0 引言

隨著超大規(guī)模集成電路的制造工藝的進步，在單一芯片上動態(tài)隨機存儲器實現(xiàn)了更高密度的比特位，使得計算機系統(tǒng)在計算速度迅猛發(fā)展的同時，內(nèi)存容量極大的擴大。伴隨著集成度的提高，存儲器單元呈現(xiàn)失效的可能性隨之增大，失效的形式和原因也趨于更加復(fù)雜化。存儲器測試的目的是確保其每個單元能夠存儲數(shù)據(jù)并且惟一的尋址、讀、寫。存儲器的測試面臨兩方面的要求：較高失效類型覆蓋率，盡可能檢測出潛在的存儲器故障；較少的存儲器操作，以便縮短檢測時間。因此存儲器測試應(yīng)能夠在一定的測試時間內(nèi)得到可能的最佳故障覆蓋率。由于對存儲器進行物理檢測是不可能的，可行的辦法是將待測存儲器的訪存結(jié)果與認定無故障的存儲器的訪存結(jié)果做比較。