimization scheme. The final results show that the system works well and has high stability. It has a certain value for the research of the industry integrated circuit chip testing system.

Keywords： IC chip test system； design； ISO14443A protocol； RFID integrated circuit

0 引 言

隨著國內(nèi)IC行業(yè)的迅速崛起與發(fā)展，集成電路自動測試機（Automatic Test Equipment，ATE）的生產(chǎn)與發(fā)展也逐步壯大。作為測試器件、電路板和子系統(tǒng)的重要設(shè)備，ATE通過計算機控制實現(xiàn)自身職能。目前主要使用的測試系統(tǒng)是UF200探針臺加V50帶RFID測試模塊，雖然系統(tǒng)高集成測試功能較為強大，但是也帶來了操作設(shè)置復(fù)雜化、性能設(shè)置浪費等情況。為降低測試成本，研發(fā)低成本、單獨實用性更強的測試系統(tǒng)成為必需，尤其是針對某類單一芯片的功能測試，成為企業(yè)研發(fā)的主流。下面分析基于ISO14443A協(xié)議的RFID集成電路芯片測試系統(tǒng)的設(shè)計。

1 系統(tǒng)整體上設(shè)計方案

整體測試系統(tǒng)包括軟硬件兩部分，硬件部分較為簡單，以RS 485通信模塊、單片控制模塊與Reader Chip（RC522）等為主，具體如圖1所示。軟件部分以上位機控制程序、CPIB掃描驅(qū)動、串口通訊及芯片初始化的傳遞設(shè)置為主。

5 結(jié) 語

基于ISO14443A協(xié)議的RFID集成電路芯片測試系統(tǒng)的設(shè)計改善當前ATE的高成本、性能浪費等現(xiàn)象有積極意義。本文基于ISO14443A協(xié)議，利用RFID集成電路芯片設(shè)計了一個系統(tǒng)，通過對硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)的調(diào)試配合程序優(yōu)化最終完成了設(shè)計目標，實現(xiàn)了系統(tǒng)穩(wěn)定性好、速度快、成本低等多個目標，目前已經(jīng)在工業(yè)中廣泛應(yīng)用。本次設(shè)計經(jīng)過驗證確定實際性能較佳，對集成電路芯片測試系統(tǒng)的研究有一定意義。

參考文獻

[1] 宋尚升.集成電路測試原理和向量生成方法分析[J].現(xiàn)代電子技術(shù)，2014，37（6）：56?58.

[2] 李柯遜.淺談集成電路靜電損害及防護措施[J].電子設(shè)計工程，2014（7）：227?228.

[3] 張鵬輝.多管芯并行測試的熔絲修調(diào)方法探索[J].電子與封裝，2014（1）：35?39.

[4] 李濤，余志平.考慮制程變異的全芯片漏電流統(tǒng)計分析[J].清華大學(xué)學(xué)報：自然科學(xué)版，2009（4）：578?580.

[5] 李彩紅.無線射頻識別（RFID）芯片技術(shù)[J].現(xiàn)代電子技術(shù)，2007，30（11）：56?58.

[6] 張路路.基于PCI總線集成電路測試儀接口設(shè)計[J].現(xiàn)代電子技術(shù)，2012，35（12）：66?68.

摘 要： 基于ISO14443A協(xié)議的RFID集成電路芯片測試系統(tǒng)的設(shè)計研究對改善當前ATE的高成本、性能浪費等現(xiàn)象有積極意義。基于ISO14443A協(xié)議，利用RFID集成電路芯片設(shè)計了一個系統(tǒng)，從軟硬件兩個方面進行設(shè)計調(diào)試，并配合優(yōu)化方案解決設(shè)計問題，最終結(jié)果表明設(shè)計系統(tǒng)運行效果佳，穩(wěn)定性好，對于工業(yè)集成電路芯片測試系統(tǒng)的研究有一定價值。

關(guān)鍵詞： 集成電路芯片測試系統(tǒng)； 設(shè)計； ISO14443A協(xié)議； RFID集成電路

中圖分類號： TN06?34 文獻標識碼： A 文章編號： 1004?373X（2014）17?0097?03

Abstract： Design of RFID integrated circuit chip testing system based on ISO14443A protocol has a positive significance for eliminating the high cost and performance waste phenomena of current ATE. A system was designed by means of ISO14443A protocol and RFID integrated circuit chip. In the design process， the design debugging of the hardware and software was conducted， and some design problems were solved by the aid of the optimization scheme. The final results show that the system works well and has high stability. It has a certain value for the research of the industry integrated circuit chip testing system.

Keywords： IC chip test system； design； ISO14443A protocol； RFID integrated circuit

0 引 言

隨著國內(nèi)IC行業(yè)的迅速崛起與發(fā)展，集成電路自動測試機（Automatic Test Equipment，ATE）的生產(chǎn)與發(fā)展也逐步壯大。作為測試器件、電路板和子系統(tǒng)的重要設(shè)備，ATE通過計算機控制實現(xiàn)自身職能。目前主要使用的測試系統(tǒng)是UF200探針臺加V50帶RFID測試模塊，雖然系統(tǒng)高集成測試功能較為強大，但是也帶來了操作設(shè)置復(fù)雜化、性能設(shè)置浪費等情況。為降低測試成本，研發(fā)低成本、單獨實用性更強的測試系統(tǒng)成為必需，尤其是針對某類單一芯片的功能測試，成為企業(yè)研發(fā)的主流。下面分析基于ISO14443A協(xié)議的RFID集成電路芯片測試系統(tǒng)的設(shè)計。

1 系統(tǒng)整體上設(shè)計方案

整體測試系統(tǒng)包括軟硬件兩部分，硬件部分較為簡單，以RS 485通信模塊、單片控制模塊與Reader Chip（RC522）等為主，具體如圖1所示。軟件部分以上位機控制程序、CPIB掃描驅(qū)動、串口通訊及芯片初始化的傳遞設(shè)置為主。

5 結(jié) 語

基于ISO14443A協(xié)議的RFID集成電路芯片測試系統(tǒng)的設(shè)計改善當前ATE的高成本、性能浪費等現(xiàn)象有積極意義。本文基于ISO14443A協(xié)議，利用RFID集成電路芯片設(shè)計了一個系統(tǒng)，通過對硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)的調(diào)試配合程序優(yōu)化最終完成了設(shè)計目標，實現(xiàn)了系統(tǒng)穩(wěn)定性好、速度快、成本低等多個目標，目前已經(jīng)在工業(yè)中廣泛應(yīng)用。本次設(shè)計經(jīng)過驗證確定實際性能較佳，對集成電路芯片測試系統(tǒng)的研究有一定意義。

參考文獻

[1] 宋尚升.集成電路測試原理和向量生成方法分析[J].現(xiàn)代電子技術(shù)，2014，37（6）：56?58.

[2] 李柯遜.淺談集成電路靜電損害及防護措施[J].電子設(shè)計工程，2014（7）：227?228.

[3] 張鵬輝.多管芯并行測試的熔絲修調(diào)方法探索[J].電子與封裝，2014（1）：35?39.

[4] 李濤，余志平.考慮制程變異的全芯片漏電流統(tǒng)計分析[J].清華大學(xué)學(xué)報：自然科學(xué)版，2009（4）：578?580.

[5] 李彩紅.無線射頻識別（RFID）芯片技術(shù)[J].現(xiàn)代電子技術(shù)，2007，30（11）：56?58.

[6] 張路路.基于PCI總線集成電路測試儀接口設(shè)計[J].現(xiàn)代電子技術(shù)，2012，35（12）：66?68.

摘 要： 基于ISO14443A協(xié)議的RFID集成電路芯片測試系統(tǒng)的設(shè)計研究對改善當前ATE的高成本、性能浪費等現(xiàn)象有積極意義?；贗SO14443A協(xié)議，利用RFID集成電路芯片設(shè)計了一個系統(tǒng)，從軟硬件兩個方面進行設(shè)計調(diào)試，并配合優(yōu)化方案解決設(shè)計問題，最終結(jié)果表明設(shè)計系統(tǒng)運行效果佳，穩(wěn)定性好，對于工業(yè)集成電路芯片測試系統(tǒng)的研究有一定價值。

關(guān)鍵詞： 集成電路芯片測試系統(tǒng)； 設(shè)計； ISO14443A協(xié)議； RFID集成電路

中圖分類號： TN06?34 文獻標識碼： A 文章編號： 1004?373X（2014）17?0097?03

Abstract： Design of RFID integrated circuit chip testing system based on ISO14443A protocol has a positive significance for eliminating the high cost and performance waste phenomena of current ATE. A system was designed by means of ISO14443A protocol and RFID integrated circuit chip. In the design process， the design debugging of the hardware and software was conducted， and some design problems were solved by the aid of the optimization scheme. The final results show that the system works well and has high stability. It has a certain value for the research of the industry integrated circuit chip testing system.

Keywords： IC chip test system； design； ISO14443A protocol； RFID integrated circuit

0 引 言

隨著國內(nèi)IC行業(yè)的迅速崛起與發(fā)展，集成電路自動測試機（Automatic Test Equipment，ATE）的生產(chǎn)與發(fā)展也逐步壯大。作為測試器件、電路板和子系統(tǒng)的重要設(shè)備，ATE通過計算機控制實現(xiàn)自身職能。目前主要使用的測試系統(tǒng)是UF200探針臺加V50帶RFID測試模塊，雖然系統(tǒng)高集成測試功能較為強大，但是也帶來了操作設(shè)置復(fù)雜化、性能設(shè)置浪費等情況。為降低測試成本，研發(fā)低成本、單獨實用性更強的測試系統(tǒng)成為必需，尤其是針對某類單一芯片的功能測試，成為企業(yè)研發(fā)的主流。下面分析基于ISO14443A協(xié)議的RFID集成電路芯片測試系統(tǒng)的設(shè)計。

1 系統(tǒng)整體上設(shè)計方案

整體測試系統(tǒng)包括軟硬件兩部分，硬件部分較為簡單，以RS 485通信模塊、單片控制模塊與Reader Chip（RC522）等為主，具體如圖1所示。軟件部分以上位機控制程序、CPIB掃描驅(qū)動、串口通訊及芯片初始化的傳遞設(shè)置為主。

5 結(jié) 語

基于ISO14443A協(xié)議的RFID集成電路芯片測試系統(tǒng)的設(shè)計改善當前ATE的高成本、性能浪費等現(xiàn)象有積極意義。本文基于ISO14443A協(xié)議，利用RFID集成電路芯片設(shè)計了一個系統(tǒng)，通過對硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)的調(diào)試配合程序優(yōu)化最終完成了設(shè)計目標，實現(xiàn)了系統(tǒng)穩(wěn)定性好、速度快、成本低等多個目標，目前已經(jīng)在工業(yè)中廣泛應(yīng)用。本次設(shè)計經(jīng)過驗證確定實際性能較佳，對集成電路芯片測試系統(tǒng)的研究有一定意義。

參考文獻

[1] 宋尚升.集成電路測試原理和向量生成方法分析[J].現(xiàn)代電子技術(shù)，2014，37（6）：56?58.

[2] 李柯遜.淺談集成電路靜電損害及防護措施[J].電子設(shè)計工程，2014（7）：227?228.

[3] 張鵬輝.多管芯并行測試的熔絲修調(diào)方法探索[J].電子與封裝，2014（1）：35?39.

[4] 李濤，余志平.考慮制程變異的全芯片漏電流統(tǒng)計分析[J].清華大學(xué)學(xué)報：自然科學(xué)版，2009（4）：578?580.

[5] 李彩紅.無線射頻識別（RFID）芯片技術(shù)[J].現(xiàn)代電子技術(shù)，2007，30（11）：56?58.

[6] 張路路.基于PCI總線集成電路測試儀接口設(shè)計[J].現(xiàn)代電子技術(shù)，2012，35（12）：66?68.