陳 寧
(廣州廣電計量檢測股份有限公司,廣東 廣州510656)
本文提出的Flother m軟件在分析傳熱學(xué)方面起著巨大作用,尤其適用于電子線路板熱可靠性的分析與判斷。其在電子線路板熱可靠性分析中的應(yīng)用,關(guān)鍵在于如何構(gòu)建合理、有效的Flot her m模型,以期在確保精確度的同時,符合計算機(jī)內(nèi)存的容量需求[1]。以PCB線路板為例,使用Flother m軟件進(jìn)行熱可靠性分析,可通過獲取熱分析結(jié)果,精確計算電子設(shè)備中各個元器件作業(yè)的溫度,再與允許的工作溫度進(jìn)行對比,據(jù)此判斷其是否處于超高溫的運行狀態(tài)。但電子線路板中導(dǎo)線與元器件的布局非常復(fù)雜,若想獲得精確的建模并不是簡單的事,那么就需要對各個元器件進(jìn)行一定簡化,進(jìn)而保障構(gòu)建正確的計算模型。
本文分析的電子線路板中,由9個 MOS管及6塊集成電路塊構(gòu)成主要發(fā)熱器,當(dāng)元器件處于工作狀態(tài)時,大部分的損耗功率就會轉(zhuǎn)變?yōu)闊崃浚敲丛诮_^程中就必須充分考慮元器件的簡化問題;對于作為導(dǎo)線敷設(shè)的銅箔來說,其布置到PCB基板中,在設(shè)計時既可發(fā)揮導(dǎo)電的作用,也可傳導(dǎo)部分熱量,且熱導(dǎo)率與傳熱面積相對較大。
PCB基板是電子電路不可缺少的組成部分,它既提供元器件之間的電氣連接,又是元器件的支撐板。PCB板主要包括作為導(dǎo)線涂敷的銅箔、環(huán)氧樹脂基板等,其中銅箔的厚度約為0.1 mm,環(huán)氧樹脂基板的厚度約為4 mm。為了證明使用銅箔會對PCB板傳熱造成影響,利用Flot her m軟件進(jìn)行模擬實驗。在PCB的環(huán)氧樹脂基板中放置2個恒定溫度狀態(tài)下的銅塊,其中左邊銅塊的溫度約80℃,右邊銅塊的溫度約20℃,同時在PCB板的底部位置設(shè)計20℃的恒溫,以此作為傳導(dǎo)的邊界[23]。對比添加銅箔和未添加銅箔的情況,發(fā)現(xiàn)盡管所加的銅箔很薄很細(xì),卻對熱量有強烈的引導(dǎo)作用,那么在建模過程中這一要素不可忽略。
MOS管器件主要包括硅片、底部銅合金散熱片、環(huán)氧樹脂殼體等,其熱導(dǎo)率分別為117.5 W/(m·℃)、301.5 W/(m·℃)及0.82 W/(m·℃)。在MOS管內(nèi)部,硅片是非常重要的發(fā)熱部分,其功率約1 W;對MOS管進(jìn)行建模,主要應(yīng)考慮如下問題:(1)初級精度的仿真建模。假設(shè) MOS管為一個簡單的實心體,結(jié)合其實際情況設(shè)置物理參數(shù)。(2)結(jié)合MOS管的內(nèi)部結(jié)構(gòu),構(gòu)建Flot her m軟件模型;當(dāng)處于室溫(20℃)及高溫(60℃)的自然對流條件下,需要對MOS管的熱分布狀態(tài)進(jìn)行分別計算。實驗結(jié)果表明,無論處于室溫(20℃)環(huán)境還是高溫(60℃)環(huán)境,通過模型計算的結(jié)果基本一致;雖然 MOS管的內(nèi)部結(jié)構(gòu)非常復(fù)雜,但是內(nèi)部與外表面的溫度差異極小[4];結(jié)合熱傳導(dǎo)效應(yīng)分析,由于MOS管的體積相對較小,同時其主要材料具備良好的傳熱性能,因此從元器件的內(nèi)部直到表面的熱阻較低,溫差也相對較小。那么在實際構(gòu)建模型過程中,可以直接將MOS管假設(shè)為簡單的實心體,只要與實際物體有相同的生熱率、輻射和對流散熱面積,就可以得到與詳細(xì)模型相同的模擬結(jié)果。
為了驗證這一猜想過程的合理性,也可進(jìn)行一次實驗:在同一塊PCB板中放置2塊MOS管模型,一邊按照實際結(jié)構(gòu)構(gòu)建了復(fù)雜的空心模型,另一邊按照同樣的外形簡化了實心體結(jié)構(gòu);在2個MOS塊上同樣施加0.4 W的發(fā)熱功率,比較2種不同建模方法的效果。結(jié)果表明,2種模型獲得的效果基本一致[5]。
首先,按照集成電路塊的實際結(jié)構(gòu)進(jìn)行建模,將相對較小的發(fā)熱硅體圍繞在氧化鋁陶瓷的外殼中,該陶瓷的導(dǎo)熱系數(shù)是21。通過引腳與底板連接整個元件,引腳的厚度約0.1 mm。為了能夠?qū)⒛P秃喕?,遵循“同熱?dǎo)率”的原則,將原本分立的引腳合并。實驗表明,盡管對集成電路塊的結(jié)構(gòu)進(jìn)行了精確的建模,但是元器件內(nèi)部與表面的溫差相對較小。因此,采用與前面MOS管相同的分析方法,可以證明集成電路塊的建模也可以用簡單的方塊來代替[6]。
以上分析證明:在PCB電路板中,MOS管與集成電路塊都可通過簡化的方式建模,不會對最終結(jié)果造成影響。
完成對電子線路板中與熱分析相關(guān)的元器件簡化建模之后,需要將各部分的簡化模型組合起來,構(gòu)建一個完整的PCB線路板Flother m模型,并對其結(jié)果進(jìn)行計算與分析:首先,在室溫條件下進(jìn)行模擬。以各電子元器件的損耗功率作為熱分析的生熱率載荷,PCB線路板表面施加20℃的空氣自然對流,作為輻射邊界的環(huán)境溫度為室溫(20℃),計算熱分布狀況[7]。
結(jié)合實際工作應(yīng)用來看,可以利用紅外熱像儀設(shè)備測量電子線路板在常溫下的工作溫度,將測試點位置的計算值和實際測量數(shù)值進(jìn)行比較。由于在該模型中進(jìn)行了一系列的簡化處理,因此計算值的誤差可以控制在一定范圍內(nèi)。從表1來看,利用Flot her m軟件計算溫度分布狀況,與實測值的結(jié)果基本相符,可見簡化建模的方法方便、可行。
前面的實驗是在室溫環(huán)境下進(jìn)行的,但是在實際工作中PCB電路板所處環(huán)境可能有差別,因此就不能用以上的實驗方法測量溫度場分布狀況。那么根據(jù)簡化建模的思想,也可利用軟件來模擬電子線路板在真空環(huán)境中的溫度場分布。例如,將散熱片安裝到PCB線路板的頂端,此時PCB基板和散熱片底板連接,同時接入了60℃的冷卻空調(diào)。在模型計算中,分別在基板與散熱片的底部設(shè)置傳熱邊界條件。根據(jù)最終的結(jié)果來看,在冷卻空調(diào)正常工作的條件下,器件最高溫度僅略高于空調(diào)溫度,滿足安全工作范圍[8];相反,如果模擬冷卻空調(diào)失效的狀態(tài),僅依靠輻射方式來散熱,那么MOS管的最高溫度將超過安全工作范圍。
表1 溫度計算值和測量值的比較分析
在對PCB電子線路板作熱可靠性分析時,在建模方面可以進(jìn)行很大簡化,這樣更利于建模操作。針對需要簡化的發(fā)熱元器件,由于從內(nèi)部直到外部表面的熱阻相對較小,將原本結(jié)構(gòu)復(fù)雜的電子元件作為簡單模塊來處理,使用Flother m軟件對PCB電子線路板進(jìn)行熱分析,可降低計算機(jī)對內(nèi)存的要求,同時提高了計算效率和精確度。實驗結(jié)果表明,該方法有良好的科學(xué)性、合理性、可操作性,并且便于使用,能夠很好地完成對復(fù)雜電子線路板的熱可靠性分析工作,具有廣泛的應(yīng)用空間及應(yīng)用價值。
[1]曹柏榮,郁海華.基于VB的電子線路板自動測試系統(tǒng)設(shè)計[J].自動化儀表,2007(11)
[2]謝啟,高琴妹,顧啟民.基于Lab VIEW的電子線路板測試系統(tǒng)的實現(xiàn)[J].機(jī)床與液壓,2006(1)
[3]梁定民.超聲/化學(xué)綜合處理線路板有機(jī)廢水的研究與應(yīng)用[D].長沙:中南大學(xué),2011
[4]莊表中,何姍.強沖擊情況下的電子線路板抗沖擊技術(shù)[J].振動與沖擊,2006(1)
[5]李玉文,孫偉光,邢佳.廢棄電子線路板回收處理技術(shù)研究進(jìn)展[J].環(huán)境科學(xué)與管理,2008(8)
[6]白永平,張泓喆.電子線路板用離型膜的研制[A].2007春季國際PCB技術(shù)/信息論壇論文集[C],2007
[7]段曉健,王前波,張謙,等.電子線路板電阻在線測試儀的研究[J].?dāng)?shù)字技術(shù)與應(yīng)用,2011(6)
[8]潘君齊,劉志峰,張洪潮.超臨界流體廢棄線路板回收工藝[J].合肥工業(yè)大學(xué)學(xué)報:自然科學(xué)版,2007(10)