摘 要 采用濕化學(xué)還原法在自組裝的單層陣列二氧化硅納米粒子表面沉積銀膜制備了SiO₂核/Ag帽復(fù)合納米結(jié)構(gòu)。通過透射電鏡(TEM)、掃描電鏡(SEM)、X射線衍射(XRD)和紫外可見分光光度計(UV/Vis)研究和表征了該復(fù)合納米結(jié)構(gòu)的表面形貌、結(jié)構(gòu)及光學(xué)性質(zhì)。所制備的復(fù)合納米粒子表面粗糙，其表面呈現(xiàn)無數(shù)納米級谷粒狀結(jié)構(gòu)，SiO₂內(nèi)核粒徑為350 nm的銀納米帽的表面等離子共振吸收的2個共振峰分別位于382和689 nm處。以亞甲基藍(lán)作為探測分子研究了SiO₂粒徑為350和450 nm的SiO₂/Ag帽狀復(fù)合納米粒子的表面增強(qiáng)拉曼散射(SERS)活性，增強(qiáng)因子分別為3.6×109和3.9×109。結(jié)果表明，濕化學(xué)還原法制備的SiO₂核/Ag帽復(fù)合納米結(jié)構(gòu)是很好的拉曼活性基底。

關(guān)鍵詞 銀納米粒子； 表面等離子共振； 亞甲基藍(lán)； 表面增強(qiáng)拉曼散射