0 引言

航天器在空間中飛行時(shí)，一直處在帶電粒子構(gòu)成的輻射環(huán)境中。在這種輻射環(huán)境中微處理器可能會(huì)因?yàn)閱瘟Ｗ訑_動(dòng)而中斷正常功能從而導(dǎo)致災(zāi)難性事故。這主要涉及到2方面的問題，輻射總劑量效應(yīng)和單粒子效應(yīng)的問題，單粒子效應(yīng)又分為單粒子翻轉(zhuǎn)(SEU)和單粒子閉鎖(SEL)2個(gè)方面。單粒子翻轉(zhuǎn)效應(yīng)能夠?qū)е聰?shù)字電路的存儲(chǔ)單元中的某一位因受到干擾而發(fā)生翻轉(zhuǎn)．從而引起存儲(chǔ)內(nèi)容的變化，還可在組合邏輯電路的輸出上引人一個(gè)短暫的脈沖，單粒子翻轉(zhuǎn)效應(yīng)是目前導(dǎo)致處理器運(yùn)行失效的主要原因。星載計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中處理器性能的穩(wěn)定與可靠在整個(gè)系統(tǒng)的穩(wěn)定與可靠性中占有重要地位，因此必須對(duì)電路進(jìn)行加固，三模冗余技術(shù)是一種對(duì)單粒子翻轉(zhuǎn)有效的容錯(cuò)技術(shù)，能夠極大地提高電路的可靠性。