周林璆　崔琳　宋丹 張高杰 李佳麗

摘? 要：本文研究了使用晶點(diǎn)檢測(cè)平臺(tái)測(cè)試聚乙烯膜料晶點(diǎn)的方法。利用線掃描相機(jī)對(duì)聚乙烯薄膜進(jìn)行成像，對(duì)收集到的圖像進(jìn)行晶點(diǎn)尺寸的統(tǒng)計(jì)?？疾炝藘煞N聚乙烯樹脂的晶點(diǎn)數(shù)量。對(duì)聚乙烯膜料晶點(diǎn)的精準(zhǔn)識(shí)別有一定參考價(jià)值。

關(guān)鍵詞：晶點(diǎn)檢測(cè)平臺(tái);聚乙烯樹脂;晶點(diǎn)

1? 前言

在聚乙烯生產(chǎn)過程中，原料的殘留催化劑、原料長(zhǎng)時(shí)間受熱、過度聚合、外來污染物、塑化不良等因素都會(huì)導(dǎo)致晶點(diǎn)的產(chǎn)生，對(duì)薄膜品質(zhì)造成不良影響。傳統(tǒng)人工晶點(diǎn)檢測(cè)方法存在耗時(shí)較長(zhǎng)，肉眼檢測(cè)分辨率低等問題。使用晶點(diǎn)檢測(cè)平臺(tái)測(cè)試聚乙烯膜料晶點(diǎn)，利用線掃描相機(jī)對(duì)聚乙烯薄膜進(jìn)行成像，對(duì)收集到的圖像進(jìn)行晶點(diǎn)尺寸的統(tǒng)計(jì)?？梢跃珳?zhǔn)識(shí)別聚乙烯薄膜晶點(diǎn)，提高分析準(zhǔn)確性。

2? 實(shí)驗(yàn)部分

2.1 主要原料與儀器設(shè)備

聚乙烯樹脂，蘭州石化公司生產(chǎn)。FSA100V2型晶點(diǎn)檢驗(yàn)平臺(tái)，配吹膜機(jī)、線掃描相機(jī)。

2.2 吹膜機(jī)操作條件

吹膜機(jī)操作條件見表1。

2.3 晶點(diǎn)尺寸分類

采用人工定義方式對(duì)晶點(diǎn)尺寸進(jìn)行分類，以區(qū)分不同尺寸的晶點(diǎn)，見表2。測(cè)試結(jié)果按照尺寸范圍進(jìn)行收集。

2.4 晶點(diǎn)灰度值設(shè)置

考慮到每個(gè)像素周圍的區(qū)域，需要設(shè)定一個(gè)門檻值，如果灰度值小于此門檻值，這就可以被認(rèn)作是一個(gè)晶點(diǎn)。低灰度水平意味著低敏感度，高灰度水平意味著高敏感度，測(cè)量越敏感，對(duì)比度不很明顯的區(qū)域也會(huì)被認(rèn)作晶點(diǎn)的一部分，所以灰度值不能太高。對(duì)于凝膠來說，其灰度水平在50附近。

3? 結(jié)果與討論

3.1晶點(diǎn)統(tǒng)計(jì)

對(duì)聚乙烯吹膜并檢測(cè)晶點(diǎn)。得到薄膜的晶點(diǎn)數(shù)目。每次統(tǒng)計(jì)100m2薄膜的晶點(diǎn)數(shù)，分別統(tǒng)計(jì)4次。不同牌號(hào)線型低密度聚乙烯樹脂和低密度聚乙烯樹脂晶點(diǎn)檢測(cè)結(jié)果見圖1～圖6所示。

從圖1～圖6可以看出，低密度聚乙烯樹脂和線型低密度聚乙烯樹脂晶點(diǎn)絕大部分集中在100μm～200μm范圍內(nèi)，其次是200μm～300μm范圍和300μm～400μm范圍。其余范圍內(nèi)晶點(diǎn)數(shù)不超過10個(gè)。

4? 結(jié)論

4.1 采用晶點(diǎn)檢驗(yàn)平臺(tái)檢測(cè)聚乙烯晶點(diǎn)，分辨率達(dá)到100um以下，極大的提高了測(cè)試精度。

4.2聚乙烯樹脂晶點(diǎn)絕大部分集中在100μm～200μm范圍內(nèi)，其次是200μm～300μm范圍和300μm～400μm范圍。其余范圍內(nèi)晶點(diǎn)數(shù)不超過10個(gè)。