過鉆頭測井

過鉆頭測井TBL（Through Bit Logging）通過鉆柱傳輸小直徑測井儀，穿過特殊的過孔鉆頭TBB（Through Bore Bit）進入裸眼井段完成數據采集，測井數據采集可選擇實時傳輸和存貯兩種模式。目前有代表性的過鉆頭測井儀有威德福公司的Compact?系列和斯倫貝謝公司的ThruBit?SureLogTM系列。

李維斯油田服務公司（Reeves Oilfield Services Ltd）在業(yè)內最先開發(fā)出57mm超小直徑過鉆頭測井儀系列Compact?及TBL送入工具，并于2002年進行了現場試驗。2005年該公司被威德福公司收購后，對Compact?進行了技術改進，目前該系列測井儀的耐溫和耐壓指標分別達到135℃和103MPa，井下儀器主要包括陣列感應測井儀MAI（Array Induction）和微球聚焦測井儀MFE（Shallow－Focused Electric）、雙側向測井儀MDL（Dual Laterolog）、微電阻率和微側向測井儀MML／MMR（Microlog－Microlaterolog）、巖性密度測井儀MPD（PhotoDensity）、補償中子測井儀MDN（Dual Neutron）、交叉偶極子聲波測井儀CXD（Cross－Dipole Sonic）、補償聲波測井儀MSS（Sonic Sonde）、伽馬溫度測井儀MCG（Gamma Ray）、輔助伽馬短節(jié)MGS（Auxiliary Gamma Ray Sub）、微電阻率成像測井儀CMI（Microimager，61mm直徑）以及重復式地層測試器MFT（Formation Pressure Tester，61mm直徑）。61mm微電阻率成像儀CMI有64個電扣數量，采樣率為21.5ms，垂直分辨率5.1mm，探測深度25.4mm。61mm重復式地層測試器MFT能通過最小內徑64mm的井眼縮徑，最大預采樣室容積為40cm3，極板打開后，可以重復測壓，抽吸速率最高為1cm3／s。石英壓力計提供精確的壓力值，而應變壓力計作為備用。

過鉆頭有限責任公司（ThruBit LLC.，2011年12月被斯倫貝謝公司收購）開發(fā)的54mm超小直徑四組合過鉆頭測井系列ThruBit?SureLogTM于2008年進行了現場試驗，2009年投入商業(yè)化應用。ThruBit?SureLogTM系列井下儀器主要包括遙測－存貯－伽馬組合短節(jié)TMG（ThruBit Memory／GR）、補償中子測井儀TBN（ThruBit Neutron）、巖性密度測井儀TBD（ThruBit Density）、補償聲波測井儀TBS（ThruBit Sonic）和陣列感應測井儀TBI（ThruBit Array Induction），耐溫耐壓指標分別達到148℃和103MPa。（信息來源：［1］http：∥www.weatherford.com；［2］http：∥www.thrubit.com；［3］Through Bit Logging：A New Method to Acquire Log Data，and A First Step on The Road to Through Bore Drilling［C］∥SPWLA 45th Annual Logging Symposium，2004；［4］Through Bore Drilling Systems：A New Drilling Option［C］∥SPE79794，SPE／IADC Drilling Conference 2003；［5］An Innovative New System for Obtaining Open Hole Logs in Difficult Wells［C］∥AADE National Technical Conference and Exhibition，2011.楊興琴 編譯 王環(huán) 審校）

［3］ 鞠曉東，李會銀，成向陽，等.新型巖性密度測井儀研制［J］.測井技術，2005，29（1）：59－62.

［4］ 魯保平，張惠芳.四能窗穩(wěn)譜技術在巖性密度測井儀中的應用［J］.測井技術，2008，32（1）：76－79.

［5］ 肖無云，梁衛(wèi)平，邵建輝，等.基于FPGA的數字化核脈沖幅度分析器［J］.核電子學與探測技術，2008，28（6）：1069－1071.

［6］ Cosimo Imperiale，Alessio Imperiale.On Nuclear Spectrometry Pulses Digital Shaping and Processing［J］.Measurement，2001，30：49－73.

［7］ ZHOU Jianbin etc.Study of Digital Gaussian Shaping for a Semiconductor X－ray Detector in Real Time［C］∥Proceeding of 10th International Conference on Electronic Measurement ＆Instruments，ICEMI′2011，Beijing，China，IEEE，Inc.2011：163－165.

2011－12－26 本文編輯 余迎）