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        鉬合金表面MoSi2涂層的制備工藝和形成機(jī)理

        2012-11-29 10:34:02李鵬飛范景蓮成會(huì)朝田家敏成創(chuàng)功
        關(guān)鍵詞:硅粉磨時(shí)間粉料

        李鵬飛,范景蓮,成會(huì)朝,田家敏,成創(chuàng)功

        (中南大學(xué) 粉末冶金國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,湖南 長(zhǎng)沙,410083)

        鉬及鉬合金具有低的熱膨脹系數(shù)、較高的硬度和高溫強(qiáng)度,廣泛應(yīng)用于電工電子、儀器儀表、國(guó)防軍工和航空航天等領(lǐng)域[1?3]。但鉬及鉬合金在空氣中400℃以上便開始形成氧化物,造成性能的下降;高于750℃時(shí)氧化物揮發(fā),并隨著溫度升高,氧化加劇,形成白色煙霧狀 MoO3,使得鉬及鉬合金在高溫領(lǐng)域的應(yīng)用受到限制[4?5]。目前國(guó)內(nèi)外學(xué)者主要是采用硅化物涂層、鋁化物涂層和硼化物涂層等涂層體系[6?8],使得鉬及鉬合金具備抗氧化性能。美國(guó)和日本等系統(tǒng)地研究了MoSi2的氧化行為,發(fā)現(xiàn)MoSi2涂層較其他類型涂層在1 000~1 500 ℃具有更好的高溫抗氧化性能[9?11],是航空航天和核工業(yè)等高科技領(lǐng)域苛刻環(huán)境下服役零部件的重要涂層材料之一。硅化物涂層可以通過包埋滲硅、料漿熔燒和化學(xué)氣相沉積等方法制備,其中包埋滲硅法較其他方法具有工藝簡(jiǎn)單,對(duì)設(shè)備要求低,不受樣品形狀限制等優(yōu)點(diǎn)[11?12]。目前國(guó)內(nèi)外沒有對(duì)包埋滲硅法中粉料成分和粒度等因素對(duì)制備MoSi2涂層影響的相關(guān)報(bào)道。因此,本文作者在氫氣氣氛中,采用包埋滲硅法在鉬合金表面制備MoSi2涂層,研究粉料成分、粒度和反應(yīng)時(shí)間等因素對(duì)涂層厚度的影響,并通過熱力學(xué)計(jì)算和動(dòng)力學(xué)分析研究MoSi2涂層的形成機(jī)理。

        1 實(shí)驗(yàn)方法

        采用粉末冶金方法制備出長(zhǎng)×寬×高為38 mm×5 mm×5 mm的鉬合金樣品。首先利用砂紙對(duì)樣品打磨拋光,然后酒精清洗干凈烘干后用精密電子天平對(duì)樣品稱重,制備出涂層基體。將粉料按一定的比例均勻混合,裝入干凈的剛玉坩堝,并將鉬合金基體埋入粉料;最后把坩堝密封,置于1 200 ℃下的氫氣氣氛鉬絲爐中進(jìn)行包埋滲硅。

        采用捷克NOVA TM NanoSEM230超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡對(duì)涂層厚度進(jìn)行分析,利用背散射電子成像和線掃描分析涂層中的相分布和成分變化;采用日產(chǎn)JEOL公司的JSM?5600LV型掃描電鏡對(duì)涂層的表面形貌和顯微組織進(jìn)行檢測(cè)分析,并利用 EDX對(duì)涂層進(jìn)行成分分析;采用日產(chǎn)3014?2Z型X線衍射儀對(duì)樣品表面進(jìn)行物相分析。

        2 結(jié)果與討論

        2.1 粉料成分對(duì)涂層厚度的影響

        2.1.1 硅粉含量對(duì)涂層厚度的影響

        表1所示為不同成分粉料包埋滲硅15 h后制備出涂層厚度的數(shù)據(jù)。1號(hào)和 2號(hào)粉料比較,添加少量NH4Cl后,涂層厚度有較大幅度增長(zhǎng),說明NH4Cl能起到好的活化作用,促進(jìn)了涂層的形成;隨著硅粉和NH4Cl含量的增加,涂層厚度先增加后降低,說明活化劑和硅粉的量存在最優(yōu)值;當(dāng)粉料中只有硅粉時(shí),涂層較薄。圖1所示為不同成分粉料制備出涂層截面的BSE圖。涂層分為2層,外層厚度隨著粉料的變化而變化,內(nèi)層厚度基本不變;硅粉含量為60%時(shí),涂層較為致密,涂層中基本沒有孔洞和裂紋等缺陷,并且厚度達(dá)到116 μm。

        表1 不同成分粉料制備出涂層的厚度Table 1 Thickness of coating prepared by different contents of powders

        圖1 不同成分粉料制備出涂層截面的BSE圖Fig.1 Cross-sectional BSE image of coating prepared by different powders

        2.1.2 催化劑含量對(duì)涂層厚度的影響

        表2所示為質(zhì)量分?jǐn)?shù)為60%Si粉和不同催化劑含量粉料經(jīng)過15 h高溫滲硅后涂層厚度的數(shù)據(jù)表。隨著NH4Cl活化劑含量的降低,涂層厚度緩慢增加;活化劑添加量為10%時(shí)涂層厚度達(dá)到130 μm,說明活化劑含量為10%時(shí),能夠滿足粉料中活化作用的需要。

        表2 不同催化劑含量粉料制備出涂層的厚度Table 2 Thickness of coatings prepared by different contents of catalyst

        2.2 硅粉粒度對(duì)涂層厚度的影響

        采用高能球磨對(duì)硅粉進(jìn)行細(xì)化,制備出不同粒度的硅粉,研究硅粉粒度對(duì)涂層厚度的影響。分別對(duì)原始硅粉球磨15 h和30 h,然后采用7號(hào)粉料的比例,制備出均勻的粉料;在相同條件下包埋滲硅15 h后制備出涂層。圖2所示為經(jīng)不同球磨時(shí)間后硅粉的SEM圖。原始粉末粒徑在7~8 μm,有較少細(xì)顆粒粉末;經(jīng)過15 h球磨后,粒徑在5~6 μm,細(xì)顆粒粉末增多;經(jīng)過30 h球磨后,粒徑在3~4 μm,細(xì)顆粒粉末更多,并且粉末粒度趨于一致。圖3所示為不同粒度硅粉粉料制備涂層截面的BSE圖。隨著球磨時(shí)間延長(zhǎng),硅粉粒度變小,制備的涂層厚度增加;并且涂層均勻致密,基本沒有裂紋和空洞等缺陷。

        2.3 涂層形成機(jī)理

        2.3.1 MoSi2涂層形成的熱力學(xué)分析

        包埋滲硅過程中可能發(fā)生如下反應(yīng):

        圖4所示為式(2)~(10)的反應(yīng)吉布斯自由能隨溫度變化的關(guān)系圖。根據(jù)熱力學(xué)數(shù)據(jù)[13]計(jì)算,反應(yīng)(2)和(10)在恒溫恒壓的情況下不可能發(fā)生。MoSi2和Mo基體發(fā)生反應(yīng)可能生成 Mo5Si3和 Mo3Si相,而生成Mo5Si3相的吉布斯自由能較小,說明其較Mo3Si相更穩(wěn)定;Mo5Si3相和基體生成Mo3Si反應(yīng)吉布斯自由能大于0,使得反應(yīng)不可能在時(shí)恒溫恒壓的條件下進(jìn)行。

        圖2 不同球磨時(shí)間硅粉的SEM圖Fig.2 SEM images of silicon powder after different milled time

        圖3 不同粒度硅粉粉料涂層截面的BSE圖Fig.3 Cross-sectional BSE images of coating prepared by different particle sizes of silicon

        圖4 式(2)~(10)的反應(yīng)吉布斯自由能隨溫度變化的關(guān)系圖Fig.4 Changing curves of ΔG in equations (2)?(10)at different temperatures

        2.3.2 涂層形成的動(dòng)力學(xué)分析

        圖5所示為不同球磨時(shí)間硅粉制備的涂層厚度與反應(yīng)時(shí)間關(guān)系圖。在1 200 ℃包埋滲硅過程中,MoSi2涂層的增長(zhǎng)速度和活化反應(yīng)時(shí)間接近拋物線型,證明其涂層的形成受反應(yīng)擴(kuò)散過程控制[14]。涂層厚度和反應(yīng)時(shí)間的關(guān)系式用下式表示:

        圖5 不同球磨時(shí)間制備的涂層厚度與反應(yīng)時(shí)間關(guān)系圖Fig.5 A linear regression fit to respective plots of coatings thickness versus deposition time

        式中:Y為涂層的厚度,μm;K為涂層增長(zhǎng)的速率常數(shù),μm2/s;t為時(shí)間,s。涂層厚度和反應(yīng)時(shí)間的關(guān)系和式(11)符合得較好,并且1 200 ℃時(shí)30 h,15 h和0 h球磨硅粉制備MoSi2涂層的增長(zhǎng)速率常數(shù)分別為4.0×10?13,3.0×10?13和 2.0×10?13m2/s,與文獻(xiàn)報(bào)道中的速率常數(shù)接近[14]。硅粉經(jīng)過球磨后其粒度變小,表面活性增強(qiáng),與鹵化物在高溫下更容易反應(yīng),從而易于使得密封容器中能夠產(chǎn)生更高濃度的硅鹵化物。根據(jù)1 200 ℃時(shí)MoSi2形成的吉布斯自由能計(jì)算出硅的活度范圍在 0.007 49~1[15],MoSi2涂層表面硅濃度的變化對(duì)硅活度有較大的改變,使得不同球磨時(shí)間硅粉對(duì)涂層增長(zhǎng)速率常數(shù)有較大的影響。

        2.3.3 涂層的形成機(jī)理

        圖6所示為滲硅15 h(30 h球磨硅粉)涂層表面的SEM,EDS和XRD圖。表面有較多的白色區(qū)域,EDS分析其含Mo,Al,O和Si元素,其中Al元素含量較高;暗色區(qū)域EDS能譜顯示:其Al和O含量較白色區(qū)域降低,Mo和Si元素含量增加。包埋法的粉料由Si粉、Al2O3粉和催化劑組成,涂層在高溫形成的過程 中,Al2O3粉容易黏附在涂層的表面,所以EDS分析中出現(xiàn)了較強(qiáng)Al和O峰。結(jié)合XRD分析,MoSi2峰值很強(qiáng),Al2.4Si0.6O4.8峰值較低,證明形成了MoSi2層。

        包埋滲硅過程中,首先活性劑發(fā)生分解生成HCl,而HCl能夠與硅粉發(fā)生反應(yīng)生成氣態(tài)硅的鹵化物,如反應(yīng)(1)和(3)~(5)。硅的鹵化物可以與鉬基體發(fā)生反應(yīng)生成MoSi2層;當(dāng)MoSi2層達(dá)到一定厚度時(shí)硅的鹵化物不能直接和鉬反應(yīng)生成MoSi2,只能通過擴(kuò)散Si原子與鉬基體逐漸反應(yīng);通過熱力學(xué)計(jì)算發(fā)現(xiàn),鉬基體容易和MoSi2層發(fā)生反應(yīng)形成過渡區(qū)域,當(dāng)硅原子擴(kuò)散至過渡區(qū)域時(shí),形成MoSi2相,而過渡區(qū)域也隨即向鉬基體擴(kuò)展,這和不同時(shí)間涂層截面的 BSE圖一致。

        圖7所示為球磨30 h硅粉包埋滲硅15 h后涂層截面的BSE,EDS和線掃描圖。涂層明顯分為2層,結(jié)合圖6中的XRD分析可知:外層為MoSi2層,內(nèi)層為過渡區(qū)域,其中硅和鉬原子比穩(wěn)定在3:5左右,說明其是Mo5Si3相。結(jié)合EDS分析,在涂層中沒有Al出現(xiàn),說明 Al2O3只是黏附在涂層的表面。涂層中沒有發(fā)現(xiàn)Mo3Si相,主要是由于Mo5Si3相較Mo3Si相更加穩(wěn)定,并且Mo5Si3和鉬基體恒溫恒壓包埋滲硅下不可能形成Mo3Si相,這也和反應(yīng)吉布斯自由能計(jì)算的結(jié)果一致。

        圖6 涂層表面的SEM,EDS和XRD圖Fig.6 SEM,EDS and XRD image of coating surface

        圖7 球磨30 h硅粉涂層截面的BSE、EDS和線掃描圖Fig.7 Cross-sectional element line scanning,BSE image and EDS of coating

        3 結(jié)論

        (1)隨著包埋滲硅粉料中硅粉和催化劑粉末含量的增加,涂層的厚度呈現(xiàn)先增加后降低趨勢(shì);在硅粉含量為60%時(shí),涂層厚度達(dá)到110 μm;催化劑含量為10%時(shí),涂層厚度增加至130 μm。

        (2)隨著硅粉球磨時(shí)間的增加,粉末表面活性增大,使得密封容器中能夠產(chǎn)生更高濃度的硅鹵化物,促進(jìn)涂層的增長(zhǎng);1 200 ℃包埋滲硅15 h時(shí)能夠制備160 μm左右的涂層。

        (3)根據(jù)熱力學(xué)和動(dòng)力學(xué)計(jì)算,涂層的增長(zhǎng)受反應(yīng)擴(kuò)散過程控制;并且涂層分為2層,外層為MoSi2層,內(nèi)層為Mo5Si3過渡層。

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