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        銅箔缺陷分析技術(shù)探索與應(yīng)用

        2011-12-29 09:14:20彭永忠
        銅業(yè)工程 2011年1期

        彭永忠

        (江銅-耶茲銅箔有限公司,江西南昌 330096)

        銅箔缺陷分析技術(shù)探索與應(yīng)用

        彭永忠

        (江銅-耶茲銅箔有限公司,江西南昌 330096)

        印制線路板其質(zhì)量可靠與否必須通過一定的檢測技術(shù)來判定,印制線路板制造工藝復(fù)雜,若其中某一環(huán)節(jié)出現(xiàn)質(zhì)量問題,將導(dǎo)致印制線路板報廢。切片分析技術(shù)是最直觀、低成本、高效率的分析技術(shù)。

        切片;銅箔;覆銅板;印制線路板;檢測技術(shù);顯微技術(shù)

        1 引言

        印制線路板其質(zhì)量可靠與否必須通過一定的檢測技術(shù)來判定,印制線路板制造工藝復(fù)雜,若其中某一環(huán)節(jié)出現(xiàn)質(zhì)量問題,將導(dǎo)致印制線路板報廢。那么檢驗(yàn)印制線路板可分過程檢驗(yàn)和成品檢驗(yàn)。

        2 常用的檢驗(yàn)印制線路板手段

        目檢、放大鏡檢驗(yàn)、顯微鏡檢驗(yàn)、背光檢驗(yàn)、AOI (掃描圖像,參數(shù)對比)檢驗(yàn)等。

        作為檢驗(yàn)手段之一的金相切片技術(shù),因其投資小,應(yīng)用范圍廣,而被印制線路板生產(chǎn)廠家廣泛采用。銅箔供應(yīng)商要分析客戶的投訴樣品,也必須具備相應(yīng)的技術(shù)手段分析是否為銅箔問題造成板材缺陷。

        銅箔缺陷分析技術(shù)除目前的光學(xué)顯微技術(shù)、電子顯微技術(shù)、能譜分析外,還應(yīng)當(dāng)加強(qiáng)印刷線路板行業(yè)常規(guī)的分析方法:切片分析技術(shù)。

        通過銅箔公司客服團(tuán)隊不斷探索、試驗(yàn),我們已經(jīng)完整掌握了此項(xiàng)技術(shù),已在銅箔公司分析銅箔缺陷過程中發(fā)揮了巨大的作用,同時也為銅箔公司減少了因線路板缺陷責(zé)任歸屬問題可能引起的巨額賠償責(zé)任。

        3 典型例子

        例1,2010年3月公司發(fā)往昆山某線路板廠的銅箔因SEM無法觀測到溝壑缺陷現(xiàn)象而導(dǎo)致銅箔退貨。

        圖1 銅箔毛面溝壑缺陷-切片圖

        例2,2010年4月深圳某線路板廠投訴公司銅箔厚度偏薄,雙方現(xiàn)場試驗(yàn)時發(fā)現(xiàn):由于切片研磨時,因出現(xiàn)多個研磨面而導(dǎo)致的測量誤差。

        圖2 樣品多個研磨面示意圖

        例3,2009年5月銅陵某覆銅板廠投訴我司銅箔壓板、蝕刻后出現(xiàn)殘銅,雙方現(xiàn)場試驗(yàn)時發(fā)現(xiàn):

        蝕刻殘銅是由附著在銅箔毛面的銅箔切屑在壓板時游離到PP內(nèi)造成;不是由銅粉脫落或銅芽過長造成。而雙方均對銅箔進(jìn)行過載切,均有可能產(chǎn)生銅切屑,公司沒有因此而承擔(dān)全部品質(zhì)責(zé)任,減少了賠償損失。

        4 光顯、電顯的特點(diǎn)

        光學(xué)顯微鏡成像特點(diǎn):只能觀測平面像、透明的物體內(nèi)部像、有顏色的影像等;

        電子顯微鏡成像特點(diǎn):只能觀測物體立

        體的、表面的、黑白的微觀輪廓影像,無法觀測色差、氧化等銅箔缺陷;因電子的穿透力不如光子,故不能觀測透明的物體內(nèi)部雜質(zhì)影像,無法觀測蝕刻殘銅,且制樣時,要保證樣品表面導(dǎo)電。非金屬樣品必須對樣品表面進(jìn)行噴金處理[1]。

        而切片只需通過與光顯組合分析,可達(dá)到簡潔、準(zhǔn)確觀測銅箔影像的目的。

        5 金相切片技術(shù)的探索

        金相切片技術(shù)在銅箔公司是一項(xiàng)空白,銅箔公司只擁有必要的設(shè)備、耗材,缺乏相應(yīng)的技術(shù)資料;網(wǎng)上有通用的理論資料,但缺乏具體的工藝參數(shù)和制作經(jīng)驗(yàn),如:膠水的配比、凝固時間、透明度、硬度、研磨技術(shù)、拋光技術(shù)等都要經(jīng)過我們不斷試驗(yàn)、摸索才能制作出清晰且無變形的切片樣品。真實(shí)再現(xiàn)缺陷的微觀原貌。

        金相切片是一種破壞性測試,可測試印制板的多項(xiàng)性能參數(shù)。例如:銅芽分布、銅芽長度、銅箔厚度、蝕刻殘銅、樹脂沾污,鍍層裂縫,孔壁分層,焊料涂層情況,層間厚度,鍍層厚度,孔內(nèi)鍍層厚度,側(cè)蝕,內(nèi)層環(huán)寬,層間重合度,鍍層質(zhì)量,孔壁粗糙度等[2]。

        總之,如同醫(yī)生用x光給病人看病一樣,它可以觀察印制板表層和斷面微細(xì)結(jié)構(gòu)的缺陷和狀況。

        6 金相切片技術(shù)的應(yīng)用

        6.1 取樣

        樣品應(yīng)有代表性且平整。切下的樣品表面平整有三個優(yōu)點(diǎn):

        (1)成型后樣品的變形最小;

        (2)花在后續(xù)的研磨和拋光的時間最短;

        (3)制作過程中使用之耗材最少。

        6.2 鑲埋/鑲嵌

        將樣品埋在樹脂中(冷埋樹脂或水晶樹脂膠),從而保證后續(xù)研磨拋光制作的方便,并提高樣品標(biāo)本的最終結(jié)果的準(zhǔn)確性。

        鑲埋分為冷埋、熱埋及真空鑲埋三種方式。

        我們目前選用冷埋方式:將樣品放入模具中,然后再把攪拌好的樹脂和硬化劑的混合物倒入模具中,然后在常溫、常壓之下硬化成透明固體狀物體,這種鑲埋的方式比較經(jīng)濟(jì)使用。

        如下圖所示:

        圖7 鑲埋——冷埋方式示意圖

        (1)保持切割面與待觀測面平行或垂直。

        (2)將樣品直立于模內(nèi),并用夾具使樣品穩(wěn)定其位置,讓待檢部位朝下。

        (3)取一小紙杯將冷埋樹脂(固態(tài)粉末)與固化劑(液態(tài))按2∶1體積比混合,同時沿同一方向緩慢攪拌至均勻。

        沿同一方向緩慢攪拌的目的:

        盡量不能讓混合物產(chǎn)生氣泡,從而影響觀測效果。

        (4)用引流棒把勻質(zhì)的混合物沿同一位置緩慢倒入樣品杯內(nèi),直到樣品完全浸沒。

        沿同一位置緩慢倒入模具的目的:

        盡量不能讓混合物從多個位置注入樣品杯內(nèi),減少流膠封住氣體,使氣體無法完全排出,凝膠后產(chǎn)生氣腔、氣室,從而影響研磨和觀測效果。

        (5)將模具靜置10~20 min,待樹脂完全固化[3]。

        6.3 粗磨

        樣品研磨分為:粗磨、細(xì)磨。

        切片樣品的前期處理過程基本相同,即用180#砂紙磨到接近理想的觀察位后,在依次用600#、1000#砂紙對先前的粗糙形變予以基本的消除處理,然后用2000#或3000#砂紙做最后細(xì)磨處理。在整個的研磨過程中,先前的形變將隨著砂紙的不斷更換而逐漸消除。但是一味的依靠提高砂紙的型號,并不能將樣品樣品的形變?nèi)肯?]。

        下面以銅箔樣品-35μm為例加以闡述其過程:

        圖8 研磨——粗磨、細(xì)磨示意圖

        用固定在研磨盤上的砂紙(600#~1200#),從樣品表面切削掉多余的微小碎片,從而使樣品表面達(dá)到需要的較理想的界面。研磨粒子越大,研磨率也就越高,表面也越粗糙。

        粗磨是最初步驟,其主要目的是確保樣品表面的平整性,如果樣品表面一開始就已經(jīng)很平,那么粗磨步驟就可以節(jié)省一些時間。

        注意:研磨也可能會同時造成樣品變形。

        研磨所使用的砂紙型號:600#。

        樣品標(biāo)本的厚度為52.30μm,比實(shí)際樣品厚度的35μm超出17.30μm,誤差率為49.43%。

        圖9 使用600#砂紙研磨效果圖

        研磨所使用的砂紙型號:1000#。

        樣品標(biāo)本的厚度為51.16μm,比實(shí)際樣品厚度的35μm超出16.16μm,誤差率為46.17%。形變已經(jīng)有進(jìn)一步的減少和消除。

        圖10 使用1000#砂紙研磨效果圖

        6.4 細(xì)磨

        細(xì)磨是定型步驟(砂紙型號:2000#~3000#),細(xì)磨的最主要目的是將切割或粗磨時對樣品所造成的變形降到最小,以便于拋光過程中能將所有的變形都清除。

        研磨所使用的砂紙型號:2000#。

        樣品標(biāo)本的厚度為43.60μm,比實(shí)際樣品厚度的35μm超出8.60μm,誤差率為24.57%。形變已經(jīng)有更進(jìn)一步的減少和消除?;窘咏鼘?shí)際的理論值。

        圖11 使用2000#砂紙研磨效果圖

        研磨所使用的砂紙型號:3000#。

        樣品標(biāo)本的厚度為42.46μm,比實(shí)際樣品厚度的35μm超出7.46μm,誤差率為21.31%。形變已經(jīng)有更進(jìn)一步的減少和消除?;窘咏鼘?shí)際的理論值。但仍不能作為最后的理論值加以評估,否則將導(dǎo)致實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的嚴(yán)重失真。

        圖12 使用3000#砂紙研磨效果圖

        研磨技術(shù)要點(diǎn):

        (1)保持待觀測面與研磨面平行。

        (2)粗磨樣品時要來回轉(zhuǎn)動樣品90°,使研磨面平整。

        (3)若切片樣是用于觀測銅芽,細(xì)磨樣品時,研磨面的運(yùn)動方向要與銅芽生長方向垂直。

        (4)若切片樣是用于觀測內(nèi)層爆板、空洞等缺陷,細(xì)磨樣品時,研磨面的運(yùn)動方向要與銅箔亮面平行。

        (5)觀測雙面板銅箔的某一面時,研磨面的圓周運(yùn)動方向應(yīng)背離待觀測面銅箔。

        樣品用砂紙研磨的結(jié)果:

        通過以上砂紙的研磨過程我們可以看出:

        隨著砂紙型號的不斷提升,樣品標(biāo)本的實(shí)際值也將越接近理論值。但是光靠砂紙型號的提升,根本無法使實(shí)際值達(dá)到理論值,而且其誤差也根本非實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)分析所能接受。由此切片的后期處理也就顯得非常重要。

        切片的后期處理過程:

        金相切片的后期處理乃為最終形變消除的過程。常規(guī)處理的方法有兩種:金相液微蝕法和拋光法。兩種方法都能將標(biāo)本的形變基本完全消除,從而是標(biāo)本的實(shí)際值達(dá)到理論值的效果[5]。仍以上述樣品為例加以闡述說明:(我們目前使用較多的方法:拋光法)

        6.5 拋光

        將少量拋光粉、研磨膏或拋光液放置于拋光布上,然后將樣品放在旋轉(zhuǎn)的拋光布上進(jìn)行鏡面拋光。

        拋光目的在于去除研磨過程中的變形及刮痕,從而得到無刮痕的反射鏡面,同時便于在顯微鏡下進(jìn)行微觀結(jié)構(gòu)分析。

        拋光處理:

        樣品標(biāo)本的厚度為38.27μm,已經(jīng)基本達(dá)成樣品標(biāo)本的理論值??紤]樣品標(biāo)本本身所固有的系統(tǒng)誤差,我們可以認(rèn)為該實(shí)際值即為標(biāo)本樣品厚度的理論值。

        圖15 拋光處理后切片圖

        微蝕處理:

        樣品標(biāo)本的厚度為37.14μm,已經(jīng)基本達(dá)成樣品標(biāo)本的理論值。考慮樣品標(biāo)本本身所固有的系統(tǒng)誤差,我們可以認(rèn)為該實(shí)際值即為標(biāo)本樣品厚度的理論值。

        圖16 微蝕處理后切片圖

        6.6 微蝕處理的另一種應(yīng)用

        銅箔鍍銅后總厚度發(fā)生了改變,可通過切片的微蝕處理,重現(xiàn)銅箔與鍍銅層的分界線,可應(yīng)用于追溯銅箔的原始厚度,缺陷所產(chǎn)生的對應(yīng)工序[6]。

        圖17 銅箔與鍍銅層的分界線

        6.7 切片制作過程中可能出現(xiàn)的問題

        (1)待觀測面與樣品不垂直;影響測量精度。

        圖18 待觀測面與樣品不垂直(研磨面傾斜)

        (2)待觀測面與樣品不垂直(樣品傾斜);影響測量精度。

        圖19 待觀測面與樣品不垂直(樣品傾斜)

        (3)待觀測面研磨成多個面;影響觀測效果和測量精度。

        圖20 待觀測面研磨成多個面

        (4)研磨成多個面的觀測效果

        圖21 研磨成多個面的觀測效果圖

        7 結(jié)語

        切片分析技術(shù)雖然是最直觀、低成本、高效率的分析技術(shù),但需要嫻熟的切片制作技術(shù)才能真正發(fā)揮其作用。

        [1]張懷武.何為現(xiàn)代印制原理與工藝[M].北京:機(jī)械工業(yè)出版社,2006,3.

        [2]辛國勝,楊興全.印制電路資訊[J].深圳:電子行業(yè)協(xié)會,2009,11.

        [3]辛國勝,楊興全.印制電路資訊[J].深圳:電子行業(yè)協(xié)會,2010,2.

        [4]祝大同.印制電路用覆銅箔層壓板新技術(shù)[M].北京:水利水電出版社,2006,2.

        [5]祝大同.覆銅板資訊[J].陜西:覆銅板行業(yè)協(xié)會主辦,2009,6.

        [6]林金堵.例子制電路信息[J].上海:例子制電路行業(yè)協(xié)會主辦,2009,9.

        Exploration and Application of Copper Foil Defect Analysis Technology

        PENG Yong-zhong

        (JCC-Yates Copper Foil Inc.,Nanchang,China 330096)

        Printed circuit boards must pass certain tests to determine their quality reliability.Manufacturing printed circuit board is a complex process.If there is a quality problem,it will scrap printed circuit board and make it useless.Cross section technology is the analysis technology with the most intuitive,cost-effective and high efficiency.

        section;copper foil;CCL;PCB;detection technology;microscopy technology

        TN41

        B

        1009-3842(2011)01-0046-05

        2010-12-23

        彭永忠(1965-),男,漢族,江西新余人,工業(yè)工程碩士,主要從事銅箔品質(zhì)管理工作,E-mail:pyzjxtb@sina.com

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