摘要：對高功率量子阱半導體激光器的爆破噪聲和可能來自相同缺陷源的產生復合噪聲(g-r噪聲)進行了研究．實驗結果表明，如果老化電流遠高于閾值電流I_th，爆破噪聲和g-r噪聲將會被引入，甚至會出現(xiàn)多重g-r噪聲．通過對比樣品老化前后光電導數(shù)的特征參量發(fā)現(xiàn)，老化后產生爆破噪聲和g-r噪聲的器件為失效器件，表明高功率量子阱半導體激光器在使用和老化過程中有時會伴有爆破噪聲和g-r噪聲．通過缺陷能級理論和p-n結勢壘高度變化，討論了爆破噪聲、g-r噪聲及多重g-r噪聲產生的原因．

關鍵詞：電噪聲；半導體激光器；可靠性

中圖分類號：TN365

文獻標識碼：A

文章編號：1671-5489(2005)03-0354-04