很快,芯片業(yè)將面臨窮途末路,因?yàn)槲锢矶蓪⒆璧K新一代芯片的開發(fā),而目前無處不在的臺(tái)式電腦、筆記本電腦、平板電腦和智能手機(jī)的發(fā)展都依賴于新的芯片?,F(xiàn)在,電腦行業(yè)的發(fā)展仍然遵循摩爾定律:50年前英特爾的共同創(chuàng)始人曾預(yù)測(cè),每24個(gè)月芯片上的晶體管數(shù)量將增加1倍。時(shí)至今日,世界上最大的芯片制造商英特爾仍然遵循摩爾定律,每?jī)赡暌淮蔚嘏s小晶體管的尺寸,以便在芯片上集成更多的晶體管。例如英特爾最新的Haswell處理器是由約14億個(gè)晶體管組成,而10多年前的一個(gè)奔騰4處理器的晶體管不到1億個(gè)。而除了英特爾之外,三星、臺(tái)積電和格羅方德等其他主要的芯片生產(chǎn)商,也同樣盡自己所能地遵循這一周期。
特定區(qū)域內(nèi)的晶體管數(shù)量越多,它們產(chǎn)生的熱量就越多,其結(jié)果將是出現(xiàn)暗硅(dark silicon,指芯片中停止工作的晶體管),如果按照目前的芯片技術(shù)繼續(xù)發(fā)展下去,那么進(jìn)入2018年,芯片上的晶體管將超過一半無法工作。實(shí)際上,根據(jù)美國(guó)研究人員的一項(xiàng)研究發(fā)現(xiàn),現(xiàn)如今處理器早已無法實(shí)現(xiàn)更高的時(shí)鐘頻率,如果勉強(qiáng)為之,芯片產(chǎn)生的熱量將會(huì)是一個(gè)難以解決的問題。為此,制造商開始增加核心的數(shù)量,或者使用更多的晶體管提供更大的高速緩存。而未來幾年,制造商將面臨更大的挑戰(zhàn),無法再依賴于新的生產(chǎn)工藝和繼續(xù)縮小晶體管的尺寸,他們必須另辟蹊徑,以確保芯片能夠集成更多的晶體管,繼續(xù)保持芯片業(yè)的發(fā)展,否則電腦行業(yè)的生命也將終結(jié),而下面是一些可行的方案。
升級(jí)晶體管
對(duì)于芯片制造商來說,生產(chǎn)出越小的晶體管優(yōu)勢(shì)越大:可以提供更快的處理器、更經(jīng)濟(jì)的移動(dòng)設(shè)備和比其他競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手更大容量的固態(tài)硬盤。晶體管實(shí)際上是電腦設(shè)備的計(jì)算和存儲(chǔ)單元,一個(gè)晶體管電路可以代表1個(gè)位。目前,芯片制造商正在使用的晶體管尺寸已經(jīng)到達(dá)了一個(gè)連微生物學(xué)家也無法企及的維度:流感病毒的直徑為80nm~120nm,而最新的晶體管僅有60nm~90nm的寬度。
晶體管主要由半導(dǎo)體硅構(gòu)成,并在其中摻入雜質(zhì)原子。各種摻雜工藝改變了晶體管的導(dǎo)電性:像原子磷,它的外層比硅原子有更多的電子,可以更容易地成為自由電子,可以用在n型摻雜的源極和漏極。而襯底摻入硼原子是p型摻雜,它將產(chǎn)生可以接受電子的“空穴”。電壓被施加于源極和漏極之間的柵極時(shí),電流將流經(jīng)源極和漏極之間的溝道,晶體管將處于開啟狀態(tài)。如果縮小晶體管的尺寸,尤其是壓縮柵極長(zhǎng)度,那么晶體管可以更有效地工作,但是p型摻雜和n型摻雜材料之間未摻雜的耗盡層將變得越來越薄,薄到可以被滲透。其結(jié)果是,電子沒有任何阻礙地從源極和漏極流入襯底,在同一時(shí)間,該層電子被迫從源極流動(dòng)到漏極,所產(chǎn)生的雜散電流將貢獻(xiàn)接近40%的功耗。
獲得認(rèn)可的新型晶體管
因此,所有大的芯片制造商的傳統(tǒng)晶體管發(fā)展都止步于20nm的設(shè)計(jì)工藝(節(jié)點(diǎn)),該節(jié)點(diǎn)的大小決定了前面所說的柵極長(zhǎng)度已經(jīng)到了上述問題越來越嚴(yán)重的臨界點(diǎn),因而,如果不改變現(xiàn)有晶體管的設(shè)計(jì),那么將無法再縮小晶體管,所有縮小晶體管的設(shè)計(jì)都只能夠存在于紙面上而無法付諸于現(xiàn)實(shí)。為此,英特爾開始采用FinFET概念的3柵極晶體管,并且其他的芯片廠商也紛紛效仿,將在2014和2015年采用類似的晶體管。FinFET概念的鰭式場(chǎng)效應(yīng)晶體管,溝道、源極和漏極在襯底上各自分離,溝道摻雜很少,如果有的話,也只摻雜有很少的外來原子,而襯底沒有被摻雜,這將明顯地減少雜散電流,并允許節(jié)點(diǎn)低至10nm。
不過,F(xiàn)inFET元件的節(jié)點(diǎn)大小帶有一定的欺騙性,其晶體管的效能有別于節(jié)點(diǎn)大小相同的傳統(tǒng)晶體管。例如3柵極晶體管柵極長(zhǎng)度約為30nm,但在考慮功耗和性能的情況下,其效能大約為22nm。芯片分析師馬爾科姆·佩恩估計(jì),大約在2015年節(jié)點(diǎn)效能可以達(dá)到17nm~20nm之間。而如果希望真正達(dá)到10nm以下,需要使用其他材料和再次更改晶體管的架構(gòu),例如將FinFET的理念發(fā)揮到極致的納米線,它的功能組件只有源極、溝道、漏極和柵極,溝道被從四面八方包圍其中。不過,納米線目前仍處于研究階段,研究中的幾個(gè)原型都沒有準(zhǔn)備好。
替代硅金屬
FinFET器件解決了縮小芯片將產(chǎn)生的諸多問題,并且晶體管的工作電壓更低、更節(jié)能和切換速度更快,然而縮小的晶體管功能部件(源極、漏極、柵極和溝道)非常薄,“鰭”(柵極)突出,這將產(chǎn)生一個(gè)新的問題,那就是芯片制造商必須面對(duì)10nm的生產(chǎn)工藝。
2009年以來,“拉伸硅”已用于晶體管的功能組件。所謂“拉伸硅”正是字面上的意思:通過引入鍺原子,增加單個(gè)原子之間的距離。一個(gè)普通的硅層將被放置鍺層上,形成硅-鍺層(SiGe),兩個(gè)層的結(jié)合形成了規(guī)則的結(jié)晶晶格。由于SiGe層中原子之間都維持一定的距離,所以晶格的擴(kuò)大增加了材料的電導(dǎo)率,電子移動(dòng)通過所連接晶體管的速度比普通硅大約快70%左右。
但在較小的FinFET元件上,“鰭”變得非常薄,它只包含很少的原子層,如果采用拉伸硅技術(shù)將變得更加復(fù)雜,在10nm的節(jié)點(diǎn)之后更無法進(jìn)一步拉伸,如果硅不能再被用作半導(dǎo)體,縮小晶體管的尺寸沒有任何意義。補(bǔ)救的辦法是使用可以替代硅的新材料,例如鍺,周期表中它位于硅的正下方,完全可以取代硅作為半導(dǎo)體。鍺是p型摻雜成分的理想基礎(chǔ)物,并且拉伸性質(zhì)的鍺導(dǎo)電系數(shù)比硅高4倍多。而n型摻雜銦、鎵和砷的混合物(砷化銦鎵,InGaAs)是最佳的選擇,它的導(dǎo)電系數(shù)是硅的6倍多。開發(fā)商在比利時(shí)魯汶的校際微電子研究中心(Interuniversity Microelectronics Centre,簡(jiǎn)稱IMEC,世界上最大的獨(dú)立微電子研究機(jī)構(gòu)校際微電子中心)已經(jīng)制造出第一個(gè)采用InGaAs溝道的原型,它與采用硅溝道的FinFET晶體管相比能耗只有一半。市場(chǎng)分析師預(yù)計(jì),這種新材料將在2017年開始量產(chǎn)使用。
單原子層的計(jì)算
2020年后,5nm節(jié)點(diǎn)將需要更小的組件,同時(shí)必須要具備良好的導(dǎo)電性。二維納米層,也就是每層僅具有一個(gè)原子的單層材料是適當(dāng)?shù)倪x擇,例如石墨烯,這種碳原子組成6邊形網(wǎng)格的材料目前正進(jìn)行深入研究中。而鍺、硅、錫等相關(guān)的材料也在研究之中,2012年柏林工業(yè)大學(xué)已經(jīng)制造出硅烯(Silicene),不過,單分子膜并不能完全取代硅,而是作為硅的補(bǔ)充,因?yàn)樗鼈兊膶?dǎo)電率難以駕馭。
如果以純石墨烯制作晶體管,那么晶體管將幾乎在任何時(shí)候都處于打開狀態(tài),這將消耗大量的電能。但是單層材料的導(dǎo)電率可以解決縮小晶體管產(chǎn)生的另一個(gè)問題,目前快速切換狀態(tài)的晶體管需要銅線以更快的速度輸送電荷,隨著晶體管的每一次縮小,這一問題急劇惡化,而單層材料可以扭轉(zhuǎn)這種局面,日本先進(jìn)工業(yè)科學(xué)和技術(shù)國(guó)立研究所的研究人員已經(jīng)成功地用石墨烯取代銅線,從而實(shí)現(xiàn)更高的導(dǎo)電率。
在第三維度
幾乎所有的大型制造商都在計(jì)劃制造三維芯片,這些芯片中的計(jì)算和存儲(chǔ)單元可以在沒有太多延遲的情況下相互作用。例如在處理器上疊加一層內(nèi)存層和一層閃存層。最大的合同芯片制造商臺(tái)積電即將推出16nm的三維集成芯片,這種芯片將用于高端的智能手機(jī),例如iPhone 7,因?yàn)?016年蘋果將會(huì)成為臺(tái)積電的客戶。制造商通過“硅通孔”(Through Silicon Via,簡(jiǎn)稱TSV)技術(shù)實(shí)現(xiàn)三維集成,TSV通過在晶片上鉆入10μm的孔填充有電導(dǎo)體,導(dǎo)體在彼此的頂部連接多個(gè)晶片組為一個(gè)三維芯片。
相對(duì)于單體三維芯片,TSV只能作為一種臨時(shí)解決方案,單體三維芯片是一個(gè)單一的半導(dǎo)體芯片,各層由大約100nm厚的電線連接。單體三維芯片只有最下層在一個(gè)常規(guī)的晶片上制備,然后附加其他層的同時(shí)創(chuàng)建每個(gè)層的導(dǎo)線。單體三維芯片可以在低于400℃的溫度下工作,這種各層緊密聯(lián)系起來的三維芯片比TSV的三維芯片更小、更節(jié)能高效、數(shù)據(jù)傳輸?shù)乃俣雀臁?/p>
三維方法的固態(tài)硬盤和磁性載體
目前,固態(tài)盤所使用的閃存單元,類似于邏輯晶體管,但有一個(gè)額外的元件:浮柵。浮柵位于溝道和柵極之間,用于存儲(chǔ)電子。最新的閃存單元小于20nm寬,縮小閃存單元與縮小處理器晶體管一樣,具備優(yōu)勢(shì)的同時(shí)也將帶來問題:閃存單元彼此接近時(shí),存儲(chǔ)的電荷將相互干擾。如果縮小閃存單元的尺寸,使它們只有10nm左右,那么固態(tài)硬盤控制器將無法正確地確定存儲(chǔ)的值。因而,三星、東芝、閃迪和海力士等閃存制造商并不忙于縮小閃存單元的尺寸,而是不斷地改變閃存單元的體系結(jié)構(gòu),其中的一種結(jié)構(gòu)是在內(nèi)存體堆疊多個(gè)閃存單元,閃存單元的結(jié)構(gòu)被簡(jiǎn)化,在三星立體形式堆疊式的V-NAND閃存上,可以實(shí)現(xiàn)多達(dá)35 000次的寫入或刪除過程,而不是以往的3 000次。到2017年,三星準(zhǔn)備提升V-NAND固態(tài)硬盤的存儲(chǔ)密度約10倍,那么目前128GB的芯片就會(huì)變成1TB芯片。
三維方法也適用于磁性數(shù)據(jù)載體,由于磁性材料的粒子小于某個(gè)尺寸時(shí)將無法保持其磁性,所以現(xiàn)有的磁性數(shù)據(jù)載體也已經(jīng)達(dá)到了它的極限。但新的金屬合金可以是解決這個(gè)問題的一種方案,研究人員在佛羅里達(dá)國(guó)際大學(xué)已經(jīng)建立了一個(gè)原型:1個(gè)疊加3個(gè)磁化層的硬盤,硬盤的每個(gè)層是相互隔離的,并具有不同的磁特性,寫入頭需要不同的磁場(chǎng)強(qiáng)度來磁化它們,而讀出頭可以讀出所有3個(gè)層的磁場(chǎng)強(qiáng)度,它可以代表8個(gè)不同的值。