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        基于PCA—SIFT算法的產(chǎn)品表面缺陷檢測(cè)研究

        2014-04-29 14:29:06趙靜孫寶華
        電子世界 2014年15期
        關(guān)鍵詞:缺陷檢測(cè)

        趙靜 孫寶華

        【摘要】針對(duì)復(fù)雜產(chǎn)品表面正確性的快速自動(dòng)無(wú)損檢測(cè)問(wèn)題,提出了一種基于PCA-SIFT算法的自動(dòng)識(shí)別。該算法是對(duì)基于尺度旋轉(zhuǎn)不變性(SIFT)算法的改進(jìn),在保證識(shí)別精確度的前提下,利用主元分析法(PCA)進(jìn)行降維處理,改變了描述子的生成方式,以減少計(jì)算的時(shí)間,提高算法的實(shí)時(shí)性,最后通過(guò)相關(guān)度計(jì)算判別各區(qū)域有無(wú)缺陷。實(shí)驗(yàn)表明在保證準(zhǔn)確率的前提下本論文所提出的算法比單獨(dú)使用SIFT算法平均可以節(jié)省0.5s。

        【關(guān)鍵詞】缺陷檢測(cè);旋轉(zhuǎn)步長(zhǎng)采樣;投影法;PCA-SIFT算法

        引言

        隨著電子技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)和圖像處理等技術(shù)的快速發(fā)展,人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量要求的提高,傳統(tǒng)的人工檢測(cè)由于很多原因已不能得到令人滿(mǎn)意的檢測(cè)結(jié)果,視覺(jué)檢測(cè)技術(shù)越來(lái)越多地應(yīng)用于各領(lǐng)域,以便代替人工進(jìn)行全自動(dòng)產(chǎn)品檢測(cè)等[1]。自動(dòng)視覺(jué)檢測(cè)相比于人眼檢測(cè),具有非常明顯的優(yōu)勢(shì):檢測(cè)速度快、生產(chǎn)效率高;不依賴(lài)于人的主觀因素從而保證高穩(wěn)定性與高可靠性;容易滿(mǎn)足各種特殊高危生產(chǎn)檢測(cè)場(chǎng)合;便于實(shí)現(xiàn)缺陷信息的自動(dòng)記錄與數(shù)據(jù)庫(kù)管理及查詢(xún)功能,保障產(chǎn)品生產(chǎn)的全面質(zhì)量管理與過(guò)程控制等[2]。

        基于上述諸多優(yōu)勢(shì),圖像視覺(jué)自動(dòng)檢測(cè)技術(shù)正逐漸觸及到人類(lèi)生產(chǎn)和生活各個(gè)領(lǐng)域,從工業(yè)檢測(cè)到文件處理,從交通自動(dòng)化到民宅安全監(jiān)控,從毫微米技術(shù)到多媒體數(shù)據(jù)庫(kù)等等。表面缺陷自動(dòng)檢測(cè)的方法有很多,主要包括統(tǒng)計(jì)方法、結(jié)構(gòu)方法、全局方法和基于模型的方法[3]。

        自動(dòng)視覺(jué)檢測(cè)是建立在機(jī)器視覺(jué)基礎(chǔ)上的一門(mén)新興檢測(cè)技術(shù),是綜合應(yīng)用圖像處理與分析、模式識(shí)別、人工智能、精密儀器等技術(shù)的非接觸式檢測(cè)方法。近年來(lái),紅外技術(shù)、CCD技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)都有了飛速地發(fā)展,基于激光掃描、光譜圖像、紅外成像和超聲波掃描的機(jī)器視覺(jué)技術(shù)因其成本低、無(wú)損傷、準(zhǔn)確、快速、永不疲勞等優(yōu)點(diǎn)在缺陷檢測(cè)領(lǐng)域也得到了越來(lái)越廣泛的應(yīng)用[4]。

        1.檢測(cè)的總體流程

        工件旋轉(zhuǎn)檢臺(tái)如下圖1所示[5]是為了使系統(tǒng)能夠自動(dòng)對(duì)被檢產(chǎn)品進(jìn)行多方位信息提取。

        圖1 視覺(jué)檢測(cè)原理框圖

        圖2 表面有不同分辨率條紋的圓柱產(chǎn)品

        產(chǎn)品的缺陷檢測(cè)可以分為內(nèi)部裝配缺陷與外部表面缺陷,但最終具體的缺陷檢測(cè)機(jī)制是相同的,由于外部缺陷檢測(cè)可以通過(guò)相機(jī)即可獲取數(shù)據(jù),因此,本文所研究的是針對(duì)產(chǎn)品表面的缺陷檢測(cè)。為使所選對(duì)象具有代表性且更好的驗(yàn)證算法效果,用測(cè)試分辨率的具有代表性的黑白線對(duì)數(shù)/毫米來(lái)驗(yàn)證。

        2.算法介紹

        2.1 旋轉(zhuǎn)步長(zhǎng)的確定

        本文所用的是比較規(guī)則的黑白線對(duì)數(shù),可以用垂直投影來(lái)確定相應(yīng)的旋轉(zhuǎn)步長(zhǎng)[6]。垂直投影就是將一列所有像素點(diǎn)的灰度值累加求和,如式(1)所示:

        (1)

        其中表示像素所處的位置,表示該像素點(diǎn)的灰度值,通過(guò)分析投影圖中相鄰沖擊波谷的位置來(lái)確定相應(yīng)的旋轉(zhuǎn)角度。如下圖3是用垂直投影法和多次具體實(shí)際操作過(guò)程中共同確定的旋轉(zhuǎn)步長(zhǎng)為。

        圖3 垂直投影

        確定了旋轉(zhuǎn)步長(zhǎng)以后,具體采集圖像的過(guò)程如下:首先選取一標(biāo)準(zhǔn)的合格產(chǎn)品放在旋轉(zhuǎn)臺(tái)上旋轉(zhuǎn),在全周方向區(qū)間內(nèi)依次獲取合格品在各方位下的圖像序列共計(jì)120幅標(biāo)準(zhǔn)樣本圖,提取圖像特征建立標(biāo)準(zhǔn)樣本圖庫(kù)。

        2.2 PCA-SIFT圖像匹配算法

        PCA-SIFT算法采用了PCA算法對(duì)圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行降維,通過(guò)計(jì)算主成分將高維數(shù)據(jù)投影到低維空間,并改變描述子的生成方式。主成分分析的目標(biāo)是在誤差平方和意義下用低維子空間表示高維數(shù)據(jù),PCA-SIFT用主成分分析法( PCA) 將傳統(tǒng)SIFT的 128維特征向量進(jìn)行降維,以達(dá)到更精確的表示方式。進(jìn)行降維的具體方法如下:

        1)將兩幅待匹配圖像中的所有個(gè)特征點(diǎn)的SIFT描述子作為樣本矩陣,計(jì)算出128維均值向量以及所有樣本點(diǎn)的特征向量與均值向量的差。

        2)構(gòu)建協(xié)方差矩陣,求協(xié)方差矩陣的128個(gè)特征值和128 個(gè)特征向,并將特征值從大到小的順序排列和對(duì)應(yīng)的特征向量。

        3)選出對(duì)應(yīng)最大個(gè)特征值的特征向量作為主成分方向, 本文選取=36,最構(gòu)造一個(gè)的矩陣A,它的列由個(gè)特征向量組成。將原始128維 SIFT描述子按照式(2)投影到這個(gè)維子空間,得到PCA-SIFT描述子的主成分表示,即。本實(shí)驗(yàn)中選也就是把原來(lái)的128維傳統(tǒng)SIFT特征描述符降成了20維的 PCA-SIFT 特征描述符。

        利用PCA-SIFT 特征檢測(cè)算法檢測(cè)出兩幅幅圖片的所有關(guān)鍵點(diǎn)及對(duì)應(yīng)的特征向量,就可以計(jì)算特征向量間的歐式距離,兩個(gè)特征向量之間的歐式距離值越小,就說(shuō)明這兩個(gè)點(diǎn)越相似,它們的匹配程度就越高。

        歐式距離公式如(2)所示

        (2)

        其中分別為兩幅待匹配圖上的特征點(diǎn)所生成的特征向量。

        首先取第一幅圖像中的某個(gè)關(guān)鍵點(diǎn),然后找出其與第二幅圖像中歐式距離最近的前兩個(gè)關(guān)鍵點(diǎn),在這兩個(gè)關(guān)鍵點(diǎn)中,如果最近的距離比上次近的距離小于某個(gè)比例閾值,則認(rèn)為這是一對(duì)匹配點(diǎn)。在本實(shí)驗(yàn)中選取閾值為0.6,如式(3)所示:

        (3)

        式中為最近歐氏距離,為次近歐式距離。

        2.3 缺陷檢測(cè)

        利用PCA-SIFT可以迅速找出待檢測(cè)產(chǎn)品和和標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)中最為匹配的圖像,然通過(guò)式(4)計(jì)算相關(guān)度與根據(jù)實(shí)驗(yàn)經(jīng)驗(yàn)設(shè)定的閾值比較,當(dāng)某一區(qū)域所有角度圖像的相似度都時(shí),則判斷該區(qū)域無(wú)缺陷;若在某一角度下相似度小于設(shè)定閾值,則停止計(jì)算判斷該區(qū)域?yàn)槿毕輩^(qū)域。

        (4)

        3.實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析

        實(shí)驗(yàn)環(huán)境為CPU Intel(R) Core(TM) 2.50GHz,操作系統(tǒng)為Windows 7,仿真平臺(tái)為Matlab R2010b,所用相機(jī)為奧林巴斯FE4010,有效像素為1200萬(wàn),采用圖像大小為2026×1669像素。為了驗(yàn)證提出的算法在特征點(diǎn)匹配方面的有效性以及所采用的技術(shù)帶來(lái)的效率和匹配數(shù)量的優(yōu)勢(shì),分別使用SIFT和PCA-SIFT進(jìn)行匹配來(lái)驗(yàn)證匹配的速度,如下圖所示,用SIFT進(jìn)行匹配速度很快,但經(jīng)過(guò)PCA-SIFT處理后的匹配速度提高了4-5倍,如下圖4和表1分別為待檢測(cè)圖像和標(biāo)準(zhǔn)圖像用兩種方法匹配的結(jié)果和比較。

        圖4 兩種方法的匹配結(jié)果

        表1 SIFT和PCA-SIFT兩種匹配方法的對(duì)比

        算法 準(zhǔn)圖像a,待測(cè)圖像b 匹配對(duì)數(shù) 圖像配準(zhǔn)時(shí)間/s

        SIFT a(128個(gè)), b(136個(gè)) 20 0.54

        PCA-SIFT a(128個(gè)), b(136個(gè)) 14 0.15

        尋找出最優(yōu)匹配圖后就要檢查此待測(cè)圖像是否有缺陷,這里采用相似度來(lái)衡量。首先設(shè)定一閾值為0.90,如果兩幅圖像的相似度大于這個(gè)設(shè)定的閾值則認(rèn)為被檢測(cè)的圖像沒(méi)有缺陷,否則,被認(rèn)為有缺陷。如下表2為不同度數(shù)下待檢測(cè)圖像和標(biāo)準(zhǔn)圖像相似度的計(jì)算結(jié)果。

        表2 不同度數(shù)下待檢測(cè)圖像和標(biāo)準(zhǔn)圖像相似度的計(jì)算結(jié)果

        待檢測(cè)圖像/o 72 84 96 108

        標(biāo)準(zhǔn)圖庫(kù)/幅 25 29 33 37

        相關(guān)度 0.9405 0.9331 0.9548 ? 0.9641

        由表2可知被檢測(cè)圖像與標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)庫(kù)中對(duì)應(yīng)位置圖像的相似度均大于設(shè)定閾值,可判斷該區(qū)域無(wú)缺陷。

        為了更好的應(yīng)用此算法,可以制造一定的缺陷,比如在黑白線對(duì)處制造缺陷,通過(guò)計(jì)算它們的相關(guān)度為0.6204,小于所設(shè)定的閾值,可判斷該被檢測(cè)圖像有缺陷。如圖4所示是標(biāo)準(zhǔn)圖和被檢測(cè)圖像在87o時(shí)的檢測(cè)結(jié)果。

        在整個(gè)檢測(cè)過(guò)程中,為保證旋轉(zhuǎn)步長(zhǎng)角度的準(zhǔn)確性,需要對(duì)黑白線對(duì)區(qū)域經(jīng)過(guò)10次實(shí)測(cè),每次垂直投影需時(shí)為0.34s確定,隨機(jī)擺放待檢產(chǎn)品在標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)中最為匹配的位置時(shí),平均每次匹配需時(shí)約為0.16s,此算法比單獨(dú)使用SIFT算法大概節(jié)省0.5s的時(shí)間。

        圖5 有缺陷時(shí)的圖像檢測(cè)

        4.結(jié)論

        針對(duì)產(chǎn)品表面缺陷檢測(cè)在現(xiàn)實(shí)生活中越來(lái)越普遍的實(shí)時(shí)性問(wèn)題,本文在旋轉(zhuǎn)步長(zhǎng)以及尋找最優(yōu)匹配方面作了一些研究。對(duì)復(fù)雜產(chǎn)品表面有若干黑白線對(duì)構(gòu)成的待檢區(qū)域,為了獲取產(chǎn)品表面的所有信息,用最小的旋轉(zhuǎn)步長(zhǎng)得到了關(guān)于產(chǎn)品表面的信息的序列圖像,然后對(duì)待測(cè)圖像實(shí)施快速檢測(cè)。結(jié)果表明該方法提高了尋找最優(yōu)匹配圖像的速度。本文程序均在Matlab平臺(tái)驗(yàn)證,所有數(shù)據(jù)及圖片均來(lái)自實(shí)驗(yàn)結(jié)果。

        參考文獻(xiàn)

        [1]王耀南,李樹(shù)濤,毛建旭.計(jì)算機(jī)圖像處理與識(shí)別技術(shù)[M].北京:高等教育出版社,2001:56-89.

        [2]張學(xué)武,丁燕瓊,閆萍.一種基于紅外成像的強(qiáng)反射金屬表面缺陷視覺(jué)檢測(cè)方法[J].光學(xué)學(xué)報(bào),2011,31(3):0312004.

        [3]Xie,X.A review of recent advances in surface defect detection using texture analysistechniques[J].ELCVIA,2008,7(3).

        [4]沈峘,李舜酩,柏方超等.路面車(chē)輛實(shí)時(shí)檢測(cè)與跟蹤的視覺(jué)方法[J].光學(xué)學(xué)報(bào),2010,30(4):1076-1083.

        [5]韓躍平,韓焱,王黎明,潘晉孝.復(fù)雜產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)裝配正確性X射線自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)的研究[J].兵工學(xué)報(bào),2012,33(7):881-885.

        [6]Wang Wencheng,ChangFaliang.Aprecise eye localization method based on region projection[J].J Optoelectronics Laser,2011,22(4):618-622.

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