王婷婷 張 紅 俞毅敏 戴妙妙 馬 壯 / 上海市質(zhì)量監(jiān)督檢驗技術(shù)研究院
電子電氣產(chǎn)品,尤其是家用電器產(chǎn)品的安全涉及千家萬戶的生命財產(chǎn)安全,為加強監(jiān)管力度,政府把電氣安全納入了強制性認證目錄。插頭放電項目作為電子電氣產(chǎn)品的重要安全項目之一,直接關(guān)系到普通使用人員在操作時的人身安全,正確地判定插頭的放電量是否在安全范圍,也是相關(guān)實驗室在監(jiān)測工作中遇到的難點。
電子電氣產(chǎn)品的輸入電路往往含有儲能元件,通電一段時間后其儲能元件中會充滿電量。拔出插頭后,如果沒有有效的放電電路,或儲能元件中的電量過大,與放電電路的放電速度不匹配,就會給觸碰插頭的人員帶來觸電的感覺。本文研究了插頭放電的測試方法,比較了不同標準判定的差異,指出測試中的注意點。
多類產(chǎn)品的安全測試均須進行插頭放電測試,如音頻、視頻及類似電子設(shè)備、信息技術(shù)設(shè)備,家用和類似用途電器、燈具、測量、控制和實驗室用電氣設(shè)備,手持式電動工具、醫(yī)用電氣設(shè)備、電力變壓器、電源、電抗器和類似產(chǎn)品等,涉及標準有[1-8]GB 4706.1-2005(IEC 60335-1:2010)、GB 8898-2011(IEC 60065:2011)、GB 4943.1-2011(IEC 60950-1:2013)、GB 7000.1-2007(IEC 60598-1:2008)、GB 4793.1-2007(IEC 61010-1:2010)、GB 3883.1-2008(IEC 60745-1:2006)、GB 9706.1-2007(IEC 60601-1:2012)、GB 19212.1-2008(IEC 61558-1:2009)等。雖然各標準判定要求存在差異,但測試方法一致。不同標準對被測試設(shè)備是否滿足標準要求的判定依據(jù)不同,但一般均考察下面兩個參數(shù),一是考察特定時間的電壓,判斷其是否滿足標準規(guī)定的電壓值以下,如 GB 4706.1-2005(IEC 60335-1:2010)中規(guī)定當(dāng)測試樣品在電壓峰值時從電源斷開,在斷開后的1 s,插頭各插腳間的電壓不超過34 V;二是考察電壓下降到特定值時所需的時間,判斷該時間是否短于標準要求的時間,如GB 4943.1-2011(IEC 60950-1:2013)中要求對A型可插式設(shè)備,其放電時間常數(shù)不超過1 s,對B型可插式設(shè)備,其放電時間常數(shù)不超過10 s。放電時間常數(shù)定義為經(jīng)過該段時間放電,電壓將衰減到初始值的37%。
插頭放電測試所涉及的主要設(shè)備有交流源、示波器、探頭、開關(guān)。 測試線路如圖1所示。
圖1 測試線路示意圖
試驗需要滿足下列環(huán)境條件:符合標準要求的穩(wěn)定環(huán)境,無外來輻射熱及氣流影響。使用溫濕度指示儀表監(jiān)控整個試驗過程的溫濕度,如有條件,監(jiān)控試驗過程的大氣壓和樣品周圍的風(fēng)速。按如圖所示施加符合標準要求電壓。然后切斷電路,使用示波器測試電路切斷后特定時間的最大電壓Vmax,并記錄相關(guān)波形。
插頭放電的理論值可按下式進行計算:
式中:U0— 電壓峰值;
t — 放電時間;
R — 被測插頭內(nèi)阻;
C — 被測插頭電容;
U — 放電一段時間后的電壓;
RC — 時間常數(shù)。
使用Tektronix DP05204示波器對測試插頭進行放電試驗,測試用電壓為220 V,50 Hz的交流電。接通線路,分別測試放電1 s、2 s、5 s、10 s后的樣品兩端電壓。測試樣品主要零部件為金屬化膜聚丙烯電容器和玻璃鈾電阻器,所用零部件可承受電壓400 V、準確度在1%以上、溫度系數(shù)在100×10-6以下、引出端為插片。分別采用兩種不同規(guī)格的樣品和探頭進行試驗。使用Fluke 8846A數(shù)字多用表測試樣品1電阻R為6.699 MΩ,電容C為0.153 μF,時間常數(shù)為1.025;測試樣品2電阻R為21.81 MΩ,電容C為0.151 μF,時間常數(shù)為3.29。使用的探頭1為Agilent的10076B探頭,內(nèi)阻66.7 MΩ,電容3 pF;探頭2為上海某廠生產(chǎn)的XJ23702高壓高阻無源探頭,內(nèi)阻100 MΩ,電容12 pF。經(jīng)過反復(fù)測試,取多次測試電壓的最大值,可得不同放電時間時的測試電壓,樣品1和樣品2的測試值和理論值如表1和表2所示(計算理論值時需同時考慮樣品和探頭的電阻和電容。由于探頭電容很小,可忽略不計)。樣品和探頭1的等效電阻R11為6.088 MΩ,樣品和探頭2的等效電阻R12為6.278 MΩ。表中理想探頭一欄為不考慮探頭影響時的理論值,此時探頭R→∞,等效電阻即為樣品內(nèi)阻值。使用理想探頭可以反映樣品自身的阻抗特性。
從表1和表2可知:
1)理論值總是大于測量值,通過分析可知,實際測試中,很難在電壓峰值切斷電源,故電壓不是從最大值開始放電,導(dǎo)致測量值偏小。圖2為使用2號探頭測1號樣品1 s時的波形圖,從圖中可以清楚地看出初始電壓為301.9 V,未達到峰值311 V。
表1 樣品1不同放電時間的測試電壓
表2 樣品2不同放電時間的測試電壓
圖2 2號探頭測1號樣品1 s時的波形圖
2)探頭內(nèi)阻需盡量大,電容需盡量小,從而降低測試時探頭阻抗對樣品本身的影響。為了減少探頭阻抗對測試結(jié)果的影響,IECEE的CTL決議(DSH-0716)[9]對插頭放電測試使用的探頭做了明確規(guī)定,探頭電阻大于100 MΩ,電容小于25 pF。如若探頭內(nèi)阻不夠大,在測試大內(nèi)阻的樣品時探頭內(nèi)阻影響較大,誤差會較大,從表3和表4可以看出。
本文分析了電子電氣產(chǎn)品插頭放電的測試過程,指出不同標準雖然判定依據(jù)存在差異,但是測試方法一致。在測試中,需從電壓峰值處切斷電源,從而獲得電壓最大值。由于測試探頭自身的阻抗會對測試結(jié)果產(chǎn)生影響,故測試過程中需選用大電阻小電容的探頭。
[1]工業(yè)與電子信息部第四研究院. GB 8898-2011[S]. 北京:中國標準出版社,2011.
表3 不同探頭測試樣品1的測試值與理想值
表4 不同探頭測試樣品2的測試值與理想值
[2]工業(yè)與電子信息部第四研究院. GB 4943.1-2011[S]. 北京:中國標準出版社,2011.
[3]全國家用電器標準化技術(shù)委員會. GB 4706.1-2005[S]. 北京:中國標準出版社,2005.
[4]全國照明電器標準化技術(shù)委員會燈具分會. GB 7000.1-2007[S].北京:中國標準出版社,2007.
[5]全國電子技術(shù)標準化研究所. GB 4793.1-2007[S]. 北京:中國標準出版社,2007.
[6]全國電動工具標準化技術(shù)委員會. GB 3883.1-2008[S]. 北京:中國標準出版社,2008.
[7]全國醫(yī)用電器標準化技術(shù)委員會. GB 9706.1-2007[S]. 北京:中國標準出版社,2007.
[8]全國變壓器標準化技術(shù)委員會(SAC/TC44). GB 19212.1-2008[S]. 北京:中國標準出版社,2008.
[9]IECEE CTL. DSH-0716[S]. 北京:2008.