【摘要】自檢是指通過設(shè)備和系統(tǒng)內(nèi)部的程序?qū)χ饕糠诌M(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，并定位故障。自檢功能可以減少故障檢測(cè)的時(shí)間，提高檢測(cè)的效率，是提高系統(tǒng)可靠度的必要手段。本文根據(jù)FPGA核心系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)，設(shè)計(jì)了FPGA核心系統(tǒng)的自檢方案。

【關(guān)鍵詞】FPGA;核心系統(tǒng);自檢

1.引言

FPGA（Field-Programmable Gate Array），即現(xiàn)場可編程門陣列，它是在PAL、GAL、CPLD等可編程器件的基礎(chǔ)上進(jìn)一步發(fā)展的產(chǎn)物。它是作為專用集成電路（ASIC）領(lǐng)域中的一種半定制電路而出現(xiàn)的，既解決了定制電路的不足，又克服了原有可編程器件門電路數(shù)有限的缺點(diǎn)。隨著集成電路技術(shù)的不斷發(fā)展，F(xiàn)PGA已經(jīng)廣泛運(yùn)用在航空，醫(yī)療，自動(dòng)化控制等各個(gè)領(lǐng)域，F(xiàn)PGA核心系統(tǒng)的可靠穩(wěn)定是整個(gè)系統(tǒng)能夠正常運(yùn)行的基礎(chǔ)。FPGA核心系統(tǒng)主要由兩部分組成，即FPGA主機(jī)電路和外擴(kuò)存儲(chǔ)電路。FPGA主機(jī)電路由FPGA，電源，晶振構(gòu)成，外擴(kuò)存儲(chǔ)電路采用同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器（Synchronous Dynamic Random Access Memory，SDRAM）。自檢是指通過設(shè)備和系統(tǒng)內(nèi)部的程序?qū)χ饕糠诌M(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，并定位故障。自檢功能可以減少故障檢測(cè)的時(shí)間，提高檢測(cè)的效率，是提高系統(tǒng)可靠度的必要手段。FPGA核心系統(tǒng)的自檢不僅可以提高系統(tǒng)的可靠性，還能及時(shí)發(fā)現(xiàn)故障，便于系統(tǒng)的維護(hù)。本文以ALTERA公司的Cyclone III系列的一款FPGA為例，設(shè)計(jì)了FPGA核心系統(tǒng)的自檢方案。

2.自檢結(jié)構(gòu)

自檢結(jié)構(gòu)一般包括三個(gè)功能模塊：自檢控制器模塊、激勵(lì)信號(hào)模塊和結(jié)果分析模塊。如圖1所示，激勵(lì)信號(hào)模塊在自檢控制器控制下將激勵(lì)信號(hào)加載到被測(cè)單元上，通過結(jié)果分析模塊將被測(cè)單元的輸出響應(yīng)與正確響應(yīng)特征比較，得到該系統(tǒng)單元的測(cè)試結(jié)果。自檢控制器根據(jù)系統(tǒng)的控制信號(hào)來控制自檢過程的運(yùn)行和中斷，激勵(lì)信號(hào)模塊根據(jù)自檢控制器的命令進(jìn)行原始信號(hào)和自檢激勵(lì)信號(hào)的切換。

圖1 自檢系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖

3.FPGA主機(jī)電路自檢設(shè)計(jì)

FPGA主機(jī)電路自檢的主要任務(wù)是檢測(cè)時(shí)鐘，鎖相環(huán)以及FIFO等內(nèi)核模塊能否正常工作，即檢測(cè)控制電路中的時(shí)鐘電路和電源電路是否工作正常。FPGA不同于單片機(jī)等微處理器需要對(duì)其指令系統(tǒng)進(jìn)行檢測(cè)，但由于其可重構(gòu)的特點(diǎn)，可以在FPGA內(nèi)部設(shè)計(jì)檢測(cè)電路對(duì)常用的內(nèi)核模塊進(jìn)行檢測(cè)。圖2所示中的模塊通過簡單的LED燈的亮暗來判斷控制電路是否能正常工作，模塊利用鎖相環(huán)PLL和FIFO模塊來檢測(cè)控制電路能否正常工作。

圖2 控制電路自檢模塊

利用FPGA鎖相環(huán)輸出100MHz時(shí)鐘對(duì)20MHz外部時(shí)鐘進(jìn)行檢測(cè)，對(duì)20MHz時(shí)鐘的周期進(jìn)行計(jì)數(shù)，并將計(jì)數(shù)值寫入FIFO中，同時(shí)將計(jì)數(shù)值從FIFO中讀出在模100M的累加器中，當(dāng)累加器溢出時(shí)，改變LED的狀態(tài)。假設(shè)FPGA可以正常工作，且LED正常。經(jīng)過一個(gè)20MHz時(shí)鐘的周期，累加器中的值增加10，累加器溢出需要0.5s，LED燈1s閃爍一次。仿真時(shí)序見圖3所示。

clk_100m：鎖相環(huán)輸出100MHz時(shí)鐘;clk：外部時(shí)鐘電路提供20MHz時(shí)鐘;cnt：對(duì)20MHz時(shí)鐘檢測(cè)的計(jì)數(shù)值;restult：FIFO中讀出的計(jì)數(shù)值;counter：累加器的累加值。

當(dāng)模擬鎖相環(huán)模塊故障時(shí)，鎖相倍頻模塊將輸出不穩(wěn)定的低頻信號(hào)，即clk_100m信號(hào)無法正確檢測(cè)20MHz信號(hào)的周期。當(dāng)FIFO緩沖模塊故障時(shí)，累加器將無法得到正確的累加值。這些主機(jī)電路的故障都將導(dǎo)致LED燈的閃爍不正常。

圖4 SDRAM自檢流程

4.數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器自檢設(shè)計(jì)

FPGA核心系統(tǒng)的外擴(kuò)存儲(chǔ)電路電路采用2片16位同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器（Synchronous Dynamic Random Access Memory，SDRAM）組成4M×32bits的存儲(chǔ)模塊。該存儲(chǔ)模塊具有讀寫速度快，容量大，信號(hào)多，控制復(fù)雜等特點(diǎn)。數(shù)據(jù)在SDRAM中采用矩陣的方式存儲(chǔ)，地址譯碼通過行列地址選通，根據(jù)地址信號(hào)來選取要操作的某幾個(gè)（或某行）數(shù)據(jù)，以便讀寫控制電路對(duì)這些相應(yīng)的單元進(jìn)行讀寫操作。不同于SRAM這種靜態(tài)存儲(chǔ)器，SDRAM不僅提供的同步時(shí)鐘信號(hào)以進(jìn)行高速的讀寫，由于其動(dòng)態(tài)存儲(chǔ)方式，還需要不斷的進(jìn)行自刷新來保證數(shù)據(jù)不丟失。

FPGA在保存或讀取數(shù)據(jù)時(shí)，需要對(duì)連續(xù)的內(nèi)存地址進(jìn)行操作，采用突發(fā)長度為256的讀寫方式，即連續(xù)讀/寫256個(gè)存儲(chǔ)單元，進(jìn)行一次行列地址選通。基于這種數(shù)據(jù)傳輸方式，SDRAM自檢時(shí)，在進(jìn)行地址線掃描檢測(cè)的同時(shí)，通過改變寫入數(shù)據(jù)的方式對(duì)數(shù)據(jù)線故障進(jìn)行檢測(cè)，流程圖如圖4所示。

本設(shè)計(jì)中采用12位寄存器add_flag[11：0]的各個(gè)二進(jìn)制位對(duì)應(yīng)地址線A0～A11，16位寄存器data_flag[15：0]的各個(gè)二進(jìn)制位對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)線DB0～DB15，在選取測(cè)試數(shù)據(jù)時(shí)，同樣按照地址線掃描法的思想對(duì)數(shù)據(jù)線進(jìn)行掃描，當(dāng)Ai=0時(shí)，突發(fā)寫入時(shí)依次循環(huán)寫入0001H，0002H…8000H，當(dāng)Ai=1時(shí)依次寫入FFFEH，F(xiàn)FFDH～8FFFH。采取這樣的數(shù)據(jù)的好處是當(dāng)某個(gè)數(shù)據(jù)線發(fā)生短路或斷路時(shí)，能明顯的檢測(cè)出來。然后讀取所存入的測(cè)試數(shù)據(jù)，判斷數(shù)據(jù)線是否存在故障。以圖5為例，SDRAM_ADD為當(dāng)前選通的行地址，SDRAM_DB為輸入的數(shù)據(jù)，SDRAM_DATA為從SDRAM中讀取的數(shù)據(jù)，data_flag為數(shù)據(jù)線故障標(biāo)志。將SDRAM_DB和SDRAM_DATA進(jìn)行比較，可見當(dāng)SDRAM_DB=0008H時(shí)，SDRAM_DATA=0000H，可見數(shù)據(jù)線DB4發(fā)生了故障，DB4在data_flag中的對(duì)應(yīng)位置1，即data_flag=0008H。

圖6所示中，address為當(dāng)前檢測(cè)的地址線，add_flag為地址線故障標(biāo)志，data1為A8=1時(shí)讀出的數(shù)據(jù)，data0為A8=0時(shí)讀出的數(shù)據(jù)，由于讀出的數(shù)據(jù)data1和data0相同時(shí)（均為fffdH），該地址線故障，對(duì)應(yīng)表示為置1，即add_flag=008H。

用寄存器sdram_err來表示數(shù)據(jù)存儲(chǔ)電路模塊是否存在故障，若存在故障則置1，若能正常使用則為0。采用這種方法的優(yōu)點(diǎn)是：（1）對(duì)地址線進(jìn)行了逐根掃描，可以覆蓋由地址連線帶來的故障。（2）由于相鄰兩個(gè)單元的內(nèi)容不同，檢測(cè)了SDRAM的突發(fā)讀/寫的操作方式。（3）覆蓋了數(shù)據(jù)線之間的故障和數(shù)據(jù)線的連線故障。

5.結(jié)束語

本文設(shè)計(jì)FPGA核心系統(tǒng)可以實(shí)時(shí)檢測(cè)FPGA主機(jī)電路的鎖相環(huán)模塊，F(xiàn)IFO緩存模塊，IO接口等基本功能，保證FPGA能夠正常運(yùn)行，并且可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)故障，方便故障的檢測(cè)和維修。外擴(kuò)存儲(chǔ)器電路的自檢功能可以快速檢測(cè)存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)線和地址線的故障。FPGA核心系統(tǒng)的正常運(yùn)行是整個(gè)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)功能，可靠運(yùn)行的基礎(chǔ)，因此FPGA核心系統(tǒng)的自檢具有很重要的實(shí)際意義。

作者簡介：盛銳（1982—），男，江蘇常州人，大學(xué)本科，現(xiàn)供職于天地（常州）自動(dòng)化股份有限公司，主要從事工礦安全監(jiān)控等成套系統(tǒng)的建設(shè)工作。