0 引言

隨著IC技術(shù)的飛速發(fā)展，微處理器的復(fù)雜度和集成度不斷提高，驗證工作的重要性日益突出，其中功能邏輯驗證已經(jīng)占據(jù)了整個設(shè)計時間的50％～80％。由于缺乏高效的功能驗證技術(shù)，功能驗證已日益成為微處理器設(shè)計驗證過程中的瓶頸。常用的功能驗證方法有形式驗證方法和仿真驗證方法，形式驗證是根據(jù)邏輯設(shè)計中功能和結(jié)構(gòu)的描述，用定理證明等數(shù)學(xué)方法來證明邏輯設(shè)計的正確性。形式驗證方法已經(jīng)逐步得到應(yīng)用，但因其固有的計算復(fù)雜性等原因，主要應(yīng)用于小規(guī)模的設(shè)計中，在現(xiàn)代大規(guī)模芯片設(shè)計中該方法不能在有效的時間內(nèi)給出驗證結(jié)果。目前所有驗證技術(shù)中應(yīng)用最廣泛的是基于仿真的驗證方法，即將驗證用的測試程序加載到待測設(shè)計，觀察其輸出結(jié)果是否符合設(shè)計規(guī)范。