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        基于數(shù)字圖像相關(guān)法的光學(xué)引伸計(jì)系統(tǒng)開發(fā)

        2013-09-06 12:04:30毛霜霜
        關(guān)鍵詞:數(shù)字圖像光學(xué)灰度

        毛霜霜,吳 佳

        (上海大學(xué) 力學(xué)系,上海 200444)

        隨著科學(xué)技術(shù)的不斷進(jìn)步,對(duì)變形量的測(cè)量由過(guò)去的機(jī)械式測(cè)量發(fā)展為光學(xué)非接觸測(cè)量[1-2]。數(shù)字圖像相關(guān)測(cè)量技術(shù)是近年來(lái)發(fā)展較快的一種光學(xué)測(cè)量方法,它利用圖像分析方法[3],跟蹤物體表面圖像子區(qū)域的運(yùn)動(dòng)形態(tài),推算物體變形的位移[4]和應(yīng)變[5-7]。目前的數(shù)字圖像相關(guān)法多用于實(shí)驗(yàn)后處理[8-9],計(jì)算某些特殊點(diǎn)或全場(chǎng)的位移及應(yīng)變。為了適應(yīng)實(shí)時(shí)性的要求,本文自行研制了集實(shí)時(shí)變形測(cè)量和全場(chǎng)分析于一體的光學(xué)變形測(cè)量系統(tǒng)。

        1 數(shù)字圖像相關(guān)法基本原理

        數(shù)字圖像相關(guān)法是通過(guò)對(duì)變形前后物體表面隨機(jī)分布的灰度圖像的相關(guān)匹配關(guān)系,跟蹤圖像上各點(diǎn)的運(yùn)動(dòng),從而獲得物體表面變形信息的數(shù)字化過(guò)程[10]。實(shí)現(xiàn)的一般過(guò)程:使用CCD相機(jī)記錄物體變形前后的數(shù)字化灰度圖像,將變形前的圖像作為參考圖像,變形后的圖像作為目標(biāo)圖像,在目標(biāo)圖像上識(shí)別參考圖像中各點(diǎn)的位置,將變形測(cè)量轉(zhuǎn)換為數(shù)字化的相關(guān)計(jì)算;相關(guān)計(jì)算時(shí),首先確定一組合適的變量來(lái)表征圖像變形前后的位移及變形,通過(guò)建立一個(gè)衡量圖像相似程度的數(shù)學(xué)標(biāo)準(zhǔn),判斷參考圖像上的目標(biāo)點(diǎn)在目標(biāo)圖像上的位置,最后通過(guò)一種高效的搜索方法確定目標(biāo)點(diǎn)的位置,從而獲得目標(biāo)點(diǎn)的位移及變形參量和全場(chǎng)的變形。因此,只要獲得被測(cè)物體不同受力狀態(tài)下的數(shù)字圖像,就能應(yīng)用數(shù)字圖像相關(guān)法獲得變形信息,實(shí)現(xiàn)非接觸的光學(xué)測(cè)量。

        1.1 非均勻變形場(chǎng)事后分析的原理

        1.2 均勻變形場(chǎng)實(shí)時(shí)測(cè)量的原理

        在加載前,先選好均勻變形場(chǎng)實(shí)時(shí)測(cè)量的對(duì)象——位移或應(yīng)變。考慮到軟件的運(yùn)行速度,在測(cè)量位移時(shí),最多選擇10個(gè)點(diǎn);在測(cè)量應(yīng)變時(shí),選擇一個(gè)矩形區(qū)域的4個(gè)頂點(diǎn),如圖1所示。

        圖1 應(yīng)變實(shí)時(shí)測(cè)量的原理圖

        軟件通過(guò)比較矩形的4條邊在當(dāng)前幅圖像與參考圖像中的長(zhǎng)度變化率計(jì)算出應(yīng)變,并將水平方向和豎直方向的應(yīng)變-時(shí)間曲線在屏幕上實(shí)時(shí)繪制。水平方向的應(yīng)變值是取矩形的兩條橫邊長(zhǎng)度變化率的均值;豎直方向的應(yīng)變值是取矩形的兩條豎邊長(zhǎng)度變化率的均值。公式分別為:

        由于圖像的分辨率為1376×1035像素,若兩點(diǎn)之間的標(biāo)距設(shè)為1000像素,考慮到DIC位移測(cè)量精度可達(dá)到0.01像素,利用上述公式,可以使均勻變形場(chǎng)的應(yīng)變精度達(dá)到10微應(yīng)變。

        2 光學(xué)引伸計(jì)測(cè)試系統(tǒng)

        2.1 系統(tǒng)組成

        光學(xué)引伸計(jì)測(cè)試系統(tǒng)包括光學(xué)引伸計(jì)測(cè)試設(shè)備、加載裝置、加載裝置的控制設(shè)備和實(shí)時(shí)監(jiān)控設(shè)備,如圖2所示。光學(xué)引伸計(jì)測(cè)試設(shè)備由1376×1035像素的Baumer相機(jī)和1394接口卡組成。將待測(cè)試件豎直夾持在加載裝置上,并使用穩(wěn)定光源對(duì)試件表面進(jìn)行均勻照明。將Baumer相機(jī)放置于待測(cè)試件前,調(diào)整相機(jī),使其光軸垂直于試件表面(即相機(jī)靶面與試件表面平行)并聚焦成像。該光學(xué)引伸計(jì)測(cè)試系統(tǒng)的最高測(cè)量速度可以達(dá)到20幀/秒。

        圖2 光學(xué)引伸計(jì)測(cè)試系統(tǒng)

        2.2 實(shí)驗(yàn)前的準(zhǔn)備工作

        數(shù)字圖像相關(guān)法在單相機(jī)系統(tǒng)下只能用于測(cè)量平面物體的面內(nèi)變形。實(shí)驗(yàn)前要做好以下5項(xiàng)準(zhǔn)備工作:第一,在試件表面用激光或噴漆形成人工散斑,也可以利用試件表面的自然灰度特征,如圖3[12-15]所示,使試件表面具有隨機(jī)分布的灰度特征;第二,用砂紙打磨試件表面,使表面形成一個(gè)平面或近似一個(gè)平面;第三,對(duì)試件進(jìn)行預(yù)載,拉直其表面后再夾持,減少實(shí)驗(yàn)時(shí)由于試件表面折曲引起的離面變形,特別是比較薄的材料;第四,通過(guò)調(diào)整相機(jī)三角架,使相機(jī)靶面與試件表面平行;第五,使用均勻穩(wěn)定的光源,并注意在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中不要遮擋光源,保證測(cè)試過(guò)程中試件表面同一點(diǎn)的灰度保持不變。

        圖3 適用于數(shù)字圖像相關(guān)方法的散斑表面

        3 實(shí)驗(yàn)例證

        3.1 鋁板單向拉伸實(shí)驗(yàn)

        鋁板單向拉伸實(shí)驗(yàn)是均勻變形場(chǎng)實(shí)時(shí)測(cè)量。實(shí)驗(yàn)前對(duì)鋁板試件表面噴漆,獲得試件表面的灰度特征,以提高計(jì)算精度;裝夾試件,見圖4,并對(duì)試件進(jìn)行預(yù)載;打開實(shí)時(shí)測(cè)量軟件,通過(guò)屏幕調(diào)整相機(jī)焦距;選擇應(yīng)變作為實(shí)時(shí)測(cè)量對(duì)象,為了提高計(jì)算精度,在試件的中間位置選取距離較大的4個(gè)點(diǎn)構(gòu)成矩形,輸入相應(yīng)計(jì)算參數(shù)。在加載過(guò)程中,應(yīng)變-時(shí)間曲線自動(dòng)放大,并顯示最大應(yīng)變值、最小應(yīng)變值、當(dāng)前應(yīng)變值及當(dāng)前時(shí)間,如圖5所示。試件受軸向力作用發(fā)生均勻變形。為了比較,實(shí)驗(yàn)前在鋁板試件表面中心位置貼2片電阻應(yīng)變片,方向如圖4所示。

        圖4 鋁板的單向拉伸實(shí)驗(yàn)

        圖5 實(shí)時(shí)應(yīng)變-時(shí)間曲線

        當(dāng)被測(cè)區(qū)域離開相機(jī)視野或受到其他干擾因素時(shí),系統(tǒng)自動(dòng)停止測(cè)量,見圖6(a);當(dāng)數(shù)據(jù)的相關(guān)性比較差的時(shí)候,曲線會(huì)以紅色顯示,當(dāng)相關(guān)性過(guò)低時(shí),系統(tǒng)自動(dòng)停止測(cè)量,見圖6(b)。

        圖6 測(cè)試自動(dòng)停止界面

        鋁板試件的數(shù)字圖像相關(guān)法實(shí)驗(yàn)結(jié)果與電阻應(yīng)變片測(cè)量結(jié)果的比較見圖7。從圖7中可以看出,實(shí)驗(yàn)開始階段(即前面16個(gè)圖片序號(hào)),數(shù)字圖像相關(guān)法計(jì)算的應(yīng)變值與電阻應(yīng)變片測(cè)得的應(yīng)變值幾乎完全重合,證明了數(shù)字圖像相關(guān)法的可行性;然而從第17號(hào)圖片起,由于試件變形過(guò)大,電阻應(yīng)變片無(wú)法粘合在試件表面以至于測(cè)量失效,而數(shù)字圖像相關(guān)法還可以繼續(xù)測(cè)量。理論上,只要被測(cè)區(qū)域仍在視野范圍內(nèi)就可以通過(guò)數(shù)字圖像相關(guān)法進(jìn)行變形測(cè)量,該系統(tǒng)穩(wěn)定性高。

        圖7 數(shù)字圖像相關(guān)法計(jì)算的結(jié)果與電阻應(yīng)變片測(cè)量結(jié)果的比較

        3.2 低碳鋼的單向拉伸實(shí)驗(yàn)

        低碳鋼單向拉伸實(shí)驗(yàn)室是非均勻變形場(chǎng)實(shí)驗(yàn)。本實(shí)驗(yàn)的試件是兩邊緣有圓弧缺口的低碳鋼板狀試件,見圖8(a),對(duì)該試件進(jìn)行單向拉伸實(shí)驗(yàn)。加載過(guò)程中同步采集試件表面的灰度圖像。實(shí)驗(yàn)結(jié)束后,根據(jù)軟件的牛頓迭代法計(jì)算得到全場(chǎng)位移數(shù)據(jù),把位移場(chǎng)數(shù)據(jù)讀入,可讀出變形過(guò)程的全場(chǎng)應(yīng)變圖,如圖8(b)—圖8(f)。從圖中可以看到,最大應(yīng)變首先出現(xiàn)在低碳鋼弧形缺口處,并由邊緣向中心擴(kuò)展,直至整個(gè)截面都達(dá)到最大應(yīng)變,此時(shí)缺口處截面達(dá)到全屈服。選用統(tǒng)一的應(yīng)變標(biāo)尺會(huì)導(dǎo)致小差值的應(yīng)變圖看不出應(yīng)變分布狀況,所以本實(shí)驗(yàn)選對(duì)用各圖自配應(yīng)變標(biāo)尺。

        圖8 低碳鋼的單向拉伸實(shí)驗(yàn)

        4 結(jié)論

        與傳統(tǒng)的光學(xué)測(cè)試方法相比,數(shù)字圖像相關(guān)法具有如下優(yōu)勢(shì):(1)光路簡(jiǎn)單,無(wú)需特殊光源;(2)受外界影響小,對(duì)隔振條件要求不高;(3)測(cè)量范圍和測(cè)量精度可以根據(jù)測(cè)量的需要進(jìn)行調(diào)整;(4)數(shù)據(jù)處理自動(dòng)化程度高。與傳統(tǒng)的電阻應(yīng)變片測(cè)量方法相比,數(shù)字圖像相關(guān)法也有其優(yōu)勢(shì)。電阻應(yīng)變片法是目前常用的測(cè)量應(yīng)變的方法,具有精度高、測(cè)量結(jié)果穩(wěn)定等優(yōu)點(diǎn),但是,電測(cè)方法是接觸測(cè)量,要求被測(cè)試件有一定剛度,且只能點(diǎn)測(cè)量,不能得到全場(chǎng)信息,測(cè)量范圍有限,不能測(cè)量大應(yīng)變。數(shù)字圖像相關(guān)法則是一種非接觸全場(chǎng)測(cè)量方法,可以從整體上對(duì)物體變形規(guī)律進(jìn)行分析,可以測(cè)量大變形,不但能得到非均勻場(chǎng)的變形信息,還能在變形過(guò)程實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)測(cè)量。

        基于數(shù)字圖像相關(guān)法的光學(xué)引伸計(jì)測(cè)試系統(tǒng)不僅能在實(shí)驗(yàn)后實(shí)現(xiàn)全場(chǎng)變形測(cè)量,包括均勻場(chǎng)和非均勻場(chǎng)的全場(chǎng)變形測(cè)量,而且還能在變形過(guò)程中對(duì)試件進(jìn)行實(shí)時(shí)測(cè)量,實(shí)時(shí)顯示變形-時(shí)間曲線,是一種有效的實(shí)驗(yàn)測(cè)試系統(tǒng)。

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