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        有限元法對(duì)干式空心電抗器匝間絕緣故障的研究

        2014-03-16 06:59:38伍陽(yáng)陽(yáng)譚向宇劉友寬徐鵬張潔陳文雯徐雯李蕊
        云南電力技術(shù) 2014年6期
        關(guān)鍵詞:匝間干式電抗器

        伍陽(yáng)陽(yáng),譚向宇,劉友寬,徐鵬,張潔,陳文雯,徐雯,李蕊

        (1.云南電網(wǎng)公司研究生工作站,昆明 650217;2.云南電網(wǎng)公司電力研究院,昆明 650217;3.華北電力大學(xué),河北 保定 071000)

        有限元法對(duì)干式空心電抗器匝間絕緣故障的研究

        伍陽(yáng)陽(yáng)1,3,譚向宇2,劉友寬2,徐鵬1,張潔1,陳文雯1,徐雯1,李蕊1

        (1.云南電網(wǎng)公司研究生工作站,昆明 650217;2.云南電網(wǎng)公司電力研究院,昆明 650217;3.華北電力大學(xué),河北 保定 071000)

        通過(guò)ANSYS軟件,利用有限元法對(duì)干式空心電抗器的匝間絕緣特性以及絕緣故障進(jìn)行分析研究,結(jié)果表明,匝間絕緣故障時(shí)會(huì)導(dǎo)致其周圍電場(chǎng)強(qiáng)度激增,從而導(dǎo)致該區(qū)域溫度升高,從而加劇了對(duì)干式空心電抗器絕緣結(jié)構(gòu)的損害。

        干式空心電抗器;匝間絕緣;有限元法

        0 前言

        干式空心電抗器由于沒(méi)有鐵心,所以不存在磁飽和現(xiàn)象。且由于干式空心電抗器與傳統(tǒng)的油浸式鐵心電抗器相比,具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、質(zhì)量輕、體積小、線性度好、損耗低、維護(hù)方便等優(yōu)點(diǎn),在維持電力系統(tǒng)電壓穩(wěn)定、限制短路電流、進(jìn)行無(wú)功補(bǔ)償?shù)确矫嬗兄匾饔?,而其匝間絕緣狀態(tài)是影響干式電抗器安全穩(wěn)定運(yùn)行的一個(gè)非常重要的因素[3][4]。因此,對(duì)即將投運(yùn)或已經(jīng)投運(yùn)的干式電抗器匝間絕緣狀態(tài)進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn),將對(duì)發(fā)現(xiàn)其安全隱患、避免事故發(fā)生和防止事故擴(kuò)大都有非常積極的作用。干式電抗器匝間絕緣狀態(tài)現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)技術(shù)的研究與推廣是狀態(tài)檢修和智能電網(wǎng)發(fā)展戰(zhàn)略中的重要環(huán)節(jié),對(duì)提高電力系統(tǒng)設(shè)備安全運(yùn)行水平具有重要意義。

        然而,干式空心電抗器由于其層數(shù)和匝數(shù)較多,匝間絕緣故障的靈敏檢測(cè)一直是難以解決的問(wèn)題。通常采用的試驗(yàn)方法有倍頻倍壓試驗(yàn)和沖擊電壓試驗(yàn)。倍頻倍壓試驗(yàn)作用時(shí)間較長(zhǎng),能量較高,但試驗(yàn)電壓比較低,電抗器匝數(shù)較多時(shí)難以檢測(cè)缺陷;沖擊電壓試驗(yàn)作用電壓較高,但是作用時(shí)間較短,能量較低,也難以發(fā)現(xiàn)電抗器故障[1-2]。

        本文將通過(guò)ANSYS軟件,利用有限元法對(duì)干式空心電抗器進(jìn)行建模,并分析其匝間絕緣特性以及匝間絕緣故障時(shí),匝間電場(chǎng)強(qiáng)度的變化。分析結(jié)果表明:當(dāng)匝間絕緣故障時(shí)會(huì)導(dǎo)致其周圍電場(chǎng)強(qiáng)度激增,從而導(dǎo)致該區(qū)域溫度升高,從而加劇了對(duì)干式空心電抗器絕緣結(jié)構(gòu)的損害。

        1 ANSYS仿真模型建立

        ANSYS將模型分為實(shí)體模型和有限元模型兩大類。實(shí)體模型由關(guān)鍵點(diǎn)、線、面和體組成,用來(lái)直接描述所求問(wèn)題的幾何特性[5]。

        有限元模型是實(shí)際結(jié)構(gòu)和物質(zhì)的數(shù)學(xué)表示方法。在ANSYS中,可以用單元來(lái)對(duì)實(shí)體模型進(jìn)行劃分,以產(chǎn)生有限元模型,這個(gè)過(guò)程稱為實(shí)體模型網(wǎng)格化。另外也可以直接利用單元和節(jié)點(diǎn)生成有限元模型。

        1.1 建立模型

        本文以BKGKL-20 000 kvar/35 kV型并聯(lián)電抗器第二包封為例,包封壁材料為環(huán)氧樹(shù)脂浸漬過(guò)的玻璃纖維,電抗器線圈采用鋁導(dǎo)線,匝間絕緣材料以及層間絕緣材料為絕緣性能優(yōu)良的聚酯薄膜材料。對(duì)電抗器的匝間絕緣和層間絕緣進(jìn)行電場(chǎng)仿真分析,結(jié)構(gòu)尺寸見(jiàn)表1。圖1和圖2為電抗器第二包封模型。

        圖1 干式空心電抗器現(xiàn)場(chǎng)實(shí)物圖

        圖2 第二包封ANSOFT簡(jiǎn)化模型圖

        表1 第二包封結(jié)構(gòu)尺寸表

        圖3 第二包封正常運(yùn)行時(shí)電場(chǎng)強(qiáng)度圖

        圖4 第二包封正常運(yùn)行時(shí)電位圖

        1.2 模型加載

        在電抗器模型中,采用電壓激勵(lì)源,由于電抗器額定電壓為KV,如前所述,假定在電壓峰值時(shí)電抗器不會(huì)放電擊穿,則在其他電壓值下也不被擊穿,故加入的瞬時(shí)電壓值為峰值電壓28 171 V,而在包封外表面則認(rèn)為電壓是0 V。因此,需要加入的是兩個(gè)電壓值作為激勵(lì)源條件。

        2 ANSOFT模型仿真結(jié)果

        假設(shè)電抗器內(nèi)每一層繞組上的電壓是呈線性分布,即電抗器頂端與接地端之間的電壓是平均加載在每一匝繞組上的,為一個(gè)常數(shù)。圖3、圖4為正常運(yùn)行時(shí)ansoft對(duì)電抗器第二包封的電場(chǎng)及電位仿真情況。由圖3可以看出,電抗器頂端場(chǎng)強(qiáng)最大,約為1.132 7?e7V/m,這是因?yàn)轫敹说谝辉牙@組所加電壓是最高值,因此電抗器最大場(chǎng)強(qiáng)分布在電抗器頂端。越靠近接地端,所加電壓越小,因此場(chǎng)強(qiáng)值越小。層間和匝間場(chǎng)強(qiáng)相對(duì)較小,分別約為5.219?e6V/m和0 V/m。

        3 絕緣故障仿真結(jié)果與分析

        國(guó)內(nèi)外空心電抗器的實(shí)際運(yùn)行情況表明:線圈匝間絕緣短路故障是干式空心電抗器燒毀的主要原因。而且這種事故往往會(huì)造成電抗器發(fā)生匝間絕緣短路,導(dǎo)致電抗器燒毀,造成很大的直接或間接損失。

        3.1 線圈結(jié)構(gòu)

        當(dāng)包封內(nèi)出現(xiàn)匝間絕緣故障時(shí),表現(xiàn)為兩匝線圈之間的絕緣層破壞,使得本應(yīng)由絕緣層分隔開(kāi)的兩匝線圈相互接觸。因此本節(jié)采用將短路的上層線圈向下平移與下層線圈接觸的形式來(lái)表現(xiàn)由結(jié)構(gòu)變化引起的匝間絕緣。

        圖5(a)為包封內(nèi)第三匝和第四匝絕緣短路的仿真結(jié)果。仿真結(jié)果可知,兩種情況下,電抗器包封內(nèi)最大場(chǎng)強(qiáng)為1.332?e7V/m。與正常運(yùn)行情況下包封內(nèi)匝間電場(chǎng)強(qiáng)度為5.219?e6 V/m相比,出現(xiàn)匝間絕緣短路故障的包封在第四匝和第五匝線圈之間的電場(chǎng)較高,約為10.5?e6V/ m。圖5(b)為在兩匝短路線圈下方場(chǎng)強(qiáng)較高的區(qū)域,圖5(c)為區(qū)域內(nèi)線上的場(chǎng)強(qiáng)分布。

        圖5 包封內(nèi)第三匝和第四匝絕緣短路的電場(chǎng)強(qiáng)度仿真結(jié)果

        出現(xiàn)這種結(jié)果是由于當(dāng)?shù)谌押偷谒脑丫€圈相接觸的時(shí)候,第四匝線圈的電壓明顯升高,電壓值與第三匝線圈電壓值相同。這就造成了第四匝和第五匝線圈之間的電勢(shì)差升高,電場(chǎng)強(qiáng)度增大。

        3.2 工藝缺陷

        在實(shí)際生產(chǎn)中,由于工藝水平的差異,包封內(nèi)部每層匝數(shù)并不都是相同的。因此在同一個(gè)包封內(nèi)部的匝間與層間的絕緣,由于其剖面幾何形狀極其不均勻,所以包封內(nèi)部的層間的電場(chǎng)分布也極其不均勻。本例中包封2的三層線圈中,從左到右匝數(shù)分別為55、53、47。由圖6可看出,層間最大場(chǎng)強(qiáng)出現(xiàn)在中間層和最右層線圈之間,出現(xiàn)這種情況的原因是由于中間層和最右層線圈的匝數(shù)差最大。因此,兩層線圈的電勢(shì)差也相差最大,從而導(dǎo)致了兩層線圈之間的場(chǎng)強(qiáng)增大。

        圖6 工藝缺陷對(duì)包封內(nèi)電場(chǎng)強(qiáng)度的影響

        3.3 匝間絕緣層破壞

        在電抗器繞制的過(guò)程中,鋁線的選擇是十分重要的。若構(gòu)成包封繞組的鋁導(dǎo)線表面有微小的毛刺,則包封內(nèi)的聚酯薄膜絕緣層很容易被刺穿,而聚酯薄膜的損傷會(huì)直接從內(nèi)部引起鋁導(dǎo)線的匝間短路。所以在生產(chǎn)時(shí)應(yīng)該特別注意對(duì)鋁導(dǎo)線表面毛刺和內(nèi)部雜質(zhì)的檢驗(yàn),決不能采用不合格的鋁導(dǎo)線繞制電抗器。下圖為被鋁導(dǎo)線表面直徑為0.02 mm的毛刺刺穿絕緣層發(fā)生匝間短路的情況。由圖7可知,在兩匝短路的線圈下方,出現(xiàn)了高場(chǎng)強(qiáng)值。出現(xiàn)這種現(xiàn)象的原因與線圈結(jié)構(gòu)變化時(shí)所導(dǎo)致的場(chǎng)強(qiáng)升高情況原因相同。

        圖7 匝間絕緣層破壞時(shí)包封內(nèi)電場(chǎng)強(qiáng)度分布

        4 結(jié)束語(yǔ)

        根據(jù)干式空心電抗器出現(xiàn)的三種匝間絕緣故障仿真分析:

        1)當(dāng)匝間絕緣故障時(shí)會(huì)導(dǎo)致其周圍電場(chǎng)強(qiáng)度激增,從而導(dǎo)致該區(qū)域溫度升高,從而加劇了對(duì)干式空心電抗器絕緣結(jié)構(gòu)的損害;

        2)電抗器制造過(guò)程中,應(yīng)改善工藝條件,提高工藝水平,改善工藝環(huán)境;

        3)絕緣膠應(yīng)保證與導(dǎo)線具有良好的親和性,在運(yùn)行條件和運(yùn)行環(huán)境下,確保不產(chǎn)生裂紋和開(kāi)裂現(xiàn)象;

        4)加強(qiáng)對(duì)鋁導(dǎo)線表面毛刺和內(nèi)部雜質(zhì)的檢驗(yàn),決不能采用不合格的鋁導(dǎo)線繞制電抗器。

        [1] 夏長(zhǎng)根.一起35 kV干式并聯(lián)空心電抗器故障分析 [J].電力電容器與無(wú)功補(bǔ)償,2009,30(5):43-45.

        [2] 劉?,摚嘿e.干式空心電抗器的運(yùn)行分析及故障處理[J].高壓電器,2004,(3).

        [3] 張麗,徐玉琴.并聯(lián)電抗器在超 (特)高壓電網(wǎng)中發(fā)展與應(yīng)用 [J].電力自動(dòng)化設(shè)備,2007,27(4):75-78.

        [4] 何東平,孫白.35 kV干式空芯并聯(lián)電抗器運(yùn)行情況及故障電抗器的解剖分析 [J].電力設(shè)備,2004,5(2):48 -51.

        [5] 胡仁喜,等,編著.ANSYS 13.0電磁學(xué)有限元分析從入門到精通 [M].北京:機(jī)械工業(yè)出版社,2011,12.

        Research on Dry-type Air-core Reactor Turn-to-turn Insulation Fault Based on Finite Element Method

        WU Yangyang1,3,TAN Xiangyu1,LIU Youkuan1,XU Peng1,ZHANG Jie1,CHEN Wenwen1,XU Wen1,LI Rui1
        (1.Yunnan Power Grid Corporation Graduate Workstation,Kunming 650217,China;2.Yunnan Electric Power Research Institute,Kunming 650217,China;3.Department of Automation,North China Electric Power University,Baoding,Hebei 071000,China)

        Based on the ANSYS software,the article makes use of the finite element method to analysis of dry-type air-core reactor turn-to-turn insulation and insulation fault,The results show that the turn-to-turn insulation fault will cause the electric field intensity around the surge,which leads to the regional temperature,adding to the damage of dry-type air-core reactor insulation structure.

        dry-type air-core reactor;turn-to-turn insulation;finite element method

        TM76

        B

        1006-7345(2014)06-0060-03

        2014-08-09

        伍陽(yáng)陽(yáng) (1988),男,碩士研究生,云南電網(wǎng)公司研究生工作站,研究方向?yàn)榉植际焦夥l(fā)電系統(tǒng)的功率控制 (e-mail) 445800890@qq.com。

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