理學(xué)公司推出用于XRD的一維探測(cè)器
2013-01-27 02:08:07
中國(guó)設(shè)備工程 2013年7期
近日，理學(xué)公司推出了新型D/teXUltra250硅探測(cè)器。與同類產(chǎn)品相比，它可將數(shù)據(jù)采集時(shí)間降低將近50%。節(jié)省時(shí)間的實(shí)現(xiàn)主要是通過增加孔徑的有效面積、增加檢測(cè)器的角度覆蓋范圍來實(shí)現(xiàn)的。該探測(cè)器還擁有非常好的能量分辨率，可以很好地抑制X射線熒光。
D/teXUltra250一維探測(cè)器主要特點(diǎn)是減少儀器的X射線衍射(XRD)數(shù)據(jù)采集時(shí)間，提高儀器效率，還可用于理學(xué)的Smartlab系列衍射儀。
與上一代探測(cè)器相比，D/teX Ultra250擁有多處改進(jìn)，包括像素間距(0.075~0.10mm)更小、分辨率更高、速度更快、計(jì)數(shù)率提高和角度覆蓋范圍增大，其獨(dú)特的XRF抑制結(jié)構(gòu)使得能量分辨率更高。
(摘編自儀器信息網(wǎng))
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