一款雷達芯片的基于掃描路徑法可測性設(shè)計
2009-06-25 04:45:56徐小良何春賈宇明劉輝華
現(xiàn)代電子技術(shù) 2009年9期
徐小良 何 春 賈宇明 劉輝華
摘要：針對一款雷達芯片電路采用基于掃描路徑法的可測性設(shè)計，在設(shè)計過程中采用時鐘復(fù)用技術(shù)、IP隔離技術(shù)，以及針對具體的時鐘產(chǎn)生電路采用了其他特殊處理技術(shù)；通過采用多種恰當(dāng)有效的可測性設(shè)計策略后，大大提高了該芯片電路可測性設(shè)計的故障覆蓋率，最終其測試覆蓋率可達到97％，完全滿足設(shè)計指標(biāo)的要求。
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