孫曉君
(北京空間科技信息研究所 北京 100086)
對于電子產(chǎn)品可靠性的分析大體分為4個步驟:第一步為調(diào)研,主要針對電子產(chǎn)品可靠性問題的嚴重性、環(huán)境應(yīng)力及失效機理的影響,可靠性總體工作內(nèi)容等進行;第二步為試驗,主要是對電子產(chǎn)品進行壽命試驗及環(huán)境試驗,定量地得出電子元器件或整機的可靠性水平,同時制定出各種環(huán)境試驗方法的標準;第三步為可靠性物理研究階段,主要是對可靠性問題的本質(zhì) (故障或失效模式及其機理進行分析研究,并探討和提出各種加速度試驗的方法;第四步為可靠性保證,即在了解可靠性現(xiàn)象和本質(zhì)的基礎(chǔ)上,從產(chǎn)品的研制開始到使用的各個階段加強可靠性管理和保證、評價、認證及控制,建立可靠性數(shù)據(jù)收集、交換體系和數(shù)據(jù)中心。由此結(jié)合到一個具體的電子產(chǎn)品案例系統(tǒng),可以相應(yīng)的將整個可靠性分析過程分為4個階段[1]:
1)對產(chǎn)品使用條件、試用期內(nèi)產(chǎn)生的失效現(xiàn)象及其影響的匯總和問題的初步分析;
2)根據(jù)失效現(xiàn)象審視設(shè)計,對可能存在的明顯問題進行改進,后采用試驗手段進一步實現(xiàn)失效定位,得到產(chǎn)品的高風(fēng)險環(huán)節(jié)及相應(yīng)的改進措施;
3)針對產(chǎn)品中存在的高風(fēng)險器件/部件的常見失效模式、失效機理、失效模型進行匯總,并采用模型預(yù)計的方式求出壽命,并分析是否合理;
4)將前期所有分析得到的高風(fēng)險環(huán)節(jié)、失效模式進行匯總,在制造過程中加以控制,并建立故障數(shù)據(jù)庫,以保障可靠性的管理和控制。
由此可見,高風(fēng)險環(huán)節(jié)的識別在整個產(chǎn)品的可靠性分析、評價過程中處于極為關(guān)鍵的地位,現(xiàn)階段人們一般采用FMEA等分析評估方法和手段,希望能準確的識別,以對某一高風(fēng)險環(huán)節(jié)有針對性的進行分析和改良,最終實現(xiàn)產(chǎn)品可靠性的提高。然而由于這些方法多是對失效模式和影響的分析,并沒有考慮產(chǎn)品在實際使用環(huán)境和應(yīng)力環(huán)境下可能的失效形式的出現(xiàn)概率[2],同時失效的影響在不同產(chǎn)品中的描述亦有不同,這樣,對于積累的失效模式、失效機理等的經(jīng)驗和理論利用率并不高。如何解決和提高就成了當(dāng)務(wù)之急。
筆者將從產(chǎn)品涉及的使用條件、失效特征、測試標準、設(shè)計需求、所處環(huán)節(jié)、帶來的影響后果等因素的關(guān)系出發(fā),得到“元器件-失效模式-失效機理-影響因素”這一分析路徑,并針對一個電子產(chǎn)品案例,通過簡要分析失效模式和失效機理,確定其高風(fēng)險環(huán)節(jié),最后利用相關(guān)標準中的失效模型進行可靠性分析,完成利用這一關(guān)聯(lián)形式分析的全過程。
每個電子產(chǎn)品的基礎(chǔ)都是元器件和連接件,產(chǎn)品的可靠性必然與這些元器件/連接件密切相關(guān),一個薄弱的環(huán)節(jié)將可能導(dǎo)致整個產(chǎn)品的失效,故要保障整個產(chǎn)品的可靠性。必須對每個元器件,特別是高風(fēng)險關(guān)鍵元器件進行分析,保障它們的可靠性。一般來說,元器件的可靠性評價與多種因素相關(guān),如:使用條件、失效特征、測試標準、設(shè)計需求、所處環(huán)節(jié)、帶來的影響后果等,這些因素之間存在的關(guān)系如圖1所示。
圖1 元器件各因素之間的聯(lián)系Fig.1 Relation between the factors of component
注:圖1中所示的關(guān)系簡述如下:
1)元器件-失效模式-根因:不同元器件可能的失效模式及造成的根本原因;
2)元器件-失效模式-失效機理-影響因素:不同元器件可能的失效模式、機理及其影響因素;
3)失效模式-試驗測試-工業(yè)標準:用于測試不同失效模式的試驗與標準;
4)失效機理-試驗測試-工業(yè)標準:用于測試不同失效機理的試驗與標準;
5)試驗測試-工業(yè)標準:不同類型試驗測試的目前已有的工業(yè)標準;
6)元器件-結(jié)構(gòu)與部位-設(shè)計準則:不同元器件在不同部位的相應(yīng)設(shè)計準則;
7)失效模式-后果:不同失效模式造成的后果。
對于一個電子產(chǎn)品進行可靠性評價,其關(guān)鍵在于確定產(chǎn)品的高風(fēng)險易失效環(huán)節(jié)。而每個元器件及連接件都有自身常見的失效模式與失效機理,并且隨著產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)、加工、制造、使用環(huán)境的不同,失效形式也會隨之變化。所以,可以利用“元器件-失效模式-失效機理-影響因素”這樣一個關(guān)聯(lián)形式,首先,通過分析在產(chǎn)品設(shè)計、生產(chǎn)過程中,產(chǎn)品各組成單元潛在的各種故障模式、故障機理及其對產(chǎn)品功能、性能和長期退化的影響,明確產(chǎn)品的高風(fēng)險環(huán)節(jié)有哪些;其次,判斷在產(chǎn)品實際使用條件下,各種失效機理被激發(fā)的可能性,即:對元器件的結(jié)構(gòu)、材料、工序和工藝等的失效模式、機理、影響、嚴重程度與發(fā)生的概率進行評估,以概率最高環(huán)節(jié)作為整個產(chǎn)品的最高風(fēng)險環(huán)節(jié);最后配以試驗、標準或理論進行可靠性分析。接下來,本文將以一個分析案例驗證這一分析方法。
本案例分析的產(chǎn)品對象是一種用于高可靠性環(huán)境實時監(jiān)測的傳感器網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng),分為采集和接收兩部分,其主要工作方式為:采集部分實時對周圍環(huán)境的狀態(tài)進行監(jiān)控,并采用無線數(shù)字傳輸技術(shù),將測量的溫度、濕度數(shù)據(jù)發(fā)送到中心監(jiān)控主機(接收部分),并將歷史數(shù)據(jù)保存至主機[3]。
在本系統(tǒng)中,就整個信號傳輸過程而言,將系統(tǒng)分為以下主要的基本環(huán)節(jié):電源、傳感器、運算放大器、具有無線傳輸功能的nRF芯片(采集、接受各一個)、PC電腦。系統(tǒng)結(jié)構(gòu)如圖2所示。
圖2 系統(tǒng)基本構(gòu)成Fig.2 Basic elements of system
案例中影響最終輸出結(jié)果的器件主要是:傳感器、運算放大器、無線芯片、焊點、PCB鍍通孔幾部分,器件類型極其功能如表1[3]所示。
表1 案例使用器件類型和功能Tab.1 Type and function
以案例中的幾種器件類型的失效模式、失效機理及影響因素進行分析匯總[4-6](形式如表2[10-11]所示),若使各器件發(fā)生失效的影響因素包括:電應(yīng)力(高電流密度、高電壓作用)、熱應(yīng)力(熱循環(huán)、高溫條件)、潮濕環(huán)境、機械應(yīng)力(振動、沖擊)等。
分析本研究產(chǎn)品的使用環(huán)境可知,該產(chǎn)品所處環(huán)境并不惡劣,一般正常使用放置條件下無振動、沖擊等強烈機械應(yīng)力作用;同時也不存在于高溫條件(處于商用溫度范圍-40~85℃);且使用電源為普通5 V商用穩(wěn)壓電源[3],電路無明顯出現(xiàn)應(yīng)力集中的設(shè)計,故不易出現(xiàn)高電流密度和高電壓的現(xiàn)象,由此可以認為由電應(yīng)力、高溫條件、機械應(yīng)力激發(fā)的失效機理不會是產(chǎn)品失效的主要原因。而由圖3可知,潮濕環(huán)境帶來的失效對器件影響較小,且產(chǎn)品工作于一般實驗室環(huán)境,潮濕也不會是失效的主要原因[7]。
表2 器件的失效模式、失效機理及影響因素示例表Tab.2 Failure mode,failure mechanism and influencing factor
圖3 環(huán)境應(yīng)力對器件失效的影響Fig.3 Failure ratio under different environmental stress
對于剩余的溫度循環(huán)應(yīng)力條件,對器件、鍍通孔、焊點均有影響。然而有研究表明,在溫度循環(huán)應(yīng)力條件下,焊點的失效率要高于器件的失效率(如圖4所示)[8-9];同時,對于焊點和鍍通孔兩種連接件而言,鍍通孔的制造過程是專業(yè)化的機器流水線生產(chǎn),加工一致性較好,而焊點則存在手動加工的問題,不同操作者的焊接水平參差不齊,會帶來較大分散性,故焊點相對鍍通孔而言更易于失效。
綜上所示,本案例的高風(fēng)險易失效環(huán)節(jié)是焊點,即:整個產(chǎn)品的可靠性取決于焊點的可靠性。接下來將利用焊點的失效物理模型對案例產(chǎn)品的可靠性進行分析。
圖4 溫度循環(huán)應(yīng)力條件下焊點、器件失效率曲線Fig.4 Failure probabilities for electronic component and surface mount solder attachment
IPC的焊點壽命評價模型包括了疲勞壽命模型、失效分布模型和損傷累計模型3類。其中疲勞壽命模型是整個壽命評價體系的基礎(chǔ)。在標準IPC-SM-785[8]和IPC-D-279[9]中,采用了最廣泛使用的 Engelmaier-Wild焊點疲勞壽命模型,為了完整度量應(yīng)力松弛過程,冪指數(shù)定義為溫度和時間的函數(shù),表述的疲勞損傷與平均壽命之間的關(guān)系如下:
其中:考慮到存在周期性粘塑性變形能,用周期疲勞損傷因子來描述,該參數(shù)取決于焊料在時間、溫度、應(yīng)力共同作用下,發(fā)生蠕變/應(yīng)力松弛時帶來的潛在損傷大小。疲勞延展系數(shù)在共晶合金和60/40的SnPb焊料中一般取0.325。
疲勞延展指數(shù)c是與溫度、時間相關(guān)的參數(shù),對它的修正考慮了熱循環(huán)加載頻率與加載溫度的效應(yīng),以及彈塑性應(yīng)變的影響。當(dāng)應(yīng)力釋放不完全時:
其中:TSJ是焊點所受循環(huán)溫度;tD是半周期循環(huán)持續(xù)時間(單位:分鐘)。與循環(huán)的形式和頻率相關(guān),并最終代表了所能承受的應(yīng)力松弛和蠕變時間。。
對于無引腳SM元器件焊點在一定的應(yīng)力作用下,當(dāng)應(yīng)力強度超過焊料屈服強度并導(dǎo)致焊料塑性屈服時,循環(huán)疲勞損傷參數(shù)為:
對于有引腳元器件焊點,在熱疲勞應(yīng)變時所受應(yīng)力會低于屈服應(yīng)力水平,循環(huán)疲勞損傷參數(shù)為:
案例中的產(chǎn)品設(shè)計壽命為10年,考慮室外使用環(huán)境,器件-外部溫度循環(huán)范圍:ΔT=40 ℃,一天為一個循環(huán)[3,13]。
1)元器件(選擇產(chǎn)品中最小的焊點進行計算)
①無引腳器件:36個I/O引腳QFP芯片,間距1.27 mm,耗散功率0.06 W。高、低溫環(huán)境中,元器件的穩(wěn)態(tài)工作溫度分別是60℃和10℃。
②有引腳器件:間距2.54 mm插接件,耗散功率0.23 W。高、低溫環(huán)境中,元器件的穩(wěn)態(tài)工作溫度分別是70℃和10℃。
2)基板:普通FR4環(huán)氧樹脂印刷電路板
①當(dāng)焊接無引腳器件時,高、低溫環(huán)境中基板的穩(wěn)態(tài)工作溫度分別是55℃和10℃。
②當(dāng)焊接有引腳器件時,高、低溫環(huán)境中基板的穩(wěn)態(tài)工作溫度分別是65℃和10℃;
根據(jù)壽命Nf計算公式對器件進行可靠性評價 (無引腳、有引腳前后用//分開)。
由此可見,當(dāng)使用有引腳器件時,其壽命是無引腳壽命的近兩倍,也就是說,當(dāng)焊點是產(chǎn)品高風(fēng)險環(huán)節(jié)時,在設(shè)計空間的允許范圍內(nèi),建議采用有引腳器件保證焊點可靠性,從而保證整個產(chǎn)品的可靠性。
產(chǎn)品涉及的使用條件、失效特征、測試標準、設(shè)計需求、所處環(huán)節(jié)、帶來的影響后果等因素之間具有密切的聯(lián)系,這些關(guān)系可以構(gòu)成多種可靠性分析路徑。為了充分繼承積累的失效模式和失效機理的經(jīng)驗,也更多的在分析過程中考慮實際使用環(huán)境和應(yīng)力載荷的影響,確保可靠性分析的準確性,“元器件-失效模式-失效機理-影響因素”這一分析路徑則比僅考慮失效模式的影響要更為準確。
由文中利用一個電子產(chǎn)品案例,開展的初步的完整分析過程,可以看出,對常見潛在失效模式、失效機理及可能的誘發(fā)環(huán)境因素進行調(diào)研匯總,并參照研究產(chǎn)品設(shè)計時定義的工作環(huán)境,逐個排查,確定產(chǎn)品失效的主要原因和高風(fēng)險環(huán)節(jié),利用失效物理模型,計算了在使用環(huán)境下的可靠性相關(guān)因素,可以有力的推動產(chǎn)品的可靠性設(shè)計和評價。
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