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        IC封裝中高頻段芯片電磁兼容分析

        2011-10-26 07:53:42華北電力大學(xué)電氣與電子工程學(xué)院陳銀紅高雪蓮
        河南科技 2011年20期
        關(guān)鍵詞:管腳電感電容

        華北電力大學(xué) 電氣與電子工程學(xué)院 陳銀紅 高雪蓮

        IC封裝中高頻段芯片電磁兼容分析

        華北電力大學(xué) 電氣與電子工程學(xué)院 陳銀紅 高雪蓮

        隨著電子技術(shù)的迅猛發(fā)展,集成電路中芯片的無源元件,如電容、電感和電阻等占的比例越來越大,元件數(shù)目也越來越多,而芯片的尺寸日益減小,導(dǎo)致電子產(chǎn)品的電磁兼容問題日益突出。如何對芯片源器件合理布局,降低電磁干擾,成為當(dāng)前一大難題。與此同時,電子產(chǎn)品功能的日益復(fù)雜化及其性能的不斷提高,使得電子器件的密度和工作頻率都不斷攀升;同時, 傳輸時延、反射、串?dāng)_、電磁干擾及地電噪聲等問題也嚴(yán)重影響電路設(shè)計的可靠性,工程師面臨挑戰(zhàn)日益嚴(yán)峻。除了要對人為的和非人為的電磁兼容(EMC)和電磁干擾(EMI)有一個很好的了解之外,在芯片真正投入生產(chǎn)之前如何利用軟件對其做EMC預(yù)測仿真,以期高質(zhì)量、高效率地完成設(shè)計,對工程師來說變得尤為重要。

        一、芯片設(shè)計中的EMC分析

        在很多芯片的研發(fā)流程中,EMC問題都是在產(chǎn)品研制出來后經(jīng)測試才發(fā)現(xiàn)的,需要反復(fù)修改,嚴(yán)重影響了產(chǎn)品的研發(fā)進(jìn)度;有時還因為時間或空間緊張的原因,不能及時解決所有問題,造成事后多次返工,嚴(yán)重浪費人力、物力。利用先進(jìn)的設(shè)計軟件,可在產(chǎn)品設(shè)計初期,同步進(jìn)行EMC仿真分析,對芯片管腳電容、電感進(jìn)行分析評估,得出互電容、互電感、自電容、自電感等的矩陣分布,為產(chǎn)品設(shè)計人員提供EMC分析數(shù)據(jù),使設(shè)計中潛在的EMC問題得到處理。

        本文,筆者首先采用基于有限元法(Finite Element Method,F(xiàn)EM)的三維電磁場軟件Q3D,對14×14 四列直插式扁平外殼型芯片管腳及內(nèi)部的鍵合線搭建三維物理模型,采用有限元法進(jìn)行高頻電磁場分析,得到精確的電容電感矩陣參數(shù);其次采用參數(shù)提取方法提取部分等效管腳參數(shù)值;最后利用優(yōu)化仿真功能不斷改進(jìn)參數(shù),以得到較理想的結(jié)果。

        二、模型的建立與仿真

        芯片級EMC仿真軟件Q3D的主要功能是建模,把設(shè)計模型的尺寸作為參數(shù)輸入,通過對芯片不同管腳施加高低電平,預(yù)測產(chǎn)生的電容、電感,進(jìn)而減小矩陣規(guī)模,對矩陣進(jìn)行優(yōu)化,得到較好的電容電感的矩陣參數(shù)、表面電流密度場、矩陣最上一行電容分布列表以及最佳的矩陣參數(shù)收斂點。其應(yīng)用流程是在產(chǎn)品研制的方案階段,對一些準(zhǔn)備沿用的芯片進(jìn)行評估,以確定是否需要改進(jìn)設(shè)計;在試樣階段,對所有的新設(shè)計或改進(jìn)設(shè)計的印制板進(jìn)行評估,同時與部件級和系統(tǒng)級EMC分析軟件結(jié)合,進(jìn)行產(chǎn)品電磁干擾和電磁敏感度分析;在定型階段,與其他相關(guān)軟件聯(lián)合對產(chǎn)品EMC進(jìn)行評估。

        1. 封裝外殼各管腳的建模與仿真。利用Aansoft Q3D Extractor,建立四列直插芯片封裝外殼模型,由于對稱性,本實驗選取模型的1/4建立有限元模型。坐標(biāo)系的單位選定毫米,具體建模過程如下。

        (1)確定芯片封裝結(jié)構(gòu)尺寸,畫出芯片封裝外殼及管腳模型。輸入模型尺寸的同時,確定各個材料的屬性;對不同的材料設(shè)定不同的顏色,以便區(qū)分。材料參數(shù)及尺寸數(shù)據(jù)見表1。

        (2)進(jìn)行模型的Boolean運算,得到正確的模型。如圖1。

        (3)給各個管腳自動分配二維節(jié)點。對節(jié)點分配電源和熱沉。

        (4)求解??梢宰杂稍O(shè)定出錯率冗余度、頻率范圍,求得電容和電感。

        (5)保存數(shù)據(jù)。

        表1 封裝外殼模型材料參數(shù)及尺寸相關(guān)數(shù)據(jù)

        圖1 芯片封裝外殼封裝模型

        (6)檢查錯誤。如果有錯誤,根據(jù)提示,進(jìn)行修改。直至正確無誤。

        (7)仿真分析。

        (8)查看求解結(jié)果。由此得到相關(guān)表列文件、最佳電容收斂點,以圖形畫出(圖2,圖3)。由列表和圖看出,在第六階段就達(dá)到收斂,即可得到穩(wěn)定的電容值。

        圖2 電容C收斂點數(shù)據(jù)

        圖3 電容C的收斂階段

        (9)提取電感、電容矩陣,分別如圖4、圖5所示。矩陣的主對角線上分別是自電容、自電感;非主對角線上的分別是各管腳的相互電容,互電感。由圖分析可知,自電容是正值,互電容為負(fù)值,自電容絕對值大于互電容絕對值,管腳相互之間距離越遠(yuǎn),互電容絕對值越小。

        圖4 部分電容分布矩陣

        圖5 部分交流電感分布矩陣

        (10)對電源進(jìn)行編輯,得到不同電源分配狀態(tài)下各管腳的電容分布,如圖6,圖7所示。由圖可以看出管腳電平設(shè)置為高電平的電容值大,管腳為低電平的電容值小,編輯產(chǎn)生的電容密度范圍為0.000 0~1.423 9E3(C/m2)。

        圖6 各管腳電源大小

        圖7 各管腳電容分布

        (11)減小矩陣規(guī)模,對矩陣進(jìn)行優(yōu)化。查看優(yōu)化后的矩陣結(jié)果,如圖8所示。

        圖8 對電容矩陣優(yōu)化后得到的電容分布

        (12)顯示14個管腳Pin_1,Pin_1_1~Pin_1_13交流場時磁場表面電流密度,如圖9所示。

        圖9 編輯電源電平后,對應(yīng)的各管腳磁場表面電流密度

        2. 芯片內(nèi)部鍵合線的建模與仿真。目前設(shè)計較為復(fù)雜的芯片,應(yīng)該是以DSP與FPGA為核心,以信號處理為主要功能的高速芯片。此類芯片的一個共同特點是廣泛采用模擬和數(shù)字分離技術(shù),采用多層PCB結(jié)構(gòu),并在結(jié)構(gòu)上采用了地電平面的分割。對于這樣的PCB,尤其要重視地電噪聲與EMI問題,因為地電平面的分割會導(dǎo)致共模噪聲的增加。原理上,可以通過并連和串聯(lián)節(jié)點減小矩陣的維數(shù),減少計算量,簡化模型,但這時會涉及回流的問題?;亓髀窂讲划?dāng)是產(chǎn)生共模噪聲的主要原因(前向電流經(jīng)過信號線流出,但是返回的電流可能會流經(jīng)未知區(qū)域),前向電流和回流所形成的區(qū)域會產(chǎn)生輻射噪聲。為了減少上述原因引起的電磁干擾,在進(jìn)行電源與地的分割時,可以利用鍵合線將電源和芯片的地連接起來。

        仍然使用Aansoft Q3D Extractor,建立四列直插芯片封裝的內(nèi)部芯片模型,由于對稱性,本實驗選取模型的1/4建立有限元模型,材料參數(shù)及尺寸數(shù)據(jù)如表2所示。通過建模仿真分析,可以得到鍵合線的電容矩陣分布;通過有選擇性地合并管腳連接形式,可以得到不同管腳并連時的環(huán)路自電感、環(huán)路互電感矩陣分布。此處電感矩陣均為正值。在模型各部分建模結(jié)束,進(jìn)行模型的Boolean運算后,得到正確的模型,如圖10所示。

        表2 芯片內(nèi)部模型材料參數(shù)及尺寸相關(guān)數(shù)據(jù)

        圖10 14鍵合線芯片結(jié)構(gòu)

        利用軟件進(jìn)行仿真分析,求得電容矩陣和ACRL矩陣、DCRL矩陣。如圖11、圖12、圖13??s小矩陣規(guī)模,得到優(yōu)化后的矩陣。此處把鍵合線1和14并連,得到的矩陣命名為114G,并為Bondwire114設(shè)置回路。然后再把鍵合線1和13并連,得到的矩陣命名為113G,并為Bondwire113設(shè)置回路。

        圖11 電容C部分矩陣數(shù)據(jù)

        圖12 部分交流電感矩陣分布

        圖13 部分直流電感矩陣分布

        (13)查看求解結(jié)果??梢缘玫綄?yīng)的114GACRL矩陣分布(部分矩陣如圖14所示)。以及13GACRL矩陣分布(部分矩陣如圖15所示)。

        圖14 114G_1部分ACRL矩陣分布

        圖15 113G_1部分ACRL矩陣分布

        三、結(jié)論

        本次仿真主要利用 Q3D 軟件進(jìn)行了芯片的EMC仿真分析, 包括芯片封裝外殼管腳的電容、電感矩陣參數(shù)的提取,矩陣優(yōu)化,處于磁場中的芯片表面電流密度分布等。對矩陣不斷優(yōu)化,減小矩陣規(guī)模,得到參數(shù)不斷優(yōu)化的矩陣。通過這一系列的電容、電感的預(yù)測,獲得了一組電磁干擾相對較小的數(shù)據(jù),對以后芯片的設(shè)計和大批量生產(chǎn)電磁輻射小的電子產(chǎn)品具有指導(dǎo)作用。本文給出了芯片在高頻工作時的電磁兼容性分析以及相應(yīng)的建模實現(xiàn)過程與方法。在多數(shù)復(fù)雜芯片中,在對其進(jìn)行仿真時,比如用ANSYS進(jìn)行電磁仿真時,還要自行設(shè)置網(wǎng)格,進(jìn)行網(wǎng)格劃分才能進(jìn)行精確的仿真, 需要的計算資源會非常大。相比之下, Q3D軟件可以自身自動化分網(wǎng)格,不必大費周折一次又一次地選定各個單元模型的尺寸。另外,用Q3D軟件對多管腳和多鍵合線的芯片建模,比用其他軟件更易于建模,人性化的設(shè)計使建立的三維模型更易于觀看。因此,用較少的計算資源和時間便能仿真得到高頻下芯片電容、電感矩陣分布等有價值的數(shù)據(jù)。

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