尹曉慧,陳 勁,張寶菊,王 為
(天津師范大學(xué) 物理與電子信息學(xué)院,天津 300387)
低頻數(shù)字式相位測(cè)試儀的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
尹曉慧,陳 勁,張寶菊,王 為
(天津師范大學(xué) 物理與電子信息學(xué)院,天津 300387)
基于過零檢測(cè)法,以微控制器ATmega128和可編程邏輯器件EPM1270為核心,設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)了對(duì)雙路同頻低頻信號(hào)的相位差和頻率進(jìn)行測(cè)量的系統(tǒng).在一個(gè)可編程邏輯器件(Complex Programmable Logic Device,CPLD)內(nèi)實(shí)現(xiàn)了數(shù)字式相位差和頻率的數(shù)據(jù)采集,簡(jiǎn)化了系統(tǒng)設(shè)計(jì).系統(tǒng)可以對(duì)200 Hz~10 k Hz頻率范圍內(nèi)的信號(hào)進(jìn)行相對(duì)精確的測(cè)量,與傳統(tǒng)相位測(cè)量?jī)x相比,具有硬件電路簡(jiǎn)單、測(cè)量速度快和易于實(shí)現(xiàn)等優(yōu)點(diǎn).
相位測(cè)量;頻率測(cè)量;CPLD;微控制器;液晶顯示
在電子測(cè)量技術(shù)中,相位測(cè)量是最基本的測(cè)量手段之一,相位測(cè)量?jī)x是電子領(lǐng)域的常用儀器.隨著相位測(cè)量技術(shù)廣泛應(yīng)用于國(guó)防、科研和生產(chǎn)等各個(gè)領(lǐng)域,對(duì)相位測(cè)量的要求也逐步向高精度、高智能化方向發(fā)展.在低頻范圍內(nèi),相位測(cè)量在電力和機(jī)械等部門具有非常重要的意義[1],目前相位測(cè)量主要運(yùn)用等精度測(cè)頻和鎖相環(huán)(Phase Locked Loop,PLL)測(cè)相等方法.研究發(fā)現(xiàn),等精度測(cè)頻法具有在整個(gè)測(cè)頻范圍內(nèi)保持恒定高精度的特點(diǎn),但該原理不能用于測(cè)量相位[2].PLL測(cè)相可以實(shí)現(xiàn)等精度測(cè)相,但電路調(diào)試較復(fù)雜.因此,本研究選擇直接測(cè)相法作為低頻測(cè)相儀的測(cè)試方法.對(duì)于低頻相位的測(cè)量,使用傳統(tǒng)的模擬指針式儀表顯然不能滿足所需的精度要求,隨著電子技術(shù)和微機(jī)技術(shù)的發(fā)展,數(shù)字式儀表因其高精度的測(cè)量分辨率以及高度智能化、直觀化的特點(diǎn)得到越來越廣泛的應(yīng)用因此,本研究設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)了以CPLD和微控制器(Micro Control Unit,MCU)為核心的低頻數(shù)字式相位測(cè)量?jī)x.
相位差測(cè)量的基本原理有3種:對(duì)信號(hào)波形的變換比較、對(duì)傅氏級(jí)數(shù)的運(yùn)算和對(duì)三角函數(shù)的運(yùn)算[2-3].3種原理分別對(duì)應(yīng)過零檢測(cè)法、倍乘法和矢量法3種測(cè)量相位差的方法.
過零點(diǎn)檢測(cè)法是一種將相位測(cè)量變?yōu)闀r(shí)間測(cè)量的方法,其原理是將基準(zhǔn)信號(hào)的過零時(shí)刻與被測(cè)信號(hào)的過零時(shí)刻進(jìn)行比較,由二者之間的時(shí)間間隔與被測(cè)信號(hào)周期的比值推算出兩信號(hào)之間的相位差.這種方法的特點(diǎn)是電路簡(jiǎn)單,且對(duì)啟動(dòng)采樣電路要求不高,同時(shí)還具有測(cè)量分辨率高、線性好和易數(shù)字化等優(yōu)點(diǎn).
任何一個(gè)周期函數(shù)都可以用傅氏級(jí)數(shù)表示,即用正弦函數(shù)和余弦函數(shù)構(gòu)成的無窮級(jí)數(shù)來表示,倍乘法測(cè)量相位差所用的運(yùn)算器是一個(gè)乘法器,2個(gè)信號(hào)是頻率相同的正弦函數(shù),相位差為φ,運(yùn)算結(jié)果經(jīng)過一個(gè)積分電路,可以得到一個(gè)直流電壓V=kcosφ,電路的輸出和被測(cè)信號(hào)相位差的余弦成比例,因此其測(cè)量范圍在45°以內(nèi),為使測(cè)量范圍擴(kuò)展到360°,需要附加一些電路才可以實(shí)現(xiàn).倍乘法由于應(yīng)用了積分環(huán)節(jié),可以濾掉信號(hào)波形中的高次諧波,有效抑制了諧波對(duì)測(cè)量準(zhǔn)確度的影響.
任何一個(gè)正弦函數(shù)都可以用矢量來表示,如各個(gè)正弦信號(hào)幅度相等、頻率相同,運(yùn)算器運(yùn)用減法器合成得到矢量的模V=2Esinφ/2.矢量法用于測(cè)量小角度范圍時(shí),靈敏度較好,可行度也較高;但在180°附近靈敏度降低,讀數(shù)困難且不準(zhǔn)確.由于系統(tǒng)輸出為一余弦或正弦函數(shù),因此這種方法適用于較寬的頻帶范圍[1].
上述3種測(cè)量相位的方法各有優(yōu)勢(shì),從測(cè)量范圍、靈敏度、準(zhǔn)確度、頻率特性和諧波的敏感性等技術(shù)指標(biāo)來看,過零檢測(cè)法的輸出正比于相位差的脈沖數(shù),且易于實(shí)現(xiàn)數(shù)字化和自動(dòng)化,故本研究采用過零檢測(cè)法.
采用過零檢測(cè)法需要對(duì)被測(cè)信號(hào)的周期進(jìn)行測(cè)量,由于信號(hào)的周期與頻率之間呈倒數(shù)關(guān)系,本研究采用測(cè)量被測(cè)信號(hào)頻率的方法實(shí)現(xiàn)對(duì)其周期的測(cè)量.頻率測(cè)量的方法很多,可分為2大類:第1類是單位時(shí)間內(nèi)測(cè)量脈沖周期的方法,這種方法的優(yōu)勢(shì)是能夠用標(biāo)準(zhǔn)的基準(zhǔn)單位時(shí)間對(duì)被測(cè)信號(hào)時(shí)鐘進(jìn)行脈沖測(cè)量,簡(jiǎn)單方便,容易實(shí)現(xiàn),但是由于使用了基準(zhǔn)的單位時(shí)間,所以測(cè)量脈沖時(shí),如果被測(cè)信號(hào)的周期接近基準(zhǔn)時(shí)鐘的周期,測(cè)量的準(zhǔn)確度就會(huì)下降,精度難以得到保障,所以這種方法只適合于測(cè)量高頻信號(hào),或者說這種方法只適合于基準(zhǔn)時(shí)鐘周期比被測(cè)信號(hào)周期大得多的情況;第2類測(cè)量方法是使用高頻時(shí)鐘對(duì)被測(cè)信號(hào)的單個(gè)時(shí)鐘周期進(jìn)行高頻計(jì)數(shù),這種方法的優(yōu)點(diǎn)是使用高頻時(shí)鐘對(duì)被測(cè)信號(hào)的單個(gè)時(shí)鐘周期進(jìn)行高頻計(jì)數(shù)可以在一個(gè)被測(cè)信號(hào)周期內(nèi)完成對(duì)頻率的測(cè)量,對(duì)于低頻被測(cè)信號(hào)具有較高的精度,但設(shè)計(jì)較為復(fù)雜.本研究所涉及的頻率測(cè)量范圍為200 Hz~10 k Hz,屬于低頻信號(hào),因此可以采用高頻時(shí)鐘的方法對(duì)頻率進(jìn)行測(cè)量.
每種測(cè)量方法均存在2種具體的測(cè)量手段:一種是利用專用頻率計(jì)模塊來測(cè)量頻率,如ICM7216芯片,其內(nèi)部自帶放大整形電路可以直接輸入正弦信號(hào),外部振蕩電路部分選用由一塊高精度晶振和2個(gè)低溫度系數(shù)電容構(gòu)成的10 MHz振蕩電路,其轉(zhuǎn)換開關(guān)具有0.01 s、0.1 s、1 s和10 s共4種閘門時(shí)間,量程可以自動(dòng)切換,待計(jì)數(shù)過程結(jié)束時(shí)顯示測(cè)頻結(jié)果;另一種方法是利用CPLD和MCU來實(shí)現(xiàn)頻率的測(cè)量,將被測(cè)信號(hào)通過模擬電路轉(zhuǎn)換為方波信號(hào)輸入EPM1270的某一I/O端口,在CPLD內(nèi)部實(shí)現(xiàn)頻率的采集,最后將計(jì)數(shù)值送入MCU處理并輸出至液晶予以顯示.比較2種測(cè)量手段,利用實(shí)驗(yàn)室現(xiàn)有條件,本研究采用CPLD和MCU實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)信號(hào)頻率的測(cè)量.利用單片機(jī)控制計(jì)數(shù)器工作,硬件簡(jiǎn)單且頻率測(cè)量精度高,這是目前較為成熟的一種高精度測(cè)頻方案.
系統(tǒng)的設(shè)計(jì)目標(biāo)是實(shí)現(xiàn)雙路同頻率正弦波信號(hào)相位差和頻率的測(cè)量.本研究采用數(shù)字鑒相技術(shù)在保持模擬式相位測(cè)試優(yōu)勢(shì)的同時(shí),提出并實(shí)現(xiàn)了一種基于CPLD的低頻數(shù)字式相位測(cè)試儀.該系統(tǒng)主要由數(shù)據(jù)采集電路、數(shù)據(jù)運(yùn)算控制電路和數(shù)據(jù)顯示電路3部分構(gòu)成,采用CPLD和AVR單片機(jī)相結(jié)合構(gòu)成整個(gè)系統(tǒng)的測(cè)控整體.CPLD主要負(fù)責(zé)數(shù)據(jù)采集,單片機(jī)負(fù)責(zé)讀取CPLD采集的數(shù)據(jù),再根據(jù)這些數(shù)據(jù)作出相應(yīng)計(jì)算,并通過液晶將結(jié)果顯示出來.系統(tǒng)在保持模擬式相位測(cè)試優(yōu)點(diǎn)的同時(shí),具有抗干擾能力強(qiáng)、外圍電路簡(jiǎn)單和易于實(shí)現(xiàn)等優(yōu)點(diǎn)[4-5].
測(cè)量相位差的具體方法為:先通過比較電路將兩路同頻率正弦信號(hào)分別轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的脈沖信號(hào)將其中一路信號(hào)直接送入D觸發(fā)器,作為觸發(fā)信號(hào);另一路信號(hào)通過反相器取反后與復(fù)位信號(hào)相與,將得到的結(jié)果送入D觸發(fā)器的清零端,由D觸發(fā)器輸出一脈沖信號(hào),此脈沖波形的脈寬為t,經(jīng)過微處理器進(jìn)行相應(yīng)計(jì)算處理后得到兩信號(hào)的相位差[6-7].
設(shè)計(jì)中頻率測(cè)量的具體方法是:被測(cè)信號(hào)轉(zhuǎn)換后形成脈沖信號(hào),利用其上升沿觸發(fā)計(jì)數(shù)器對(duì)基準(zhǔn)時(shí)鐘開始計(jì)數(shù),處于下降沿時(shí)則停止計(jì)數(shù),所得計(jì)數(shù)為N,利用t=N×T/2,f=1/t,其中T為所用晶振的時(shí)鐘周期,利用單片機(jī)系統(tǒng)編程實(shí)現(xiàn)該運(yùn)算式,即可求得頻率,并將運(yùn)算結(jié)果送液晶顯示.系統(tǒng)的原理框圖如圖1所示.
圖1 系統(tǒng)設(shè)計(jì)框圖Fig.1 System design diagram
3.2.1 模擬部分
模擬電路部分要將同頻率的兩路正弦信號(hào)轉(zhuǎn)換為方波輸出,電路采用電壓比較器LM393.LM393內(nèi)有2個(gè)電壓比較器,兩路信號(hào)分別接2個(gè)比較器同相輸入端,將反相輸入端接地,即構(gòu)成過零比較電路.
前級(jí)的射隨器采用LM353,其作用是提高輸入阻抗,提高負(fù)載.過零比較器使用芯片LM393來實(shí)現(xiàn),該芯片性能較好,能夠有效提取正弦波的過零點(diǎn).選擇使用過零點(diǎn)這種判斷方法是因?yàn)檎也ㄔ谶^零點(diǎn)的時(shí)候,斜率具有極大值,即使兩列正弦波幅度略有不同,也不會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果造成過大影響,所以芯片上輸出口的上拉電阻主要用于控制高低電平輸出的大小.
圖2和圖3分別是A、B兩路同頻率正弦信號(hào)經(jīng)過模擬電路轉(zhuǎn)化為方波的電路圖,其中W31和W32同時(shí)接通時(shí)構(gòu)成跟隨器,W32和W34同時(shí)接通時(shí)構(gòu)成比例放大器.
圖2 A路信號(hào)的轉(zhuǎn)換電路圖Fig.2 Signal conversion circuit of A path
圖3 B路信號(hào)的轉(zhuǎn)換電路圖Fig.3 Signal coversion circuit of B path
3.2.2 部分參數(shù)選擇
整個(gè)電路設(shè)計(jì)中,參數(shù)的選取至關(guān)重要,CPLD中計(jì)數(shù)器的時(shí)鐘頻率要選擇恰當(dāng),時(shí)鐘的脈寬要保證輸入方波信號(hào)的高電平時(shí)間Δt最小時(shí)存在計(jì)數(shù)值,即系統(tǒng)能夠采集Δt最小時(shí)的輸入信號(hào);同時(shí),還要保證Δt最大時(shí),計(jì)數(shù)器存在計(jì)數(shù)值,即能夠采集到最大的相位差360°.根據(jù)相位誤差范圍的要求,計(jì)算 Δφ=Δt/T×360°=0.5°,當(dāng)T=10 k Hz時(shí),Δt=0.139μs,分頻系數(shù)=0.139/0.05=2.78,故本設(shè)計(jì)采用2分頻.由于AVR單片機(jī)數(shù)據(jù)位的限制,最終得到下限頻率取200 Hz,此時(shí),系統(tǒng)測(cè)量的展伸不確定度范圍符合設(shè)計(jì)要求.
系統(tǒng)的軟件設(shè)計(jì)流程圖如圖4所示.
圖4 系統(tǒng)軟件流程圖Fig.4 Flow chart of software system
本研究使用模塊化的設(shè)計(jì)方法,所以軟件模塊和硬件模塊均首先各自獨(dú)立進(jìn)行調(diào)試,獨(dú)立調(diào)試通過后,再進(jìn)行系統(tǒng)的軟硬件綜合調(diào)試.
在調(diào)試輸入波形整形模塊時(shí),首先檢查該模塊所有芯片的工作電壓是否正常,調(diào)整工作電壓后,再測(cè)試射隨器的輸出電壓,如果其輸出電壓正常,則測(cè)試過零比較器的輸出端,看其電壓是否正常;如果不正常,可以稍微調(diào)整負(fù)載電阻,使其輸出電壓正常.實(shí)驗(yàn)所得數(shù)據(jù)均為正常情況下于實(shí)驗(yàn)室中測(cè)試得出,測(cè)試結(jié)果如表1所示.由表1數(shù)據(jù)可知,系統(tǒng)可以測(cè)量一定頻率范圍內(nèi)2個(gè)同頻正弦信號(hào)之間的相位差,并能達(dá)到穩(wěn)定的測(cè)量精度(理論推算為0.5°,實(shí)際可達(dá)±3°).
表1 系統(tǒng)所測(cè)頻率和相位差值Tab.1 Frequency and phase measured by this design
測(cè)試結(jié)果存在的誤差來源于所選基準(zhǔn)時(shí)鐘的準(zhǔn)確性以及采用軟件計(jì)數(shù)存在一定的延時(shí).在實(shí)際應(yīng)用中,CPLD可采用更高的晶振頻率來增加頻率的測(cè)量范圍,并提高測(cè)量精度.
本研究以微控制器ATmega 128和可編程邏輯器件EPM1270為核心,將單片機(jī)控制技術(shù)和電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化(Electronic Design Automation,EDA應(yīng)用技術(shù)有機(jī)結(jié)合在一起,完成了低頻數(shù)字式相位測(cè)試儀的設(shè)計(jì)與制作.由于可編程邏輯器件可以完成較大且較為復(fù)雜的邏輯處理任務(wù),而且它靈活方便,易于移植,可通用性強(qiáng),因此系統(tǒng)主要的邏輯功能均在可編程邏輯器件內(nèi)部完成.本研究所設(shè)計(jì)的低頻數(shù)字式相位測(cè)試儀采用CPLD,外圍電路較為簡(jiǎn)單,工作可靠,電路調(diào)試和維護(hù)簡(jiǎn)單易行.
[1] 田秀豐,何繼愛,李敏.低頻數(shù)字式相位測(cè)量?jī)x的設(shè)計(jì)[J]無線電通信技術(shù),2008(2):55-61.
[2] 陳明杰.低頻數(shù)字相位(頻率)測(cè)量的CPLD實(shí)現(xiàn)[J].微計(jì)算機(jī)信息,2008,24(32):224-225.
[3] 繆曉中.基于MCU+CPLD的相位差和頻率的測(cè)量方法研究及實(shí)現(xiàn)[J].國(guó)外電子元器件,2008(7):10-12.
[4] 姚遠(yuǎn),王麗婷,郭佳靜.低頻數(shù)字式相位測(cè)量?jī)x[J].電子世界,2004(5):39-41.
[5] 潘洪明,鄒立華,方燕紅.同頻正弦信號(hào)間相位差測(cè)量的設(shè)計(jì)[J].電子工程師,2003,29(3):41-42.
[6] 歐冰潔,段發(fā)階.超聲波隧道風(fēng)速測(cè)量技術(shù)研究[J].傳感技術(shù)學(xué)報(bào),2008,21(10):1804-1807.
[7] 車驚春,韓曉東.Protel DXP印制電路板設(shè)計(jì)指南[M].北京:中國(guó)鐵道出版社,2004:94-110.
[8] 龍騰科技.Protel DXP循序漸進(jìn)教程[M].北京:科學(xué)出版社,2005:22-52.
Design and realization of low-frequency digital phase measuring apparatus
YINXiao-h(huán)ui,CHENJin,ZHANGBao-ju,WANGWei
(College of Physics and Electronic Information Science,Tianjin Normal University,Tianjin 300387,China)
Based on the principle of zero-crossing,taking microcontroller ATmega128 and complex programmable logic device(CPLD)EPM1270 as the core,a system used for measuring the two-circuit frequency and low-frequency signal phase difference and the frequency of the measured signal is designed and realized.The data acquisition of the digital phase difference and the frequency is carried out in a piece of CPLD chip,and the system design is simplified.The system can measure the signal of frequency range of 200 Hz-10 k Hz.Compared with the traditional phase meter,the system has the advantages of simple hardware circuit,rapid speed and easy realization.
phase measurement;frequency measurement;CPLD;MCU;LCD display
TM932
A
1671-1114(2012)01-0039-04
2011-09-04
天津市自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(10JCYBJC00400);天津市高等學(xué)??萍及l(fā)展基金資助項(xiàng)目(52J10013)
尹曉慧(1987—),女,碩士研究生.
陳 勁(1976—),男,講師,主要從事測(cè)控技術(shù)和系統(tǒng)以及光電及聲學(xué)檢測(cè)技術(shù)方面的研究.
(責(zé)任編校 紀(jì)翠榮