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        PECVD法制備SiO2薄膜的熱應(yīng)力影響研究

        2014-01-01 00:00:00王喬升
        電子世界 2014年2期

        【摘要】研究了等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相淀積(PECVD)

        【關(guān)鍵詞】應(yīng)力;二氧化硅薄膜;等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相淀積;熱處理工藝

        1.引言

        PECVD方法的最大特性是,由于在等離子體狀態(tài)下利用化學(xué)性活潑的離子、原子團(tuán),因而可以在低溫下生成薄膜,熱損較少,抑制了與基片物質(zhì)的反應(yīng),可在非耐熱性基片上成膜。從熱力學(xué)角度上講,在反應(yīng)雖能發(fā)生但反應(yīng)相當(dāng)遲緩的情況下,借助等離子體激發(fā)狀態(tài),可以引發(fā)常規(guī)化學(xué)反應(yīng)中不能或難以實現(xiàn)的物理變化和化學(xué)變化;可以使許多通常不能發(fā)生和難以發(fā)生的化學(xué)反應(yīng)得以進(jìn)行或加速進(jìn)行;還可以按著預(yù)先設(shè)計的模型合成新的材料,等離子體技術(shù)是一種十分有效的分子活化手段,能夠省去許多常規(guī)化學(xué)反應(yīng)所需要的酸、堿、熱以及催化劑等多種條件,大大縮短了新材料的制備周期。另外,由于反應(yīng)材料是氣體,可以穩(wěn)定供給,因此可連續(xù)控制,從而可控制薄膜組成。因此技術(shù)具有生長溫度低,沉積速率大,臺階覆蓋性能好等優(yōu)點,并且在沉積過程中可方便摻入雜質(zhì)來改變產(chǎn)品的特性。在力學(xué)和化學(xué)中較穩(wěn)定的厚氧化物膜在適當(dāng)壓力下可以較快的沉積。由于這些處理和裝置都源于微電子工業(yè),因而具有高產(chǎn)的好前景。

        正是由于PECVD技術(shù)具有如下的優(yōu)點:

        1)鍍膜溫度大大下降;2)基材范圍拓寬;3)鍍層涂敷均勻,性能穩(wěn)定,易于實現(xiàn)工業(yè)化生產(chǎn);4)等離子體滲、鍍同爐完成,工藝簡化,效率較高。

        所以該技術(shù)在生產(chǎn)上獲得了迅速發(fā)展,并且應(yīng)用非常廣泛,是一種具有廣泛應(yīng)用前景的技術(shù),開拓了新的領(lǐng)域。

        2.2 應(yīng)力測量介紹

        薄膜的應(yīng)力由熱應(yīng)力和本征應(yīng)力兩部分組成。熱應(yīng)力起源于薄膜與襯底之間熱膨脹系數(shù)的不同,可表示為:

        式中:Ts和TM分別為淀積和測量時基片的溫度;和。分別為薄膜和基片的熱膨脹系數(shù);Ef為薄膜的楊氏模量,dT表示溫度的微分。若假定、不隨溫度變化,則式(1)可改寫為:

        由式(2)可以看出,當(dāng)測量溫度低于淀積溫度和>時,ST>0,薄膜收縮程度大于襯底收縮程度,膜相對于襯底就有了收縮的趨勢,此時的熱應(yīng)力為張應(yīng)力。反之,當(dāng)<時,膜相對于襯底就有了擴(kuò)展的趨勢,ST<0,此時的熱應(yīng)力為壓應(yīng)力。

        在已知基片曲率半徑的情況下,應(yīng)力表示為:

        參考文獻(xiàn)

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        作者簡介:王喬升,電子科技大學(xué)微電子與固體電子學(xué)院在讀研究生,研究方向:材料工程。

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