趙輝煌,王耀南,孫雅琪
ZHAO Hui-huang1,2,WANG Yao-nan2,SUN Ya-qi1
(1. 衡陽(yáng)師范學(xué)院 計(jì)算機(jī)科學(xué)系,衡陽(yáng) 421008;2.湖南大學(xué) 電氣與信息工程學(xué)院,長(zhǎng)沙 410082)
微電子組裝是采用微電子技術(shù)或混合微電子技術(shù),在電路基板上將芯片、微小型元器件等用微細(xì)焊接技術(shù)形成微電子組裝模塊的工藝技術(shù)。微電子組裝技術(shù)在航空、航天和船舶等平臺(tái)的電子裝備上得到了廣泛的應(yīng)用[1]。微電子組裝焊點(diǎn)具有保障電氣性能暢通和機(jī)械連接可靠的特征,焊點(diǎn)的可靠性越來越受到重視。微電子組裝焊點(diǎn)形狀三維實(shí)體化是微電子組裝焊點(diǎn)質(zhì)量三維檢測(cè)與質(zhì)量控制的重要研究?jī)?nèi)容之一,對(duì)保證焊點(diǎn)和組件的可靠性具有重要意義[2]。
焊點(diǎn)的輕、薄、短、小特點(diǎn),使得焊點(diǎn)三維實(shí)體化成為焊點(diǎn)三維質(zhì)量檢測(cè)與控制難點(diǎn)問題。目前常用的三維重構(gòu)方法有激光掃描法,立體視覺法和灰度重構(gòu)形狀方法(Shape From Shading ,SFS.)等,與其他方法相比,SFS方法具有重構(gòu)速度快、只需單幅圖像等特點(diǎn)。針對(duì)微電子組裝焊點(diǎn)及其圖像的特點(diǎn),研究出一個(gè)焊點(diǎn)表面光照反射模型。然后采用SFS方法重構(gòu)得到焊點(diǎn)表面三維離散高度點(diǎn)陣。然后采用APDL(ANSYS Parametric Design Language)語(yǔ)言[3],在ANSYS二次開發(fā)把焊點(diǎn)離散高度點(diǎn)陣進(jìn)行自動(dòng)三維實(shí)體化。通過研究,提出一種把微電子組裝焊點(diǎn)二維圖像自動(dòng)轉(zhuǎn)化成焊點(diǎn)三維實(shí)體的方法。
微電子組裝焊點(diǎn)表面形狀三維實(shí)體化基本過程是,先對(duì)采集到微電子組裝焊點(diǎn)二維圖像進(jìn)行預(yù)處理,圖像預(yù)處理包括圖像灰度化,圖像平滑和圖像去噪等;以光照反射理論為基礎(chǔ),通過分析焊點(diǎn)表面的光照反射項(xiàng)成分,得到一種適合微電子組裝焊點(diǎn)表面光照反射模型;以SFS技術(shù)為基礎(chǔ),設(shè)置相應(yīng)的約束條件,采用焊點(diǎn)表面光照反射模型,對(duì)焊點(diǎn)進(jìn)行三維重構(gòu);依據(jù)三維實(shí)體生成原理,研究一種三維形狀自動(dòng)實(shí)體化技術(shù),實(shí)現(xiàn)把微電子組裝焊點(diǎn)二維圖像自動(dòng)轉(zhuǎn)化成焊點(diǎn)三維實(shí)體操作。其基本原理如圖1所示。
圖1 微電子組裝焊點(diǎn)表面形狀三維實(shí)體化基本原理
如圖1所示的基本原理中,微電子組裝焊點(diǎn)表面光照反射模型及模型求解和焊點(diǎn)形狀自動(dòng)三維實(shí)體化是本論文研究的重點(diǎn)。
SFS方法具有三維重構(gòu)速度比較快、并且只需要單幅灰度圖像的特點(diǎn)。光照反射模型,對(duì)是光照反射的數(shù)學(xué)表達(dá),用來計(jì)算物體表面上任意一點(diǎn)投向觀察者眼中的光亮度大小和色彩組成[5]。Oren-Nayar模型是常用的漫反射物理光照模型[6],其模型公式為:
式中,A=1?0.5σ2/(σ2+0.33);B=1?0.45σ2/(σ2+0.99);σ表示高斯分布的標(biāo)準(zhǔn)方差,由物體表面粗糙度確定;Li表示入射光強(qiáng)度;ρ表示表面反射率;α=max[θr,θi];β=min[θr,θi];θr表示法線與視覺方向的夾角,θi表示法線與入射光線的夾角,ψr表示入射光線在平面上的投影與法平面的夾角。
除了漫反射,有些物體表面還可能存在鏡面反射。對(duì)于鏡面反射光照模型,比較經(jīng)典的是Torrance-Sparrow光照模型[7],其模型公式為:
式中,Gs表示幾何衰減因子,取值范圍是[0.8,1];φ是表面微平面的法線N方向與表面平均法向H的夾角,即φ=arccos(N˙H);單位向量H可近似表達(dá)式,其中V表示視覺方向;L表示光源方向;Li表示鏡面反射光照強(qiáng)度常數(shù)。
一般情況下,微電子組裝焊點(diǎn)圖像獲取過程中,光源方向會(huì)與拍攝方向相同,則α=β=θi=θ,可對(duì)Oren-Nayar模型進(jìn)行化簡(jiǎn),得到公式:
即Oren-Nayar漫反射模型可以化簡(jiǎn)為:
焊點(diǎn)是由金屬合金構(gòu)成,焊點(diǎn)表面除了漫反射,還存在鏡面反射,會(huì)在圖像中形成特別亮的“高光區(qū)”。因此,焊點(diǎn)表面鏡面反射不能忽視。分別對(duì)公式(2)鏡面反射模型和公式(4)漫反射模型進(jìn)行線性疊加,提出微組裝焊點(diǎn)表面光照反射模型,即:
式中,Kd表示漫反射系數(shù);Ks表示鏡面反射系數(shù),可以根據(jù)實(shí)際物體表面的粗糙度和表面反射率確定,需要滿足條件Kd+Ks=1,可以根據(jù)實(shí)際情況調(diào)整漫反射系數(shù)和鏡面反射系數(shù)。
下一步是對(duì)光照反射模型進(jìn)行求解,對(duì)公式(5)采用SFS線性化方法進(jìn)行求解[8],首先再采用迭代法求解,令Z表示焊點(diǎn)表面點(diǎn)的高度值,得到焊點(diǎn)表面任意點(diǎn)(x,y)的高度迭代結(jié)果為:
式中Zn?1(i,j),Zn(i,j)分別為第n-1次和第n次迭代結(jié)果。
然后,以焊點(diǎn)表面點(diǎn)的梯度為變量,并使用有限差分法離散梯度變量,則得到求解結(jié)果為:
SFS方法重構(gòu)不能得到焊點(diǎn)三維實(shí)體,得到的是焊點(diǎn)表面三維離散高度點(diǎn)陣,需對(duì)其進(jìn)行三維實(shí)體化,把焊點(diǎn)表面高度點(diǎn)陣轉(zhuǎn)化成焊點(diǎn)三維實(shí)體。微電子組裝焊點(diǎn)三維形狀實(shí)體化具體過程為,先定義關(guān)鍵點(diǎn),依據(jù)三角形面片面片生成法,后把相鄰的18個(gè)關(guān)鍵點(diǎn)來表示面,最后把所有面合并,再把相鄰面片合并,生成三維實(shí)體。
采用ANSYS軟件實(shí)現(xiàn)微電子組裝焊點(diǎn)表面形狀自動(dòng)三維實(shí)體化操作,先創(chuàng)建關(guān)鍵點(diǎn),然后依次創(chuàng)建相關(guān)的線、面和體等圖元,定義面、線和關(guān)鍵點(diǎn)的格式如下:
點(diǎn)的定義:K,NPT,X,Y,Z
線的定義:L,K1,K2
面的定義:A,K1,K2,K3,…,K18
體的定義:VA,A1,A2,…,An
其中,“N P T”為關(guān)鍵點(diǎn)序號(hào),X、Y、Z為在所在坐標(biāo)系中關(guān)鍵點(diǎn)的坐標(biāo)值。Ki,i=1,2,3,…,18為定義面的關(guān)鍵點(diǎn)序號(hào)。Ai,i=1,2,3,…,n為定義體的面序號(hào)。
獲取到微電子組裝片式元件及焊點(diǎn)圖像。分割出左焊點(diǎn),如圖2所示。
圖2 片式元件焊點(diǎn)圖像
依據(jù)本研究提出焊點(diǎn)表面光照反射模型,對(duì)焊點(diǎn)表面進(jìn)行三維重構(gòu),得到焊點(diǎn)表面三維離散高度點(diǎn)陣。同時(shí),為比較重構(gòu)的效果,基于不同光照反射模型的焊點(diǎn)表面三維離散高度點(diǎn)陣結(jié)果如圖3所示。
圖3 焊點(diǎn)三維重構(gòu)實(shí)驗(yàn)結(jié)果比較
通過從圖3比較可以得出,基于焊點(diǎn)表面光照反射模型得到的中間剖面的曲線更加連續(xù),效果最好,這是由于在模型中,同時(shí)考慮鏡面反射與漫反射的結(jié)果。
按照本研究提出的微電子組裝焊點(diǎn)三維形狀實(shí)體化方法,在ANSYS軟件中自動(dòng)實(shí)現(xiàn)焊點(diǎn)三維實(shí)體化操作,完成了把焊點(diǎn)二維圖像轉(zhuǎn)化成三維實(shí)體的過程,其結(jié)果如圖4所示。
圖4 微電子組裝焊點(diǎn)三維實(shí)體
微電子組裝焊點(diǎn)三維形狀自動(dòng)實(shí)體化技術(shù),對(duì)保證焊點(diǎn)和組件的可靠性具有重要意義。本研究先通過利用焊點(diǎn)表面光照模型得到的焊點(diǎn)表面三維離散高度點(diǎn)陣,通過ANSYS二次開發(fā)來自動(dòng)實(shí)現(xiàn)微電子組裝焊點(diǎn)三維實(shí)體化操作,得到焊點(diǎn)三維實(shí)體。提出一種把微電子組裝焊點(diǎn)二維圖像自動(dòng)轉(zhuǎn)化成焊點(diǎn)三維實(shí)體的方法,解決了微電子組裝焊點(diǎn)質(zhì)量檢測(cè)與控制中無法得到焊點(diǎn)三維實(shí)體的難題,研究結(jié)果具有重要的工程應(yīng)用價(jià)值。
[1] 張為民,鄭紅宇,嚴(yán)偉.電子封裝與微組裝密封的特點(diǎn)及發(fā)展趨勢(shì)[J].國(guó)防制造技術(shù),2010,2(1):60-62.
[2] 趙輝煌,周德儉,黃春躍. 基于改進(jìn)光照模型由SFS方法重構(gòu)SMT焊點(diǎn)三維形狀技術(shù)[J].焊接學(xué)報(bào),2009,30(11):77-81.
[3] 張健,徐浩,王衛(wèi)榮.基于APDL的壓力容器壁厚優(yōu)化設(shè)計(jì)[J].機(jī)械工程與自動(dòng)化,2012,1:52-54.
[4] Oren M,Nayar S K.Generalization of Lambert’s reflectance model[C].Proceedings of the 21st annual conference on CGIT,New York,1994:239-246.
[5] Cook R L,Torrance K E.A reflectance model for computer graphics[J].Computer Graphics,1981,15 (3):307-316.
[6] Kong Fanhui,Wang Yongxin,Reconstruction of Solder Joint Surface Based On Shape from Shading [C]. IEEE Third International Conference on Natural Computation,2007:58-62.