蔡瑞青

（中國電子科技集團公司第58研究所，江蘇 無錫 214035）

1 引言

隨著時代的發(fā)展，技術的進步，半導體集成電路也發(fā)生了日新月異的變化，大規(guī)模、結構復雜、功能多、速度快的電路大量被開發(fā)，特別伴隨著半導體制造工藝的一次次突破，其中數字電路變化尤為明顯。這種變化在給設計者提出新的挑戰(zhàn)的同時，對電路的測試也提出了更高的要求。

2 Ultra-FLEX測試系統介紹

Ultra-FLEX是美國泰瑞達公司開發(fā)的新一代大型測試系統，主要用來對數字電路和數?；旌想娐愤M行測試。它包括多個功能模塊，如電源模塊、數字模塊、混合信號測試模塊、RF模塊、高速存儲器測試模塊、VHF測試模塊、任意波形發(fā)生模塊、音頻電路測試模塊等。根據測試對象的特性，模塊又有不同的選項可供選擇。表1、表2列出了數字電路 測試使用的電源模塊和數字模塊包含的選項。

表1 電源模塊選項及參數

表2 數字模塊選項及參數

3 測試開發(fā)流程

下面以數字電路測試開發(fā)流程為例，模擬電路測試開發(fā)流程與此類似。開發(fā)一個數字集成電路的測試程序，首先要了解該電路每個引腳的功能。一個數字集成電路的引腳有幾種：電源、地、輸入端口、輸出端口和雙向端口。其中輸入端口、輸出端口、雙向端口統稱為信號端口。然后需要了解該電路要求測試的內容，包括功能測試與參數測試。功能測試是根據具體電路確定的，它是在一定頻率下讓測試系統跑測試向量，即改變輸入電平，測量輸出電平，并判斷與期望值是否一致。參數測試包括直流參數測試和交流參數測試。直流參數主要包括輸入漏電流、輸入高低電平、輸出高低電平、靜態(tài)電流、動態(tài)電流等；交流參數主要包括輸出延時、輸出保持時間、輸入建立時間、輸入保持時間、頻率等。圖1描述了測試開發(fā)的流程。

4 Ultra-FLEX平臺上的測試程序開發(fā)

在Ultra-FLEX平臺上的測試程序開發(fā)是在測試系統自帶的專用軟件IG-XL環(huán)境下完成的。IG-XL是在Microsoft Excel基礎上開發(fā)完成的，所以工作環(huán)境與Excel比較類似。一個完整的測試程序由一系列表格構成。以下列出了經常用到的表格，具體名稱和功能描述見表3。

圖1 測試開發(fā)流程圖

5 Ultra-FLEX程序調試環(huán)境

Ultra-FLEX程序中的測試代碼是以Microsoft公司的Visual Basic為基礎開發(fā)的，除了基本語法規(guī)則與Visual Basic一致外，還有Ultra-FLEX測試系統定義的一些規(guī)則和硬件操作語法規(guī)則。調試時，可以通過設置程序斷點，停留在任意測試項的某一行代碼上，并且可以利用系統自帶的硬件調試工具，觀察并調整硬件參數。同時還提供了其他一些工具，如測試向量工具、向量控制界面、監(jiān)視窗口等，利用Visual Basic Editor可以對代碼進行查看和編輯。利用這些豐富的工具可以很輕松地調試程序，找到問題點。

表3 表格名稱與功能

6 結束語

本文對基于Ultra-FLEX測試系統的集成電路測試開發(fā)做了闡述。介紹了Ultra-FLEX測試系統的硬件資源、軟件資源、測試程序開發(fā)的流程和調試方法。隨著半導體技術和半導體集成電路的發(fā)展，基于大型測試系統的測試開發(fā)會越來越多，集成電路的測試在整個半導體產業(yè)中將占有更加重要的位置。

[1]泰瑞達公司. Ultra-FLEX User Manual[P].

[2]李旭剛. 集成電路測試系統軟件的設計及實現[J]. 電子測試，2010，9.

[3]胡敏明. 幾種典型的數字電路測試技術[J]. 硅谷，2009，7.