基于遺傳新陳代謝灰色模型的電子設(shè)備故障預(yù)測研究
2014-04-12 00:00:00朱曉菲王國華張欣豫戴怡維
現(xiàn)代電子技術(shù) 2014年1期
摘 要： 經(jīng)過研究分析，序列光滑度和背景值構(gòu)造是常規(guī)灰色GM（1，1）模型誤差的主要來源。針對這一問題，提出了一種改進的方法：首先對建模序列進行對數(shù)平滑處理，而后利用遺傳算法對背景值進行尋優(yōu)，并形成改進的新陳代謝GM（1，1，λ）模型。最后通過實例驗證，表明改進的新陳代謝模型具有更高的預(yù)測精度，可用于電子設(shè)備的壽命預(yù)測。
關(guān)鍵詞： 序列光滑度； 背景值； 遺傳算法； 新陳代謝GM（1，1，λ）模型； 電子設(shè)備
中圖分類號： TN710?34； N941.5 文獻標(biāo)識碼： A 文章編號： 1004?373X（2014）01?0086?04
