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        硅(100)表面組裝膜的第一性原理研究①

        2012-08-21 01:28:10史立秋息明東馬清祥
        關(guān)鍵詞:優(yōu)化

        史立秋, 息明東, 張 琳, 馬清祥

        (1.佳木斯大學(xué),黑龍江佳木斯154007;2.佳木斯龍江福漿紙有限公司,黑龍江佳木斯154000)

        利用半導(dǎo)體材料硅片為基底自組裝有機功能膜的技術(shù)是一項很有前景的微納結(jié)構(gòu)制備技術(shù)[1-3].由于這類自組裝膜(SAMs)的有序性和常溫下的高穩(wěn)定性,尤其是所制得的功能膜具有納米尺度結(jié)構(gòu)和界面性質(zhì),故很受研究者的青睞.因此,從微觀尺度上研究硅表面組裝膜前后的分子構(gòu)型和能量變化進而了解SAMs穩(wěn)定存在的狀態(tài)顯得尤為重要.

        近年來隨著理論和數(shù)值算法的飛速發(fā)展,使得基于密度泛函理論的第一性原理方法成為凝聚態(tài)物理、量子化學(xué)和材料科學(xué)中的常規(guī)計算研究手段[4-6].計算所得的結(jié)果不僅能用于解釋實驗結(jié)果,而且還有可能可靠地預(yù)言材料的很多性質(zhì),并在某些情況下導(dǎo)致實驗方面的重要發(fā)現(xiàn)[7].單晶硅表面有機膜的理論研究已有報道[8-10],但是關(guān)于硅表面自組裝芳香烴重氮鹽膜的計算研究尚未見報道,本章從理論角度,采用第一性原理計算對基于機械-化學(xué)法在硅(100)表面制備的芳香烴膜(C6H4NO2)的組裝行為進行微觀尺度的研究.

        1 模擬計算

        1.1 計算方法

        本文計算根據(jù)量子化學(xué)密度泛函理論(DFT),使用 Accelery公司的 Material Studio軟件中CASTEP(Cambridge Sequential Total Energy Package)計算模塊進行理論計算,泛函采用廣義梯度近似(GGA),局部泛函采用PBE(Perdew-Burke-Ernzerhof functional),平面波截止能 Ecut設(shè)為300eV.

        圖1 單晶硅(100)晶面及C6 H4 NO2活性分子側(cè)視圖

        1.2 模型建立

        Si(100)晶面計算模型建立條件:沿單晶硅(100)方向切割,深度3層,超晶胞取原始晶胞,真空層厚度15?.在Si(100)晶面所選取的超晶胞模型中,包含27個Si原子,表面包含9個Si原子.

        芳香烴重氮鹽計算模型的建立條件:由于計算軟件的限制,建立模型時直接建立成斷開氮氮三鍵后的一端為硝基的苯環(huán)(C6H4NO2)即可.

        計算C6H4NO2與Si(100)晶面相互作用的模型選取:在結(jié)構(gòu)優(yōu)化完成的Si(100)晶面上選取中間硅原子,把優(yōu)化好的分子根置于其上方.圖1是Si(100)晶面、C6H4NO2模型的側(cè)視圖.

        2 結(jié)果與討論

        2.1 結(jié)構(gòu)優(yōu)化

        圖2 Si(100)晶面結(jié)合C6H4NO2活性分子結(jié)構(gòu)

        圖2是 Si(100)晶面結(jié)合一個活性分子C6H4NO2優(yōu)化前后的側(cè)視圖和俯視圖.表1分別是Si(100)晶面優(yōu)化前、優(yōu)化后、結(jié)合一個活性分子C6H4NO2后部分硅原子的鍵角和鍵長數(shù)據(jù).按結(jié)構(gòu)理論推斷單晶硅中每個Si以sp3雜化軌道與另外四個Si原子形成四面體的空間結(jié)構(gòu),Si—Si鍵長 d=2.352?,Si—Si—Si鍵角為 109.471°.當(dāng)晶體沿某一方向切割后得到不同表面,晶體表面的原子結(jié)構(gòu)明顯地不同于體相的原子結(jié)構(gòu),其原因是固體中每個原子都貢獻出相同數(shù)目的電子和周圍其它原子形成化學(xué)鍵,從而使固體中原子結(jié)合在一起.但是固體表面上的原子由于其一面的原子的化學(xué)鍵被切斷,因而具有多余的未配對的價電子形成懸掛鍵,導(dǎo)致表面的結(jié)構(gòu)與晶體體相內(nèi)部產(chǎn)生差異.從表1可知結(jié)構(gòu)優(yōu)化后的鍵長和鍵角數(shù)據(jù)都發(fā)生了變化,其數(shù)據(jù)都與理論值不同.

        表1 Si(100)晶面優(yōu)化前后和結(jié)合一個C6 H4 NO2前后部分鍵長(nm)和鍵角數(shù)值(°)

        2.2 結(jié)合能計算

        表2是Si(100)晶面結(jié)合一個C6H4NO2前后的總能量,Si原子上結(jié)合一個C6H4NO2后能量變低,是由于形成了新的化學(xué)鍵的原因.能量降低的大小可用結(jié)合能來表示.當(dāng)結(jié)合能數(shù)值為負數(shù)時表示釋放出能量,體系的穩(wěn)定性升高.結(jié)合能數(shù)值越小反應(yīng)前后能量降低得越多,越有利于反應(yīng)的發(fā)生.結(jié)合一個C6H4NO2后,體系總能量降低,降低值就是形成Si—C化學(xué)鍵釋放出的能量即結(jié)合能為-101.95eV,表明(100)晶面可以組裝上芳香烴重氮鹽膜,組裝后體系的穩(wěn)定性升高.

        表2 Si(100)晶面結(jié)合一個C6 H4 NO2分子前后的總能量和結(jié)合能

        3 結(jié)論

        本文采用第一性原理方法計算了單晶硅(100)面與芳香烴重氮鹽分子組裝前后的鍵長、鍵角和能量變化.組裝前后Si原子間的鍵長、鍵角發(fā)生了變化,這主要是由于引入帶硝基的苯環(huán)所致,這些變化的大小從能量的角度看都是影響自組裝反應(yīng)能否進行的因素.結(jié)合一個C6H4NO2后體系總能量降低,降低值就是形成Si—C化學(xué)鍵釋放出的能量即結(jié)合能為-101.95eV,表明硅(100)表面容易組裝上芳香烴重氮鹽膜,組裝后體系的穩(wěn)定性升高,膜的穩(wěn)定性較好.

        [1]Wagner P.,Nock S.,Spudich J.A.,et al..J.Struc.Bio[J].1997,119:189 -201.

        [2]Dusastre V..Nature[J].2000,406:31 -35.

        [3]Brent A.W.,Michael J.M.,Ian A.M.,et al..Appl.Phys.Lett[J].2003,82:808 - 810.

        [4]Lopinski G.P.,Wayner D.D.M.,Wolkow R.A..Nature[J].2000,406:48 -51.

        [5]Sieval A.B.,Opitz R.,Maas H.P.A.,et al..Langmuir[J].2000,16:5688-5695.

        [6]Zhang L.,Carman A.J.,Casey S.M..J.Phys.Chem[J].2003,107:8424-8432.

        [7]Wei Z.G.,Zhang H.X.,Li Q.S.,et al.Chem JChinese U[J].2008,29:824 -826.

        [8]Travis L.N.,Jiang G.L.,Yit Y.L.,et al.Langmuir[J].2001,17:5889-5900.

        [9]Yit Y.L.,Travis L.N.,Reija M.,et al.Langmuir[J].2002,18:4840-4846.

        [10]Yit Y.L.,Jonathan J.F.,Li Y.,et al.J.Am.Chem.Soc[J].2005,21:2093 -2097.

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