張雷，趙茂密，歐陽義芳，蔡宏果

（1.廣西大學物理科學與工程技術學院，廣西南寧530004；2.廣西教育學院數(shù)學與計算機科學系，廣西南寧530023）

恒電位儀是電化學測試中的重要儀器，用它可以控制電極電位為指定值，以達到恒電位極化的目的[1]。通過改變恒電位儀的輸入給定電壓，以改變電極上的電位值，即電壓掃描電路。傳統(tǒng)的電壓掃描電路采用手動逐點調(diào)節(jié)、機械傳動調(diào)節(jié)或是由計數(shù)器及運算放大器組成的簡易數(shù)模轉(zhuǎn)換電路來實現(xiàn)掃描電壓的調(diào)整[2]，控制精度低、穩(wěn)定性較差、線性度差、電路復雜，且受溫度影響較大。16位數(shù)模轉(zhuǎn)換器DAC8831具有高精度、高穩(wěn)定性等優(yōu)點，將其與STC89C51單片機構(gòu)成電壓掃描電路應用于恒電位儀中，電路結(jié)構(gòu)簡單、成本低，具有高精確度、高穩(wěn)定性、高線性度，完全能夠滿足恒電位儀低速掃描要求，且通過編程還可實現(xiàn)多種波形的輸出，擴展能力強。

116 位數(shù)模轉(zhuǎn)換器DAC8831

1.1 DAC8831概述

DAC8831是TI公司的一款16位電壓輸出型數(shù)模轉(zhuǎn)換器，具有轉(zhuǎn)換速度快、超低功耗（最低15 μW）、高精度（DAC8831ICD最大線性誤差不超過±1 LSB）、18 nV/低輸出噪聲、高速SPI接口（最高可達50 MHz）、上電自動校零等優(yōu)勢，非常適用于小型儀器、手持移動設備。

1.2 DAC8831引腳排列

DAC8831引腳排列如圖1所示[3]。

圖1 DAC8831引腳Fig.1DAC8831 pin configuration

各引腳功能如下：

RFB：反饋電阻接入端，在雙極性輸出時連接到外部運放的輸出端；

Vout：數(shù)模轉(zhuǎn)換器模擬電壓輸出端；

AGNDF、AGNDS：模擬地；

VREF－S、VREF－F：參考電壓輸入端，連接到外部參考電壓；

SCLK：串行時鐘輸入端；

NC：無內(nèi)部連接；

SDI：串行數(shù)據(jù)輸入端，在SCLK的上升沿數(shù)據(jù)被鎖存到輸入寄存器；

DGND：數(shù)字地；

INV：內(nèi)部比例電阻連接端。在雙極性輸出時連接到外部運放的反向輸入端；

VDD：模擬電源端，+3～+5 V。

1.3 DAC8831使用方法

1.3.1 基準源電路

為了使數(shù)模轉(zhuǎn)換芯片的輸出更加穩(wěn)定，對DA芯片的基準源就要有一定要求，基準源必須是低溫溧、高精度、高穩(wěn)定性，通用基準源芯片有TL431、LM336等，溫漂系數(shù)基本可以達到20～30 ppm/℃，綜合易用性、計算方便性等因素，本系統(tǒng)采用的是TI公司生產(chǎn)的REF5040I精密基準源芯片，該芯片具有最大為3 ppm/℃極低溫漂系數(shù)、最大誤差為0.05%的高精度值以及極低的噪聲3 μVPP/V，且具有高達10 mA的輸出電流，輸出電壓為4.096 V，最小步進正好是0.125 mV，完全適合作為16位高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器的基準源。該芯片電路結(jié)構(gòu)簡單，外圍元件少，應用電路如圖2所示[4]。

圖2 REF5040基本電路Fig.2Basic circuit of REF5040

1.3.2 DAC8831兩種輸出模式

DAC8831可以結(jié)合外部運放實現(xiàn)單極性（0～VREF）和雙極性（－VREF～+VREF）兩種輸出模式，恒電位儀中必須使用正負電壓掃描，故采用雙極性輸出，電路如圖3所示[5]。雙極性輸出模式下DAC輸入控制數(shù)字量與模擬輸出值之間的對應關系表1所示。

1.3.3 DAC8831工作時序及其接口電路

圖3 DAC8831雙極性輸出Fig.3Bipolar output mode of DAC8831

表1 雙極性輸出編碼表Tab.1Bipolar code

數(shù)據(jù)傳輸由芯片選擇信號（片選信號）來構(gòu)成，DA轉(zhuǎn)換器以總線從設備進行工作。總線主控產(chǎn)生同步時鐘信號SCLK并啟動傳輸過程。當為高電平時，DA轉(zhuǎn)換器不進入轉(zhuǎn)換工作，SCLK和SDI都不作用。當總線主控將變成低電平時，DA轉(zhuǎn)換器緊隨的高低躍變開始轉(zhuǎn)換工作[6]。SDI端的串行輸入數(shù)據(jù)同步地從總線主控SCLK的下降沿移出，在SCLK的上升沿鎖存到輸入移位寄存器，MSB高位在先。低到高的轉(zhuǎn)變使得輸入移位寄存器的內(nèi)容傳送到輸入寄存器，所有數(shù)據(jù)寄存器都是16位，通過16個SCLK時鐘周期將數(shù)據(jù)字一位一位傳送出來。當16個數(shù)據(jù)字傳送完畢，緊接著第16個時鐘周期后必須變?yōu)楦唠娖?。工作時序如圖4所示。

圖4 DAC8831工作時序Fig.4DAC8831 timing diagram

DAC8831采用標準的3線制SPI串行接口，所以可以方便的與DSP及各種單片機連接，它與單片機的接口主要有兩種工作方式[7]：一是與CPU的串行口相連，單片機的串行口以同步方式工作，但是會占用串口資源；二是利用普通I/O口來模擬SPI的工作方式，方便擴展。大多數(shù)51單片機沒有SPI接口，在此選用第二種工作方式，用51單片機進行通訊時把DAC8831的通訊口SDI、SCLK、CS分別與51單片機的P1.0、P1.1、P1.2口連接，按照工作時序模擬SPI工作過程即可。

2 DAC8831的軟件編程

用51單片機IO口模擬SPI，用Keil C51編寫的DA轉(zhuǎn)換子程序[8]及注解如下所示：

void da8831（int vout）//DAC8831轉(zhuǎn)換子程序

{

cs=0;//開片選

sclk=1;

for（i=0;i＜16;i++）//形成16個時鐘周期，循環(huán)輸出SDI數(shù)據(jù)

{

sdi=vout&0x8000;//每次移一位，逐個將數(shù)據(jù)送入SDI

vout＜＜=1;

sclk=0;//產(chǎn)生SCLK時鐘

sclk=1;

}

cs=1;//關片選

return;

}

通過以上轉(zhuǎn)換子程序，再通過編程即可實現(xiàn)恒電位儀掃描初始電壓的設定及掃描速度的設定，從而使恒電位儀的電壓掃描實現(xiàn)智能化。

3 實驗數(shù)據(jù)

在進行電壓測試時，為減小輸出誤差，外部運放應選擇低噪聲低溫漂的高精度運放（OPA277等）及高精度低溫漂的基準源（REF5020、REF5040等），對外部運放要進行調(diào)零或直接采用斬波穩(wěn)零運放（如LTC1052等），本文系統(tǒng)使用OPA277和REF5040。通過調(diào)整電壓數(shù)字量來改變模擬輸出電壓值，使用Thurlby 1905a數(shù)字表對系統(tǒng)電壓輸出端進行監(jiān)測，預設電壓和實測電壓數(shù)據(jù)對比如表2所示。

表2 性能測試對比Tab.2Test result of performance testing

由表2分析可知，系統(tǒng)輸出電壓可實現(xiàn)－4～+4 V連續(xù)變化，且實際誤差小于0.15%，分辨率也達到了0.125 mV，完全滿足恒電位儀中低速掃描對線性度、穩(wěn)定度及分辨率的要求。

4 誤差分析

對誤差的來源作如下分析，在雙極性輸出模式下，輸出電壓VO－BIP計算公式如下：

式（1）中VO－UNI為單極性下的輸出電壓，VOS為外部運放的輸入失調(diào)電壓，RD為圖3中RFB與RINV的匹配誤差，A為放大器的開環(huán)增益。

VO－UNI表達式如下：

式（2）中D為DAC輸入電壓數(shù)字量，VREF為基準源電壓，VGE為電壓增益誤差，VZSE為電壓零刻度誤差，INL為電壓整體非線性失真。

以上兩式中，D是由使用者根據(jù)需要輸入的該項不會帶來誤差，最終誤差主要來自以下兩個方面：1）VZSE、INL、RD是由DAC8831自身參數(shù)決定的，這是固有誤差，由于DAC8831本身性能優(yōu)異，因此該誤差控制的較好；2）VOS、A、VREF、VGE均是由外部運放及基準源性能指標決定的，也就是說外部運放及基準源性能好壞直接影響整體的輸出誤差，這也是影響誤差的主要因素。

不同的運放及基準源性能差異較大，由以上分析可得，要想提高整機性能，必須采用高精度基準源及低放大失真、低輸入偏置電壓、高開環(huán)增益的高性能運放，因此選擇REF5040及OPA277來改善性能，如果能使用比OPA277性能更加優(yōu)越的運放如斬波穩(wěn)零放大器，輸出誤差可進一步減小。

5 結(jié)論

恒電位儀在使用外部掃描信號輸入時可以測量多種電壓變化場合下合金的性能。傳統(tǒng)恒電位儀實現(xiàn)電壓掃描電路復雜、穩(wěn)定性差、體積功耗大，而采用DAC8831芯片及圖3中的輸出模式可以實現(xiàn)雙極性電壓的連續(xù)變化、高線性度和高穩(wěn)定性，且外圍元件少、功耗低、性價比高，并可通過編程實現(xiàn)各種輸出波形。

在實際使用中還需注意，由于DA轉(zhuǎn)換器精度高，容易受外部干擾，所以在布線時必須注意數(shù)字地和模擬地要盡量分開，可采用一點接地，電源端和參考電壓端需加旁路電容。應用DAC8831數(shù)模轉(zhuǎn)換芯片制作的電壓線性掃描電路已成功應用在恒電位儀中，實現(xiàn)了掃描電壓的智能化設置。

[1]劉永輝.電化學測試技術[M].北京:北京航空學院出版社，1987:311－311.

[2]劉永輝.電化學測試技術[M].北京:北京航空學院出版社，1987:337－346.

[3]Texas Instruments DAC8831 Datasheet[EB/OL].（2007）.http://focus.ti.com.cn/cn/lit/ds/symlink/dac8831.pdf.

[4]Texas Instruments REF5040 Datasheet[EB/OL].（2010）.http://focus.ti.com.cn/cn/lit/ds/symlink/ref5040.pdf.

[5]Texas Instruments DAC8831 Datasheet[EB/OL].（2007）.http://focus.ti.com.cn/cn/lit/ds/symlink/dac8831.pdf.

[6]趙珂.可編程雙路12位數(shù)模轉(zhuǎn)換器TLC5618的原理及應用[J].電子設計工程，1999（4）:22-24.ZHAO Ke.Theory and application of programmable dual channel 12bit D/A converter TLC5618[J].Electronic Design Engineering，1999（4）:22-24.

[7]董靜薇，高瑋，李欣.TLC5618在測控系統(tǒng)中的應用[J].微型機與應用，2003（10）:15-17.DONG Jing-wei，GAO Wei，LI Xin.Application of TLC5618 in measuring and controlling system[J].Microcomputer&its Applications，2003（10）:15-17.

[8]溫守江.可編程雙路12位數(shù)模轉(zhuǎn)換器TLC5618及其C51高級語言編程[J].電子元器件應用，2002，4（1-2）:19-20，47.WEN Shou-jiang.Programmable dual channel 12bit D/A converter TLC5618 and C51 advanced language program[J].Electronic Component&Device Applications，2002，4（1-2）:19-20，47.