包亦望 周華斌 邱 巖 劉小根 萬(wàn)德田 王秀芳
(1.中國(guó)建筑材料檢驗(yàn)認(rèn)證中心有限公司,北京100024; 2.上海理工大學(xué),上海 200093;)
我國(guó)是平板玻璃制造大國(guó),平板玻璃年產(chǎn)量超過(guò)上千萬(wàn)噸,占世界總產(chǎn)量的30%以上,并且浮法玻璃又被深加工成各種各樣的建筑中空、真空、夾層和鋼化玻璃,各種玻璃作為建筑中的各種圍護(hù)和采光材料,玻璃幕墻、玻璃天棚、玻璃地板、玻璃樓梯甚至全玻璃建筑都已廣泛出現(xiàn)。但是浮法玻璃在生產(chǎn)過(guò)程中,由于工藝及其他原因會(huì)產(chǎn)生諸如氣泡、劃痕、結(jié)石、光學(xué)畸變、錫滴等雜質(zhì)或缺陷,不僅影響了玻璃的美觀,同時(shí)嚴(yán)重影響到玻璃的質(zhì)量,而且被加工成鋼化玻璃以后,玻璃內(nèi)部的結(jié)石或雜質(zhì)會(huì)使玻璃在使用和安裝過(guò)程由于應(yīng)力集中和不均勻而發(fā)生自爆,帶來(lái)嚴(yán)重的安全隱患,危及人的生命安全造成財(cái)產(chǎn)損失[1]。因此玻璃質(zhì)量檢測(cè)起到了非常重要的作用[2]。傳統(tǒng)的玻璃檢測(cè)的方式是直接通過(guò)CCD攝像機(jī)獲取圖像,然后通過(guò)對(duì)圖像的分析處理達(dá)到檢測(cè)的目的;另一種是通過(guò)激光檢測(cè)來(lái)獲取玻璃表面與玻璃透射的激光信號(hào)與原信號(hào)的關(guān)系來(lái)檢測(cè)玻璃缺陷[3]。雖然直接用CCD相機(jī)檢測(cè)的可視效果不錯(cuò),但精度有限,激光檢測(cè)設(shè)備在安裝上要求比較嚴(yán)格。因此,本文提出了一種基于光彈法的玻璃缺陷檢測(cè)的方法,該方法不僅可以排除玻璃表面的灰塵等錯(cuò)誤信號(hào),還可以對(duì)玻璃內(nèi)部的雜質(zhì)和缺陷進(jìn)行分類,而且對(duì)于缺陷附近的應(yīng)力大小可以直觀定量地觀察到[4]。
光彈法是實(shí)驗(yàn)應(yīng)力分析的一種基本方法,是基于平面應(yīng)力-光性定律提出來(lái)的。已被廣泛用于測(cè)試汽車玻璃的邊緣應(yīng)力[5],鋼化玻璃的殘余應(yīng)力[6]等,光彈性原理如圖1所示。光源發(fā)出的光束經(jīng)準(zhǔn)光鏡變?yōu)槠叫泄?。通過(guò)起偏振鏡后,變成只在一個(gè)平面內(nèi)振動(dòng)的平面偏振光,此時(shí)平面偏振光通過(guò)模型會(huì)按照兩個(gè)主應(yīng)力方向進(jìn)行分解,通過(guò)受力模型后出來(lái)的偏振光有了光程差然后又一起通過(guò)第二個(gè)偏振片,也就是檢偏鏡,最后在屏幕上成像。通常起偏振鏡的偏振軸P與檢偏振鏡的偏振軸A是正交的(如圖1所示),這樣組成的在屏幕上光場(chǎng)背景是暗的,稱為暗場(chǎng),若兩偏振鏡的偏振軸相平行,此時(shí)背景是亮的,稱為明場(chǎng)。各項(xiàng)同性透明的非晶體材料,例如聚碳酸酯、環(huán)氧樹(shù)脂、玻璃、透明塑料等材料,在無(wú)應(yīng)力狀態(tài)下沒(méi)有雙折射性質(zhì)。當(dāng)這種材料產(chǎn)生應(yīng)力后,它們的性質(zhì)如同各向異性晶體一樣,產(chǎn)生雙折射現(xiàn)象。當(dāng)應(yīng)力解除后,這種雙折射效應(yīng)會(huì)消失,這就是暫時(shí)雙折射現(xiàn)象。當(dāng)此種受力模型置于偏振光場(chǎng)中,就會(huì)觀察到由這種暫時(shí)雙折射而引起的干涉條紋[7]。原因是,在通過(guò)受力模型后,這兩支平面偏振光波使產(chǎn)生了光程差δ。平面應(yīng)力光定律指出,此光程差δ由下式表示:
式中:c-材料的應(yīng)力光學(xué)系數(shù),與模型材料及光波波長(zhǎng)有關(guān)。
t-模型厚度。
σ1?σ2-該點(diǎn)的主應(yīng)力差。
通過(guò)檢偏振鏡后,模型上任一點(diǎn)的光強(qiáng)由下式示:
式中:I0是起偏鏡后光的強(qiáng)度,λ是所用光源的波長(zhǎng)(單色光)θ為模型上任一點(diǎn)的主應(yīng)力σ1與檢偏振鏡偏振軸之間的夾角。將(1)代入(2)式可得:
受力模型上任一點(diǎn)的應(yīng)力差σ1?σ2和θ均不相同,因此在屏幕上各點(diǎn)的亮度不一樣,即在屏幕上形成明暗相間的條紋,通過(guò)對(duì)條紋值的讀取可以知道受力模型內(nèi)部的應(yīng)力大小。因?yàn)楸疚难芯康牟A?nèi)部的缺陷和雜質(zhì)附近的應(yīng)力很小,讀不出明顯的條紋值,因此只做定性的判定,只需要檢測(cè)到缺陷或雜質(zhì)引起的應(yīng)力光斑現(xiàn)象即可,因此對(duì)于應(yīng)力值的讀取不做討論。
圖1 光彈性原理示意圖
根據(jù)光彈法的原理,我們?cè)O(shè)計(jì)了該實(shí)驗(yàn)裝置(如圖2),因?yàn)樽匀还夤鈴?qiáng)比較弱,對(duì)于缺陷檢測(cè)的效果影響較大,因此實(shí)驗(yàn)采用白光作為光源。為了代替準(zhǔn)光鏡獲得平行光,采用一塊厚度為5mm的單面磨砂玻璃,這樣通過(guò)磨砂面后的光就是平行光,把起偏片貼在磨砂玻璃的光滑面。通過(guò)起偏振片后,平行光變成只在一個(gè)平面內(nèi)振動(dòng)的平面偏振光。平面偏振光通過(guò)帶有雜質(zhì)或缺陷的玻璃,然后通過(guò)檢偏片成像,圖2中的檢偏片安裝在CCD鏡頭前面(本實(shí)驗(yàn)采用日本KEYENCE產(chǎn)的VHX-600E數(shù)碼顯微鏡)。為了獲得暗場(chǎng),起偏振鏡的偏振軸與檢偏振鏡的偏振軸必須正交。當(dāng)未有缺陷或雜質(zhì)的普通玻璃放置在暗場(chǎng)中時(shí),因?yàn)榇藭r(shí)的玻璃屬于各向同性透明的,平面偏振光直接透射過(guò)玻璃,觀察不到雙折射現(xiàn)象。當(dāng)玻璃內(nèi)部存在缺陷或者雜質(zhì)時(shí),因?yàn)槠涓浇鼤?huì)產(chǎn)生應(yīng)力集中,因此平面偏振光不能直接透射過(guò),雜質(zhì)或缺陷周圍由于產(chǎn)生雙折射現(xiàn)象,在暗場(chǎng)中可以觀察到明顯的應(yīng)力光斑或者條紋。因此就可以通過(guò)這種方法來(lái)檢測(cè)出玻璃的雜質(zhì)或缺陷。
圖2 實(shí)驗(yàn)檢測(cè)裝置原理圖
為了更好的驗(yàn)證光彈法檢測(cè)技術(shù)的優(yōu)越性,實(shí)驗(yàn)的時(shí)候我們用CCD相機(jī)4分別獲取了不同玻璃缺陷的圖片進(jìn)行研究(其中包含了直接通過(guò)CCD攝像機(jī)拍攝到的玻璃缺陷圖)。
(1)結(jié)瘤
結(jié)瘤是玻璃中存在的化學(xué)不均勻或熱學(xué)不均勻顯示出的特別明顯的光學(xué)畸變。是玻璃中的常見(jiàn)缺陷。玻璃中結(jié)瘤和氣泡都有一個(gè)共同點(diǎn),顏色透明,不像其他夾雜物一樣可以在通過(guò)CCD相機(jī)下比較容易檢測(cè)到。如圖3中,a圖是直接用CCD相機(jī)拍攝到的,肉眼比較難分辨出來(lái),可供進(jìn)一步圖像處理進(jìn)行判定缺陷類型的信息比較少;b圖是在光彈下拍攝到的,可以看出結(jié)瘤周圍存在的光斑,而結(jié)瘤中間和玻璃正常部分都是暗場(chǎng)。
圖3 結(jié)瘤
(2)錫滴
錫滴是指掉落到玻璃帶上表面含錫的固態(tài)或液態(tài)物,通常是SnS、SnO2或Sn,也稱為“掉錫點(diǎn)”。掉錫點(diǎn)一般很小,粒徑約為0.1~0.5mm,大部分在0.3mm左右,肉眼很難從運(yùn)行的玻璃帶上發(fā)現(xiàn)它。但能使直徑約5~10mm的周圍玻璃表面產(chǎn)生嚴(yán)重的光學(xué)扭曲,所以又稱“光畸變點(diǎn)”,使玻璃成品成為廢品。圖4中,c圖是CCD相機(jī)直接拍攝的,錫滴呈小黑點(diǎn);d是光彈下拍攝的,可以看出錫滴因?yàn)樽柚沽似叫衅窆獾耐高^(guò),整個(gè)錫滴都呈現(xiàn)暗場(chǎng),因?yàn)殄a滴通常在玻璃表面,所以只在錫滴周圍有雜亂微小的光點(diǎn)。
圖4 錫滴
(3)結(jié)石
結(jié)石是玻璃制品中最危險(xiǎn)的缺陷,它不僅破壞了玻璃制品的外觀質(zhì)量和光學(xué)均勻性,而且降低了玻璃制品的使用價(jià)值,在玻璃生產(chǎn)中應(yīng)盡量減少結(jié)石的產(chǎn)生.結(jié)石可分為配合料結(jié)石、耐火材料結(jié)石、析晶結(jié)石、硫酸鹽夾雜物、黑色夾雜物與外來(lái)夾雜物.一般使用偏光顯微鏡巖相分析法均可做出鑒定,因?yàn)樗鼈冇兄^明顯的結(jié)晶形態(tài)和光學(xué)特性。結(jié)石是在進(jìn)行配料的時(shí)候,或者在玻璃出爐的時(shí)候,沒(méi)有與其他物質(zhì)完全反應(yīng)而保留下來(lái)的。結(jié)石的種類很多,但結(jié)石的圖案在光彈下拍攝的圖片都具有類似的花瓣?duì)罨蚝麪畹暮诎讞l紋圖案。如圖5和圖6,分別是斜鋯石和氧化鉻的圖像。e圖和g圖是CCD相機(jī)直接拍攝到的圖像;f圖和h圖是光彈下拍攝的圖像,可以看到很漂亮的花瓣?duì)罨蚝麪畹暮诎讞l紋圖案。
圖5 斜鋯石
圖6 氧化鉻
(4)真空玻璃支柱
真空玻璃兩層玻璃之間有0.02~0.03mm的真空間隙,這兩層玻璃之間有設(shè)置支柱,防止兩層玻璃因外部大氣壓作用而吸在一起。因此在支柱周圍由于受應(yīng)力集中,可以在光彈下看到明顯的光斑。當(dāng)支柱周圍出現(xiàn)裂紋或者真空玻璃漏氣導(dǎo)致真空度變化時(shí)會(huì)引起支柱周圍的光斑大小的變化。文獻(xiàn)[8]報(bào)道過(guò)利用光彈法測(cè)試真空玻璃真空度的可行性辦法。圖7中,i圖是CCD相機(jī)直接拍攝的支柱圖像,看不到支柱周圍的光斑;j圖是光彈下拍攝的圖片,可以看到很均勻?qū)ΨQ的梅花狀圖形,通過(guò)觀察同一批真空玻璃的光斑大小和玻璃內(nèi)部真空度的比例關(guān)系,可以定性或定量判斷出真空玻璃是否失效。
圖7 真空玻璃支柱
本文基于光彈法的玻璃缺陷檢測(cè)技術(shù)做了一些實(shí)驗(yàn)上的研究,一般CCD攝像機(jī)檢測(cè)時(shí)只給出了由于氣泡、結(jié)石等缺陷引起的光強(qiáng)變化,但是任何玻璃上的污漬也會(huì)給出錯(cuò)誤的信號(hào),使其不易與真正的缺陷區(qū)別開(kāi)來(lái)。通過(guò)光彈法可以觀察出不同的缺陷或雜質(zhì)引起的光斑,這是一般的攝像機(jī)看不到的,并且可以通過(guò)光彈下各種缺陷或雜質(zhì)引起的光斑圖像的不同對(duì)其進(jìn)行分類。正是由于這一點(diǎn)使得光彈法檢測(cè)具有更高的可靠性。同時(shí)光彈法還可以用于檢測(cè)真空玻璃支柱引起的光斑變化,判斷真空玻璃的失效問(wèn)題。因此光彈法檢測(cè)玻璃缺陷,可以在傳統(tǒng)的CCD相機(jī)檢測(cè)的基礎(chǔ)上,配合光彈法可以檢測(cè)到應(yīng)力光斑這種獨(dú)特的優(yōu)勢(shì),成為玻璃檢測(cè)缺陷的新途徑。
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