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        樣品濃度對動態(tài)光散射法測量顆粒粒徑的影響及分析*

        2014-03-22 10:50:05劉俊杰
        計量技術(shù) 2014年8期
        關(guān)鍵詞:散射光擴散系數(shù)粒徑

        劉俊杰 國 凱

        (1.中國計量科學研究院,北京 100029;2.中國石油大學,北京 102249)

        0 引言

        動態(tài)光散射法(DLS)是一種用于測量分散于液體中納米/亞微米顆粒粒徑及粒徑分布的常規(guī)分析手段,所適用的顆粒粒徑范圍從幾個納米至大約1微米、或至顆粒開始沉降時的粒徑。該技術(shù)已廣泛應(yīng)用于生物制藥、材料、航空航天、微電子、紡織工業(yè)、機械制造等眾多領(lǐng)域,其測量結(jié)果的準確性關(guān)系到上述領(lǐng)域的技術(shù)及產(chǎn)品發(fā)展,如:在納米器件加工生產(chǎn)中,動態(tài)光散射法測量結(jié)果的準確性、可比性對納米器件的設(shè)計和構(gòu)造起決定性的支撐作用。目前在動態(tài)光散射法粒度測量中,樣品濃度被認為是影響其測量結(jié)果的最主要因素之一。

        1 動態(tài)光散射法原理

        動態(tài)光散射法測量原理建立在溶液中顆粒的布朗運動。即當激光束照射到溶液中的懸浮顆粒上時,由于顆粒的布朗運動,使得其存在與入射光和檢測器的相對運動,從而使得所產(chǎn)生的顆粒散射光會出現(xiàn)多普勒平移(散射光頻率在入射光頻率附近存在一個分布)以及散射光強度隨時間漲落變化[1]。研究表明,散射光的多普勒平移或散射光強度快慢與顆粒大小直接相關(guān)[1-4]。因此通過測量散射光的頻譜分布或散射光的相關(guān)時間就可以估計出顆粒的尺寸。這也是動態(tài)光散射法測量顆粒粒徑的基礎(chǔ)。

        目前,多數(shù)商用動態(tài)光散射儀都是通過測量散射光強的相關(guān)時間來確定顆粒粒徑的。光強相關(guān)法原理可簡單地理解為:測量顆粒實時的散射光信號,應(yīng)用相關(guān)技術(shù)由散射光信號的起伏漲落中求得散射光強的時間自相關(guān)函數(shù)式(1),由時間自相關(guān)函數(shù)獲得衰減線寬Γ,再根據(jù)衰減線寬和顆粒在溶液中的擴散系數(shù)(通常是平移擴散系數(shù)DT)的關(guān)系求得擴散系數(shù)式(2),由這個擴散系數(shù)按照Stokes-Einstein關(guān)系式(3)求得顆粒的當量球形直徑。

        (1)

        Γ=DTq2

        (2)

        DT=KBT/3pηD

        (3)

        式(1)~式(3)中,G(2)(t)為散射光強的時間自相關(guān)函數(shù);A為光強自相關(guān)函數(shù)G(2)(t)的基線;β為約束信噪比的試驗常數(shù);g(1)(t)為散射光場的電場強度自相關(guān)函數(shù);DT為顆粒平移擴散系數(shù);Γ為時間自相關(guān)函數(shù)的衰減線寬;q為散射矢量;KB為Boltaman常數(shù);η為分散介質(zhì)的黏度系數(shù);T為絕對溫度;D為顆粒直徑。

        然而,在上述公式中,式(2)僅當顆粒濃度和散射角濃度趨近于零時才能成立。而式(3)僅當顆粒間不存在相互作用時成立。因此,采用動態(tài)光散射法測量時溶液中的顆粒粒徑時,樣品濃度應(yīng)十分稀薄,且顆粒不帶電荷。但實際樣品卻并非如此,對于濃度較大、顆粒荷電的分散體系,由于測量系統(tǒng)內(nèi)存在多重散射、顆粒間相互作用等因素的影響,Stokes-Einstein方程式(3)則不再準確,方法則會有一些局限性。

        2 樣品濃度對DLS測量結(jié)果的影響

        2.1 多重散射的影響

        動態(tài)光散射分析假設(shè)只有一次散射光被收集。當樣品濃度增加時,散射光在光路中被其它粒子再次散射后進入檢測器的幾率大大增加。在這種情況下,Stokes-Einstein方程不再有效,由動態(tài)光散射測定的擴散系數(shù)將得出錯誤的流體力學半徑。理論上已經(jīng)證明,N次散射光場的復(fù)振幅是單次散射光場的復(fù)振幅的N重卷積。顆粒濃度越高,顆粒分析結(jié)果將嚴重地向小顆粒偏移[4]。圖1給出了采用純水進行不同倍數(shù)稀釋、標稱值為30nm聚苯乙烯的DLS測量結(jié)果(樣品:聚苯乙烯顆粒;儀器:SYMPATEC公司的NANOPHAX)??梢钥吹?,隨著稀釋倍數(shù)的增加,DLS測量結(jié)果也逐步增大,與理論結(jié)果一致。

        圖1 不同濃度樣品的DLS測量結(jié)果

        2.2 顆粒間相互作用的影響

        溶液中顆粒間的相互作用有多種,其范圍從純水阻礙、靜電排斥,到范德華引力,所有這些都可以同時發(fā)生[2]。特別是對于帶電高分子、膠體氧化硅等懸浮液體系中,顆粒間的庫侖作用力更為突出。因此,在較高濃度體系內(nèi)的顆粒運動并不是純布朗運動,而是受到相互作用的影響或抑制。所測得的擴散系數(shù)不再是單獨的顆粒屬性,而是整個顆粒懸浮液的屬性。此時Stokes-Einstein方程式(3)也將不再有效。

        通常,可以利用粒徑、濃度、散射角和激光波長等條件區(qū)分兩種不同的擴散系數(shù)。顆粒間的平均間距h,與散射向量模數(shù)的倒數(shù)q-1之比,將決定下列那種情況發(fā)生[5]。

        若q-1

        若q-1>h/2p ,探測到的是顆粒聚集體的擴散系數(shù)。

        3 消除樣品濃度對測量結(jié)果影響的方法

        從上述分析可以看到,在較高樣品濃度體系內(nèi),由于多重散射及顆粒間相互作用的存在,使得DLS的基礎(chǔ)理論方程不再有效,DLS的測量結(jié)果的可靠性也將無法得到保證。盡管目前許多商用儀器都采用了相關(guān)的技術(shù)手段,可避免多重散射對DLS測量結(jié)果的影響。如采用背散射技術(shù)、移動測量池位置等減小光通過樣品的光程、采用光子交叉相關(guān)(PCCS)技術(shù)等等,但上述方法只是最大限度地避免了多重散射的影響,而不能徹底消除。且上述方法也存在一定的局限性,如在光子交叉相關(guān)技術(shù)中,兩束光必須在散射矢量中精確地匹配,否則通過兩個檢測器所檢測的單次散射信號也不相關(guān),造成對數(shù)據(jù)質(zhì)量的限制。除此之外,如果多次散射占優(yōu)勢,則PCCS將會非常弱[2]。

        因此在實際樣品檢測中,需開展相關(guān)實驗或驗證,以避免樣品濃度對測量結(jié)果的影響,最大可能地消除多重散射和顆粒間相互作用的影響。在實際應(yīng)用中,可采用如下技術(shù)和方法:

        1)多濃度試驗法:如果在試驗操作中不確定合適的樣品濃度,那么建議在多個樣品濃度條件下進行光散射測量。濃度范圍至少覆蓋一個數(shù)量級。即在動態(tài)光散射實驗中,測得顆粒粒徑不隨濃度而變化(即隨著濃度的遞變,若測量結(jié)果無明顯的上升或下降趨勢),那么認為選擇的濃度范圍是合適的。如在歐盟標準物質(zhì)IRMM-304定值研究中,通過多樣品濃度的試驗方法確定了適合于DLS測量的樣品濃度范圍,保證測量結(jié)果的可靠性。

        但是需要注意的是,當懸浮液的濃度過低時,由于光束照射區(qū)域通常比顆粒的整個擴散區(qū)域小的多,散射區(qū)內(nèi)粒子分布不均勻,從而造成測量重復(fù)性較差。另外當懸浮液濃度過低時,由顆粒布朗運動引起的光強的總波動量也就很小,很可能被由于散射區(qū)內(nèi)顆粒濃度的不穩(wěn)定引起的光強的波動所淹沒。在這種情況下,認為測試過程中信噪比過低,測量結(jié)果是不準確的。在GB/T 19627—2005(粒度分析 光子相關(guān)光譜法)中明確規(guī)定在在散射體積重樣品顆粒數(shù)至少約為1000個。

        2)加入適量的電介質(zhì)鹽:通常溶液中的納米顆粒均為帶電顆粒。我們知道,帶電顆粒間的庫侖作用力與顆粒間距離的2次方成反比。而兩個中性顆粒之間的相互吸引力近似地與兩顆粒間距離的7次方成反比,這說明中性顆粒間的力為短程力,而帶電顆粒間的靜電引力為長程力。正是由于散射溶質(zhì)粒子之間的長程庫侖相互作用,即使在看上去很低的粒子濃度,如1g/L,這些相互作用仍然可能影響測量結(jié)果。究其原因,研究表明由于帶電顆粒間的庫侖相互作用,會影響顆粒自身的擴散動力學行為,從而以粒子間干涉的方式產(chǎn)生DLS測量結(jié)果對樣品濃度和散射角的依賴性[6]。

        因此,為克服帶電顆粒間的相互作用,常用的技術(shù)手段就是在體系中加入適量鹽以屏蔽庫侖相互作用,而又不至于過多地改變折射率。 水溶液中最常用以屏蔽電荷相互作用的鹽是KBr、NaBr和NaCl。鹽濃度通常在1×10-5~1×10-2mol/L,它依賴于樣品濃度[3]。對于帶電線性高分子鏈,當摩爾濃度比c(單體)/c(鹽)<1時,庫侖作用力可以忽略不計。

        另外,通過適量鹽的引入也可使帶電顆粒的擴散層降低,保證DLS測量結(jié)果的準確可靠。眾所周知,溶液中的納米顆粒均為帶電顆粒,在其表面會形成帶電層。由于對相反電荷的吸引,在其帶電層周圍形成一層反電荷層,從而在顆粒周圍會形成雙電層結(jié)構(gòu)。通常,該雙電層會隨著顆粒的布朗運動而移動,因此,DLS所測量得到的是帶有雙電層結(jié)構(gòu)的顆粒的直徑,即水合動力學直徑。該雙電層結(jié)構(gòu)的厚度與顆粒性質(zhì)、帶電量、電解質(zhì)濃度密切相關(guān)。通常情況下,若溶劑中存在少量電解質(zhì)時會使得粒子外界面與溶液本體的電勢差減小,即Zeta電位下降,擴散層被壓縮、變薄。表1為分別使用純水和10mmol/L NaCl作為稀釋劑時幾種納米/亞微米聚苯乙烯顆粒粒徑的DLS測量值,可以看到以10mmol/L NaCl作為稀釋劑時的測量結(jié)果比用純水作為稀釋劑的結(jié)果偏低,實驗結(jié)果與上述理論分析結(jié)果一致。

        表1 使用純水和10mmol/L NaCl作為稀釋劑的DLS測量結(jié)果

        3)線性回歸法:如前所述,DLS測量中Stokes-Einstein公式僅當顆粒間不存在相互作用時成立。且在無限稀釋樣品內(nèi),由于顆粒間平均距離增大及顆粒相互作用的減弱,散射光強的角度依賴性降低。Rayleigh線寬Γ與顆粒布朗運動的平移擴散系數(shù)DT方程公式(2)誤差降低,測量結(jié)果更加接近真值。因此,可通過測量不同濃度下的顆粒粒徑,并通過線性回歸的方法得到濃度為零時的顆粒粒徑(如圖2所示)。該粒徑可真正反映顆粒的真實粒徑。

        圖2 不同濃度樣品的DLS測量結(jié)果

        4 結(jié)論

        在動態(tài)光散射法測量納米/亞微米顆粒粒徑中,由于多重散射和顆粒間相互作用的存在,樣品濃度對于測量結(jié)果有著嚴重的影響。因此,為保證動態(tài)光散射法測量顆粒粒徑的準確性和可靠性,在實際測量中需采取相應(yīng)的技術(shù)方法消除樣品濃度對測量結(jié)果的影響,常用的技術(shù)手段為:不同樣品濃度下的檢驗、加入適量電介質(zhì)鹽、線性回歸法。

        [1]喻雷壽,楊冠玲,何振江,等.動態(tài)光散射發(fā)展與理論分析.中國粉體技術(shù),2005(11)

        [2]許人良.納米顆粒表征技術(shù)的進展:粒度分級和Zeta電位測量.顆粒學報,2008(6)

        [3]鄭萃,梁德海.高分子及納米粒子的溶液光散射.北京:機械工業(yè)出版社,2013

        [4]陳偉平.動態(tài)光散射測量納米顆粒粒度的計算機模擬.濟南大學碩士學位論文,2006

        [5]Kayori TAKAHASHI,Haruhisa KATO and Shinichi KINUGASA,Development of a standard method for nanoparticle sizing by using the angular dependence of dynamic light scattering,Analytical Sciences,2011,27,751-756.

        [6]GB/T 29022-2012/ISO 22412 2008粒度分析 動態(tài)光散射法(DLS).北京:中國標準出版社,2013

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