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        一種消除CMOS圖像傳感器行噪聲的時序*

        2011-10-20 10:54:16李斌橋徐江濤
        傳感技術(shù)學(xué)報 2011年10期
        關(guān)鍵詞:電平時序時刻

        王 艷,李斌橋,徐江濤

        (天津大學(xué)電子信息工程學(xué)院,天津 300072)

        CMOS圖像傳感器由于具有高集成度、圖像信息隨機(jī)讀取、低功耗、和低成本等一系列優(yōu)勢,在許多應(yīng)用領(lǐng)域正逐漸取代CCD圖像傳感器[1]。但是由于CMOS圖像傳感器的讀出電路中采用大量的有源器件,使得CMOS的噪聲水平高于CCD圖像傳感器[2,10]。CMOS圖像傳感器普遍采用的像素讀出方法是逐行讀出,由于像素陣列和電源、地以及讀出電路的共模參考電平存在隨機(jī)的噪聲,這種讀出方法會引入瞬態(tài)噪聲。同一時刻讀出的一行像素會帶有大小相等的噪聲,而行與行之間由于讀出時刻不同,使得這個噪聲大小不同,稱之為行隨機(jī)噪聲[3]。行隨機(jī)噪聲在圖像中表現(xiàn)為水平條紋,嚴(yán)重影響圖像質(zhì)量。傳統(tǒng)的四管有源像素滾筒曝光讀出時序,可以有效的消除復(fù)位管引入的隨機(jī)熱噪聲,但是無法消除隨機(jī)的行噪聲。本文改進(jìn)了4T像素的時序,在讀取圖像信號時增加了行隨機(jī)噪聲的讀取以及存儲,從而消除行隨機(jī)噪聲。

        1 4T像素分析

        1.1 4T 像素結(jié)構(gòu)

        CMOS圖像傳感器4T像素的結(jié)構(gòu)如圖1(a)所示。像素由Pinned光電二極管PD、傳輸門(MTx)、復(fù)位管(MRS)、放大管(MRD)和選通管(MSEL)組成。后面的電路是讀出電路的采樣保持SH1和SH2分別對Reset(RST)信號和Signal采樣保持,兩次采集的信號的差就是光信號[4]。

        圖1 四管像素結(jié)構(gòu)與工作時序

        1.2 傳統(tǒng)時序的噪聲特性

        CMOS圖像傳感器中存在固定模式噪聲(Fixed Pattern Noise)和瞬態(tài)噪聲(Temporal Noise)兩種噪聲。固定模式噪聲是一種空間噪聲,它不隨時間變化,主要由電路固定結(jié)構(gòu)引入。瞬態(tài)噪聲是一種隨時間隨機(jī)變化的噪聲,如光電二極管的散粒噪聲,晶體管的熱噪聲以及電源的隨機(jī)波動等[2]。這些噪聲如果在行操作時引入,可能會使圖像出現(xiàn)行噪聲,影響圖像質(zhì)量。圖1(a)中標(biāo)出了行噪聲的幾個主要來源,包括像素電源、地以及采樣電路的參考電平。

        雖然相關(guān)雙采樣(CDS)可以極大地降低CMOS圖像傳感器的噪聲水平[9],但是由于像素的Reset信號和Signal信號不是同時采樣的,因此只能消除低頻的噪聲信號,無法消除隨時間隨機(jī)變化的行噪聲。

        四管像素傳統(tǒng)的工作時序如圖1(b)所示。SH1和SH2是后續(xù)讀出電路對復(fù)位信號和圖像信號的采樣保持操作[5]。

        t1時刻行選信號SEL信號置高,選通一行待讀出像素;同時像素FD節(jié)點(diǎn)復(fù)位。

        t2時刻SH1置高,得到包含像素復(fù)位噪聲和行隨機(jī)噪聲的復(fù)位電平,并將信號存儲在采樣電容上,定義該信號為VRST,則

        式(1)中,VR是復(fù)位信號電平,Vnr是RST管的熱噪聲信號,VnSH1是SH1時刻的行隨機(jī)噪聲。

        t3時刻,信號TX置高,此時在PD處聚集的光生電荷從PD區(qū)向FD區(qū)完全轉(zhuǎn)移。由于光電管收集的是帶有負(fù)電荷的電子,因此VFD下降,最終達(dá)到穩(wěn)定時VFD的變化值為:

        其中Qsig代表FD處收集的光生電荷數(shù),CFD代表FD的節(jié)點(diǎn)電容[6-7]。

        t4時刻SH2置高,此時采集像素輸出信號,定義該信號為VSIG。

        其中VnSH2是SH2時刻的行隨機(jī)噪聲。

        VSIG與VRST含有的復(fù)位噪聲Vnr來源于同一復(fù)位過程,因此通過后續(xù)的相關(guān)雙采樣電路可以消除[4],但是VnSH1和VnSH2是隨機(jī)變化的噪聲,不具有相關(guān)性,因此無法消除。

        通過上面的分析可知傳統(tǒng)的時序采用簡單的相關(guān)雙采樣方式能消除復(fù)位管的熱噪聲以及低頻噪聲[8],但是對隨機(jī)行噪聲沒有抑制作用。

        2 改進(jìn)的時序分析

        本文在傳統(tǒng)的4T像素結(jié)構(gòu)基礎(chǔ)上改進(jìn)了像素的讀出時序,在讀取圖像信號時增加了隨機(jī)行噪聲的讀取的操作,并通過減法運(yùn)算在模擬域消除隨機(jī)行噪聲。

        傳統(tǒng)的時序每次只對一行像素進(jìn)行操作,改進(jìn)后的時序要對兩行像素進(jìn)行操作。從圖中可以看出讀出第N行像素時,也對第N+1行的像素進(jìn)行了讀出操作。第N+1行用來對行噪聲進(jìn)行采樣。這種操作時序用全差分的方法去除行噪聲,可以將行隨機(jī)噪聲減小到可以接受的范圍之內(nèi)。

        改進(jìn)的時序如圖2所示,t1時刻行選信號SEL(N)和SEL(N+1)信號置高,選通第N行為待讀出像素,第N+1行用來采樣噪聲;復(fù)位信號RST(N)和RST(N+1)置高,此時像素的儲存節(jié)點(diǎn)將包含本像素復(fù)位噪聲的電平VFD儲存在FD節(jié)點(diǎn)電容上。

        圖2 改進(jìn)后的工作時序

        t2時刻復(fù)位信號RST(N)和RST(N+1)置低,儲存節(jié)點(diǎn)完全與像素電源VDD和光電二極管實(shí)現(xiàn)隔離,此時控制列讀出的采樣信號SH1(N)和SH1(N+1)置高,將VFD經(jīng)放大緩沖管MRD讀出,得到包含像素本次復(fù)位引入的隨機(jī)噪聲的輸出電平,并將信號存儲在采樣電容上,定義該信號為VRST(N)和VRST(N+1),則

        第N行與第N+1行像素有相同的行隨機(jī)噪聲VnSH1。

        在t3時刻,采樣信號SH1(N)和SH1(N+1)置低,信號TX(N)置高,TX(N+1)為低電平,第N行光生電荷轉(zhuǎn)移到FD節(jié)點(diǎn),N+1行的電荷不轉(zhuǎn)移,因此這種讀出方式對第N+1行像素沒有影響。

        t4時刻,控制列讀出電路的采樣信號SH2(N)和SH2(N+1)置高,將此時像素輸出信號采集,定義該信號為VSIG(N)和VSIG(N+1)。

        第N行像素的輸出信號為式(4)與式(6)的差,表示帶有行噪聲的圖像信息,第N+1行像素的輸出為式(5)與式(7)的差,是采集的隨機(jī)行噪聲。

        則式(8)與式(9)做差可以消除掉隨機(jī)的行噪聲,得到

        上述分析說明了新的時序去除行隨機(jī)噪聲的原理,在傳統(tǒng)相關(guān)雙采樣的時序基礎(chǔ)上,增加了隨機(jī)噪聲的讀取,利用全差分的方法來消除行隨機(jī)噪聲。并且每次用不同的行來采樣噪聲信號,因此不會引入額外的固定噪聲。

        3 新時序的仿真驗(yàn)證

        本論文采用 Smic 0.18 μm 工藝,并使用Cadence公司Spectre軟件進(jìn)行仿真,對上述時序進(jìn)行了驗(yàn)證。仿真結(jié)果表明新時序?qū)π须S機(jī)噪聲有明顯抑制作用。

        驗(yàn)證過程如下,在像素陣列的地信號中加上隨機(jī)的白噪聲,地上的信號波形如圖3所示。

        像素陣列地信號中包含的噪聲通過像素內(nèi)的寄生電容耦合到FD節(jié)點(diǎn),并被讀出電路采集。由于行噪聲是整行引入的,因此每一行只要仿真一個像素的情況就可以得到整行像素的行噪聲,這樣可以減小電路的規(guī)模,加快仿真驗(yàn)證的速度。

        圖3 像素陣列地信號加入的隨機(jī)噪聲

        由于在暗光條件下,傳感器需要設(shè)置較高的增益才能得到亮度合適的圖像,高增益下行隨機(jī)噪聲也會隨圖像信號放大,因此噪聲對圖像的影響更為明顯。本論文模擬了暗光環(huán)境(光電管的電流很小),在不考慮暗電流的情況下,設(shè)置增益為1,從而將噪聲歸一化。

        仿真得到三組像素輸出信號,分別為理想無噪聲的圖像信號,包含噪聲的圖像信號,以及采用新時序消除噪聲后的圖像信號。仿真結(jié)果如下圖4所示。

        圖4 仿真得到的圖像信號波形

        曲線1是理想信號,幅值為727 μV,曲線2是帶有噪聲的圖像信號,幅值為526 μV,曲線3是通過新的讀出時序減去噪聲的圖像信號,幅值為699 μV??芍肼曀酱蠹s為200 μV,放大32 倍后為6.4 mV,ADC 的LSB為1 mV,噪聲大于3LSB,將會對圖像造成影響。新時序可以將噪聲從200 μV減小到28 μV,減小了86%,大約為17 dB,信號放大32倍后噪聲僅為976 μV,小于ADC的LSB,量化后不會出現(xiàn)明顯的橫紋。

        MATLAB軟件仿真結(jié)果如圖5所示。圖5(a)為含有行噪聲的原始圖像,可以從圖片上看到明顯的橫紋,圖5(b)為經(jīng)過新時序消除行噪聲后的圖像,在圖片上基本看不到明顯的橫紋。通過對比含有行噪聲的圖像和采用新時序消除行噪聲后的圖像可知,新時序?qū)⑿性肼暣蠓鶞p小后,主觀上從圖像上看不到明顯的橫紋,圖像質(zhì)量得到提高。因此該時序能夠較明顯地改善圖像傳感器在暗光高增益環(huán)境下的成像效果,從而擴(kuò)展了圖像傳感器的應(yīng)用范圍。

        圖5 MATLAB驗(yàn)證結(jié)果

        4 總結(jié)

        本設(shè)計基于SMIC 0.18 μm工藝設(shè)計了CMOS圖像傳感器的新讀出時序,用于消除圖像傳感器的隨機(jī)行噪聲。

        新方法采用采樣噪聲的方法得到噪聲的實(shí)際值,通過兩次全差分過程把圖像信號中的噪聲減掉。仿真結(jié)果表明該方法效果明顯,可以有效的提高圖像質(zhì)量,擴(kuò)展傳感器在暗光、高增益條件下的應(yīng)用。

        [1]El Gamal A,Eltoukhy H.CMOS Image Sensors[J].Circuits and Devices Magazine IEEE,2005,21(3):6-20.

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        [9]Xu Jiangtao,Yao Suying,Zhao Yiqiang.A New CMOS Image Sensor Pixel Array Design Using Dual Sampling for High Dynamic Range[J].Chinese Journal of Sensors and Actuators,2003,16(4):438-441.

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