李進(jìn),葉宏,韋孟柳
(中國科學(xué)技術(shù)大學(xué) 熱科學(xué)與能源工程系,安徽 合肥230026)
20世紀(jì)80年代前,研究者們一直認(rèn)為自發(fā)輻射是一種不能控制的隨機(jī)現(xiàn)象[1]。直到光子晶體的概念提出來后,這種觀點(diǎn)才有所改變[2]。
隨著納米尺度加工技術(shù)的發(fā)展,研究人員發(fā)現(xiàn)利用光子晶體可以改變材料固有的宏觀輻射特性[2],即材料的光譜發(fā)射率在某些特定光譜區(qū)域內(nèi)會(huì)出現(xiàn)峰值或被抑制。
通??梢圆捎闷矫娌ǚ?、傳輸矩陣法、有限時(shí)域差分法、多重散射法等來對(duì)光子晶體進(jìn)行研究。文獻(xiàn)[3]采用平面波法對(duì)光子晶體的禁帶特性進(jìn)行了初步分析,并給出光子晶體禁帶存在的理論依據(jù)。本文采用傳輸矩陣法來討論光子晶體對(duì)大氣窗口波段內(nèi)發(fā)射輻射的抑制作用。該方法具有矩陣小,陣元少的優(yōu)點(diǎn),而且針對(duì)光學(xué)常數(shù)隨波長變化的系統(tǒng)更為有效。選擇了3 種不同的基底,按照基底發(fā)射率由高到低排列,依次為假想表面、SiC 及Al,通過計(jì)算加入光子晶體后的光譜半球向發(fā)射率及光譜發(fā)射功率,討論了光子晶體對(duì)發(fā)射輻射的抑制作用。
圖1為一種一維光子晶體結(jié)構(gòu)示意圖,介質(zhì)1和介質(zhì)2 的折射率分別為n1和n2,厚度分別為d1和d2,它們?cè)谀骋环较蛏现芷谛耘帕薪M成光子晶體,最小的周期單元稱為晶胞單元,厚度等于d1+d2.
圖1 一維光子晶體結(jié)構(gòu)示意圖Fig.1 Structure of one-dimensional photonic crystal
設(shè)電磁波角頻率為ω,則在光子晶體中傳播時(shí),其電矢量E(x,y,z,t)滿足[3]
式中:kx和ky為波矢的分量;K 為布洛赫波數(shù)。選取光子晶體中任意第ν 層介質(zhì)膜作研究對(duì)象,如圖2所示。EνL和EνR分別為第ν 層界面左側(cè)左行波和右行波的電分量;和分別為左行波和右行波的復(fù)振幅。E'νL和E'νR分別為第ν 層界面右側(cè)左行波和右行波的電分量,和為左行波和右行波的復(fù)振幅。對(duì)磁分量也可采用同樣的命名方式。
圖2 第ν 層介質(zhì)膜光路示意圖Fig.2 Sketch of light path in ν-th medium
反射系數(shù)r 定義為反射波(左行波)和入射波(右行波)的振幅之比,即
在圖2中,對(duì)于第ν 層界面,利用電磁場的連續(xù)條件可得
式中:ηv和ηv-1分別為第ν 層介質(zhì)和第ν-1 層介質(zhì)的有效光學(xué)導(dǎo)納。
引入光納矩陣
電磁波在第ν 層介質(zhì)膜中傳播時(shí),位相變化為
根據(jù)薄膜光學(xué)理論[4],電磁波在每層介質(zhì)中的傳輸特性可用一個(gè)2 ×2 的特征矩陣來表示。對(duì)于第ν 層介質(zhì),其特征矩陣為
對(duì)于由折射率分別為n1和n2的2 種介質(zhì)組成的一個(gè)基本周期單元來說,特征矩陣為
如果一維光子晶體是由s 個(gè)這樣的基本周期組成,則光子晶體的總特征矩陣為s 個(gè)M0的乘積,表示為
式中:m11,m12,m21和m22為M 的矩陣元。
當(dāng)在基底上加入光子晶體后,反射系數(shù)[4]為
式中:ηa為空氣的有效光學(xué)導(dǎo)納;ηg為基底的有效光學(xué)導(dǎo)納。
從而得到反射率
在反射率已知的情況下,給定邊界條件透射率τ=0,則表面性質(zhì)滿足基爾霍夫定律[5],可以得到
根據(jù)克喇末—克朗尼關(guān)系[6],只要對(duì)材料進(jìn)行反射光譜的一次測定,所有光學(xué)常數(shù)原則上都可以通過K-K 變換得到。在對(duì)膜系的反射、透射或吸收特性進(jìn)行計(jì)算時(shí),不可避免地會(huì)遇到如何確定介質(zhì)光學(xué)參數(shù)的問題,通常采用反射法計(jì)算n 及κ.反射法包括2 種:1)通過兩個(gè)獨(dú)立的參數(shù)測量來確定n和κ;2)通過對(duì)一個(gè)參數(shù)在盡可能寬的頻域內(nèi)測量,然后通過積分得到另一個(gè)參數(shù)以及其他光學(xué)參數(shù),理論上不受波長范圍限制,可以得到全波長范圍內(nèi)的光學(xué)參數(shù)。本文進(jìn)行數(shù)值模擬所需要的光學(xué)參數(shù)就是通過這種方法及文獻(xiàn)[7 -8]得到的。根據(jù)反射系數(shù)的K-K 變化關(guān)系[6],可得到光學(xué)常數(shù)關(guān)系式。
式中:ro(ω)=[R(ω)]1/2,ro(ω)為反射系數(shù)的模;θ(ω)為反射系數(shù)的幅角。通過對(duì)反射譜的一次測量,可以得到ro(ω),θ(ω),n(ω)及κ(ω)的值。
選擇3 種不同的基底來計(jì)算。按照發(fā)射率由高至低的次序排列,依次為假想表面、SiC 表面和Al表面。假想表面的發(fā)射率為1,而Al 表面的發(fā)射率在0.05 左右。通過計(jì)算加入光子晶體后的光譜半球向發(fā)射率及發(fā)射功率,討論了在大氣窗口波段內(nèi)光子晶體對(duì)發(fā)射輻射的抑制作用。
取假想表面為基底,把光子晶體鍍?cè)谏厦?,光子晶體采用A|(L1H1)s1| |(L2H2)s2|G 的結(jié)構(gòu),其中,A 為空氣,G 為基底。s1和s2為光子晶體的周期數(shù),均取為5.L 與H 分別為低折射率介質(zhì)KCl 與高折射率介質(zhì)Si.膜系1 由L1和H1組成,禁帶中心波長λ1=4.0 μm.膜系2 由L2與H2組成,禁帶中心波長λ2=10.0 μm.
對(duì)于假想表面,其發(fā)射率為1,吸收率為1,因此反射率為0,即ro(ω)的值始終為0.將ro(ω)分別代入(12)式和(13)式,可得n(ω)=1 和κ(ω)=0.
圖3為采用理想介質(zhì)時(shí),光譜半球向發(fā)射率隨波長的變化關(guān)系。對(duì)于理想介質(zhì)來說,其n 和κ 為定值。
圖3 光子晶體由理想介質(zhì)組成時(shí)光譜半球向發(fā)射率隨波長的變化Fig.3 Variation of spectral-hemispheric emissivity of photonic crystal composed by ideal mediums with wavelength
在實(shí)際情況下,需要考慮介質(zhì)的折射率及消光系數(shù)隨波長變化對(duì)發(fā)射輻射的影響。圖4為采用非理想介質(zhì)組成光子晶體時(shí),加入光子晶體后光譜半球向發(fā)射率隨波長的變化。可以看出,在3~4 μm波段內(nèi),加入光子晶體后的發(fā)射率趨于0;在4~5 μm 波段內(nèi),發(fā)射率從0.008 增至0.41;在8~10.2 μm 波段內(nèi),發(fā)射率趨近于0;在10.2~14 μm 波段內(nèi),發(fā)射率隨著波長的變大而逐漸增至0.728.
圖4 光子晶體由非理想介質(zhì)組成時(shí)光譜半球向發(fā)射率隨波長的變化Fig.4 Variation of spectral-hemispheric emissivity of photonic crystal composed by non-ideal mediums with wavelength
通過圖3和圖4的比較可知,當(dāng)基底為假想表面,光子晶體分別采用理想介質(zhì)與非理想介質(zhì)時(shí),兩種情況下的發(fā)射率區(qū)別不大。這是由于假想表面本身的發(fā)射率很高,光子晶體的自發(fā)輻射影響可近似忽略。
圖5為仍采用相同周期結(jié)構(gòu)的光子晶體,僅用Ge 替換較高折射率介質(zhì)Si 時(shí),加入光子晶體后的發(fā)射率隨波長的變化關(guān)系。在大氣窗口波段內(nèi),發(fā)射率要比光子晶體由Si 與KCl 組成時(shí)略低,發(fā)射輻射得到了更好的抑制。這是因?yàn)镚e 的折射率比Si大,而且消光系數(shù)也較小。
圖5 光子晶體由Ge 與KCl 組成時(shí)光譜半球向發(fā)射率隨波長的變化Fig.5 Variation of spectral-hemispheric emissivity of photonic crystal composed by Ge and KCl with wavelength
表1為大氣窗口波段內(nèi),假想表面的發(fā)射功率與加入光子晶體后的發(fā)射功率的比較。無論在3~5 μm 還是8~14 μm 波段,加入光子晶體后的發(fā)射功率均較小,采用Ge 與KCl 組成光子晶體對(duì)假想表面的發(fā)射輻射抑制效果更好。
表1 基底溫度100 ℃時(shí)假想表面的發(fā)射功率與加入光子晶體后的發(fā)射功率比較Tab.1 Comparison between emissive powers of imaginary surface and imaginary surface with photonic crystal at 100 ℃(W/m2)
圖6為以SiC 為基底時(shí),加入光子晶體后,光譜半球向發(fā)射率隨波長的變化。光子晶體由Si 與KCl組成時(shí):在3~5 μm 波段內(nèi),發(fā)射率先逐漸增至0.615,隨后在0.524 和0.671 之間波動(dòng)。在8~14 μm 波段內(nèi),開始階段發(fā)射率的值趨近于0,隨后增至0.669.比較圖6中曲線2 和曲線3 可得,在大氣窗口波段內(nèi),Ge 與KCl 組成的光子晶體對(duì)發(fā)射輻射的抑制效果更好。
圖6 光譜半球向發(fā)射率隨波長的變化Fig.6 Variations of spectral-hemispheric emissivity with wavelength
圖7為假想表面及不同基底加入光子晶體后的光譜發(fā)射功率??梢钥闯?,相對(duì)于假想表面而言,加入光子晶體后,對(duì)其表面的發(fā)射輻射抑制效果還是較為明顯的,可使其峰值從29.74 W/m2·μm 降至19.36 W/m2·μm.SiC 為基底的光譜發(fā)射功率比假想表面為基底的時(shí)候低,原因在于SiC 的光譜半球向發(fā)射率低于假想表面。
圖7 100 ℃的理想表面及100 ℃的不同基底加入光子晶體后的光譜發(fā)射功率Fig.7 Spectral emissive powers of imaginary surface and different substrates with photonic crystal under 100 ℃
當(dāng)基底溫度為100 ℃時(shí),計(jì)算大氣窗口波段內(nèi)的理想表面及在不同基底上加入光子晶體后的發(fā)射功率可得:SiC 表面加入光子晶體后,在3~5 μm 波段內(nèi),發(fā)射功率從12.197 W/m2降至2.483 W/m2;在8~14 μm 波段內(nèi),發(fā)射功率從78.836 W/m2.降至27.382 W/m2.
圖8為以Al 為基底,加入光子晶體后的光譜半球向發(fā)射率隨波長的變化情況。可以看出,加入光子晶體后,在較寬的波長區(qū)域內(nèi)的發(fā)射率均低于Al表面的發(fā)射率。比較圖8中曲線2 與曲線3 可得,由Ge 與KCl 組成的光子晶體的對(duì)發(fā)射輻射的抑制效果要優(yōu)于Si 與KCl 組成的光子晶體。
圖8 光譜半球向發(fā)射率隨波長的變化Fig.8 Variations of spectral-hemispheric emissivity with wavelength
表2為大氣窗口波段內(nèi),Al 表面的發(fā)射功率與加入光子晶體后的發(fā)射功率的比較(W/m2).光子晶體采用Si 與KCl 時(shí),在3~5 μm 波段內(nèi),發(fā)射功率從0.302 降至0.101 W/m2;在8~14 μm 波段內(nèi),發(fā)射功率從2.050 降至1.304 W/m2.
表2 基底溫度100 ℃時(shí)大氣窗口波段內(nèi)Al 表面的發(fā)射功率與加入光子晶體后的發(fā)射功率的比較Tab.2 Comparison between emissive powers of Al surface and Al substrate with photonic crystal at 100 ℃
當(dāng)基底溫度為100 ℃時(shí),計(jì)算大氣窗口波段內(nèi)的理想表面及在不同基底上加入光子晶體后的發(fā)射功率可得:SiC 表面加入光子晶體后,在3~5 μm 波段內(nèi),發(fā)射功率從12.197 W/m2降至2.483 W/m2;在8~14 μm 波段內(nèi),發(fā)射功率從78.836 W/m2.降至27.382 W/m2.
本文針對(duì)發(fā)射率存在顯著差異的不同表面,通過數(shù)值分析的方法討論了光子晶體對(duì)其大氣窗口波段的發(fā)射輻射的抑制作用,得到如下主要結(jié)論:
1)采用合適結(jié)構(gòu)的光子晶體可顯著降低表面在大氣窗口(3~5 μm 和8~14 μm)內(nèi)的發(fā)射輻射。
2)光子晶體的自發(fā)輻射對(duì)抑制效果有一定影響,選擇折射率高且消光系數(shù)小的材料作為高折射率介質(zhì)具有更好的抑制效果。
3)通過對(duì)光子晶體材料及結(jié)構(gòu)的選擇可以做到特定波段的光譜調(diào)節(jié),如應(yīng)用在濾波器上。
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