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        微波暗室有限測(cè)試距離對(duì)天線遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量的影響

        2010-09-27 08:34:36
        電訊技術(shù) 2010年5期
        關(guān)鍵詞:暗室工作頻率遠(yuǎn)場(chǎng)

        (解放軍63880部隊(duì),河南 洛陽 471003)

        1 引 言

        近年來,室外測(cè)試場(chǎng)的電磁環(huán)境干擾問題日益突出,而微波暗室作為室內(nèi)測(cè)試平臺(tái),能提供穩(wěn)定可控的信號(hào)環(huán)境,具有保密、全天候的特點(diǎn),因此在測(cè)試領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。微波暗室也是天線測(cè)量的典型場(chǎng)所。在微波暗室內(nèi)進(jìn)行天線測(cè)量的方法一般有近場(chǎng)測(cè)量和遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量之分。近場(chǎng)測(cè)量是指在距離天線口徑3~10個(gè)波長(zhǎng)距離上進(jìn)行的測(cè)試。由于近場(chǎng)測(cè)量需要成本昂貴的專用配套測(cè)試系統(tǒng),同時(shí)受到實(shí)時(shí)性等因素的制約,在某種程度上限制了這種方法的應(yīng)用。遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量是指在天線的輻射遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)直接測(cè)試得到天線參數(shù)的方法[1-2]。遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量作為傳統(tǒng)的天線測(cè)量方法,由于簡(jiǎn)單易行,且測(cè)試系統(tǒng)組建方便快捷,因此應(yīng)用仍然十分廣泛。

        在微波暗室內(nèi)進(jìn)行天線遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量,會(huì)受到一些限制和約束。比如:微波暗室的物理尺寸會(huì)使待測(cè)天線的尺寸和頻率范圍受到限制,或者說因?yàn)槲⒉ò凳页叽缬邢?,使得?shí)際的有效測(cè)試距離有限,進(jìn)而對(duì)一定尺寸和頻率的天線測(cè)量精度產(chǎn)生較大影響;再如:微波暗室性能,如靜區(qū)反射率電平、交叉極化度等也會(huì)對(duì)天線參數(shù)的測(cè)量精度產(chǎn)生影響。本文主要從微波暗室有限測(cè)試距離的角度,分析其對(duì)天線遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量的影響,并建立相應(yīng)的誤差模型,結(jié)合應(yīng)用實(shí)例詳細(xì)說明了微波暗室有限測(cè)試距離對(duì)天線場(chǎng)強(qiáng)測(cè)量、增益測(cè)量的影響,以方便指導(dǎo)在微波暗室內(nèi)開展天線遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量的工作。

        2 遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量條件

        對(duì)于大多數(shù)天線,通常需要的是其遠(yuǎn)場(chǎng)輻射特性。對(duì)天線的測(cè)量也需要在遠(yuǎn)場(chǎng)的條件下進(jìn)行,即用一個(gè)理想的均勻平面波照射待測(cè)天線,這在理論上需要無限遠(yuǎn)的測(cè)試距離,但完全理想的遠(yuǎn)場(chǎng)條件在實(shí)際中是很難實(shí)現(xiàn)的。工程中常根據(jù)測(cè)量精度的要求選擇合適的測(cè)試距離,普遍采用的遠(yuǎn)場(chǎng)最小測(cè)試距離為

        Rmin=2D2/λ

        式中,R為測(cè)試距離,D為待測(cè)天線最大尺寸,λ為天線工作波長(zhǎng)。這是在輔助天線為點(diǎn)源或弱方向性天線時(shí),待測(cè)天線口面上最大相位差為π/8時(shí)得到的。當(dāng)需考慮輔助天線的影響時(shí),遠(yuǎn)場(chǎng)最小測(cè)試距離為[1-4]

        Rmin=2D+d2/λ

        式中,d為輔助天線最大尺寸。根據(jù)Rmin=2D2/λ準(zhǔn)則,可以得到不同尺寸、不同工作頻率的天線測(cè)量時(shí)所需的最小測(cè)試距離。圖1給出了待測(cè)天線最大尺寸分別為0.5 m、1.0 m、1.5 m、2.0 m和2.5 m時(shí)在不同頻率時(shí)所需的最小測(cè)試距離。

        圖1 典型尺寸、不同工作頻率天線所需的最小測(cè)試距離Fig.1 Minimum test distance for antennas of typical sizes with different frequencies

        由圖1可知,當(dāng)待測(cè)天尺寸達(dá)到2.5 m,工作頻率為10 GHz時(shí),所需的最小測(cè)試距離為417 m??梢?,當(dāng)待測(cè)天尺寸較大、且工作頻率較高時(shí),遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量需要的測(cè)試距離往往是很難實(shí)現(xiàn)的。當(dāng)在微波暗室內(nèi)進(jìn)行天線遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量時(shí),由于空間(有效測(cè)試距離)有限,會(huì)使待測(cè)天線的尺寸和頻率范圍受到限制,或者說測(cè)量尺寸較大、工作頻率較高的天線時(shí),產(chǎn)生的誤差會(huì)很大。實(shí)踐中,如何根據(jù)微波暗室的具體條件和測(cè)量精度的要求,判斷某個(gè)尺寸和工作頻段的天線是否適合在微波暗室內(nèi)進(jìn)行遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量是必須面臨的問題,下面將進(jìn)行詳細(xì)分析。

        3 有限測(cè)試距離對(duì)天線測(cè)量的影響分析

        以平面口徑場(chǎng)為例,分析有限測(cè)試距離對(duì)天線測(cè)量結(jié)果的影響。如圖2所示,假設(shè)一個(gè)平面口徑場(chǎng)S位于XOY平面內(nèi),其中任意一面元ds的坐標(biāo)為(xs,ys,0),P(x,y,z)是平面口徑S輻射場(chǎng)中的任意一點(diǎn),其中面元ds的矢徑大小為ρs,面元ds到P的矢徑大小為rs,OP=r。根據(jù)惠更斯-菲涅耳原理,可得到平面口徑S的輻射場(chǎng)的表達(dá)式為[5-7]

        (1)

        圖2 平面口徑S的輻射場(chǎng)示意圖Fig.2 The radiant field diagram for plane caliber S

        由于x=rsinθcosφ,y=rsinθsinφ,z=rsinθ,xs=ρscosφs,ys=ρssinφs,zs=0,可得:

        (2)

        (3)

        若忽略r2項(xiàng),即只取式(3)中的線性項(xiàng),這時(shí):

        rs=r-xssinθcosφ-yssinθsinφ

        (4)

        代入式(1)中,可得平面口徑S的輻射遠(yuǎn)場(chǎng)(即夫瑯荷費(fèi)區(qū)):

        (5)

        如果只考慮r2,這時(shí):

        (6)

        代入式(1)中,可得平面口徑S的輻射近場(chǎng)(即菲涅耳區(qū)):

        (7)

        由誤差公式可知P點(diǎn)場(chǎng)強(qiáng)相對(duì)誤差可表示為

        (8)

        對(duì)于矩形口徑天線,利用式(7)得場(chǎng)強(qiáng)相對(duì)誤差:

        (9)

        式中,D1、D2分別是矩形口徑在X軸和Y軸邊長(zhǎng)。變換積分變量,并采用菲涅耳積分,式(9)轉(zhuǎn)換為

        (10)

        同理,對(duì)于圓口徑天線有:

        (11)

        式中,D為圓口徑的直徑。

        同樣,可得天線增益的相對(duì)誤差為

        (12)

        (13)

        4 實(shí)例分析

        假設(shè)微波暗室能提供的有效天線測(cè)試距離為25 m,由暗室吸波材料性能確定的天線測(cè)量頻率范圍為1~18 GHz,再假設(shè)待測(cè)天線的尺寸范圍為0.1~1 m。依此條件,分析有限測(cè)試距離對(duì)天線場(chǎng)強(qiáng)測(cè)量、增益測(cè)量的影響,從而確定適合在微波暗室內(nèi)進(jìn)行測(cè)量的天線尺寸和工作頻率范圍。

        圖3 場(chǎng)強(qiáng)相對(duì)誤差δE與的關(guān)系Fig.3 The relationship between electric field intensity

        圖4 增益相對(duì)誤差δG與的關(guān)系Fig.4 The relationship between gain relative

        表1 典型工作頻率和天線尺寸時(shí)場(chǎng)強(qiáng)測(cè)量相對(duì)誤差δETable 1 Relative measurement error of electric field intensity δE for typical work frequencies and sizes of antennas

        表2 典型工作頻率和天線尺寸時(shí)增益測(cè)量相對(duì)誤差δGTable 2 Relative measurement error of gain δG for typical work frequencies and sizes of antennas

        從表1中可以看出,當(dāng)待測(cè)天線尺寸為1 m、工作頻率為10 GHz時(shí),場(chǎng)強(qiáng)測(cè)量的相對(duì)誤差已經(jīng)達(dá)到了17.3%,這對(duì)于日常測(cè)試來說已經(jīng)很大。而當(dāng)工作頻率為5 GHz時(shí),場(chǎng)強(qiáng)測(cè)量的相對(duì)誤差為4.5%,這對(duì)于日常測(cè)試來說基本上可以接受。以此類推,可得到不同尺寸的天線在允許接受的測(cè)量誤差的前提下,適合在微波暗室測(cè)量的最高測(cè)試頻率;或者得到在不同天線工作頻率時(shí),在允許接受的測(cè)量誤差的前提下,適合在微波暗室測(cè)試的最大天線尺寸。

        對(duì)于天線增益測(cè)量,依據(jù)以上同樣的分析方法,參照表2,可得到類似的結(jié)論。對(duì)于不能在現(xiàn)有條件下完成測(cè)量的天線,則需要利用室外測(cè)試場(chǎng)或借助近場(chǎng)天線測(cè)試系統(tǒng)來進(jìn)行。

        5 結(jié)束語

        微波暗室是開展天線測(cè)量的理想場(chǎng)所,但由于受物理空間大小限制,其提供的有效測(cè)試距離有限。有限的測(cè)試距離制約了可在微波暗室內(nèi)進(jìn)行天線遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量的天線尺寸和頻率范圍,且影響了測(cè)量結(jié)果的精度。本文以平面口徑場(chǎng)為例,從理論上分析了微波暗室有限測(cè)試距離對(duì)天線遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量的影響,建立了天線場(chǎng)強(qiáng)測(cè)量和增益測(cè)量誤差模型,并給出了輻射場(chǎng)為均勻分布的圓口徑天線的實(shí)例,得到了用以指導(dǎo)如何選定適合在微波暗室內(nèi)開展遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量的天線的快捷方法。對(duì)于其它類型的天線,通過相應(yīng)的分析,也可以得到類似的結(jié)論。同時(shí)還應(yīng)看到,在微波暗室內(nèi)進(jìn)行天線遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量,除了有限測(cè)試距離會(huì)引起測(cè)量誤差外,微波暗室的靜區(qū)性能、交叉極化度、天線測(cè)試系統(tǒng)性能等因素也會(huì)影響測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性,實(shí)際應(yīng)用時(shí)還應(yīng)對(duì)此進(jìn)行綜合分析,以求得到較為全面的測(cè)量不確定度。

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