陳黎明
(上海市計量測試技術(shù)研究院,上海 201203)
隨著半導(dǎo)體技術(shù)的迅速發(fā)展,對超凈高純試劑的要求越來越高,在集成電路和超大規(guī)模集成電路生產(chǎn)過程中,超凈高純試劑主要用于芯片及硅圓片表面的清洗,其質(zhì)量對集成電路的成品率、電性能及可靠性都有著十分重要的影響[1]。硝酸廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè),半導(dǎo)體標(biāo)準(zhǔn)SEMIC 35-0301中規(guī)定了不同等級硝酸中各雜質(zhì)的限量。
電感耦合等離子體質(zhì)譜法(ICP-MS)具有快速、同時測定各類工藝中化學(xué)品的超痕量組分能力,被普遍應(yīng)用于痕量元素的分析[2-10]。目前普遍采用四級桿ICP-MS儀,其分辨率低,會產(chǎn)生氧化物、多分子離子等對待測物的干擾問題。例如40ArO對56Fe以及38ArH對39K的干擾等。雖然冷等離子體已被證明可有效減少Ar的干擾,但它比熱等離子體更容易受到基體抑制[11]。此外,由于冷等離子體的等離子體能量更低,使其更易形成在熱等離子體中不存在的多原子干擾。
采用高分辨電感耦合等離子質(zhì)譜儀檢測半導(dǎo)體級高純硝酸中雜質(zhì)元素。通過調(diào)節(jié)各元素的分辨率,
可以有效地避免各類型的干擾問題,不僅靈敏度高,而且檢出限低,可以實現(xiàn)對半導(dǎo)體級硝酸中超痕量雜質(zhì)的分析。并且采用膜去溶進樣系統(tǒng),高純硝酸直接進樣,用標(biāo)準(zhǔn)加入法進行雜質(zhì)含量的檢測,使得高純硝酸樣品的分析無需富集處理,從而減少環(huán)境對樣品的沾污,提高了分析方法的可靠性和準(zhǔn)確性。
Element 2高分辨電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(美國熱電公司);AridusⅡ膜去溶進樣系統(tǒng);MILLI-Q Element純水(美國Millipore公司);高純硝酸(Tamapure-AA 10,TAMA Chemicals,日本);標(biāo)準(zhǔn)溶液10mg/L(SPEX公司,美國)。
把高純硝酸存入預(yù)洗凈的PFA瓶,為減少污染,不添加內(nèi)標(biāo),而采用標(biāo)準(zhǔn)加入法進行定量分析。
對高分辨電感耦合等離子體質(zhì)譜儀和膜去溶進樣系統(tǒng)進行各項參數(shù)的優(yōu)化調(diào)試,如表1和表2所示。
表1 高分辨電感耦合等離子質(zhì)譜儀工作參數(shù)
表2 膜去溶進樣系統(tǒng)工作條件
用四級桿質(zhì)譜儀進行雜質(zhì)元素檢測,其中大部分元素可以在標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)(STD)下測定,但少數(shù)元素因為存在多原子離子干擾等不宜在STD下測定,如Fe,Ca,Mg,K,Na,As 等,需要在冷等離子體狀態(tài)(PS)、碰撞池技術(shù)(CCT)等模式下進行檢測,而采用這些檢測模式會影響待測元素的靈敏度與檢出限。采用高分辨電感耦合等離子法,不但靈敏度高,1μg/L的銦靈敏度可達(dá)1×106cps以上,而且分辨率高,通過調(diào)節(jié)分辨率,可以使待測元素與多原子離子干擾分離。圖1為Fe在中分辨條件下的質(zhì)譜圖,可知Fe元素與干擾ArO可以完全分離。圖2為K元素在高分辨下的質(zhì)譜圖,可以看出K與干擾ArH可以實現(xiàn)完全分離。
圖1 鐵在中分辨條件下的質(zhì)譜圖
圖2 鉀在高分辨條件下的質(zhì)譜圖
在優(yōu)化的儀器條件下,采用標(biāo)準(zhǔn)加入法對高純硝酸溶液進行檢測,并計算出檢出限(LOD)與背景相當(dāng)濃度(BEC),其計算公式為
式中:STD——空白強度的標(biāo)準(zhǔn)偏差;
Cstd——標(biāo)準(zhǔn)溶液的濃度;
Ⅰstd——標(biāo)準(zhǔn)溶液的強度;
Ⅰb——空白的強度。
由計算公式可以看出檢出限主要與空白的穩(wěn)定性有關(guān),背景相當(dāng)濃度主要與空白中雜質(zhì)元素的濃度有關(guān)。經(jīng)計算得方法檢出限為0.69~23.79 ng/L。把SPEX的多元素混合標(biāo)準(zhǔn)溶液分別稀釋至100和10ng/mL 待用,然后配制成 0.1,0.2,0.5,1.0、2.0ng/mL的高純硝酸作為基體的標(biāo)準(zhǔn)溶液,在優(yōu)化的儀器條件下進行測試。方法檢出限與線性相關(guān)系數(shù)見表3。
在高純硝酸中加入標(biāo)準(zhǔn)溶液,配成溶液中含有0.1,0.5,2.0 ng/mL雜質(zhì)元素濃度的溶液,在優(yōu)化的實驗儀器條件下進行測定,如表4所示,回收率為88.2%~106.0%,結(jié)果符合SEMI公認(rèn)的方法必須滿足添加物的回收率在75%~125%之間的條件。對所配制的標(biāo)準(zhǔn)溶液在實驗儀器條件下進行連續(xù)測定11次,準(zhǔn)確度為0.9%~4.9%。
表3 方法檢出限與線性相關(guān)系數(shù)
表4 方法回收率與精密度實驗
采用膜去溶進樣系統(tǒng)對高純硝酸樣品進行直接進樣檢測,省去了冗長的樣品富集過程,大大降低了樣品沾污的可能性,同時降低了分析成本。方法中的各雜質(zhì)元素檢出限為0.69~23.79 ng/L,回收率為88.2%~106.0%,符合SEMI標(biāo)準(zhǔn),且穩(wěn)定性較好。該方法簡單,結(jié)果可靠,適用于高純硝酸中痕量元素的快速測定。
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