周華春

摘要：手機(jī)故障可以分為兩種類型，一種是硬件故障，而另外一種就是軟件故障。手機(jī)軟件故障通常是由于手機(jī)電路中的存儲(chǔ)器，受到靜電干擾等原因而使存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)丟失或者損壞。要檢修手機(jī)的軟件故障，就必須對手機(jī)的存儲(chǔ)器中的軟件進(jìn)行改寫，用正常的軟件去代替原來損壞的軟件。下面介紹的是用UP-128手機(jī)軟件編程儀對手機(jī)存儲(chǔ)器中的軟件進(jìn)行更新。

關(guān)鍵詞：手機(jī)；軟件；UP-128；編程儀

一、UP-128軟件編程儀的特點(diǎn)

UP-128軟件編程儀是將手機(jī)的存儲(chǔ)器從手機(jī)電路板上取下來，經(jīng)過植錫再安裝到軟件編程儀上，通過電腦與UP-128軟件編程儀的配套操作軟件，將電腦中正常的手機(jī)軟件去代替存儲(chǔ)芯片中原理的軟件，UP-128軟件編程儀的特點(diǎn)很多。

1. FLASH自動(dòng)選型：景天電子首創(chuàng)的FLASH自動(dòng)選型功能，對標(biāo)示型號(hào)不完整或未知型號(hào)的FLASH，只要按“F5”鍵即可自動(dòng)選擇選擇好器件型號(hào)。

自行增加器件支持：用戶自行增加器件型號(hào)支持功能為國內(nèi)首創(chuàng) ，對軟件未支持的器件型號(hào)，用戶可根據(jù)軟件提示自行增加該型號(hào)，確保用戶第一時(shí)間得到器件支持，軟件升級(jí)也可DIY。

2. 真正的全字庫復(fù)制，一次性讀寫整個(gè)FLASH和測試暫存：真正全面支持包括隱含扇區(qū)和加密位在內(nèi)的全字庫復(fù)制，一次性讀寫FLASH、NAND FLASH、加密位和片內(nèi)隱含扇區(qū)以及測試片內(nèi)暫存器（RAM），無須分次進(jìn)行。

3. 獨(dú)有編程數(shù)據(jù)中心：實(shí)時(shí)顯示插座圖、適配器圖和管腳名稱，鼠標(biāo)指到之處馬上顯示該管腳的名稱，并提供器件詳盡的原廠PDF文檔，擁有UP-128就擁有完整器件數(shù)據(jù)庫。

4. 接觸不良監(jiān)測和短路檢測功能：獨(dú)創(chuàng)的短路檢測功能。對 各種封裝的器件可直接檢測器件內(nèi)部短路、引腳短路或適配器短路。檢測到器件短路時(shí)，會(huì)有醒目的藍(lán)色閃爍提示。

5. 編程錯(cuò)誤自動(dòng)提示提高脈沖或電壓重試：在器件編程操作出錯(cuò)后，軟件會(huì)自動(dòng)提高器件的編程脈沖寬度或器件的VCC電壓重新進(jìn)行操作，大大提高舊器件的利用率。

二、對器件的操作

對器件的操作包括幾個(gè)步驟：查空、自動(dòng)測試片內(nèi)RAM（內(nèi)置暫存）、讀入、編程、比較、擦除、加密。單獨(dú)操作可以用鼠標(biāo)單擊工具欄的相應(yīng)按鈕或者“器件”的相應(yīng)子菜單進(jìn)行也可以使用相應(yīng)的快捷鍵操作。

1.查空

檢查器件是否為空白狀態(tài)，器件的空白狀態(tài)一般是全部數(shù)據(jù)為FF?！捌骷辈藛紊嫌腥齻€(gè)可選操作：查空全部，即對整個(gè)器件進(jìn)行查空；查空片內(nèi)隱含扇區(qū)，即只對片內(nèi)隱含扇區(qū)查空；查空片內(nèi)NAND FLASH,即只對片內(nèi)NAND FLASH查空。可在“器件”菜單中選擇相應(yīng)命令進(jìn)行操作。

2.自動(dòng)測試片內(nèi)RAM（內(nèi)置暫存）

當(dāng)在“選項(xiàng)”設(shè)置中選中“測試片內(nèi)RAM”，則在讀入，查空，效驗(yàn)和編程等操作前均會(huì)自動(dòng)測試片內(nèi)RAM；而不選中“測試片內(nèi)RAM”時(shí)，在讀入，查空，校驗(yàn)會(huì)提示是否測試，在編程時(shí)則直接進(jìn)行編程操作，不提示是否測試，如圖1所示：

3.讀入

把器件的數(shù)據(jù)讀入到緩沖區(qū)操作：讀入全部，即讀入整個(gè)器件的數(shù)據(jù)到緩沖區(qū)；讀入片內(nèi)隱含扇區(qū)，即只讀入片內(nèi)隱含扇區(qū)數(shù)據(jù)；讀入片內(nèi)NAND FLASH，即只讀入片內(nèi)NAND FLASH的數(shù)據(jù)?？稍凇捌骷辈藛沃羞x擇相應(yīng)命令進(jìn)行操作。

如果器件具有加密位，在讀入操作時(shí)，軟件會(huì)自動(dòng)讀入加密位，并保存在緩沖區(qū)的最后部分。

4.編程

包括若干個(gè)自動(dòng)進(jìn)行步驟，通常包括自動(dòng)測試片內(nèi)RAM、擦除、查空、編程、校驗(yàn)、自動(dòng)讀取片內(nèi)隱含扇區(qū)和自動(dòng)讀寫片內(nèi)NAND FLASH等步驟，在“選項(xiàng)”設(shè)置中設(shè)定。

“器件”菜單上有三個(gè)可選操作：編程全部，即對整個(gè)器件編程，包括片內(nèi)隱含扇區(qū)、NAND FLASH和加密位；編程片內(nèi)隱含扇區(qū)，即只對片內(nèi)隱含扇區(qū)進(jìn)行編程；編程片內(nèi)NAND FLASH，即只對片內(nèi)NAND FLASH編程?？稍凇捌骷辈藛沃羞x擇相應(yīng)命令進(jìn)行操作。

5.校驗(yàn)

校驗(yàn)器件的數(shù)據(jù)和緩沖區(qū)的數(shù)據(jù)是否一致。

“器件”菜單上有三個(gè)可選操作：校驗(yàn)全部，即校驗(yàn)整個(gè)器件的數(shù)據(jù)；校驗(yàn)片內(nèi)隱含扇區(qū)，即只對片內(nèi)隱含扇區(qū)進(jìn)行校驗(yàn)；校驗(yàn)片內(nèi)NAND FLASH，即只對片內(nèi)NAND FLASH進(jìn)行校驗(yàn)?？稍凇捌骷辈藛沃羞x擇相應(yīng)命令進(jìn)行操作。

6.比較

逐一比較器件的數(shù)據(jù)和緩沖區(qū)的數(shù)據(jù)是否一致。比較操作和校驗(yàn)操作有所不同，校驗(yàn)操作一旦發(fā)現(xiàn)器件的數(shù)據(jù)和緩沖區(qū)的數(shù)據(jù)不一致就馬上停止，點(diǎn)擊“下一個(gè)”按鈕可以繼續(xù)進(jìn)行比較，直到比較完整個(gè)器件資料或者用戶取消為止。

“器件”菜單上有三個(gè)可選操作：比較全部，即對整個(gè)器件數(shù)據(jù)和緩沖區(qū)數(shù)據(jù)比較；比較片內(nèi)隱含扇區(qū)，即只對片內(nèi)隱含扇區(qū)部分和緩沖區(qū)相應(yīng)部分進(jìn)行比較；比較片內(nèi)NAND FLASH，即只對片內(nèi)NAND FLASH部分和緩沖區(qū)相應(yīng)數(shù)據(jù)進(jìn)行比較?？稍凇捌骷辈藛沃羞x擇相應(yīng)命令進(jìn)行操作。比較過程如圖2所示。

7.擦除

擦除器件的數(shù)據(jù)，擦除后器件編程空白狀態(tài)。如果所選器件無需擦除，工具欄的“擦除”按鈕會(huì)失效。

“器件”菜單上有三個(gè)可選操作：擦除全部，即擦除整個(gè)器；擦除片內(nèi)隱含扇區(qū)，即只對片內(nèi)隱含扇區(qū)進(jìn)行擦除；擦除片內(nèi)NAND FLASH，即只對片內(nèi)NAND FLASH進(jìn)行擦除?？稍凇捌骷辈藛沃羞x擇相應(yīng)命令進(jìn)行操作。

8.加密

讀寫FLASH器件的加密位。具有加密位的器件在確定選型后，軟件會(huì)在提示窗口提示器件具有加密位，如28F320C3B等字庫。用鼠標(biāo)點(diǎn)擊“加密”按鈕，出現(xiàn)如圖3的窗口，如果所選型的器件沒有加密位，該按鈕會(huì)失效。點(diǎn)擊圖3中的相應(yīng)按鈕可進(jìn)行相應(yīng)的顯示、讀寫加密位的操作。

器件在讀入和保存操作時(shí)會(huì)自動(dòng)將加密位一起讀入和保存，數(shù)據(jù)位置在緩沖區(qū)的最后17字節(jié)。

其中Factory(Rcad Only)為廠家一次性密碼，只可讀寫不可改寫，是FLASH器件出廠時(shí)就具有的全球唯一的密碼，每一顆FLASH器件都不相同；其中的User Ptogtammed(OTP)事用戶代碼，用戶可以一次性寫入。對軟件未支持的器件型號(hào)，用戶可根據(jù)軟件提示自行增加該器件型號(hào)。

本文簡要介紹了UP-128編程儀的使用操作，操作中要注意UP-128編程儀與電腦的連接，如果連接不能成功，那么整個(gè)操作將無法進(jìn)行，遇到無法連接的問題，注意檢查UP-128編程儀與電腦的連接線連接是否正常，以及電腦上安裝的UP-128編程儀驅(qū)動(dòng)軟件是否正常，還有電腦的接口設(shè)置是否正確等問題，將上述問題處理好就可以正常聯(lián)機(jī)。

注：本文中所涉及到的圖表、注解、公式等內(nèi)容請以PDF格式閱讀原文